CN103543385A - 一种感应单元的自动测试装置及其测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明揭示了一种感应单元的自动测试装置，所述感应单元的X轴导电体网格和Y轴导电体网格分别接入一感应信号采集控制集成电路，并通过所述感应信号采集控制集成电路上的X轴接口和Y轴接口接出，包括一中央处理器CPU，所述中央处理器CPU分别与一发送通道模拟开关和一接收通道模拟开关相连接，所述发送通道模拟开关与所述接收通道模拟开关之间依次通过同步电路、A/D转换器和交流调理电路连接，所述A/D转换器与所述中央处理器CPU连接，所述X轴接口与Y轴接口分别连接到所述发送通道模拟开关与接收通道模拟开关。本发明实现了感应单元的自动测试，节约了人力成本，节省了测试时间，提高了测试效率，保证了测试结果的准确性。

Description

一种感应单元的自动测试装置及其测试方法

技术领域

本发明属于触控技术领域，尤其涉及一种感应单元的自动测试装置及其测试方法。

背景技术

触控面板是感应单元的一种表现形式，其实现技术主要分为薄膜式（film type）及玻璃式（glass type）两种。如图1所示，为目前应用于薄膜式（film type）及玻璃式（glass type）的一种较为主流的内部导电体网格结构示意图，是由X轴、Y轴纵横交错的导电体网格组成的网格矩阵层。随着感应单元应用越来越广泛，感应单元的需求越来越大，所以提高感应单元的良品率对于制造商来说势在必行。

目前，对于玻璃式（glass type）感应单元主要测试方法为：通过测试导电体网格电路之间的阻抗值来判断导电体网格线路的完整性。所测试的不良情况包括一处或多处导电体网格间的短路、导电体网格线路间的短路、线路间的漏电和约束阻抗的偏差等，判断方法多处涉及到人工操作，当未出现上述情景，则判断该感应单元为良品。效率不高，且易造成判断出错。

另有的一种薄膜式（film type）感应单元制造过程中，薄膜式（film type）感应单元的合格与否均依靠人工测试，具体的测试方法是：将薄膜式（film type）感应单元连接在带有显示装置的测试设备上，然后通过人工在薄膜式（film type）感应单元上进行测试，通过观测显示装置上的驱动波形是否产生变化，来判断成品是否合格。

上述薄膜式（film type）及玻璃式（glass type）感应单元的测试方法劳动强度大，且测试效率非常低，仅测试一片感应单元就需要数分钟的时间；随着感应单元中导电体网格的增多，测试导电体网格产生的驱动波形变化不明显，造成精确度降低；另外，如果断点在测试位置的边缘部分，将很可能产生漏检，无法测试到这个故障点，造成整片感应单元被误作为质量合格的成品。

发明内容

鉴于上述现有技术存在的缺陷，本发明的目的是提出一种感应单元的自动测试装置及其测试方法，可以精确地对感应单元的成品质量进行测试。

本发明的目的将通过以下技术方案得以实现：

一种感应单元的自动测试装置，所述感应单元的X轴导电体网格和Y轴导电体网格分别接入一感应信号采集控制集成电路，并通过所述感应信号采集控制集成电路上的X轴接口和Y轴接口接出，包括一中央处理器CPU，所述中央处理器CPU分别与一发送通道模拟开关和一接收通道模拟开关相连接，所述发送通道模拟开关与所述接收通道模拟开关之间依次通过同步电路、A/D转换器和交流调理电路连接，所述A/D转换器与所述中央处理器CPU连接，所述X轴接口与Y轴接口分别连接到所述发送通道模拟开关与接收通道模拟开关。

优选的，上述的一种感应单元的自动测试装置，其中：所述发送通道模拟开关与一交流信号发生器连接。

优选的，上述的一种感应单元的自动测试装置，其中：所述中央处理器CPU与一计算控制单元之间通过通信接口连接，所述计算控制单元包括显示装置，所述通讯接口采用无线或有线的通讯方式。

优选的，上述的一种感应单元的自动测试装置，其中：所述感应单元包括由X轴导电体网格和Y轴导电体网格排布而成的网格电磁感应层，以及内嵌有所述网格电磁感应层的两层表面基层。

优选的，上述的一种感应单元的自动测试装置，其中：所述X轴导电体网格和Y轴导电体网格为纳米导电体网格和/或金属导电体网格；所述表面基层为薄膜，墙纸或地毯，玻璃或亚克力板。

一种感应单元的自动测试装置的测试方法，用于测试包括纵横交错的m根X轴导电体网格和n根Y轴导电体网格，包括以下步骤：

第一步：通过中央处理器CPU控制发送通道模拟开关，将激励信号通过X轴接口发送至X轴导电体网格中的导电体网格X_m，其中m为正整数，m=1，2，……，m；

第二步：如与导电体网格X_m相交叉的Y轴导电体网格中的第一根导电体网格Y₁至第n根导电体网格Yn分别感应到交流信号，则导电体网格X_m上不存在断点，如断点之前的Y轴导电体网格感应到交流信号，而断点上或断点之后的Y轴导电体网格感应不到交流信号，则导电体网格X_m上存在断点；其中n为正整数，n=1，2，……，n； 

第三步：第二步中Y轴导电体网格感应到的交流信号通过Y轴接口，经由接收通道模拟开关分别传入交流调理电路，并通过交流调理电路将交流信号调理成直流信号；

第四步：第三步得到的直流信号通过A/D转换器转换成数字信号传送回中央处理器CPU进行数据分析；

第五步：重复第一步～第四步，直至测试完成所有的m根X轴导电体网格；

第六步：中央处理器CPU将得到的数据传送至计算控制单元，计算控制单元将结果通过显示装置将测试结果显示出来。

本发明的突出效果为：本发明的一种感应单元的自动测试装置及其测试方法，实现了感应单元的自动测试，节约了人力成本，节省了测试时间，提高了测试效率，可以全面覆盖地对整个感应单元的网格电磁感应层进行故障点测试，并能确定故障点的位置，保证了测试结果的准确性。

以下便结合实施例附图，对本发明的具体实施方式作进一步的详述，以使本发明技术方案更易于理解、掌握。

附图说明

图1是现有技术中感应单元的结构示意图；

图2是本发明实施例的结构示意图；

图3是本发明实施例的测试流程图；

图4是本发明实施例的感应单元的导电体网格分布图。

具体实施方式

实施例：

如图1所示，感应单元的X轴导电体网格和Y轴导电体网格按一定规则排布而成的网格电磁感应层，X轴导电体网格和Y轴的导电体网格分别汇集于一侧接入感应信号采集控制集成电路，并通过感应信号采集控制集成电路上的X轴接口和Y轴接口接出。

本实施例的一种感应单元的自动测试装置，如图2所示，包括中央处理器CPU，中央处理器CPU分别与发送通道模拟开关和接收通道模拟开关相连接，发送通道模拟开关与接收通道模拟开关之间依次通过同步电路、A/D转换器和交流调理电路连接，A/D转换器与中央处理器CPU连接，X轴接口与Y轴接口分别连接到发送通道模拟开关与接收通道模拟开关。发送通道模拟开关与交流信号发生器连接。

其中，中央处理器CPU与计算控制单元之间通过通信接口连接，计算控制单元包括显示装置，通讯接口采用无线或有线的通讯方式。感应单元包括由X轴导电体网格和Y轴导电体网格排布而成的网格电磁感应层，以及内嵌有所述网格电磁感应层的两层表面基层。X轴导电体网格和Y轴导电体网格为纳米导电体网格和/或金属导电体网格；表面基层为薄膜，墙纸或地毯，玻璃或亚克力板。

一种感应单元的自动测试装置的测试方法，用于测试包括纵横交错的m根X轴导电体网格和n根Y轴导电体网格，如图3所示，包括以下步骤：

第一步：通过中央处理器CPU控制发送通道模拟开关，将激励信号通过X轴接口发送至X轴导电体网格X_m，其中m为正整数，m=1，2，……，m；

第二步：如与导电体网格X_m相交叉的Y轴导电体网格中的第一根导电体网格Y₁至第n根导电体网格Y_n分别感应到交流信号（其中n为正整数，n=1，2，……，n；），则导电体网格X_m上不存在断点，如断点之前的Y轴导电体网格感应到交流信号，而断点上或断点之后的Y轴导电体网格感应不到交流信号，则导电体网格X_m上存在断点；

第三步：第二步中Y轴导电体网格感应到的交流信号通过Y轴接口，经由接收通道模拟开关分别传入交流调理电路，并通过交流调理电路将交流信号调理成直流信号；

第四步：第三步得到的直流信号通过A/D转换器转换成数字信号传送回中央处理器CPU进行数据分析；

第五步：重复第一步～第四步，直至测试完成所有的m根X轴导电体网格；

第六步：中央处理器CPU将得到的数据传送至计算控制单元，计算控制单元将结果通过显示装置将测试结果显示出来。例如，一种感应单元的导电体网格分布如图4所示，X轴和Y轴方向均有6根导电体网格，分别为X1～X6和Y1～Y6，则这12跟导电体网格可构成36个交叉点，这36个点之间就形成了36个耦合电容，每个导电体网格为耦合电容的一个极。根据耦合电容原理，在一个极上加上一个激励信号，则在另一个极上可以感应到一个频率相同，幅度成比例的感应信号。根据这个原理，假设在X2上的X2Y2和X2Y3之间有断点，则当给X2上加入激励信号，则只能在Y1、Y2上有感应信号，而在Y3～Y6之间的导电体网格均无感应信号，由此确定了导电体网格的断点位置。如图3所示，还可以进一步将测试到的数据通过中央处理器CPU对数据进行数据分析，判断导电体网格是否存在断线及断点位置，之后将调理转换后数据传送到计算控制单元上，在计算控制单元的显示装置上显示出导电体网格的布局图像，并将测试结果结合布局图显示出来，使测量结果一目了然。

本实施例的一种感应单元的自动测试装置及其测试方法，实现了感应单元的自动测试，节约了人力成本，节省了测试时间，提高了测试效率，可以全面覆盖地对整个感应单元的网格电磁感应层进行故障点测试，并能确定故障点的位置，保证了测试结果的准确性。

本发明尚有多种实施方式，凡采用等同变换或者等效变换而形成的所有技术方案，均落在本发明的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种感应单元的自动测试装置，所述感应单元的X轴导电体网格和Y轴导电体网格分别接入一感应信号采集控制集成电路，并通过所述感应信号采集控制集成电路上的X轴接口和Y轴接口接出，其特征在于：包括一中央处理器CPU，所述中央处理器CPU分别与一发送通道模拟开关和一接收通道模拟开关相连接，所述发送通道模拟开关与所述接收通道模拟开关之间依次通过同步电路、A/D转换器和交流调理电路连接，所述A/D转换器与所述中央处理器CPU连接，所述X轴接口与Y轴接口分别连接到所述发送通道模拟开关与接收通道模拟开关。

2.根据权利要求1所述的一种感应单元的自动测试装置，其特征在于：所述发送通道模拟开关与一交流信号发生器连接。

3.根据权利要求1所述的一种感应单元的自动测试装置，其特征在于：所述中央处理器CPU与一计算控制单元之间通过通信接口连接，所述计算控制单元包括显示装置，所述通讯接口采用无线或有线的通讯方式。

4.根据权利要求1所述的一种感应单元的自动测试装置，其特征在于：所述感应单元包括由X轴导电体网格和Y轴导电体网格排布而成的网格电磁感应层，以及内嵌有所述网格电磁感应层的两层表面基层。

5.根据权利要求4所述的一种感应单元的自动测试装置，其特征在于：所述X轴导电体网格和Y轴导电体网格为纳米导电体网格和/或金属导电体网格；所述表面基层为薄膜，墙纸或地毯，玻璃或亚克力板。

6.一种根据权利要求1～5所述的任一感应单元的自动测试装置的测试方法，用于测试包括纵横交错的m根X轴导电体网格和n根Y轴导电体网格，其特征在于包括以下步骤：

第一步：通过中央处理器CPU控制发送通道模拟开关，将激励信号通过X轴接口发送至X轴导电体网格中的导电体网格X_m，其中m为正整数，m=1，2，……，m；

第二步：如与导电体网格X_m相交叉的Y轴导电体网格中的第一根导电体网格Y₁至第n根导电体网格Y_n分别感应到交流信号，则导电体网格X_m上不存在断点，如断点之前的Y轴导电体网格感应到交流信号，而断点上或断点之后的Y轴导电体网格感应不到交流信号，则导电体网格X_m上存在断点；其中n为正整数，n=1，2，……，n；

第三步：第二步中Y轴导电体网格感应到的交流信号通过Y轴接口，经由接收通道模拟开关分别传入交流调理电路，并通过交流调理电路将交流信号调理成直流信号；

第四步：第三步得到的直流信号通过A/D转换器转换成数字信号传送回中央处理器CPU进行数据分析；

第五步：重复第一步～第四步，直至测试完成所有的m根X轴导电体网格；

第六步：中央处理器CPU将得到的数据传送至计算控制单元，计算控制单元将结果通过显示装置将测试结果显示出来。

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