CN103514906A - 光拾取装置、光学信息记录装置和方法、光学信息记录介质 - Google Patents

光拾取装置、光学信息记录装置和方法、光学信息记录介质 Download PDF

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Abstract

本发明提供光拾取装置、光学信息记录装置和方法、光学信息记录介质，在以多层光盘为记录介质的光学信息记录装置中，减少构成部件。光盘例如具有一个带坑记录层和多个无坑记录层。信息记录装置的光拾取器具有切换式透镜元件，使对多层光盘照射的激光在彼此相邻的两个记录层上会聚。将在带坑记录层中得到的跟踪误差信号的偏移加以存储，对于不能够检测跟踪误差信号的记录层，基于存储的偏移，维持轨道相对于上述坑的位置精度记录信息信号。在再现信息信号时，基于已记录的信息信号的坑来进行跟踪控制。

Description

光拾取装置、光学信息记录装置和方法、光学信息记录介质
技术领域
本发明涉及光拾取装置、使用该光拾取装置的光学信息记录装置、光学信息记录方法和该光学信息记录装置中使用的光学信息记录介质，特别涉及构成部件得到了减少的光拾取装置、光学信息记录装置、光学信息记录方法和改善了该光学信息记录装置中的跟踪精度的多层光学信息记录介质。
背景技术
作为本发明的背景技术，可列举专利文献1的技术。专利文献1中记载了这样的内容，“目的在于提供一种拾取器装置和记录再现装置，对于在深度方向上具有多个记录再现区域的光记录介质，能够准确且简单地进行信息的记录和再现”，并记载了一种将使用蓝色光对RF信号进行记录再现的第一光学系统，和使用红色光用于获得伺服用信号的第二光学系统组合起来作为其结构的光记录再现装置。
专利文献1：日本特开2011-118997号公报
发明内容
随着光盘记录介质的存储容量增大，对光盘介质和装置的低价化需求越来越高。人们为此提出了能够使用廉价的记录介质作为多层光盘的如专利文献1的结构的光盘装置。但是，专利文献1的结构中，需要组合使用蓝色光和红色光这2个光学系统，存在装置整体的构成部件的数量增大而导致价格变高的问题。此外，需要利用同一个物镜使蓝色光和红色光会聚到不同的深度，但记录层数增加时其深度的差会变大，存在用于修正球面像差的差的光学系统的构成部件的数量增大而导致价格变高的问题。此外，用于进一步改善多层光盘中的跟踪精度的方法也是本发明的技术问题。
本发明用于解决上述问题，本发明的目的在于提供一种减少了构成部件的光拾取装置、光学信息记录装置、光学信息记录方法，和改善了该光学信息记录装置中的跟踪精度的多层光学信息记录介质。
上述目的例如能够通过以下技术方案来实现。
例如，本发明提供一种光拾取装置，对在厚度方向上具有多个用于记录信息信号的记录层的多层光盘照射激光而进行上述信息信号的记录再现，其特征在于，包括：激光光源，用于产生上述激光；液晶透镜元件，具有将该激光光源产生的激光分割而使激光在上述光盘的记录层中的邻接的两个记录层上均会聚的第一工作模式，和使上述激光光源产生的激光在上述光盘的记录层中任意的一个记录层上会聚的第二工作模式；第一受光元件，在该液晶透镜元件处于第一工作模式时，被在上述两个记录层中靠近上述液晶透镜元件一侧的记录层上反射的光照射，根据该光而检测电信号并将其输出，在上述液晶透镜元件处于第二工作模式时，被在上述一个记录层上反射的光照射，根据该光而检测电信号并将其输出；和第二受光元件，在上述液晶透镜元件处于第一工作模式时，被在上述两个记录层中离上述液晶透镜元件较远一侧的记录层上反射的光照射，根据该光而检测并输出电信号。
此外，本发明提供一种光学信息记录装置，使用在厚度方向上具有多个用于记录信息信号的记录层的多层光盘作为记录介质，其特征在于，包括：光拾取器，包括：激光光源，用于产生激光；液晶透镜元件，具有将该激光光源产生的激光分割而使激光在上述光盘的记录层中的邻接的两个记录层上均会聚的第一工作模式，和使上述激光光源产生的激光在上述光盘的记录层中任意的一个记录层上会聚的第二工作模式；第一受光元件，在该液晶透镜元件处于第一工作模式时，被在上述两个记录层中靠近上述液晶透镜元件一侧的记录层上反射的光照射，根据该光而检测电信号并将其输出，在上述液晶透镜元件处于第二工作模式时，被在上述记录层上反射的光照射，根据该光而检测电信号并将其输出；和第二受光元件，在上述液晶透镜元件处于第一工作模式时，被在上述两个记录层中离上述液晶透镜元件较远一侧的记录层上反射的光照射，根据该光而检测并输出电信号；第一DPD信号生成电路，基于由上述光拾取器的第一受光元件输出的电信号，生成作为差分相位检测法下的跟踪误差信号的DPD信号并将其输出；第二DPD信号生成电路，基于由上述光拾取器的第二受光元件输出的电信号，生成作为差分相位检测法下的跟踪误差信号的DPD信号并将其输出；波形存储再现电路，被供给由上述第一DPD信号生成电路输出的DPD信号，检测所供给的信号中包括的伴随上述光盘的旋转而产生的偏移成分，将该偏移成分存储并再现而输出；和控制电路，基于由上述第一DPD信号生成电路、第二DPD信号生成电路和上述波形存储再现电路输出的信号，进行用于控制上述光拾取器的液晶透镜元件使上述激光会聚的位置的跟踪控制，在上述光盘的离上述液晶透镜元件较远一侧的记录层上已经记录了信息信号，并且要在靠近上述液晶透镜元件一侧的记录层上记录信息信号的情况下，上述控制电路进行控制，使得：上述光拾取器的液晶透镜元件工作在第一工作模式，将由上述第一DPD信号生成电路生成的DPD信号中包括的上述偏移成分存储到上述波形存储再现电路中，基于从由上述第二DPD信号生成电路生成的DPD信号中减去存储在上述波形存储再现电路中的偏移成分而得的信号进行跟踪控制，在靠近上述液晶透镜元件一侧的记录层上记录上述信息信号，在要对已记录在上述光盘的记录层上的信息信号进行再现的情况下，上述控制电路进行控制，使得：上述光拾取器的液晶透镜元件工作在第二工作模式，基于由上述第一DPD信号生成电路生成的DPD信号进行跟踪控制，再现上述信息信号。
此外，本发明提供一种光学信息记录方法，对在厚度方向上具有多个用于记录信息信号的记录层，且一个记录层具有用于生成作为推挽法下的跟踪误差信号的DPP信号和透镜误差信号（LE信号）的结构的多层光盘照射激光，记录上述信息信号，其特征在于：从上述一个记录层生成上述DPP信号和LE信号，并检测该LE信号中包括的偏移成分，从生成的上述DPP信号中减去上述检测出的偏移成分，对上述一个记录层进行跟踪控制，对上述一个记录层记录上述信息信号，在上述一个记录层的整个面上都记录了信息信号的情况下，根据对上述一个记录层记录的信息信号，生成作为差分相位检测法下的跟踪误差信号的DPD信号，并检测该DPD信号中包括的偏移成分，利用液晶透镜元件将对上述光盘照射的激光分割而使激光在上述一个记录层和与该一个记录层邻接的记录层上均会聚，从基于会聚在上述一个记录层上的激光而生成的DPD信号中减去上述偏移成分，对上述邻接的记录层进行跟踪控制，对上述邻接的记录层记录上述信息信号。
此外，本发明还提供一种光学信息记录介质，在厚度方向上具有多个用于记录信息信号的记录层，其特征在于：上述记录层包括多个第一记录层和多个第二记录层，其中上述第一记录层具有用于生成作为推挽法下的跟踪误差信号的DPP信号的结构，上述第二记录层在没有记录上述信息信号的状态下不具有用于生成跟踪误差信号的结构，上述第一记录层被配置成在厚度方向上隔着上述第二记录层。
根据本发明能够获得这样的技术效果，即，能够提供一种减少了构成部件的光拾取装置、光学信息记录装置、光学信息记录方法，和改善了该光学信息记录装置中的跟踪精度的多层光学信息记录介质。
附图说明
图1A是表示现有的多层光盘介质结构的厚度方向的截面图。
图1B是表示现有的多层光盘介质结构的厚度方向的截面图。
图1C是表示本发明实施例中使用的多层光盘介质结构的厚度方向的截面图。
图1D是表示本发明实施例中使用的多层光盘介质结构的厚度方向的截面图。
图2是表示对多层光盘照射光束的方法的现有例的图。
图3A是表示跟踪误差信号检测中的问题的图。
图3B是表示跟踪误差信号检测中的问题的图。
图3C是表示跟踪误差信号检测中的问题的图。
图3D是表示跟踪误差信号检测中的问题的图。
图4A是表示跟踪误差信号的偏移（offset）的例子的图。
图4B是表示跟踪误差信号的偏移的例子的图。
图4C是表示跟踪误差信号的偏移的例子的图。
图5A是本发明实施例中的信息记录装置的整体结构图。
图5B是本发明实施例中的DPP信号生成电路30的结构图。
图5C是本发明实施例中的DPD信号生成电路34a的结构图。
图5D是本发明实施例中的DPD信号生成电路34b的结构图。
图6是表示本发明中对多层光盘照射光束的方法的图。
图7是表示本发明中对多层光盘照射光束的方法的图。
图8是表示本发明实施例中第一层的学习的流程的流程图。
图9是表示本发明实施例中第二层以后的学习的流程的流程图。
图10是本发明实施例中的波形存储再现电路的结构图。
图11是说明本发明实施例中的插值电路的动作的图。
附图标记说明
1：光拾取器部，2：光盘，3：主轴电机，4：旋转伺服电路，5：激光驱动电路，6：半导体激光器，7：衍射光栅，8：衍射光栅，9：偏振分束器，10：准直透镜，11：可动侧扩束透镜，12a、12b：步进电机，13：固定侧扩束透镜，14：液晶透镜元件，15：λ/4波片，16：物镜，17：致动器，18：检测透镜，19：分束器，20：半反射镜，21：受光元件，22：辅助透镜，23：辅助受光元件，24：再现信号专用检测器，25a、25b：受光信号，30：DPP信号生成电路，31：MPP信号，32：透镜误差信号，33：DPP信号，34a、34b：DPD信号生成电路，35：相位比较器，36a、36b：聚焦误差信号，37a、37b：再现信号，38a、38b：DPD信号，39：开关，40：跟踪误差学习修正电路，41：最大峰值检测器，42：最小峰值检测器，43a、43b：波形存储再现电路，44：微小摆动信号振荡器，45：振幅中央值，46：主轴时钟，47a、47b：修正值信号，48：减法器，49：修正后跟踪误差信号，50：透镜误差信号的源信号，51：除法器，52a、52b：采样保持电路，53：开关，54：均衡电路，55：电平检测电路，56：同步时钟生成电路，57：解码电路，58：主控制电路，59：非易失性存储器，60：输入信号，61：修正值存储电路，62：修正值，63：插值电路，81：带槽记录层（带坑记录层），82：引导层，83：无槽记录层（无坑记录层）。
具体实施方式
以下说明本发明的信息记录装置的实施例。本发明实施例中的信息记录装置是光盘装置，在光学系统中，将由一个激光光源产生的光照射到液晶元件上，液晶元件生成会聚或发散型的分割光束，对彼此邻接的2个层照射。由此生成2个跟踪误差信号。并且，在控制系统中，通过学习修正而在电路一侧对这2个跟踪误差信号的不一致进行修正。通过该光学系统与控制系统的机制的组合，能够使用一个激光光源对没有槽（记录槽）的记录层进行跟踪和信息的记录再现。
本发明实施例的信息记录装置，由具有上述光学系统的光拾取器和具有上述学习修正功能的信号处理电路组合而实现。此外，通过将信号处理电路组装在具有解码、纠错功能的单一的集成电路芯片中，能够实现低成本化和高性能、高可靠化。
对于本发明的实施方式，使用附图通过以下实施例进行说明。其中，为了易于理解，在各图中对于表示相同作用的部分附加一部分相同的标记进行说明。
本实施例的信息记录装置中，使用在施加电压时产生透镜作用的液晶元件（液晶透镜元件）作为光束分割元件，获得2个记录层上的伺服信号，从而能够进行信息的记录再现。
首先，用图1A～图1D和图2，说明多层光盘介质的问题，和其记录再现方法的问题。
图1A和图1B是表示现有的多层光盘介质结构的厚度方向的截面图。
图1C和图1D是表示本发明实施例中使用的多层光盘介质结构的厚度方向的截面图。
图2是表示对图1C所示的多层光盘照射光束的方法的现有例的图。
图1A表示现有的典型的多层光盘介质的厚度方向的截面结构。盘2在厚度方向上具有多个带槽记录层（带坑（pit）记录层）81，在各层的每一层中形成了周期性的槽以能够生成跟踪误差信号。该盘能够用现有的结构的光学系统进行记录再现。不过，在实际制造时，每一层的压模位置存在偏移。因此，如图1B所示槽的位置发生偏移，盘表面凹凸粗糙，所以质量好的盘难以制造，价格上也容易变得昂贵。
于是，如图1C所示，人们提出了一种使记录层成为无槽记录层（无坑记录层）83的多层光盘，该多层光盘中仅设置一层具有用于进行跟踪控制的槽的引导层82。在被称为无槽多层光盘的盘中，引导层82中不记录信息信号而是仅用于跟踪控制，所以引导层82也称为伺服专用层。而相对地，也存在将具有槽的引导层82用作一个记录层的盘。本发明实施例适用于使用任意一种盘的情况。由此，能够降低如上所述因槽的位置偏移引起的光盘的制造难度，进而能够期待价格降低。
此外，可考虑到如图1D所示，盘2中每隔多层无槽记录层83具有一个引导层82的情况，其也能够应用于本实施例。该情况下，与图1A和图2B的情况相比，槽的位置偏移引起的盘的制造难度降低，进而价格也能够降低，此外如后所述跟踪偏移（tracking offset）每隔多个记录层重置并更新，所以能够期待信息记录装置中的跟踪精度的改善。
例如，使用图1C所示的盘2进行记录再现时，现有情况如图2所示，需要使用在无槽记录层（无坑记录层）83上聚焦的蓝色光（记录再现光：实线）和在引导层82上聚焦的红色光（伺服光：虚线）这两种光，所以如专利文献1所述需要2个光学系统，并且记录再现时要修正的球面像差变大，此外还需要用于合成蓝色光和红色光的合成光学系统，存在光拾取器的构成部件增多、价格变高的问题。
以上是多层光盘介质所存在的问题和其记录再现方法所存在的问题。
接着，用图3A～图3D和图4A～图4C，说明作为光盘装置的信息记录装置中的跟踪误差信号偏移（即偏移成分）的问题。
图3A～图3D是表示跟踪误差信号检测中的问题的图。
图4A～图4C是表示跟踪误差信号的偏移的例子的图。
光盘装置中，为了在光盘偏心的情况下也正确地追踪轨道，对于伺服控制中使用的跟踪误差信号进行信号修正，以对因偏心产生的透镜中心偏移（透镜移位：LS）的影响进行修正。例如，在3光斑法的情况下使用所谓差分推挽法（Differential Push-pull法：DPP法），即，如图3A所示，在光拾取器的受光元件中，在主光斑受光面90的两侧配置2个副光斑受光面91，对于由主光斑受光面检测出的推挽信号（主推挽信号：MPP）的偏移，通过求取该MPP与由副光斑受光面检测出的推挽信号（副推挽信号：SPP）的差值而进行抵消修正。将该修正后的推挽信号称为差分推挽信号（Differential Push-pull信号：DPP）。通常，正确调整后的差分推挽信号中，如图4A所示，透镜移位引起的DPP信号的上下变动（偏移）消失。
然而，近年来，在具有2层或3层以上的记录层的多层光盘中，为了应对杂散光，如图3B所示，需要使用在副光斑的中央部留空的受光面。该情况下，因为主光斑与副光斑的受光面形状不同，所以在透镜移位导致光斑变动的情况下，如图4B所示，MPP信号和SPP信号间会产生偏移的失衡。特别是在SPP信号一侧，随着透镜移位产生非直线形的上下变动（偏移）。因此，通过现有的DPP法得到的信号中会产生关于透镜移位非直线形的偏移，从而会发生在记录层上光斑从轨道中央偏移的情况。
同样的问题在被称为单光束法的跟踪误差信号生成法中也会发生。图3C和图3D是单光束法中使用的衍射光栅图案的一例。图3C中的斜线部分是用于生成MPP信号的图案。图3D中的斜线部分是用于生成与透镜位移对应的透镜误差信号（LE信号）的图案。其中，单光束法中的透镜误差信号（LE信号），具有相当于3光束法中的SPP信号的作用。此处，因为图3C与图3D中图案形状不同，所以对于较大的透镜移位会发生如图4C所示的DPP信号的非直线形的偏移。
此外，下文中将该非直线形的偏移称为非线性偏移。与此相对，将如图4A所示的偏移的直线形变化称为线性偏移。
一般而言，线性偏移如果用DPP法正确调整，则能够大致抵消为零，但非线性偏移不能够完全修正，会残留有非线性成分。当残留有这样的偏移时，光斑的轨迹从轨道中心偏移，记录的标记从本来的轨道偏移，与正圆相比会发生变形。
此外，作为另一种跟踪误差信号的生成方法存在差分相位检测法（Differential Phase Detection Method：DPD法），其根据从光盘上已记录的标记再现的再现信号来检测记录标记与光斑的相对位置偏移。由此检测出的跟踪误差信号称为DPD信号。DPD信号在3光斑法的情况下，通过图3A和图3B的主光斑受光面90的4个面的光信号的相位差信号而得到。在单光束法的情况下，通过图3C或图3D中的斜线部分的4个面的光信号的相位差信号而得到。
DPD信号也与DPP信号同样地，在透镜移位导致光斑变动的情况下，在4个面之间发生光量的失衡，所以随着透镜移位会发生如图4B所示的偏移。因而，在DPD信号中也产生与DPP信号同样的偏移。因此，通过现有的DPD法得到的信号中，会产生关于透镜移位非线性的偏移的问题。
典型情况是，在盘介质存在偏心、翘曲或部分变形的情况下，反射光失衡，在DPP信号和DPD信号中均发生与盘旋转周期同步的周期性偏移变动，基于DPP信号或DPD信号进行的跟踪控制的中心从本来的轨道中心偏离。
以上是本实施例的作为光盘装置的信息记录装置要解决的跟踪误差信号偏移的问题。
本实施例的光盘装置的特征在于，能够按各层对上述跟踪误差信号即DPP信号和DPD信号的周期性偏移变动成分进行检测、学习和修正。此外，通过改进跟踪方法，能够用较少的构成部件廉价地构成光拾取器和光盘装置。
[本发明的多层光盘装置的具体结构例]
对于本发明的信息记录装置的实施方式的一例，用图5A至图11进行说明。
[多层光盘装置的整体结构例]
图5A是本发明实施例的信息记录装置的整体结构图。
图5B是图5A中的DPP信号生成电路30的结构图。
图5C是图5A中的DPD信号生成电路34a的结构图。
图5D是图5A中的DPD信号生成电路34b的结构图。
图5A中，信息记录装置具有包括光拾取器部1、能够取出的介质即光盘2和主轴电机3的机构部，以及信号处理电路部。
作为记录介质的光盘2安装在由旋转伺服电路4控制旋转速度的主轴电机3上。对于该介质，照射来自由光拾取器部1具有的激光驱动电路5所驱动的半导体激光器6的光。
半导体激光器6所产生的光，在3光斑法的情况下，通过衍射光栅7被分割为3个光束。在单光束法的情况下，则不设置该衍射光栅7，而是改为在归路（从光盘返回的光路）一侧设置衍射光栅8。本实施例在后文中以单光束法为例进行说明，但本发明的适用范围并不限定于此。
以下以单光束法的情况为例进行说明。半导体激光器6所产生的光，通过偏振分束器9和准直透镜10，直接前往可动侧扩束透镜11。可动侧扩束透镜11被保持在透镜驱动机构的可动部上，该可动部构成为能够通过步进电机12a在与光轴平行的方向上移动。通过可动侧扩束透镜11后的光，通过固定侧扩束透镜13和液晶透镜元件14。
液晶透镜元件14是通过施加电压而起到两级强度的凹透镜的作用的可切换式透镜元件，使通过的光的一部分（5～30%）以1/300mm～1/900mm程度的较弱的光焦度发散。通过的光的大部分（70～95%）不受到透镜作用而直接通过。由此，光束被分为在相邻的远侧的层和近侧的层上聚焦的2个成分。该液晶透镜元件14具有偏振性，所以能够仅作用于去路（从激光去往光盘的光路）。通过液晶透镜元件14后的光，接着通过λ/4波片15，被物镜16会聚而照射到作为记录介质的光盘2上。
物镜16安装在致动器17上，能够根据聚焦误差信号36a和修正后跟踪误差信号49在聚焦方向和跟踪方向上分别对焦点位置进行驱动。对于上述2个成分的光，所照射的一部分均在光盘2上反射，再次通过物镜16、λ/4波片15，并且这一次直接通过液晶透镜元件14（不发生任何作用），再依次通过固定侧扩束透镜13、可动侧扩束透镜11、准直透镜10，入射到偏振分束器9。此时，因为光束通过了2次λ/4波片15，偏振旋转了90度，所以在偏振分束器9上反射，通过衍射光栅8（3光束法的情况下没有衍射光栅8），去往检测透镜18。通过了检测透镜18的光中，大部分依次通过分束器19和半反射镜20，被受光元件21上的检测面检测，转换为电信号。
此外，剩余一部分光在分束器19和半反射镜20上分别反射。在分束器19上反射的光，通过辅助透镜22被辅助受光元件23检测。该辅助受光元件23检测被液晶透镜元件14发散（或会聚）的光，生成作为远侧的层的跟踪误差信号（DPD信号）的源的信号。辅助透镜22被保持在驱动机构的可动部上，由步进电机12b在与光轴平行的方向上驱动，以能够修正多层记录层的层间隔的不同。
在半反射镜20上反射的光，被再现信号专用检测器24检测。该再现信号专用检测器24，专门用于检测再现信号中来自目标记录层的RF信号，以改善再现信号的信号/噪声比（S/N比）。
其中，在液晶透镜元件14工作（对应于第一工作模式）的情况下，入射到液晶透镜元件14的光，被分为在进行信息的记录再现的层上聚焦的光斑的光束（将其称为主光），和在相邻（紧邻）的层（本实施例中为远侧的层）上聚焦的光斑的光束（将其称为副光）。受光元件21构成为能够通过受光元件上的受光面的配置方法（错位方法）而仅主要接收主光。辅助受光元件23也同样构成为能够通过受光元件上的受光面的配置方法（错位方法）而仅主要接受副光。在液晶透镜元件14不工作（对应于第二工作模式）的情况下，光束不会被分割出副光，仅有主光到达受光元件21。受光元件21上转换的电信号，被受光元件内的光电流放大器放大，作为受光信号25a输出。此外，辅助受光元件23上转换的电信号，被辅助受光元件内的光电流放大器放大，作为受光信号25b输出。
图5B所示的DPP信号生成电路30中，受光信号25a、25b中的一个被图5A的切换开关101选择供给（输入），生成（输出）MPP信号31、透镜误差信号32（LE信号）和DPP信号33。开关（switch）39进行3光束法和单光束法的切换。本图中被切换到单光束法一侧。在单光束法的情况下，通过刀口法生成聚焦误差信号。在3光束法的情况下，使用四分割光检测器，通过像散法生成聚焦误差信号。
如图5C和图5D所示，DPD信号生成电路34a、34b各自具备相位比较器35，根据受光信号25a、25b，生成聚焦误差信号36a、36b、再现信号37a、37b（RF信号）、DPD信号38a、38b。
此外，在DPD信号38a、38b输出之前，设置有采样保持电路52a、52b，在记录中能够根据半导体激光器6的驱动电流变化而保持输出值。该采样保持电路52a和52b，在半导体激光器6产生的光的强度稳定的期间使DPD信号直接通过，在不稳定的期间保持稳定期间的DPD信号。由此，信号记录时激光强度的调制不会对跟踪伺服动作造成影响。
通过该结构，作为跟踪误差信号，能够同时从DPD信号生成电路34a和34b分别生成两个层的2个DPD信号38a和38b，且从DPP信号生成电路30生成任一个层的DPP信号33。
生成的聚焦误差信号36a用于对支承物镜的致动器17进行驱动。致动器17基于该聚焦误差信号36a驱动物镜16而进行聚焦控制。再现信号37a用于从盘读出的信息信号的解码。聚焦误差信号36b和再现信号37b，被供给到主控制电路58，用于步进电机12b的反馈控制。
此外，图5A的开关53中，在选择了从盘2再现的上述再现信号37a和上述再现信号专用检测器24的输出中的一个之后，所选择的信号经过均衡电路54、电平检测电路55、同步时钟生成电路56，由解码电路57转换为原本记录的数字信息信号。此外，同步时钟生成电路56同时直接检测再现信号而生成同步信号，对解码电路57供给。
这一连串电路由主控制电路58统一控制。此外，本结构中具备非易失性存储器59，在电源切断的期间也保持这些修正所需的光拾取器的初始参数，利用上次的学习内容能够使初始化动作高速化。
[跟踪误差信号修正电路的说明]
接着，对跟踪误差学习修正电路40中的跟踪误差信号的修正电路进行说明。由图5B所示的DPP信号生成电路30生成的透镜误差（LE）信号32、DPP信号33，和由图5C和图5D所示的DPD信号生成电路34a、34b生成的DPD信号38a、38b，被供给到图5A所示的跟踪误差学习修正电路40。跟踪误差学习修正电路40包括最大峰值检测器41，最小峰值检测器42，波形存储再现电路43a、43b，微小摆动信号振荡器44，修正值减法运算用的减法器48，和各输入信号的切换开关102～106。通过切换开关104选择DPP信号和两个DPD信号中的任一个，并分别利用最大峰值检测器41生成上侧包络信号，利用最小峰值检测器42生成下侧包络信号。通过取该上侧包络信号与下侧包络信号的平均值，能够生成DPP信号或DPD信号的振幅中央值45。该振幅中央值，在跟踪伺服停止（off）时，成为要学习的跟踪误差信号的偏移量信号。
在跟踪伺服工作时，该时刻用于伺服的跟踪误差信号（DPP信号和DPD信号中的某一个）以外的跟踪误差信号（DPP信号和DPD信号中剩余的信号）成为要学习的跟踪误差信号的偏移量信号。
对于这些跟踪误差信号的偏移量信号进行选择，与主轴时钟46同步地存储在波形存储再现电路43a、43b中。然后，再次与主轴时钟46同步地通过波形存储再现电路43a、43b再现该偏移量信号，作为修正值信号47a、47b输出，由此能够与盘旋转同步地存储、再现跟踪误差信号的偏移量信号。
通过从驱动致动器的跟踪误差信号（=DPP信号或DPD信号）中减去所再现的偏移量信号，能够使光斑正确地在本来的轨道中央扫描。即，再现的偏移量信号就是修正值的信号。使用减法器48从跟踪控制信号中减去该偏移量信号，输出最终修正了轨道的偏移的修正后跟踪误差信号49，由此驱动致动器17。通过基于这样的方式由致动器17驱动物镜16，进行跟踪控制。
此外，本结构中具有2个系统的波形存储再现电路43a、43b，在一个系统进行修正值的信号的生成（再现）时，另一个系统能够进行其他信号的偏移的学习（记录）。通过用2个系统的波形存储再现电路43a、43b交替地存储/再现偏移修正值，能够交替地学习、修正多层介质的记录层中记录的标记的偏移，能够在多个层中高精度地维持轨道的位置，记录信息标记（information mark）。
此外，本结构中，波形存储再现电路43a能够使用切换开关105对DPP信号或DPD信号的振幅中央值45、DPP信号33、DPD信号38a、38b进行选择以作为输入。此外，波形存储再现电路43b能够使用切换开关106对透镜误差信号32、DPP信号33、DPD信号38a、38b进行选择以作为输入。例如，跟踪误差学习修正电路40能够进行这样的工作，即，从一个波形存储再现电路输出DPP信号33的偏移信号以对偏移进行修正，同时在另一个波形存储再现电路中存储对DPD信号38a、38b求出的偏移信号。
此外，在波形存储再现电路43b的输出之后，能够加上微小摆动信号振荡器44的信号。此外，减法器48的输入，可以用切换开关102选择修正值信号47a、47b、和中性（无修正）这3种。
此外，如图5B所示，DPP信号生成电路30中，首先在内部根据透镜误差信号的原信号50和副光斑受光面的总和信号，用除法器51生成经总光量修正后的透镜误差信号32。即，透镜误差信号32不是原信号50的绝对值，而是根据其与总和信号的相对值生成的。由此，能够防止再现总光量的变动引起的透镜移位量的误检测，有助于提高本发明实施例中的修正精度。
[关于液晶透镜的补充说明]
之前的图5A中，表示了使用两个元件作为液晶透镜元件14的情况。关于这一点，用图6～图7进行说明。
图6和图7是表示本发明中对多层光盘照射光束的方法的图。图6与图5A不同，是液晶透镜元件14具有一个元件的情况，图7是与图5A同样地液晶透镜元件14具有两个元件的情况。为了便于说明，此处以引导层82是伺服专用层的情况为例进行叙述。
图6表示使用的是对于引导层82和记录层83双方而言，与邻接的层间的层间隔大致相等的盘的实施方式。即，在盘2中记录信号时，液晶透镜元件14使入射的激光的大部分直接透射（图中的实线），使一部分激光发散（图中的虚线）。这些激光进一步被物镜16会聚，前者的光照射到记录信号的记录层上，后者的光照射到该记录层的远侧相邻的记录层或引导层上。
在对一个记录层的信号的记录结束时，按图中的箭头所示的顺序变更使用的记录层。该情况下，因为使用的是邻接的层间隔大致相等的光盘，所以液晶透镜元件14具有一种光焦度即可。此外，与记录或再现的记录层的深度对应的球面像差，能够通过图5A中的可动侧扩束透镜11的光轴方向位置进行修正。
图7是使用了邻接的层间隔不同的盘的实施方式，其表示了层间隔有两种的情况。例如，如图1D所示的具备多个引导层的盘中，需要考虑层间隔有两种的情况。
该情况下，作为液晶透镜元件14具备透镜光焦度较大的14A和透镜光焦度比14A小的14B，根据层间隔使任一个液晶透镜元件起作用即可。当然，也可以根据层间隔使起作用的液晶透镜元件的数量切换为一个或两个。
通过使用图7的实施方式，对于邻接的层间隔不同的盘也能够容易地应用本发明实施例。
[对多层光盘介质记录信息时的学习和记录再现流程]
接着，用图8～图9说明学习和记录再现的流程。
图8是表示本发明实施例中第一层的学习的流程的流程图。此处，盘的第一层即例如图1C中的引导层82，是能够记录信息信号的记录层。
图9是表示本发明实施例中第二层以后（包括第二层）的学习的流程的流程图。
[第一层的记录流程]
首先，用图8说明第一层的学习和记录流程。
液晶透镜元件14在初始状态下不工作（步骤S801）。在该状态下，受光元件21检测出的光信号，与一般的多层光盘相同。主控制电路58驱动半导体激光器6发光（S802），通过透镜上下移动（透镜扫描）而进行聚焦误差信号的扫描（S803），判别盘的种类。接着，主控制电路58开始使盘旋转（S804），移动准直透镜位置进行球面像差的粗调整（S805）。然后，主控制电路58使聚焦伺服工作（S806）。在该时刻DPP信号生成电路30能够生成DPP信号，所以主控制电路58进行透镜移位（S807），调节DPP信号生成电路30中的2处可变放大器的增益，进行所谓差分推挽法中的k值调整，即kDPP和kLE的学习（S808）。由此，DPP信号中的透镜误差信号的线性偏移被修正，残留的仅有非线性的偏移。以下将该非线性的偏移简称为DPP信号的偏移。接着，旋转伺服电路4根据与盘旋转同步的主轴时钟46，与该主轴时钟一致地使旋转伺服电路4内的锁相环路（PLL）工作（S809）。在该状态下，波形存储再现电路43a、43b能够与盘旋转同步地将输入的波形存储、再现。
本结构的信息记录装置中，首先在第一层（带槽层，引导层82）记录层中，为了正确地在轨道中央写入标记，而进行三阶段的学习。
首先，作为第一阶段的学习，首先对上述DPP信号的偏移进行学习和修正。该偏移是因为在聚焦伺服时追踪盘的偏心时产生的透镜移位而发生的，所以为了再现该状态，首先主控制电路58使跟踪伺服工作（S810）。在盘旋转一周的期间由波形存储再现电路43b存储并学习此时的透镜误差信号（LE信号）的变动（S811）。
接着，作为第二阶段的学习，主控制电路58使跟踪伺服不工作，成为可以观测DPP信号的振幅的状态（S812），并且，以再现之前学习的透镜误差信号的变动的方式，与盘旋转同步地驱动致动器17。具体而言，波形存储再现电路43b与盘旋转同步地输出存储的透镜误差信号，作为修正值供给到减法器48。作为减法器48的另一个输入，切换开关103选择实时的透镜误差信号32。由此，以正确地再现致动器已学习的透镜误差信号的变动的方式驱动致动器17，结果，与盘旋转同步地，在保持跟踪伺服OFF（不工作）的状态下再现与跟踪伺服ON（工作）时相同的透镜移位量的轨迹（S813）。本申请中，将该透镜移位量的伺服称为LE变动再现伺服。此外，本结构中，在此时能够通过微小摆动信号振荡器44使上述透镜移位位置产生微小振动。由此，即使在偏心较小的盘的情况下，也能够可靠地检测各透镜移位位置上的DPP信号33的振幅。该状态下得到的DPP信号的振幅中央值，对应于跟踪伺服工作时的真实的轨道中央。
接着，作为第三阶段的学习，由另一个波形存储再现电路43a与盘旋转同步地存储并学习该振幅中央值（S814）。在学习完成后，主控制电路58使LE变动再现伺服不工作（S815）。通过这样以学习的振幅中央值为目标而利用DPP信号实施跟踪伺服，光斑能够在正确的轨道中央上扫描。具体而言，由波形存储再现电路43a输出存储的振幅中央值，开始DPP偏移修正值输出，将其作为修正值供给到减法器48（S816）。作为减法器的另一个输入，使用切换开关103选择实时的DPP信号33。这些处理由主控制电路58统一控制，由此以DPP跟踪方式进行伺服控制（伺服ON）（S817）。
通过以上处理，在光斑正确地在学习的轨道中央扫描的状态下，实施跟踪伺服。在该状态下，在第一层的记录层的整个面上记录信息（S818）。当记录了标记后，可以根据已记录的标记得到DPD信号。由此第一面的记录完成。
该状态下，在第一层（带槽层）的记录面的整个面上能够正确地在轨道中央上记录标记，不过，作为接下来的第二层（无槽层）的记录的准备，要进行以下第四阶段的学习。
作为第四阶段的学习，主控制电路58在第一层（带槽层）的记录层上进行聚焦伺服，并且在保持DPP跟踪伺服工作的状态下，学习DPD信号的偏移变动（S819）。具体而言，与因盘旋转而产生的偏心同步地，DPD信号生成电路34b能够检测周期性地偏移的DPD信号，所以波形存储再现电路43b与盘旋转同步地存储并学习该检测出的DPD信号的偏移值。所存储的DPD信号的偏移，是从正确记录在轨道中央的标记产生的偏移，所以根据DPD信号实施跟踪伺服以使DPD信号与该偏移一致，从而在DPD跟踪伺服下也能够实现光斑正确地在本来的轨道中央上扫描的状态。具体而言，波形存储再现电路43b输出存储的DPD信号的偏移值，作为修正值供给到减法器48。作为减法器48的另一个输入，切换开关103选择实时的DPD信号38a。通过在该状态下进行伺服控制，而成为光斑能够正确地在本来的轨道中央上扫描的状态。由此，接下来的第二层以后的记录准备完成。停止聚焦伺服（S820），转移至以下的第二层以后的流程。
[对第二层以后的记录流程]
接着，用图9说明第二层以后的学习和记录流程。
对第二层以后（第N层）记录时，使用上述第（N-1）层记录结束时学习的DPD信号的偏移值作为伺服目标值，根据DPD信号实施跟踪伺服即可。其中，对第二层进行记录的情况下，N=2。具体流程如下所述。
首先，主控制电路58使液晶透镜元件14工作（S901），在主光聚焦于第N层、副光聚焦于第（N-1）层的状态下，开始进行聚焦伺服（S902）。液晶透镜元件14通过施加电压而产生两级的发散光焦度，产生上述主光和副光。主光在第N层上聚焦，但副光通常不是在第（N-1）层上聚焦，而是聚焦在第N层与第（N-1）层之间。该情况下，副光相对于作为目标的第（N-1）层发生若干焦点偏移（聚焦偏移目标层）。不过，在辅助受光元件23中，由于副光的该焦点偏移比较小，通过将聚焦误差信号36b作为反馈信号驱动步进电机12b，能够对焦点偏移进行修正。即，副光等价地聚焦在第（N-1）层上（S903）。
DPD信号生成电路34b根据副光生成DPD信号，跟踪误差学习修正电路40读出在图8的S819中学习的偏移变动（S904），实施跟踪伺服（S905）。主控制电路58利用主光在记录膜上写入标记，进行信息的记录（S906）。此时，切换跟踪误差学习修正电路40的切换开关103，以根据由聚焦在第（N-1）层上的副光所生成的DPD信号38b来实施跟踪伺服。
本结构例的情况下，选择DPD信号38b作为减法器48的输入，而作为进行减法运算的修正值，选择从存储了在第（N-1）层上学习的DPD信号的偏移的某一个波形存储再现电路（43a或43b）读取的修正值（修正值信号47a或47b）即可。该状态下，主控制电路58在第N层的记录层上使用主光写入标记，在整个面上记录信息。当第N层记录结束时，转移到再现状态，跟踪误差学习修正电路40将根据第N层的已记录标记生成的DPD信号38a的偏移值存储至另一个波形存储再现电路（43b或43a）进行学习（S907）。学习完成后，可以使液晶透镜元件14不工作（S908），停止跟踪伺服和聚焦伺服（S909、S910）。由此完成第N层的记录再现和学习。
之后，用第（N+1）层代替第N层，用第N层代替第（N-1）层，反复同样的流程，从而在3层以上的多层盘中，在第二层以后连续配置了没有槽或坑（轨道标记）的记录层的情况下，也能够在记录层间复制轨道的配置，能够通过学习修正而高精度地保持轨道的位置精度，并在这样的状态下追加记录信息。此外，通过这样使用2个系统的波形存储再现电路43a和43b按各层交替地存储/再现偏移修正值，能够仅使用2个系统的最小限度的存储器，正确地修正任意多层的跟踪伺服的偏移，能够使电路低成本化。
此外，当反复复制了一定程度后，位置精度会逐渐劣化。在使用如之前图1D所示每隔数个记录层插入了有槽（能够生成DPP信号）的记录层的盘的情况下，能够重置轨道偏移的影响而改善跟踪精度。此外，主控制电路58也能够采用对应结构。
以上是对于未记录的多层盘介质在多个层中新记录信息的情况下的记录流程。
在再现已记录的信息时，因为能够根据已经记录的标记生成DPD信号，所以只要使用该DPD信号实施跟踪伺服即可。在再现时不需要使液晶透镜元件14工作，此外通过使其不工作能够减少邻接层引起的杂散光的产生。通过使用能够停止透镜作用的液晶透镜元件，能够减少这种因邻接层引起的杂散光的影响，能够提高对多层光盘进行信息再现时的可靠性。此外，通过使用具有2个值的会聚发散光焦度的液晶透镜元件，也能够对应能够抑制在记录层间中多重反射的杂散光的影响的、邻接层间的间隔存在改变的多层盘。
此外，在对于从第一层至第N层的中途已经记录了信息（第N层未记录完全）的盘，再次追加记录信息的情况下，在第（N-1）层和第N层中学习DPD信号的偏移值作为伺服目标值，在根据DPD信号实施跟踪伺服的同时，从第N层的中途开始记录即可。此时，首先基于受光元件21从第N层的已记录区域的一部分得到的信号，由DPD信号生成电路34a生成DPD信号而实施跟踪伺服。此时，也学习第N层上的DPD信号的偏移值。接着，当到达未记录区域时，辅助受光元件23基于从第（N-1）层的区域得到的信号，学习DPD信号的偏移值。接着，DPD信号生成电路34b生成DPD信号，参照上述第（N-1）层上的偏移值和第N层上的偏移值这两个值实施跟踪伺服，同时由光拾取器部1对未记录的区域记录信息。
即，对一部分已记录的盘进行追加记录的情况下，在已记录的区域和未记录的区域中，使跟踪伺服用的DPD信号在DPD信号38a和DPD信号38b之间切换即可。对于已记录的区域，根据能够由已记录在第N层上的标记生成的DPD信号实施跟踪伺服。对于未记录的区域，根据能够由记录在相邻的第（N-1）层上的标记生成的DPD信号实施跟踪伺服。在已记录的区域和未记录的区域在同一周内同时存在的情况下，以尽可能地使轨道中心与已记录区域中的标记一致的方式优先学习。进行跟踪伺服以学习记录区域的偏移，在未记录区域中再现该偏移，使得记录区域中的DPD跟踪误差信号的偏移在未记录区域中也保持相同的偏移。由此，能够不打乱已经记录的区域的轨道的排列，对未记录区域追加记录标记。
此外，在记录中，为了进行记录调制，会以较快的速度调制激光强度，所以DPD信号生成电路34a、34b生成的DPD信号38a、38b不稳定。于是，在记录中，通过采样保持电路52a、52b进行控制，仅在激光强度一定时间内稳定时使信号通过，除此以外保持信号。由此，在记录时也能够使基于DPD信号38a、38b的跟踪伺服稳定。
本结构中，根据DPP信号振幅的上侧包络和下侧包络的平均值检测跟踪信号偏移，所以能够正确地检测因盘偏心而出现透镜移位从而导致的DPP信号偏移。此外，使用LE变动再现伺服，正确地学习DPP信号的偏移并在跟踪伺服时进行修正，也能够修正因盘偏心而出现透镜移位从而导致的DPP信号偏移，因而能够进行更高精度的轨道中心偏移的修正。因为能够在首层（上述第一层）中使记录的标记位置与轨道中央位置更高精度地一致，所以也能够提高复制记录的多层光盘介质整体的记录标记的位置精度。
以上实施例中，从在盘2中记录信息信号的动作起进行说明，当然，对于不进行信息信号的记录动作而仅进行再现动作的信息再现装置，也能够应用本发明。
（其他细节的结构）
此外，波形存储再现电路（43a或43b）中，在存储波形本身的情况下，需要大容量的存储器，所以在想要抑制存储器容量的情况下，也可以根据从旋转伺服电路4输出的主轴时钟46，与盘旋转同步地存储输入信号，在读取时用样条法进行插值后输出。
对于该情况下的波形存储再现电路（43a或43b）的结构，用图10～图11详细说明。
图10是本发明实施例的波形存储再现电路（43a或43b）的结构图。波形存储再现电路（43a或43b）中，根据盘旋转角度（此处为主轴时钟46），进行要修正的跟踪误差信号的振幅和偏移量的存储和插值处理。多个修正值存储电路61，分别与盘旋转角度的范围对应地，由其中某一个起到在学习中存储输入信号60的功能。存储的修正值62被输出到插值电路63。插值电路63中，使用邻近的4个存储的修正值62和上述盘旋转角度，由对应的插值范围一致的插值电路63输出插值后的修正值信号47。由此，生成将存储的修正值的各点平滑连接的插值波形输出，作为波形存储再现电路的输出。
图11是说明本发明实施例的插值电路63的动作的图。插值处理通过样条插值而进行，令上述盘旋转角度为x，存储的修正值62为S，则其计算值由如图11所示的平滑的三次函数近似输出。学习时，用以下所示的数学式按区间求出a、b、c、d：
[式1]
a b c d = X 1 3 X 1 2 X 1 1 X 2 3 X 2 2 X 2 1 X 3 3 X 3 2 X 3 1 X 4 3 X 4 2 X 4 1 - 1 S 1 S 2 S 3 S 4 . . . ( 1 )
并且，用以下所示的数学式计算并输出计算值：
[式2]
S(x),ax3+bx2+ex+d     …(2)
由此，能够大幅减少学习中存储波形时所需的存储器的量，使控制电路低成本化。
以上，通过本结构，邻接的多层之间轨道中心偏移得到修正，对于具有多个没有能够产生跟踪信号的槽结构或标记结构的一部分区域或记录层的多层光盘介质，也能够检测、修正邻接层之间的轨道位置，正确地在轨道中心记录标记。作为多层介质，能够使用具有没有槽结构或预制坑的平坦的记录层的介质，所以介质成本低。此外，作为光拾取器，也能够不使用同时使用了蓝色光学系统和红色光学系统的难度较高的现有结构，而使用仅具有单色光学系统的低成本的光拾取器。由此，能够实现介质、装置都低成本化的作为光盘装置的信息记录装置。
上述结构例中，表示了作为介质的第一层记录层具有能够通过推挽法产生跟踪信号的槽结构的情况，但该介质中作为第一层也可以不具有槽结构，而是改为具有能够通过差分相位检测法产生跟踪误差信号的坑（跟踪标记）结构。该情况下，可以通过坑（跟踪标记）而直接得到DPD信号，所以上述对第一层的记录流程中，用DPD信号代替流程中所示的DPP信号进行学习即可。图5A所示的结构例中，仅通过开关的切换，就能够对应任意一种介质的情况。本结构例中，具有DPP信号生成电路30和DPD信号生成电路34a、34b，能够在同一记录层上同时产生DPP法的跟踪误差信号和DPD法的跟踪误差信号，在偏移学习时能够任意选择这些信号进行学习修正，所以对于哪一种介质都能够正确地进行修正，正确地将标记记录在轨道中央。
此外，本发明不限定于上述实施例，包括各种变形例。例如，上述实施例是为了易于理解地说明本发明而作的详细说明，并不限定于必须具备说明的所有结构。此外，能够将某个实施例的结构的一部分置换为其他实施例的结构，或者在某个实施例的结构上添加其他实施例的结构。此外，对于各实施例的结构的一部分，能够追加、删除、置换其他结构。
此外，上述各结构的一部分或全部，可以用硬件构成，也可以构成为通过处理器执行程序而实现。此外，控制线和信息线表示了认为说明上必要的，并不一定表示了产品上所有的控制线和信息线。实际上也可以认为几乎所有结构都相互连接。

Claims (10)

1.一种光拾取装置，对在厚度方向上具有多个用于记录信息信号的记录层的多层光盘照射激光而进行所述信息信号的记录再现，其特征在于，包括：
激光光源，用于产生所述激光；
液晶透镜元件，具有将该激光光源产生的激光分割而使激光在所述光盘的记录层中的邻接的两个记录层上均会聚的第一工作模式，和使所述激光光源产生的激光在所述光盘的记录层中任意的一个记录层上会聚的第二工作模式；
第一受光元件，在该液晶透镜元件处于第一工作模式时，被在所述两个记录层中靠近所述液晶透镜元件一侧的记录层上反射的光照射，根据该光而检测电信号并将其输出，在所述液晶透镜元件处于第二工作模式时，被在所述一个记录层上反射的光照射，根据该光而检测电信号并将其输出；和
第二受光元件，在所述液晶透镜元件处于第一工作模式时，被在所述两个记录层中离所述液晶透镜元件较远一侧的记录层上反射的光照射，根据该光而检测并输出电信号。
2.一种光学信息记录装置，使用在厚度方向上具有多个用于记录信息信号的记录层的多层光盘作为记录介质，其特征在于，包括：
光拾取器，包括：激光光源，用于产生激光；液晶透镜元件，具有将该激光光源产生的激光分割而使激光在所述光盘的记录层中的邻接的两个记录层上均会聚的第一工作模式，和使所述激光光源产生的激光在所述光盘的记录层中任意的一个记录层上会聚的第二工作模式；第一受光元件，在该液晶透镜元件处于第一工作模式时，被在所述两个记录层中靠近所述液晶透镜元件一侧的记录层上反射的光照射，根据该光而检测电信号并将其输出，在所述液晶透镜元件处于第二工作模式时，被在所述记录层上反射的光照射，根据该光而检测电信号并将其输出；和第二受光元件，在所述液晶透镜元件处于第一工作模式时，被在所述两个记录层中离所述液晶透镜元件较远一侧的记录层上反射的光照射，根据该光而检测并输出电信号；
第一DPD信号生成电路，基于由所述光拾取器的第一受光元件输出的电信号，生成作为差分相位检测法下的跟踪误差信号的DPD信号并将其输出；
第二DPD信号生成电路，基于由所述光拾取器的第二受光元件输出的电信号，生成作为差分相位检测法下的跟踪误差信号的DPD信号并将其输出；
波形存储再现电路，被供给由所述第一DPD信号生成电路输出的DPD信号，检测所供给的信号中包括的伴随所述光盘的旋转而产生的偏移成分，将该偏移成分存储并再现而输出；和
控制电路，基于由所述第一DPD信号生成电路、第二DPD信号生成电路和所述波形存储再现电路输出的信号，进行用于控制所述光拾取器的液晶透镜元件使所述激光会聚的位置的跟踪控制，
在所述光盘的离所述液晶透镜元件较远一侧的记录层上已经记录了信息信号，并且要在靠近所述液晶透镜元件一侧的记录层上记录信息信号的情况下，
所述控制电路进行控制，使得：
所述光拾取器的液晶透镜元件工作在第一工作模式，
将由所述第一DPD信号生成电路生成的DPD信号中包括的所述偏移成分存储到所述波形存储再现电路中，
基于从由所述第二DPD信号生成电路生成的DPD信号中减去存储在所述波形存储再现电路中的偏移成分而得的信号进行跟踪控制，在靠近所述液晶透镜元件一侧的记录层上记录所述信息信号，
在要对已记录在所述光盘的记录层上的信息信号进行再现的情况下，
所述控制电路进行控制，使得：
所述光拾取器的液晶透镜元件工作在第二工作模式，
基于由所述第一DPD信号生成电路生成的DPD信号进行跟踪控制，再现所述信息信号。
3.如权利要求2所述的光学信息记录装置，其特征在于：
所述光盘内的一个记录层，具有用于生成作为推挽法下的跟踪误差信号的DPP信号的结构，
所述光学信息记录装置还包括DPP信号生成电路，基于由所述光拾取器的第一受光元件输出的电信号，生成所述DPP信号并将其输出，
在要在所述一个记录层上记录信息信号的情况下，
所述控制电路进行控制，使得：
所述光拾取器的液晶透镜元件工作在第二工作模式，
基于由所述DPP信号生成电路生成的DPP信号进行跟踪控制，在所述一个记录层上记录所述信息信号。
4.如权利要求2所述的光学信息记录装置，其特征在于：
所述光盘内的一个记录层，具有用于生成作为推挽法下的跟踪误差信号的DPP信号的结构，
所述光学信息记录装置还包括DPP信号生成电路，基于由所述光拾取器的第一受光元件输出的电信号，生成所述DPP信号和透镜误差信号（LE信号）并将这两个信号输出，
在要在没有记录信息信号的状态下的所述一个记录层上记录信息信号的情况下，
所述控制电路进行控制，使得：
所述光拾取器的液晶透镜元件工作在第二工作模式，
将由所述DPP信号生成电路生成的LE信号中包括的所述偏移成分存储到所述波形存储再现电路中，
基于从由所述DPP信号生成电路生成的DPP信号中减去存储在所述波形存储再现电路中的偏移成分而得的信号进行跟踪控制，在所述一个记录层上记录所述信息信号。
5.如权利要求2所述的光学信息记录装置，其特征在于：
第一DPD信号生成电路和第二DPD信号生成电路，具有用于保持所生成的DPD信号的值的采样保持电路，
所述控制电路，
在所述激光光源产生的激光的强度发生变动的情况下，控制所述采样保持电路以保持由所述第一DPD信号生成电路和第二DPD信号生成电路生成的DPD信号的值。
6.如权利要求2所述的光学信息记录装置，其特征在于：
具有2个所述波形存储再现电路，按每一层交替地存储所述多个记录层的偏移成分。
7.如权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于：
所述液晶透镜元件在所述激光光源产生的激光的光轴方向上设置有多个，在所述第一工作模式下，根据要使所述激光会聚的两个记录层的间隔而从所述多个液晶透镜元件中选择的液晶透镜元件，将所述激光分割而使激光在所述光盘的记录层中的邻接的两个记录层上均会聚。
8.如权利要求2所述的光学信息记录装置，其特征在于：
所述光拾取器的液晶透镜元件，在所述激光光源产生的激光的光轴方向上设置有多个，
所述控制电路控制所述光拾取器，使得在所述第一工作模式下，根据要使所述激光会聚的两个记录层的间隔而从所述多个液晶透镜元件中选择液晶透镜元件，将所述激光分割而使激光在所述光盘的记录层中的邻接的两个记录层上均会聚。
9.一种光学信息记录方法，对在厚度方向上具有多个用于记录信息信号的记录层，且一个记录层具有用于生成作为推挽法下的跟踪误差信号的DPP信号和透镜误差信号（LE信号）的结构的多层光盘照射激光，记录所述信息信号，其特征在于：
从所述一个记录层生成所述DPP信号和LE信号，并检测该LE信号中包括的偏移成分，
从生成的所述DPP信号中减去所述检测出的偏移成分，对所述一个记录层进行跟踪控制，
对所述一个记录层记录所述信息信号，
在所述一个记录层的整个面上都记录了信息信号的情况下，
根据对所述一个记录层记录的信息信号，生成作为差分相位检测法下的跟踪误差信号的DPD信号，并检测该DPD信号中包括的偏移成分，
利用液晶透镜元件将对所述光盘照射的激光分割而使激光在所述一个记录层和与该一个记录层邻接的记录层上均会聚，
从基于会聚在所述一个记录层上的激光而生成的DPD信号中减去所述偏移成分，对所述邻接的记录层进行跟踪控制，
对所述邻接的记录层记录所述信息信号。
10.一种光学信息记录介质，在厚度方向上具有多个用于记录信息信号的记录层，其特征在于：
所述记录层包括多个第一记录层和多个第二记录层，其中所述第一记录层具有用于生成作为推挽法下的跟踪误差信号的DPP信号的结构，所述第二记录层在没有记录所述信息信号的状态下不具有用于生成跟踪误差信号的结构，
所述第一记录层被配置成在厚度方向上隔着所述第二记录层。
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