CN103559099A - 一种芯片烧录校验方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种芯片烧录校验方法，包括以下步骤：S1：用户在烧录校验设备上设定芯片需要烧录校验参数；S2：烧录校验设备进行检测；S3：对芯片的序列号ID依次进行读取、计算、烧录及校验；S4：对序列号ID校验完的芯片依次进行文件字节数据的读取、计算、烧录及校验；S5：对文件字节数据检验完的芯片依次进行烧录状态保护位的计算、检验。本发明的通信方式由串行模式转变为并行模式，采用边烧录边校验验证的多通道单独比对的方式，及时的发现烧录异常环节，及时判定测试异常的通道，提高了烧录校验的整体测试效率，有效的辨认通道接触上电状况，防止通道插反插错，有效的避免因取板出错而导致的品质事故发生。

Description

一种芯片烧录校验方法

技术领域

本发明涉及芯片烧录及校验技术，特别是一种实现BQ2022A烧录校验的方法。

背景技术

随着电子技术的发展以及消费者对电子设备需求量的不断增加，BQ2022A新型电量管理IC的导入，导入程序包括烧录校验比对与校验和计算烧录，并且要求保证烧录的唯一性，存在技术上的难点性，烧录过程的稳定性难以保证。目前行业生产的方法是采用基于TI（美国德州仪器公司）提供的软件和硬件（EV2300），通过纯手工方式单通道实现BQ2022A的烧录校验比对。此方法受制于TI公司，局限性大，可扩展性差，同时投入成本高，整体测试稳定性差，作业效率不高，烧录异常出错率高，品质安全系数低。

发明内容

本发明为了解决上述技术问题提供了一种芯片烧录校验方法，这种烧录校验方法解决了实现了烧录异常出错高、产品质量安全系数低和整体烧录校验的稳定性差等技术问题。

本发明所要解决的技术问题通过以下技术方案予以实现：一种芯片烧录校验方法，包括以下烧录校验步骤：

S1：用户在烧录校验设备上设定芯片需要烧录校验的序列号ID参数、文件字节参数和烧录状态保护位参数；

S2：烧录校验设备进行检测，识别当前通道的通信线路的导通情况和通道间是否插反、插错，若通道状态正常,则进入芯片烧录校验模式；若通道状态异常，则发出报警信号，通知用户；

S3：对芯片的序列号ID依次进行读取、计算、烧录及校验；

S4：对序列号ID校验完的芯片依次进行文件字节数据的读取、计算、烧录及校验；

S5：对文件字节数据检验完的芯片依次进行烧录状态保护位的计算、检验。

优选的，所述步骤S3具体为：加载烧录校验设备的电压，等设备电压稳定后，对设备进行初始化设置；对设置好的设备进行芯片序列号ID的读取，然后计算出序列号ID的字节CRC码并烧录序列号ID于芯片内，再校验读取验证序列号ID的烧录情况。

优选的，所述步骤S4具体为：读取采集烧录文件字节数据，计算烧录文件字节数据CRC码并烧录文件字节数据于芯片内； 校验读取验证烧录文件字节数据烧录情况，进行字节一一比对；计算烧录文件字节的校验和，计算校验和的CRC码并烧录校验和值于芯片相应的地址内，并校验读取验证校验和烧录情况，进行一一比对。

进一步优选的，所述步骤S5具体为：根据烧录状态保护位的设置情况计算相应的CRC码，进行烧录状态保护位于芯片相应的地址内；校验读取验证状态保护位的烧录情况，并上传烧录字节数据于网络服务器。

本发明提供了一种芯片烧录校验方法，具体为智能化一体式多通道烧录校验计算比对的方法，替代了传统的纯手工方式单通道实现芯片的烧写校验比对。本发明采用自动化程序控制，灵活调用烧录、校验模块，通信方式由串行模式转变为并行模式，提高了烧录校验的整体测试效率；采用边烧录边校验验证比对的方式，及时的发现烧录异常环节，及时判定测试异常的通道，有效的屏蔽过滤异常通道，杜绝芯片烧录异常而致使被写保护，导致烧录字节数据出错和漏烧等现象发生,提高品质安全系数；采用智能识别通道通信状况，有效的辨认通道接触上电状况，防止通道插反插错现象；采用烧录文件字节内容实时点检，有效的避免因烧录文件名称正确而烧录字节内容错误而导致的烧录出错现象发生。

附图说明

图1 为本发明具体实施例的一种加密存储芯片的烧录方法的流程图。

具体实施方式

为了让本领域的技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图对本发明作进一步阐述。

如图1所示，本发明公开了一种实现对BQ2022A新型加密IC的烧录校验方法，具体是采用一体式多通道烧录校验计算比对的方法，包括以下烧录校验步骤：

S1：用户在烧录校验设备上设定芯片需要烧录校验的序列号ID参数、文件字节参数和烧录状态保护位参数；具体为：用户设置烧录文件名称路径、序列号ID、校验和的计算区域范围和校验和的烧录地址，对芯片的烧录状态保护位区域、序列号ID、所需烧录文件名称及验证文件、烧录校验和验证、烧录保护位和验证写保护进行选择。

S2：烧录校验设备进行检测，有效的辨认当前通道的状态情况和通道间的排布情况。其能有效的辨认当前通道的通信线路的导通情况和通道间是否插反、插错等状况，若通道状态正常,则进入芯片烧录校验模式；若通道状态异常，则发出报警信号，通知用户。

S3：对芯片的序列号ID依次进行读取、计算、烧录及校验；具体为先加载烧录校验设备的电压，等设备电压稳定后，对设备进行初始化设置；对设置好的设备进行芯片序列号ID的读取，然后计算出序列号ID的字节CRC码并烧录序列号ID于BQ2022A加密IC内，再校验读取验证序列号ID的烧录情况。

S4：对序列号ID校验完的芯片依次进行文件字节数据的读取、计算、烧录及校验；具体为：读取采集烧录文件字节数据，计算烧录文件字节数据CRC码并烧录文件字节数据于BQ2022A加密IC内；校验读取验证烧录文件字节数据 烧录情况，进行字节一一比对，若正常，则进入计算，若异常，则发出报警信号，通知用户；计算烧录文件字节的校验和，计算校验和的CRC码并烧录校验和值于BQ2022A加密IC相应的地址内，并校验读取验证校验和烧录情况，进行一一比对，若正常，则进入下一步骤，若异常，则发出报警信号，通知用户。

S5：对文件字节数据检验完的芯片依次进行烧录状态保护位的计算、检验；具体为根据烧录状态保护位的设置情况计算相应的CRC码，进行烧录状态保护位于芯片相应的地址内；校验读取验证状态保护位的烧录情况，并上传烧录字节数据于网络服务器。

本发明是基于Atmel Mega m64单片机处理器，自主开发控制程序，灵活调用烧录校验模块。采用通讯扩展新型电路，提高通讯串口波特率，通信方式由串行模式转变为并行模式，提高了烧录校验的整体测试效率。烧录校验设备后台运行将烧录字节数据记录保存至本地存储器和\或服务器，可以便于品质追溯，进行品质分析，可以为有效的解决品质异常提供日期，数据依据。本发明采用边烧录边校验验证的多通道单独比对的方式，及时的发现烧录异常环节，及时判定测试异常的通道，有效的屏蔽过滤异常通道，杜绝产品烧录异常而致使被写保护，导致烧录字节数据出错和漏烧等现象发生,提高品质安全系数，并智能化识别通道通信状况，有效的辨认通道接触上电状况，防止通道插反插错，有效的避免因取板出错而导致的品质事故发生。本方法采用烧录文件字节内容实时点检，有效的避免因烧录文件名称正确而烧录字节内容错误而导致的烧录出错现象发生；烧录校验测试采用测试项目模块选择模式，可供用户根据产品需要，灵活选择调用需要测试的模块项目；采用烧录项目地址可设置方式，可供用户根据产品需要，灵活设置烧录项目地址。

以上为本发明较佳的实现方式，需要说明的是，在不背离本发明精神及其实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。

Claims (4)

1.一种芯片烧录校验方法，其特征在于，包括以下烧录校验步骤：

S1：用户在烧录校验设备上设定芯片需要烧录校验的序列号ID参数、文件字节参数和烧录状态保护位参数；

S2：烧录校验设备进行检测，识别辨认当前通道的通信线路的导通情况和通道间是否插反、插错，若通道状态正常,则进入芯片烧录校验模式；若通道状态异常，则发出报警信号，通知用户；

S3：对芯片的序列号ID依次进行读取、计算、烧录及校验；

S4：对序列号ID校验完的芯片依次进行文件字节数据的读取、计算、烧录及校验；

S5：对文件字节数据检验完的芯片依次进行烧录状态保护位的计算、检验。

2.根据权利要求1所述的芯片烧录校验方法，其特征在于，所述步骤S3具体为：加载烧录校验设备的电压，等设备电压稳定后，对设备进行初始化设置；对设置好的设备进行芯片序列号ID的读取，然后计算出序列号ID的字节CRC码并烧录序列号ID于芯片内，再校验读取验证序列号ID的烧录情况。

3.根据权利要求2所述的芯片烧录校验方法，其特征在于，所述步骤S4具体为：读取采集烧录文件字节数据，计算烧录文件字节数据CRC码并烧录文件字节数据于芯片内； 校验读取验证烧录文件字节数据烧录情况，进行字节一一比对；计算烧录文件字节的校验和，计算校验和的CRC码并烧录校验和值于芯片相应的地址内，并校验读取验证校验和烧录情况，进行一一比对。

4.根据权利要求3所述的芯片烧录校验方法，其特征在于，所述步骤S5具体为：根据烧录状态保护位的设置情况计算相应的CRC码，进行烧录状态保护位于芯片相应的地址内；校验读取验证状态保护位的烧录情况，并上传烧录字节数据于网络服务器。

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