CN103487170A - 一种多通道温度巡检仪校准装置及其校准方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种多通道温度巡检仪校准装置及其校准方法,它包括信号校验仪(2),信号校验仪(2)的温度输入端与校准测温探头(4)导线连接,校准测温探头(4)位于被校多通道温度巡检仪(1)的内部测温探头(3)的一侧,被校多通道温度巡检仪(1)与信号校验仪(2)导线连接;解决了解决了有技术多通道温度巡检仪的校准时,由于被校仪器运行时仪器内部元器件会发热,导致内部测温探头会随运行时间的增长而不断升高,使得在校准过程中被校仪表示值不断升高,多通道温度巡检仪的温度校准准确度低等问题。
Description
技术领域
本发明属于温度巡检仪校准技术领域,尤其涉及一种多通道温度巡检仪校准装置及其校准方法。
背景技术
温度巡检仪是工业上用于测量温度重要仪表之一,尤其是多通道温度巡检仪由于具有测量通道多、显示直观、实用性强、可靠性高和测量准确度高等特点,已被广泛运用于各种温度试验箱、热处理炉等各种温度设备的温场测试,所以,对多通道温度巡检仪的校准方法也具有重要的意义;多通道温度巡检仪测量热电偶时是通过测量热电偶的电压信号和多通道温度巡检仪自身参考端的温度来得知热电偶测量端的温度,参考端的温度通过多通道温度巡检仪内部测温探头测得,由于测温探头安装在仪器内部,在进行多通道温度巡检仪的校准时,由于被校仪器运行时仪器内部元器件会发热,导致内部测温探头会随运行时间的增长而不断升高,使得在校准过程中被校仪表示值不断升高,最终使多通道温度巡检仪的温度校准准确度不断下降。
发明内容
本发明要解决的技术问题: 提供一种多通道温度巡检仪校准装置及其校准方法,以解决现有技术多通道温度巡检仪的校准时,由于被校仪器运行时仪器内部元器件会发热,导致内部测温探头会随运行时间的增长而不断升高,使得在校准过程中被校仪表示值不断升高,多通道温度巡检仪温度校准准确度低等问题。
本发明技术方案:
一种多通道温度巡检仪校准装置,它包括信号校验仪,信号校验仪的温度输入端与校准测温探头导线连接,校准测温探头位于被校多通道温度巡检仪(1)的内部测温探头的一侧,被校多通道温度巡检仪与信号校验仪导线连接。
校准测温探头为AA级铂热电阻。
校准测温探头位于被校多通道温度巡检仪的内部测温探头的左侧或右侧且紧密放置。
一种多通道温度巡检仪的校准方法,它包括下述步骤:
步骤1、将校准测温探头放置在内部测温探头的一侧,校准测温探头的信号输出端接至信号校验仪的温度输入端;
步骤2、将被校多通道温度巡检仪的被校通道短路连接;
步骤3、通电预热,预热时间为15分钟-20分钟;
步骤4、读取短路通道的温度值t示1和校准测温探头的温度值t1;
步骤6、将信号校验仪的信号源输出端连接至被校多通道温度巡检仪的被校通道;
步骤7、信号校验仪向被校多通道温度巡检仪输出一定的电压V,读取被校多通道温度巡检仪上显示的温度显示值t示2 ;
步骤8、查热电偶分度表得出t示2对应的热电势U示2和电压V所对应的校准点温度t对应的热电势Ut ;
步骤10、通过公式计算出校准点温度t的总误差△t,其中:—参考端温度示值误差;单位℃;
本发明的有益效果:
本发明结构简单,操作方法简便,相对现有技术检定方法,本发明能够大幅提高被校多通道温度巡检仪的校准准确度,解决了有技术多通道温度巡检仪的校准时,由于被校仪器运行时仪器内部元器件会发热,导致内部测温探头会随运行时间的增长而不断升高,使得在校准过程中被校仪表示值不断升高,多通道温度巡检仪的温度校准准确度低等问题。采用本发明和现有技术对比,温度校准准确度至少提高了1.0℃。由于本发明是在校准参考端温度误差的过程是一个短暂的过程,没有持续校准,所以仪器内部元器件的发热对参考端温度的变化影响很小,提高了校准多通道温度巡检仪的准确度。
附图说明:
图1为本发明结构示意图。
具体实施方式:
一种多通道温度巡检仪校准装置,它包括信号校验仪2,信号校验仪2的温度输入端与校准测温探头4导线连接,校准测温探头4位于被校多通道温度巡检仪1的内部测温探头3的一侧,被校多通道温度巡检仪1与信号校验仪2导线连接,优选屏蔽数据线6。
校准测温探头(4)的为AA级铂热电阻。
校准测温探头4位于被校多通道温度巡检仪1的内部测温探头3的左侧或右侧且紧密放置,以提高温度测量的准确性。
一种多通道温度巡检仪的校准方法,它包括下述步骤:
步骤1、将校准测温探头4放置在内部测温探头3的一侧,校准测温探头4的信号输出端接至信号校验仪2的温度输入端;
步骤2、将被校多通道温度巡检仪1的被校通道短路连接;
步骤3、通电预热,预热时间为15分钟-20分钟;
步骤4、读取短路通道的温度值t示1和校准测温探头4的温度值t1;
步骤6、将信号校验仪2的信号源输出端连接至被校多通道温度巡检仪1的被校通道5;
步骤7、信号校验仪2向被校多通道温度巡检仪1输出一定的电压V,读取被校多通道温度巡检仪1上显示的温度显示值t示2 ;
步骤8、查热电偶分度表得出t示2对应的热电势U示2和电压V所对应的校准点温度t对应的热电势Ut ;
步骤9、信号检验仪2向被校多通道温度巡检仪1的被校通道5输入校准点温度t对应的热电势Ut与热电势U示2的差值,读取被校多通道温度巡检仪1的被校通道5的读数t示,计算出对应校准点的温度示值误差=t示-t;
—校准点温度示值误差;单位℃;
步骤5所述的被校多通道温度巡检仪1的参考端温度示值误差计算公式为= t示1-t1 。
信号校验仪2向被校多通道温度巡检仪1输入热电势,不同的温度点可以通过查找ITS-90国际温标获得。
校准其他的校准点温度,可将该校准点温度所对应的热电势查出,然后通过改变信号校验仪2向被校多通道温度巡检仪1输入热电势来实现,校准其他通道,通过修改通道接线,重复上述步骤实现,最终完成多通道温度巡检仪温度误差的校准。
Claims (5)
1.一种多通道温度巡检仪校准装置,它包括信号校验仪(2),其特征在于:信号校验仪(2)的温度输入端与校准测温探头(4)导线连接,校准测温探头(4)位于被校多通道温度巡检仪(1)的内部测温探头(3)的一侧,被校多通道温度巡检仪(1)与信号校验仪(2)导线连接。
2.根据权利要求1所述的一种多通道温度巡检仪校准装置,其特征在于:校准测温探头(4)为AA级铂热电阻。
3.根据权利要求1所述的一种多通道温度巡检仪校准装置,其特征在于:校准测温探头(4)位于被校多通道温度巡检仪(1)的内部测温探头(3)的左侧或右侧且紧密放置。
4.一种多通道温度巡检仪的校准方法,它包括下述步骤:
步骤1、将校准测温探头(4)放置在内部测温探头(3)的一侧,校准测温探头(4)的信号输出端接至信号校验仪(2)的温度输入端;
步骤2、将被校多通道温度巡检仪(1)的被校通道短路连接;
步骤3、通电预热,预热时间为15分钟-20分钟;
步骤4、读取短路通道的温度值t示1和校准测温探头(4)的温度值t1;
步骤6、将信号校验仪(2)的信号源输出端连接至被校多通道温度巡检仪(1)的被校通道(5);
步骤7、信号校验仪(2)向被校多通道温度巡检仪(1)输出一定的电压V,读取被校多通道温度巡检仪(1)上显示的温度显示值t示2 ;
步骤8、查热电偶分度表得出t示2对应的热电势U示2和电压V所对应的校准点温度t对应的热电势Ut ;
步骤9、信号检验仪(2)向被校多通道温度巡检仪(1)的被校通道(5)输入校准点温度t对应的热电势Ut与热电势U示2的差值,读取被校多通道温度巡检仪(1)的被校通道(5)的读数t示,计算出对应校准点的温度示值误差=t示-t;
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