CN103455396B - 电子设备硬件性能的测试方法及装置 - Google Patents
电子设备硬件性能的测试方法及装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN103455396B CN103455396B CN201310395724.6A CN201310395724A CN103455396B CN 103455396 B CN103455396 B CN 103455396B CN 201310395724 A CN201310395724 A CN 201310395724A CN 103455396 B CN103455396 B CN 103455396B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- result
- test
- performance
- perform
- performs
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
- G06F11/3003—Monitoring arrangements specially adapted to the computing system or computing system component being monitored
- G06F11/3024—Monitoring arrangements specially adapted to the computing system or computing system component being monitored where the computing system component is a central processing unit [CPU]
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
- G06F11/3003—Monitoring arrangements specially adapted to the computing system or computing system component being monitored
- G06F11/3037—Monitoring arrangements specially adapted to the computing system or computing system component being monitored where the computing system component is a memory, e.g. virtual memory, cache
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
- G06F11/34—Recording or statistical evaluation of computer activity, e.g. of down time, of input/output operation ; Recording or statistical evaluation of user activity, e.g. usability assessment
- G06F11/3409—Recording or statistical evaluation of computer activity, e.g. of down time, of input/output operation ; Recording or statistical evaluation of user activity, e.g. usability assessment for performance assessment
- G06F11/3428—Benchmarking
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2201/00—Indexing scheme relating to error detection, to error correction, and to monitoring
- G06F2201/815—Virtual
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
本发明实施例公开了一种电子设备硬件性能的测试方法及装置。该方法包括：获得开始测试指令；响应开始测试指令，分别对待测试的硬件项目进行测试，测试过程包括：首先执行虚拟机性能的测试，获得第一执行结果，依据第一执行结果，确定虚拟机性能的第一测试结果；然后同时执行RAM性能的测试和CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果；或，执行RAM性能的测试，获得第二执行结果之后，执行CPU整数运算性能的测试，获得第三执行结果；依据第二执行结果，确定RAM性能的第二测试结果，依据第三执行结果，确定CPU整数运算性能的第三测试结果。可见，通过合理的硬件项目测试顺序，提高了电子设备硬件性能的测试准确性。
Description
技术领域
本发明涉及电子设备测试领域，特别涉及一种电子设备硬件性能的测试方法及装置。
背景技术
随着科学技术飞速的发展，各种电子设备不断的丰富并方便了大众生活。由于利用电子设备处理信息具有方便快捷、节省资源等优势，使得电子设备成为人们的生活或工作中不可或缺的一部分。
其中，不同机型的电子设备的硬件性能参差不齐，因此，为了用户充分了解电子设备的硬件性能，需要对电子设备的硬件性能进行测试。现有技术中，通过硬件性能测试软件进行跑分测试以实现硬件性能测试，具体测试过程为：为每个硬件项目执行所对应的测试程序，从而根据执行结果确定出该硬件项目的测试结果，进而确定出电子设备硬件性能的测试结果。
但是，现有测试方法中，所测试的硬件项目较少，仅测试一种或者少数的几种硬件项目，而且各个硬件项目独立测试，其并没有考虑到实际应用场景中各个硬件项目的相互影响，最终将导致所确定出的测试结果不够准确，并不能非常真实的反应电子设备的硬件性能。
可见，如何提高电子设备硬件性能的测试准确性是一个亟待解决的问题。
发明内容
基于上述问题，本发明实施例公开了一种电子设备硬件性能的测试方法及装置，以提高电子设备硬件性能的测试准确性。技术方案如下：
第一方面，本发明实施例提供了一种电子设备硬件性能的测试方法，包括：
获得开始测试指令；
响应所述开始测试指令，分别对待测试的硬件项目进行测试，所述待测试的硬件项目至少包括：虚拟机性能、RAM(random access memory，随机存储器)性能、CPU整数运算性能；
其中，所述分别对待测试的硬件项目进行测试包括：
首先执行所述虚拟机性能的测试，获得第一执行结果，并依据所述第一执行结果，确定所述虚拟机性能对应的第一测试结果；
在获得所述第一执行结果后，同时执行所述RAM性能的测试和所述CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果，
或，执行所述RAM性能的测试，获得第二执行结果之后，执行所述CPU整数运算性能的测试，获得第三执行结果；
依据所述第二执行结果，确定所述RAM性能对应的第二测试结果，依据所述第三执行结果，确定所述CPU整数运算性能对应的第三测试结果。
可选的，所述同时执行所述RAM性能的测试和所述CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果，包括：
执行所述RAM性能和所述CPU整数运算性能的联合测试程序，获得第二执行结果和第三执行结果。
可选的，同时执行所述RAM性能的测试和所述CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果之后，再执行所述RAM性能的二次测试，获得第四执行结果；
相应的，依据所述第二执行结果，确定所述RAM性能对应的第二测试结果，包括：
依据所述第二执行结果和所述第四执行结果，确定所述RAM性能对应的第二测试结果。
可选的，同时执行RAM性能的测试和CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果之后，再执行所述CPU整数运算性能的二次测试，获得第五执行结果；
依据所述第三执行结果，确定所述CPU整数运算性能对应的第三测试结果，包括：
依据所述第三执行结果和所述第五执行结果，确定所述CPU整数运算性能对应的第三测试结果。
可选的，同时执行RAM性能的测试和CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果之后，再执行所述RAM性能的二次测试，获得第六执行结果；在获得所述第六执行结果后，再执行所述CPU整数运算性能的二次测试，获得第七执行结果；
相应的，依据所述第二执行结果，确定所述RAM性能对应的第二测试结果，包括：
依据所述第二执行结果和所述第六执行结果，确定所述RAM性能对应的第二测试结果。
依据所述第三执行结果，确定所述CPU整数运算性能对应的第三测试结果，包括：
依据所述第三执行结果和所述第七执行结果，确定所述CPU整数运算性能对应的第三测试结果。
可选的，所述待测试的硬件项目还包括：CPU浮点数运算性能；
在获得所述第六执行结果后，再执行CPU浮点数运算性能的测试，获得第八执行结果；
并依据所述第八执行结果，确定所述CPU浮点数运算性能对应的第四测试结果。
可选的，所述待测试的硬件项目还包括：GPU的2D绘图性能；
在获得所述第七执行结果和所述第八执行结果后，再执行GPU的2D绘图性能的测试，获得第九执行结果；
并依据所述第九执行结果，确定所述GPU的2D绘图性能对应的第五测试结果。
可选的，所述待测试的硬件项目还包括：GPU的3D绘图性能；
在获得所述第七执行结果和所述第八执行结果后，再执行GPU的3D绘图性能的测试，获得第十执行结果；
并依据所述第十执行结果，确定所述GPU的3D绘图性能对应的第六测试结果。
可选的，所述待测试的硬件项目还包括：GPU并行加速性能；
在获得所述第七执行结果和所述第八执行结果后，再执行GPU并行加速性能的测试，获得第十一执行结果；
并依据所述第十一执行结果，确定所述GPU并行加速性能对应的第七测试结果。
可选的，所述待测试的硬件项目还包括：数据库I/O性能；
在获得所述第六执行结果后，再执行数据库I/O性能的测试，获得第十二执行结果；
并依据所述第十二执行结果，确定所述数据库I/O性能对应的第八测试结果。
可选的，所述待测试的硬件项目还包括：EMMC存储器性能；
在获得所述第六执行结果后，再执行EMMC存储器性能的测试，获得第十三执行结果；
并依据所述第十三执行结果，确定所述EMMC存储器性能对应的第九测试结果。
可选的，所述待测试的硬件项目还包括：SD卡性能；
在获得所述第六执行结果后，再执行SD卡性能的测试，获得第十四执行结果；
并依据所述第十四执行结果，确定所述SD卡性能对应的第十测试结果。
可选的，所述电子设备硬件性能的测试方法还包括：
显示执行硬件项目的测试后所确定的各个测试结果；
和/或，
将执行硬件项目的测试后所确定的各个测试结果进行数学运算处理，将处理结果作为电子设备对应的测试结果，并显示所述电子设备对应的测试结果。
可选的，所述电子设备硬件性能的测试方法还包括：
接收用于指示将电子设备与第一电子设备进行硬件性能对比的对比指令；
显示所述电子设备的各个硬件项目所对应的测试结果以及预先存储的或从服务器获取的所述第一电子设备的相应硬件项目的测试结果；和/或，显示所述电子设备对应的测试结果以及预先存储的或从服务器获取的所述第一电子设备的测试结果。
可选的，所述电子设备硬件性能的测试方法还包括：
获取电子设备的机型；
将所述电子设备对应的测试结果、所述机型发送至服务器，以使得所述服务器按照预设的排序方式，确定所述电子设备在相同机型的电子设备中的排名和/或所述电子设备在不同机型的电子设备中的排名，并将所确定出的排名反馈给所述电子设备；
接收所述服务器所反馈的排名并显示。
第二方面，本发明实施例还提供了一种电子设备硬件性能的测试装置，包括：
测试指令获得模块，用于获得开始测试指令；
测试指令响应模块，用于响应所述开始测试指令，分别对待测试的硬件项目进行测试，所述待测试的硬件项目至少包括：虚拟机性能、RAM性能、CPU整数运算性能；
所述测试指令响应模块，包括：
第一执行子模块，用于首先执行所述虚拟机性能的测试，获得第一执行结果；
第一测试结果确定子模块，用于依据所述第一执行结果，确定所述虚拟机性能对应的第一测试结果；
第二执行子模块，用于在获得所述第一执行结果后，同时执行所述RAM性能的测试和所述CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果，或，执行所述RAM性能的测试，获得第二执行结果之后，执行所述CPU整数运算性能的测试，获得第三执行结果；
第二测试结果确定子模块，用于依据所述第二执行结果，确定所述RAM性能对应的第二测试结果；
第三测试结果确定子模块，用于依据所述第三执行结果，确定所述CPU整数运算性能对应的第三测试结果。
可选的，所述第二执行子模块，包括：
第一执行单元，用于执行所述RAM性能和所述CPU整数运算性能的联合测试程序，获得第二执行结果和第三执行结果；
或者，
第二执行单元，用于执行所述RAM性能的测试，获得第二执行结果之后，执行所述CPU整数运算性能的测试，获得第三执行结果。
可选的，所述第二执行子模块，包括：
第三执行单元，用于同时执行所述RAM性能的测试和所述CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果；并在获得第二执行结果和第三执行结果之后，再执行所述RAM性能的二次测试，获得第四执行结果；
相应的，所述第二测试结果确定子模块，包括：
第一结果确定单元，用于依据所述第二执行结果和所述第四执行结果，确定所述RAM性能对应的第二测试结果。
可选的，所述第二执行子模块，包括：
第四执行单元，用于同时执行RAM性能的测试和CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果，并在获得第二执行结果和第三执行结果之后，再执行所述CPU整数运算性能的二次测试，获得第五执行结果；
相应的，所述第三测试结果确定子模块，包括：
第一结果确定单元，用于依据所述第三执行结果和所述第五执行结果，确定所述CPU整数运算性能对应的第三测试结果。
可选的，所述第二执行子模块，包括：
第四执行单元，用于同时执行RAM性能的测试和CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果，并在获得第二执行结果和第三执行结果之后，再执行所述RAM性能的二次测试，获得第六执行结果；在获得所述第六执行结果后，再执行所述CPU整数运算性能的二次测试，获得第七执行结果；
相应的，所述第二测试结果确定子模块，包括：
第二结果确定单元，用于依据所述第二执行结果和所述第六执行结果，确定所述RAM性能对应的第二测试结果；
所述第三测试结果确定子模块，包括：
第二结果确定单元，用于依据所述第三执行结果和所述第七执行结果，确定所述CPU整数运算性能对应的第三测试结果。
可选的，所述测试指令响应模块，还包括：
第三执行子模块，用于在获得所述第六执行结果后，再执行CPU浮点数运算性能的测试，获得第八执行结果；
第四测试结果确定子模块，用于依据所述第八执行结果，确定所述CPU浮点数运算性能对应的第四测试结果。
可选的，所述测试指令响应模块，还包括：
第四执行子模块，用于在获得所述第七执行结果和所述第八执行结果后，再执行GPU的2D绘图性能的测试，获得第九执行结果；
第五测试结果确定子模块，用于依据所述第九执行结果，确定所述GPU的2D绘图性能对应的第五测试结果。
可选的，所述测试指令响应模块，还包括：
第五执行子模块，用于在获得所述第七执行结果和所述第八执行结果后，再执行GPU的3D绘图性能的测试，获得第十执行结果；
第六测试结果确定子模块，用于依据所述第十执行结果，确定所述GPU的3D绘图性能对应的第六测试结果。
可选的，所述测试指令响应模块，还包括：
第六执行子模块，用于在获得所述第七执行结果和所述第八执行结果后，再执行GPU并行加速性能的测试，获得第十一执行结果；
第七测试结果确定子模块，用于依据所述第十一执行结果，确定所述GPU并行加速性能对应的第七测试结果。
可选的，所述测试指令响应模块，还包括：
第七执行子模块，用于在获得所述第六执行结果后，再执行数据库I/O性能的测试，获得第十二执行结果；
第八测试结果确定子模块，用于依据所述第十二执行结果，确定所述数据库I/O性能对应的第八测试结果。
可选的，所述测试指令响应模块，还包括：
第八执行子模块，用于在获得所述第六执行结果后，再执行EMMC存储器性能的测试，获得第十三执行结果；
第九测试结果确定子模块，用于依据所述第十三执行结果，确定所述EMMC存储器性能对应的第九测试结果。
可选的，所述测试指令响应模块，还包括：
第九执行子模块，用于在获得所述第六执行结果后，再执行SD卡性能的测试，获得第十四执行结果；
第十测试结果确定子模块，用于依据所述第十四执行结果，确定所述SD卡性能对应的第十测试结果。
本方案中，在电子设备硬件性能的测试过程中，首先执行虚拟机性能的测试，避免了由于先测试其他硬件项目性能再测虚拟机性能而消耗系统资源、系统温度上升、系统减少对资源的分配，最终导致虚拟机性能的测试不准确的问题；其次测试RAM性能，避免了先测试其他测试项目会消耗一定RAM而影响RAM性能的测试准确性；而同时测试RAM性能与CPU整数运算性能可以模拟真实环境中的运算。可见，本方案中，通过合理的硬件项目测试顺序，可以提高电子设备硬件性能的测试准确性。而且，本方案中可对电子设备的多个硬件项目进行测试，从而能够较为真实全面的反应电子设备的硬件性能。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例所提供的一种电子设备硬件性能的测试方法的第一种流程图；
图2为本发明实施例所提供的一种电子设备硬件性能的测试方法的第二种流程图；
图3为本发明实施例所提供的一种电子设备硬件性能的测试装置的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
为了提高电子设备硬件性能的测试准确性，本发明实施例所提供的一种电子设备硬件性能的测试方法及装置。其中，电子设备可以为手机、台式计算机、笔记本电脑、平板电脑等移动设备，还可以为智能电视等智能终端，当然，还可以是其他设置有CPU和RAM的电子设备，本发明对此不做限定。
下面首先对本发明实施例所提供的一种电子设备硬件性能的测试方法进行介绍。
需要说明的是，本发明实施例所提供的电子设备硬件性能的测试方法适用于电子设备，其中，为了测试该电子设备的硬件性能，所需测试的硬件项目至少包括：虚拟机性能、RAM性能、CPU（Central Processing Unit，中央处理器）性能，当然还可以包括其他的硬件项目，例如
如图1所示，一种电子设备硬件性能的测试方法，可以包括：
S101，获得开始测试指令；
通常情况下，当需要测试电子设备的硬件性能时，用户可以对电子设备发出开始测试指令，而该电子设备在获得开始测试指令后，可以响应该测试指令，进而执行后续的步骤S102-步骤S106，以分别对待测试的硬件项目进行测试。
其中，该待测试的硬件项目可以至少包括：虚拟机性能、RAM性能、CPU整数运算性能，当然还可以包括其他的硬件项目，例如：GPU（GraphicProcessing Unit，图形处理器）性能（包括2D绘图性能、3D绘图性能、GPU并行加速性能等）、EMMC存储器(Embedded Multi Media Card，内嵌式存储器)性能、SD卡（Secure Digital Memory Card，安全数码卡）性能、数据库I/O（input/output，输入输出端口）性能及CPU浮点数性能中的至少一种。
S102，执行该虚拟机性能的测试，获得第一执行结果；
S103，依据该第一执行结果，确定该虚拟机性能对应的第一测试结果；
由于先测试其他硬件项目性能再测试虚拟机性能会带来消耗系统资源、系统温度上升、系统减少对虚拟机资源的分配等问题，最终导致不能准确测试虚拟机性能，因此，为了提高测试结果的准确性，在响应该开始测试指令的测试过程中，首先执行该虚拟机性能的测试，获得第一执行结果，进而依据该第一执行结果，确定该虚拟机性能对应的第一测试结果，从而完成对该虚拟机性能的测试。举例而言，可以理解的是，对于Andriod系统平台而言，该虚拟机为Dalvik虚拟机，本步骤中将测定Dalvik虚拟机性能，而对于其他系统平台而言，该虚拟机可以为其他的虚拟机，例如JAVA虚拟机，那么本步骤中将测定JAVA虚拟机性能，本发明在此不做限定。
需要说明的是，执行虚拟机性能的测试所利用的测试程序可以为依据现有的算法或自行设计的算法所编写的程序，这都是合理的；并且，可以执行一个测试程序来测试虚拟机性能，此时，获得一个第一执行结果，也可以执行至少两个测试程序来测试虚拟机性能，此时，获得至少两个第一执行结果。
并且，本领域技术人员可以理解的是，由于硬件性能的高低通常通过程序运行的时间来体现，程序运行的时间越短，说明程序运行速度越快，进而说明硬件的性能越高，因此，该第一执行结果以及后续的各个执行结果通常可以为测试程序的执行时间，当然并不局限于此。
举例而言，基于第一执行结果为第一执行时间的情况，当获得一个第一执行结果时，依据该第一执行结果，确定虚拟机性能的第一测试结果，可以通过如下方式：
可以从与虚拟机性能相关的执行时间与分数的对应关系中，确定出第一执行结果对应的第一分数，并将该第一分数作为第一测试结果，其中，通常情况下，执行时间越短，所对应的分数越高；或者，在确定出第一分数后，可以依据与虚拟机性能相关的预设的分数与评判内容的对应关系，进一步确定该第一分数对应的第一评价内容，并将该第一评价内容作为第一测试结果，其中，该评判内容可以包括：差、良好、一般、优，当然并不局限于此，且不同区间的分数对应不同的评判内容，通常情况下，差、良好、一般和优所对应的分数逐渐升高。
举例而言，基于第一执行结果为第一执行时间的情况，当获得至少两个第一执行结果时，依据该第一执行结果，确定虚拟机性能的第一测试结果，可以通过如下方式：
可以从与虚拟机性能相关的执行时间与分数的对应关系中，确定出每一第一执行结果对应的第一分数，并将至少两个第一分数求平均所得的值作为第一测试结果；或者，在确定出每一第一执行结果对应的第一分数后，确定每一第一执行结果所对应测试程序的预设的权重值，并将各个第一分数与相应权重值相乘，将各个乘积之和确定为第一测试结果。
需要说明的是，上述确定虚拟机性能的第一测试结果的方式仅仅作为示例，并不应该构成对本发明实施例的限定。
S104，同时执行该RAM性能的测试和该CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果；或，执行该RAM性能的测试，获得第二执行结果之后，执行该CPU整数运算性能的测试，获得第三执行结果；
其中，可选的，RAM性能为RAM的吞吐量，即RAM的读写速度。
由于每个硬件项目都会使用到内存，而某些系统是在程序结束之后才会回收资源及清理内存垃圾，如果先测试其他硬件项目则会消耗一定RAM，进而影响RAM性能的测试结果，因此，执行虚拟机性能的测试后需要来测试RAM性能；并且，由于实际运行环境中，程序运行时需要利用RAM和CPU整数，因此，为了模拟实际运行环境，可以同时测试RAM性能和CPU整数运算性能。基于该原因，在对虚拟机性能测试完毕后，即获得第一执行结果后，可以执行RAM性能的测试，获得第二执行结果后，再执行CPU整数运算性能的测试，进而获得第三执行结果；或者，也可以同时执行该RAM性能的测试和该CPU整数运算性能的测试，进而获得第二执行结果和第三执行结果。
本领域技术人员可以理解的是，由于RAM性能和CPU整数运算性能的高低通常通过程序运行的时间来体现，因此，该第二执行结果和该第三执行结果可以通过相应的测试程序的执行时间来获得，当然并不局限于此。
具体的，该同时执行该RAM性能的测试和该CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果，可以包括：
执行该RAM性能和该CPU整数运算性能的联合测试程序，获得第二执行结果和第三执行结果；其中，该RAM性能对应第二执行结果，而该CPU整数运算性能对应第三执行结果，且该第二执行结果和第三执行结果可以相同。
可以理解的是，可以执行一种联合测试程序来联合测试RAM性能和CPU整数运算性能，此时，获得一个第二执行结果和一个第三执行结果；也可以执行至少两种联合测试程序来联合测试RAM性能和CPU整数运算性能，此时，获得至少两个第二执行结果以及数量相同的第三执行结果，这都是合理的。其中，该联合测试程序可以为依据现有的同时涉及CPU整数运算和RAM的算法或自行设计的算法所编写的程序，从而模拟更加真实的使用环境，使得测试结果更具实用性和稳定性。例如：现有的同时涉及CPU整数运算和RAM的算法可以为：大规模字符串排序算法、大规模任务分配算法或大规模位运算算法，当然本发明并不局限于此。
作为一种可选方式，对于执行该RAM性能的测试，获得第二执行结果之后，执行该CPU整数运算性能的测试，获得第三执行结果，可以包括：
先执行该RAM性能的测试程序，获得第二执行结果；再执行该CPU整数运算性能的测试程序，获得第三执行结果。
在本实施例中，由于测试RAM性能即为测试RAM的读写速度，因此，可以通过执行自行编写的测试程序来实现对RAM进行的大量赋值、加法、乘法运算的操作；举例而言，对于执行该RAM性能的测试，可以采用一种测试程序，此时，获得一个第二执行结果；也可以采用至少两种测试程序，此时，获得至少两个第二执行结果。
与测试RAM性能相同，对于执行该CPU整数运算性能的测试，可以采用一种测试程序，此时，获得一个第三执行结果；也可以采用至少两种测试程序，此时，获得至少两个第三执行结果。其中，该CPU整数运算性能对应的测试程序可以依据现有的算法或自行设计的算法编写，例如：现有的算法可以为整数排序算法、霍夫曼编码算法或IDEA（International DataEncryption Algorithm，国际数据加密算法），当然，本发明并不局限于此。
S105，依据该第二执行结果，确定该RAM性能对应的第二测试结果；
在获得第二执行结果后，可以依据该第二执行结果，确定该RAM性能对应的第二测试结果。
举例而言，基于第二执行结果为执行时间的情况，当获得一个第二执行结果时，依据该第二执行结果，确定RAM性能的第二测试结果，可以通过如下方式：
可以从与RAM性能相关的执行时间与分数的对应关系中，确定出第二执行结果对应的第二分数，并将该第二分数作为第二测试结果，其中，通常情况下，执行时间越短，所对应的分数越高；或者，在确定出第二分数后，可以依据与RAM性能相关的分数与评判内容的对应关系，进一步确定该第二分数对应的第二评价内容，并将该第二评价内容作为第二测试结果，其中，该评判内容可以包括：差、良好、一般、优，当然并不局限于此，且不同区间的分数对应不同的评判内容，通常情况下，差、良好、一般和优所对应的分数逐渐升高。
举例而言，基于第二执行结果为执行时间的情况，当获得至少两个第二执行结果时，依据该第二执行结果，确定RAM性能的第二测试结果，可以通过如下方式：
可以从与RAM相关的执行时间与分数的对应关系中，确定出每一第二执行结果对应的第二分数，并将至少两个第二分数求平均所得的值作为第二测试结果；或者，在确定出每一第二执行结果对应的第二分数后，确定每一第二执行结果所对应测试程序的权重值，并将各个第二分数与相应权重值相乘，将各个乘积之和确定为第二测试结果。
需要说明的是，上述确定RAM性能的第二测试结果的方式仅仅作为示例，并不应该构成对本发明实施例的限定。
S106，依据该第三执行结果，确定该CPU整数运算性能对应的第三测试结果。
在获得第三执行结果后，可以依据该第三执行结果，确定该CPU整数运算性能对应的第三测试结果。
其中，依据该第三执行结果，确定该CPU整数运算性能对应的第三测试结果的方式与上述RAM性能的第二测试结果的确定方式相似，在此不作赘述。
本领域技术人员可以理解的是，待测试的硬件还可以包括：CPU浮点数运算性能、GPU性能、数据库I/O性能、SD卡性能、EMMC存储器性能中的一种或多种，其中，GPU性能包括：GPU的2D绘图性能、GPU的3D绘图性能和GPU并行加速性能中的至少一种。因此，在测试完CPU整数运算性能后，可以进一步执行其余的硬件项目的测试，进而根据所获得的执行结果确定出相应硬件项目的测试结果。并且，剩余的硬件项目的测试也可以采用一种测试程序或至少两种测试程序，从而获得一个执行结果或至少两个执行结果，而根据一个执行结果或至少两个执行结果确定相应硬件项目的测试结果的方式与上述虚拟机性能、RAM性能及CPU整数运算性能的测试结果的确定方式相似，在此不作赘述；并且，测试其余的硬件项目所利用的测试程序可以为依据现有的算法或自行设计的算法所编写的程序，这都是合理的。
需要说明的是，在获得硬件项目对应的执行结果后即可执行其余硬件项目的测试，而并非在依据执行结果确定该硬件项目的测试结果后执行其余硬件项目的测试；并且，依据执行结果确定硬件项目的测试结果的过程可以在该硬件项目测试完毕后执行，也可以在所有硬件项目的执行结果确定后完成，这都是合理的。
本方案中，在电子设备硬件性能的测试过程中，首先执行虚拟机性能的测试，避免了由于先测试其他硬件项目性能再测虚拟机性能而消耗系统资源、系统温度上升、系统减少对资源的分配，最终导致虚拟机性能的测试不准确的问题；其次测试RAM性能，避免了先测试其他测试项目会消耗一定RAM而影响RAM性能的测试准确性；而同时测试RAM性能与CPU整数运算性能可以模拟真实环境中的运算。可见，本方案中，通过合理的硬件项目测试顺序，可以提高电子设备硬件性能的测试准确性。而且，本方案中可对电子设备的多个硬件项目进行测试，从而能够较为真实全面的反应电子设备的硬件性能。
更进一步的，为了进一步提高RAM性能的测试准确性，在本发明的另一实施例中，同时执行该RAM性能的测试和该CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果之后，可以再执行该RAM性能的二次测试，获得第四执行结果；
相应的，依据该第二执行结果，确定该RAM性能对应的第二测试结果，可以包括：
依据该第二执行结果和该第四执行结果，确定该RAM性能对应的第二测试结果。
其中，执行该RAM性能的二次测试即再次执行RAM性能的测试；并且，再次执行该RAM性能的测试可以利用一种测试程序，从而获得一个第四执行结果，也可以利用至少两种测试程序，从而获得至少两个第四执行结果，这都是合理的；并且，所采用的测试程序可以与上述方案中单独测试RAM性能时、即RAM性能的第一次测试时所采用的测试程序，也可以与上述方案中单独测试RAM性能时、即RAM性能的第一次测试时即所采用的测试程序不同；同时，依据该第二执行结果和该第四执行结果确定RAM性能对应的第二测试结果的方式与上述方案中通过至少两个第二执行结果确定RAM性能的第二测试结果的方式相似，在此不作赘述。
更进一步，为了进一步提高CPU整数运算性能的测试准确性，在本发明的另一实施例中，同时执行RAM性能的测试和CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果之后，再执行该CPU整数运算性能的二次测试，获得第五执行结果；
依据该第三执行结果，确定该CPU整数运算性能对应的第三测试结果，包括：
依据该第三执行结果和该第五执行结果，确定该CPU整数运算性能对应的第三测试结果。
其中，执行该CPU整数运算性能的二次测试即再次执行该CPU整数运算性能的测试；并且，再次执行该CPU整数运算性能的测试可以利用一种测试程序，从而获得一个第五执行结果，也可以利用至少两种测试程序，从而获得至少两个第五执行结果，这都是合理的；并且，所采用的测试程序可以为上述方案中单独测试CPU整数运算性能时、即CPU整数运算性能的第一次测试时所采用的测试程序，也可以与该测试程序不同；同时，依据该第三执行结果和该第五执行结果确定CPU整数运算性能对应的第三测试结果的方式与上述方案中通过至少两个第二执行结果确定RAM性能的第二测试结果的方式相似，在此不作赘述。
更进一步的，为了提高RAM性能和CPU整数运算性能的测试准确性，在本发明的另一实施例中，同时执行RAM性能的测试和CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果之后，再执行该RAM性能的二次测试，获得第六执行结果；在获得该第六执行结果后，再执行该CPU整数运算性能的二次测试，获得第七执行结果；
相应的，依据该第二执行结果，确定该RAM性能对应的第二测试结果，可以包括：
依据该第二执行结果和该第六执行结果，确定该RAM性能对应的第二测试结果。
依据该第三执行结果，确定该CPU整数运算性能对应的第三测试结果，可以包括：
依据该第三执行结果和该第七执行结果，确定该CPU整数运算性能对应的第三测试结果。
其中，执行该RAM性能的二次测试即再次执行RAM性能的测试；并且，再次执行该RAM性能的测试可以利用一种测试程序，从而获得一个第六执行结果，也可以利用至少两种测试程序，从而获得至少两个第六执行结果，这都是合理的；并且，所采用的测试程序可以为上述方案中单独测试RAM性能时、即RAM性能的第一次测试时所采用的测试程序，也可以与之不同；同时，依据该第二执行结果和该第六执行结果确定RAM性能对应的第二测试结果的方式与上述方案中通过至少两个第二执行结果确定RAM性能的第二测试结果的方式相似，在此不作赘述。
其中，执行该CPU整数运算性能的二次测试即再次执行该CPU整数运算性能的测试；并且，再次执行该CPU整数运算性能的测试可以利用一种测试程序，从而获得一个第七执行结果，也可以利用至少两种测试程序，从而获得至少两个第七执行结果，这都是合理的；并且，所采用的测试程序可以为上述方案中单独测试CPU整数运算性能时、即CPU整数运算性能的第一次测试时所采用的测试程序，也可以与之不同；同时，依据该第三执行结果和该第七执行结果确定CPU整数运算性能对应的第三测试结果的方式与上述方案中通过至少两个第二执行结果确定RAM性能的第二测试结果的方式相似，在此不作赘述。
更进一步的，由于GPU性能的测试涉及到大量运算，会使系统温度显著升高，当系统温度升高后电子设备可能会为了节能会对CPU做一些降频处理，这样就会导致对CPU整数运算性能和CPU浮点数运算性能的测试不准确，因此，为了提高准确性，GPU性能的测试需要在CPU整数运算性能和CPU浮点数运算性能的测试之后进行。需要说明的是，GPU性能的测试可以包括：GPU的2D绘图性能、GPU的3D绘图性能及GPU并行加速性能中的至少一种，而在保证CPU性能的测试先于GPU性能测试的前提下，对于GPU的2D绘图性能、GPU的3D绘图性能及GPU并行加速性能三者并不存在固定的测试顺序。更进一步的，对于SD卡性能和/或EMMC存储器性能的测试、数据库I/O测试，在执行完RAM的测试之后即可。
例如：对于同时测试RAM性能和CPU整数运算性能之后，再依次测试RAM性能和CPU整数运算性能的情况，在获得第六执行结果后，再执行CPU浮点数运算性能的测试，获得第八执行结果，并依据第八执行结果，确定CPU浮点数运算性能对应的第四测试结果；在获得该第七执行结果和该第八执行结果后，再执行GPU的2D绘图性能的测试，获得第九执行结果，并依据所述第九执行结果，确定该GPU的2D绘图性能对应的第五测试结果；在获得该第七执行结果和该第八执行结果后，再执行GPU的3D绘图性能的测试，获得第十执行结果，并依据该第十执行结果，确定该GPU的3D绘图性能对应的第六测试结果；在获得该第七执行结果和该第八执行结果后，再执行GPU并行加速性能的测试，获得第十一执行结果，并依据该第十一执行结果，确定该GPU并行加速性能对应的第七测试结果；在获得该第六执行结果后，再执行数据库I/O性能的测试，获得第十二执行结果，并依据该第十二执行结果，确定该数据库I/O性能对应的第八测试结果；在获得该第六执行结果后，再执行EMMC存储器性能的测试，获得第十三执行结果，并依据该第十三执行结果，确定该EMMC存储器性能对应的第九测试结果；而对于存在SD卡的电子设备，还可以在获得该第六执行结果后，再执行SD卡性能的测试，获得第十四执行结果；并依据该第十四执行结果，确定该SD卡性能对应的第十测试结果。
需要说明的是，可以使用EMMC存储器性能（即存储器速度）的测试代替SD卡性能（即SD卡速度）的测试，可以通过对EMMC存储器进行大量读取、写入、擦除各种大小的数据块来测试EMMC存储器性能。
再次强调的是，在获得硬件项目对应的执行结果后即可执行其余硬件项目的测试，而并非在依据执行结果确定该硬件项目的测试结果后执行其余硬件项目的测试；并且，依据执行结果确定硬件项目的测试结果的过程可以在该硬件项目测试完毕后执行，也可以在所有硬件项目的执行结果确定后完成，这都是合理的。
更进一步的，本发明实施例所提供的电子设备硬件性能的测试方法还可以包括：显示执行硬件项目的测试后所确定的各个测试结果。
本领域技术人员可以理解，为了使用户直观地了解硬件项目的性能，在对测试的硬件项目进行测试后，可以将硬件项目的测试结果显示给用户，可以以分数的形式显示测试结果，也可以以等级的形式显示测试结果，其中等级的形式可以是差、良好、一般、优等，本实施例对此不作限制。
作为一种可选方式，也可以将执行硬件项目的测试后所确定的各个测试结果进行数学运算处理，将处理结果作为电子设备对应的测试结果，并显示电子设备对应的测试结果。
举例而言，对于硬件项目的测试结果为分数的情况，在确定电子设备对应的测试结果时，可以直接将各个硬件项目对应的测试结果直接相加，从而将相加结果作为电子设备对应的测试结果，并显示给用户；或者，可以确定每一硬件项目对应的权重值，从而将每一硬件项目的测试结果与相应权重值相乘，并将各乘积之和确定为该电子设备对应的测试结果，并显示给用户，当然并不局限于此。而对于硬件项目的测试结果为评判内容的情况，可以将所有评判内容中所占比例最高的评判内容作为电子设备的测试结果，或者，根据某一硬件项目的评判内容确定电子设备的测试结果，这都是合理的。此外，也可以进一步将电子设备对应的测试结果以等级的形式展现出来，例如，等级为1、等级为A等，使用户更加直观的了解电子设备的硬件性能。
本领域技术人员可以理解，可以同时显示执行硬件项目的测试后所确定的各个测试结果和电子设备对应的测试结果，以使用户同时了解电子设备的整体性能和各个硬件项目的性能。
更进一步的，为了提高用户体验，可以向用户展示出该电子设备与其他几种热门机型的第一电子设备的测试结果，以比较该电子设备与热门机型的性能差别。为了实现上述功能，本发明实施例所提供的电子设备性能的测试方法还可以包括：
接收用于指示将电子设备与第一电子设备进行硬件性能对比的对比指令；
显示该电子设备的各个硬件项目所对应的测试结果以及预先存储的或从服务器获取的该第一电子设备的相应硬件项目的测试结果；或者，显示该电子设备对应的测试结果以及预先存储的或从服务器获取的该第一电子设备的测试结果。
更进一步的，为了提高用户体验，本发明实施例所提供的电子设备硬件性能的测试方法，还可以包括：
获取电子设备的机型；
将该电子设备对应的测试结果、机型发送至服务器，以使得该服务器按照预设的排序方式，确定该电子设备在相同机型的电子设备中的排名和/或该电子设备在不同机型的电子设备中的排名，并将所确定出的排名反馈给该电子设备；
接收该服务器所反馈的排名并显示。
其中，服务器按照预设的排序方式，确定该电子设备在相同机型的电子设备中的排名和/或该电子设备在不同机型的电子设备中的排名可以根据现有方式，在此不做限定。
需要说明的是，上述第一执行结果至第十四执行结果，以及第一测试结果至第十测试结果，仅仅为了区分不同的硬件项目，并不具有任何限定意义。
下面结合一具体的实施例，对本发明实施例所提供的电子设备硬件性能的测试方法进行介绍。
需要说明的是，本发明实施例所提供的电子设备硬件性能的测试方法适用于电子设备，其中，该电子设备所包括的硬件项目包括：虚拟机性能、RAM性能、CPU整数运算性能、CPU浮点数运算性能、GPU的2D绘图性能、GPU的3D绘图性能、GPU并行加速性能、EMMC存储器性能、数据库I/O性能。该电子设备可以包括：智能手机、平板电脑、笔记本等。
如图2所示，一种电子设备硬件性能的测试方法，可以包括：
S201，获得开始测试指令；
当需要测试电子设备的硬件性能时，用户可以对电子设备发出开始测试指令，而该电子设备在获得开始测试指令后，可以响应该测试指令，进而执行后续的步骤S202-步骤S213，以分别对待测试的硬件项目进行测试。
其中，该待测试的硬件项目包括：虚拟机性能、RAM性能、CPU整数运算性能、CPU浮点数运算性能、GPU的2D绘图性能、GPU的3D绘图性能、GPU并行加速性能、EMMC存储器性能、数据库I/O性能。
S202，执行该虚拟机性能的测试，获得第一执行时间，并依据该第一执行时间，确定该虚拟机性能对应的第一分数；
由于先测试其他硬件项目性能再测试虚拟机性能会带来消耗系统资源、系统温度上升、系统减少对虚拟机资源的分配等问题，最终导致不能准确测试虚拟机性能，因此，为了提高测试结果的准确性，在响应该开始测试指令的测试过程中，首先执行该虚拟机性能的测试，获得第一执行时间，进而依据该第一执行时间，确定该虚拟机性能对应的第一分数，从而完成对该虚拟机性能的测试。其中，可以理解的是，对于Andriod系统平台而言，该虚拟机为Dalvik虚拟机，本步骤中将测定Dalvik虚拟机性能，而对于其他系统平台而言，该虚拟机可以为其他的虚拟机，例如JAVA虚拟机，那么本步骤中将测定JAVA虚拟机性能，本发明在此不做限定。
需要说明的是，执行虚拟机性能的测试所利用的测试程序可以为依据现有的算法或自行设计的算法所编写的程序，这都是合理的；并且，可以执行一个测试程序来测试虚拟机性能，此时，获得一个第一执行时间，也可以执行至少两个测试程序来测试虚拟机性能，此时，获得至少两个第一执行时间。
举例而言，当获得一个第一执行时间时，依据该第一执行时间，确定虚拟机性能的第一分数，可以通过如下方式：
可以从与虚拟机性能相关的预设的执行时间与分数的对应关系中，确定出第一执行时间对应的第一分数，其中，通常情况下，执行时间越短，所对应的分数越高。
当获得至少两个第一执行时间时，依据该第一执行时间，确定虚拟机性能的第一分数，可以通过如下方式：
可以从与虚拟机性能相关的执行时间与分数的对应关系中，确定出每一第一执行时间对应的第一分数，并将至少两个第一分数求平均所得的值作为最终的第一分数；或者，在确定出每一第一执行时间对应的第一分数后，确定每一第一执行时间所对应测试程序的预设的权重值，并将各个第一分数与相应权重值相乘，将各个乘积之和确定为最终的第一分数。
需要说明的是，上述确定虚拟机性能的第一分数的方式仅仅作为示例，并不应该构成对本发明实施例的限定。
S203，同时执行该RAM性能的测试和该CPU整数运算性能的测试，获得第二执行时间和第三执行时间；
由于实际运行环境中，程序运行时需要利用RAM和CPU整数，因此，为了模拟实际运行环境，可以同时测试RAM性能和CPU整数运算性能。
可以执行该RAM性能和该CPU整数运算性能的联合测试程序，获得第二执行时间和第三执行时间；其中，该RAM性能对应第二执行时间，而该CPU整数运算性能对应第三执行时间，且该第二执行时间和第三执行时间相同。
可以理解的是，可以执行一种联合测试程序来联合测试RAM性能和CPU整数运算性能，此时，获得一个第二执行时间和一个第三执行时间；也可以执行至少两种联合测试程序来联合测试RAM性能和CPU整数运算性能，此时，获得至少两个第二执行时间以及数量相同的第三执行时间，这都是合理的。其中，该联合测试程序可以为依据现有的同时涉及CPU整数运算和RAM的算法或自行设计的算法所编写的程序，从而模拟更加真实的使用环境，使得测试结果更具实用性和稳定性。例如：现有的同时涉及CPU整数运算和RAM的算法可以为：大规模字符串排序算法、大规模任务分配算法或大规模位运算算法，当然并不局限于此。
S204，在获得第二执行时间和第三执行时间后，执行该RAM性能的测试，获得第四执行时间；
为了进一步提高RAM性能的测试准确性，在获得第二执行时间和第三执行时间后，再次执行该RAM性能的测试（即二次测试），获得第四执行时间。
其中，再次执行该RAM性能的测试可以利用一种测试程序，从而获得一个第四执行时间，也可以利用至少两种测试程序，从而获得至少两个第四执行时间，这都是合理的；并且，所采用的测试程序可以为上述方案中单独测试RAM性能时所采用的测试程序，也可以与之不同。
S205，在获得该第四执行时间后，再执行该CPU整数运算性能的测试，获得第五执行时间；
为了进一步提高CPU整数运算性能的测试准确性，在获得第四执行时间后，再次执行该CPU整数运算性能的测试（即二次测试），获得第五执行时间。
其中，再次执行该CPU整数运算性能的测试可以利用一种测试程序，从而获得一个第五执行时间，也可以利用至少两种测试程序，从而获得至少两个第五执行时间，这都是合理的；并且，所采用的测试程序可以为上述方案中单独测试CPU整数运算性能时所采用的测试程序，也可以与之不同。
S206，依据该第二执行时间和该第四执行时间，确定该RAM性能对应的第二分数；
其中，可以从与RAM相关的执行时间与分数的对应关系中，确定出至少一个第二执行时间和至少一个第四执行时间所对应的分数，并将所确定出的分数求平均所得的值作为第二分数；当然，也可以通过设置权重值的方式确定该RAM性能对应的第二分数。
需要说明的是，上述确定RAM性能的第二分数的方式仅仅作为示例，并不应该构成对本发明实施例的限定。
S207，依据该第三执行时间和该第五执行时间，确定该CPU整数运算性能对应的第三分数；
其中，可以从与CPU整数运算性能相关的执行时间与分数的对应关系中，确定出至少一个第三执行时间和至少一个第五执行时间所对应的分数，并将所确定出的分数求平均所得的值作为第三分数；当然，也可以通过设置权重值的方式确定该CPU整数运算性能对应的第三分数。
需要说明的是，上述确定CPU整数运算性能的第二分数的方式仅仅作为示例，并不应该构成对本发明实施例的限定。
S208，执行该CPU浮点数运算性能的测试，获得第六执行时间，并依据第六执行时间，确定该CPU浮点数运算性能对应的第四分数；
其中，执行该CPU浮点数运算性能的测试可以利用一种测试程序，从而获得一个第六执行时间，也可以利用至少两种测试程序，从而获得至少两个第六执行时间，这都是合理的。
其中，当获得一个第六执行时间时，可以从与CPU浮点数运行性能相关的执行时间与分数的对应关系中，确定出该第六执行时间对应的第四分数；而当获得至少两个第六执行时间时，可以从与CPU浮点数运行性能相关的执行时间与分数的对应关系中，确定出每一个第六执行时间所对应的分数，并将所确定出的分数求平均所得的值作为第四分数；当然，也可以通过设置权重值的方式确定该CPU浮点数运算性能对应的第四分数。
本领域技术人员可以理解的是，在实际应用中，该CPU浮点数运算性能的测试程序可以为依据现有的涉及浮点数运算的算法或自行设计的算法所编写的程序。例如：现有的算法可以为傅里叶变换算法或圆周率算法，当然，并不局限于此。
S209，执行GPU的2D绘图性能的测试，获得第七执行时间和每秒传输帧数，并确定该GPU的2D绘图性能对应的第五分数；
在获得CPU整数运算性能对应的第三分数以及CPU浮点数运算性能对应的第四分数后，可以执行GPU的2D绘图性能的测试，获得第七执行时间和每秒传输帧数，并依据第七执行时间和每秒传输帧数，确定该GPU的2D绘图性能对应的第五分数。其中，执行GPU的2D绘图性能的测试可以利用一种测试程序，从而获得一个第七执行时间和一个每秒传输帧数，也可以利用至少两种测试程序，从而获得至少两个第七执行时间和同等数量的每秒传输帧数，这都是合理的。
其中，当获得一个第七执行时间时，可以从与GPU的2D绘图性能相关的执行时间、每秒传输帧数与分数的对应关系中，确定出第五分数；而当获得至少两个第七执行时间时，可以从与GPU的2D绘图性能相关的执行时间、每秒传输帧数与分数的对应关系中，确定出至少两个分数，并将所确定出的分数求平均所得的值作为第五分数；当然，也可以通过设置权重值的方式确定该GPU的2D绘图性能对应的第五分数。
其中，可以通过分别使用OpenGL和Canvas提供的API编写的2D图像测试程序测试GPU的2D绘图性能，获得执行时间和每秒传输帧数，从而确定出测试结果，其中，OpenGL(Open Graphics Library)是一种跨编程语言、跨平台的应用程序接口的规格，用于生成二维、三维图像；Canvas是一个新的HTML元素，可使用脚本（通常是JavaScript）来构造图形、动画、游戏和图片。
S210，执行GPU的3D绘图性能的测试，获得第八执行时间和每秒传输帧数，并确定该GPU的3D绘图性能对应的第六分数；
其中，在获得该GPU的2D绘图性能对应的第五分数后，可以执行GPU的3D绘图性能的测试，获得第八执行时间和每秒传输帧数，并依据第八执行时间和每秒传输帧数，确定该GPU的3D绘图性能对应的第六分数。
其中，执行GPU的3D绘图性能的测试可以利用一种测试程序，从而获得一个第八执行时间和一个每秒传输帧数，也可以利用至少两种测试程序，从而获得至少两个第八执行时间和同等数量的每秒传输帧数，这都是合理的。
其中，当获得一个第八执行时间时，可以从与GPU的3D绘图性能相关的执行时间、每秒传输帧数与分数的对应关系中，确定出第六分数；而当获得至少两个第八执行时间时，可以从与GPU的3D绘图性能相关的执行时间、每秒传输帧数与分数的对应关系中，确定出至少两个分数，并将所确定出的分数求平均所得的值作为第六分数；当然，也可以通过设置权重值的方式确定该GPU的3D绘图性能对应的第六分数。
其中，该GPU的3D绘图性能可以通过使用OpenGL ES1.1版本和2.0版本相关API（Application Programming Interface,应用程序编程接口）编写的3D测试程序实现测试，通过执行不同类型的测试程序来获取第八执行时间以及每秒传输帧数，进而确定出相应的分数，其中，OpenGL ES(OpenGL forEmbedded Systems)是OpenGL三维图形API的子集，针对手机、平板电脑和游戏主机等嵌入式设备而设计。
S211，执行数据库I/O性能的测试，获得第九执行时间，并依据第九执行时间，确定该数据库I/O性能对应的第七分数；
其中，执行数据库I/O性能的测试测试时，可以通过自行编写的不同测试程序分别测试数据库的不同操作，从而获得每一操作对应的第九执行时间，进而根据第九执行时间确定出该数据库I/O性能对应的第七分数。其中，对数据库的操作可以包括：数据的添加，删除，查找，替换等。依据多个第九执行时间确定该数据库I/O性能对应的第七分数的方式与上述依据至少两个第二执行时间确定RAM性能对应的第二分数的方式相似，在此不作赘述。
S212，执行EMMC存储器性能的测试，获得第十执行时间，并依据第十执行时间，确定该EMMC存储器性能对应的第八分数；
其中，执行EMMC存储器性能测试时，可以通过自行编写的不同的测试程序分别获得EMMC存储器的读性能和EMMC存储器的写性能，从而获得每一测试程序对应的第十执行时间，进而依据第十执行时间，确定该EMMC存储器性能对应的第八分数。其中，依据多个第十执行时间确定该EMMC存储器性能对应的第八分数的方式与上述依据至少两个第二执行时间确定RAM性能对应的第二分数的方式相似，在此不作赘述。
需要说明的是，对于存在SD卡的电子设备而言，也可以进一步执行SD性能的测试，其中，与EMMC存储器类似，SD卡性能也包括读性能和写性能的测试。
S213，执行GPU并行加速性能的测试，获得第十一执行时间，并依据第十一执行时间，确定GPU并行加速性能对应的第九分数。
在执行GPU并行加速性能的测试后，完成了对所有的待测试项目的硬件性能的测试。
其中，执行GPU并行加速性能的测试可以利用一种测试程序，从而获得一个第十一执行时间，也可以利用至少两种测试程序，从而获得至少两个第十一执行时间，这都是合理的。
其中，当获得一个第十一执行时间时，可以从与GPU并行加速性能相关的执行时间与分数的对应关系中，确定出第九分数；而当获得至少两个第十一执行时间时，可以从与GPU并行加速性能相关的执行时间与分数的对应关系中，确定出至少两个分数，并将所确定出的分数求平均所得的值作为第九分数；当然，也可以通过设置权重值的方式确定该GPU的3D绘图性能对应的第九分数。
其中，可以通过运行RenderScript编写的一些关于图像、视频处理的测试程序，获得第十一执行时间，从而确定GPU并行加速性能对应的第九分数。其中RenderScript是Google提供的一种类C脚本语言，可以自动在所有可访问的处理器上并行运行，支持CPU、GPU、DSP（digital singnal processor，数字信号处理器）等处理器；使用RenderScript编写的程序，如果符合并行加速条件，就可以在GPU上进行加速，所谓加速就是把一些程序的串行运算变成并行运算，速度可以提高几倍，甚至几十倍，可以加速的运算例如：图像滤波，音频解码等；许多跟图像、音频、视频处理相关的运算往往计算量较大，并且适合于并行计算，因此所用测试程序主要是关于图像、视频、音频处理方面的。
可以理解的是，在获得各个待测试的硬件项目的测试结果后，可以通过预定的数学运算方式确定出该电子设备的测试分数，并且，可以将该电子设备的测试分数显示给用户。
本方案中，在电子设备硬件性能的测试过程中，首先执行虚拟机性能的测试，避免了由于先测试其他硬件项目性能再测虚拟机性能而消耗系统资源、系统温度上升、系统减少对资源的分配，最终导致虚拟机性能的测试不准确的问题；其次测试RAM性能，避免了先测试其他测试项目会消耗一定RAM而影响RAM性能的测试准确性；而同时测试RAM性能与CPU整数运算性能可以模拟真实环境中的运算，从而更好反映RAM性能对整个电子设备的性能的影响；并且，由于GPU性能的测试涉及到大量运算，会使系统温度显著升高，当系统温度升高后电子设备会为了节能会对CPU做一些降频处理，这样就会导致对CPU整数运算性能和CPU浮点数运算性能的测试不准确，因此，GPU性能的测试需要在CPU整数运算性能和CPU浮点数运算性能的测试之后。可见，本方案中，通过合理的硬件项目测试顺序，可以提高电子设备硬件性能的测试准确性。而且，本方案中可对电子设备的多个硬件项目进行测试，从而能够较为真实全面的反应电子设备的硬件性能。
需要说明的是，上述第一执行时间-第十一执行时间，以及第一分数-第九分数，仅仅为了不同的硬件项目，并不具有任何限定意义。
相应于上述方法实施例，本发明实施例还提供了一种电子设备硬件性能的测试装置，如图3所示，可以包括：
测试指令获得模块310，用于获得开始测试指令；
测试指令响应模块320，用于响应所述开始测试指令，分别对待测试的硬件项目进行测试，所述待测试的硬件项目至少包括：虚拟机性能、RAM性能、CPU整数运算性能；
所述测试指令响应模块320，包括：
第一执行子模块321，用于首先执行所述虚拟机性能的测试，获得第一执行结果；
第一测试结果确定子模块322，用于依据所述第一执行结果，确定所述虚拟机性能对应的第一测试结果；
第二执行子模块323，用于在获得所述第一执行结果后，同时执行所述RAM性能的测试和所述CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果，或，执行所述RAM性能的测试，获得第二执行结果之后，执行所述CPU整数运算性能的测试，获得第三执行结果；
第二测试结果确定子模块324，用于依据所述第二执行结果，确定所述RAM性能对应的第二测试结果；
第三测试结果确定子模块325，用于依据所述第三执行结果，确定所述CPU整数运算性能对应的第三测试结果。
本方案中，在电子设备硬件性能的测试过程中，首先执行虚拟机性能的测试，避免了由于先测试其他硬件项目性能再测虚拟机性能而消耗系统资源、系统温度上升、系统减少对资源的分配，最终导致虚拟机性能的测试不准确的问题；其次测试RAM性能，避免了先测试其他测试项目会消耗一定RAM而影响RAM性能的测试准确性；而同时测试RAM性能与CPU整数运算性能可以模拟真实环境中的运算，从而更好反映RAM性能对整个电子设备的性能的影响。可见，本方案中，通过合理的硬件项目测试顺序，可以提高电子设备硬件性能的测试准确性。而且，本方案中可对电子设备的多个硬件项目进行测试，从而能够较为真实全面的反应电子设备的硬件性能。
其中，所述第二执行子模块323，可以包括：
第一执行单元，用于执行所述RAM性能和所述CPU整数运算性能的联合测试程序，获得第二执行结果和第三执行结果；
或者，
第二执行单元，用于执行所述RAM性能的测试，获得第二执行结果之后，执行所述CPU整数运算性能的测试，获得第三执行结果。
其中，所述第二执行子模块323，可以包括：
第三执行单元，用于同时执行所述RAM性能的测试和所述CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果；并在获得第二执行结果和第三执行结果之后，再执行所述RAM性能的二次测试，获得第四执行结果；
相应的，所述第二测试结果确定子模块324，可以包括：
第一结果确定单元，用于依据所述第二执行结果和所述第四执行结果，确定所述RAM性能对应的第二测试结果。
其中，所述第二执行子模块323，可以包括：
第四执行单元，用于同时执行RAM性能的测试和CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果，并在获得第二执行结果和第三执行结果之后，再执行所述CPU整数运算性能的二次测试，获得第五执行结果；
相应的，所述第三测试结果确定子模块325，可以包括：
第一结果确定单元，用于依据所述第三执行结果和所述第五执行结果，确定所述CPU整数运算性能对应的第三测试结果。
其中，所述第二执行子模块323，可以包括：
第四执行单元，用于同时执行RAM性能的测试和CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果，并在获得第二执行结果和第三执行结果之后，再执行所述RAM性能的二次测试，获得第六执行结果；在获得所述第六执行结果后，再执行所述CPU整数运算性能的二次测试，获得第七执行结果；
相应的，所述第二测试结果确定子模块324，可以死包括：
第二结果确定单元，用于依据所述第二执行结果和所述第六执行结果，确定所述RAM性能对应的第二测试结果；
所述第三测试结果确定子模块325，可以包括：
第二结果确定单元，用于依据所述第三执行结果和所述第七执行结果，确定所述CPU整数运算性能对应的第三测试结果。
更进一步的，所述测试指令响应模块320，还可以包括：
第三执行子模块，用于在获得所述第六执行结果后，再执行CPU浮点数运算性能的测试，获得第八执行结果；
第四测试结果确定子模块，用于依据所述第八执行结果，确定所述CPU浮点数运算性能对应的第四测试结果。
更进一步的，所述测试指令响应模块320，还可以包括：
第四执行子模块，用于在获得所述第七执行结果和所述第八执行结果后，再执行GPU的2D绘图性能的测试，获得第九执行结果；
第五测试结果确定子模块，用于依据所述第九执行结果，确定所述GPU的2D绘图性能对应的第五测试结果。
更进一步的，所述测试指令响应模块320，还可以包括：
第五执行子模块，用于在获得所述第七执行结果和所述第八执行结果后，再执行GPU的3D绘图性能的测试，获得第十执行结果；
第六测试结果确定子模块，用于依据所述第十执行结果，确定所述GPU的3D绘图性能对应的第六测试结果。
更进一步的，所述测试指令响应模块320，还可以包括：
第六执行子模块，用于在获得所述第七执行结果和所述第八执行结果后，再执行GPU并行加速性能的测试，获得第十一执行结果；
第七测试结果确定子模块，用于依据所述第十一执行结果，确定所述GPU并行加速性能对应的第七测试结果。
更进一步的，所述测试指令响应模块320，还可以包括：
第七执行子模块，用于在获得所述第六执行结果后，再执行数据库I/O性能的测试，获得第十二执行结果；
第八测试结果确定子模块，用于依据所述第十二执行结果，确定所述数据库I/O性能对应的第八测试结果。
更进一步的，所述测试指令响应模块320，还可以包括：
第八执行子模块，用于在获得所述第六执行结果后，再执行EMMC存储器性能的测试，获得第十三执行结果；
第九测试结果确定子模块，用于依据所述第十三执行结果，确定所述EMMC存储器性能对应的第九测试结果。
更进一步的，所述测试指令响应模块320，还可以包括：
第九执行子模块，用于在获得所述第六执行结果后，再执行SD卡性能的测试，获得第十四执行结果；
第十测试结果确定子模块，用于依据所述第十四执行结果，确定所述SD卡性能对应的第十测试结果。
对于装置实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个......”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
本领域普通技术人员可以理解实现上述方法实施方式中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可以存储于计算机可读取存储介质中，这里所称得的存储介质，如：ROM/RAM、磁碟、光盘等。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本发明的保护范围内。
Claims (27)
1.一种电子设备硬件性能的测试方法，其特征在于，包括：
获得开始测试指令；
响应所述开始测试指令，分别对待测试的硬件项目进行测试，所述待测试的硬件项目至少包括：虚拟机性能、RAM性能、CPU整数运算性能；
其中，所述分别对待测试的硬件项目进行测试包括：
首先执行所述虚拟机性能的测试，获得第一执行结果，并依据所述第一执行结果，确定所述虚拟机性能对应的第一测试结果；
在获得所述第一执行结果后，同时执行所述RAM性能的测试和所述CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果，
或，执行所述RAM性能的测试，获得第二执行结果之后，执行所述CPU整数运算性能的测试，获得第三执行结果；
依据所述第二执行结果，确定所述RAM性能对应的第二测试结果，依据所述第三执行结果，确定所述CPU整数运算性能对应的第三测试结果。
2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述同时执行所述RAM性能的测试和所述CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果，包括：
执行所述RAM性能和所述CPU整数运算性能的联合测试程序，获得第二执行结果和第三执行结果。
3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，同时执行所述RAM性能的测试和所述CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果之后，再执行所述RAM性能的二次测试，获得第四执行结果；
相应的，依据所述第二执行结果，确定所述RAM性能对应的第二测试结果，包括：
依据所述第二执行结果和所述第四执行结果，确定所述RAM性能对应的第二测试结果。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，同时执行RAM性能的测试和CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果之后，再执行所述CPU整数运算性能的二次测试，获得第五执行结果；
依据所述第三执行结果，确定所述CPU整数运算性能对应的第三测试结果，包括：
依据所述第三执行结果和所述第五执行结果，确定所述CPU整数运算性能对应的第三测试结果。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，同时执行RAM性能的测试和CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果之后，再执行所述RAM性能的二次测试，获得第六执行结果；在获得所述第六执行结果后，再执行所述CPU整数运算性能的二次测试，获得第七执行结果；
相应的，依据所述第二执行结果，确定所述RAM性能对应的第二测试结果，包括：
依据所述第二执行结果和所述第六执行结果，确定所述RAM性能对应的第二测试结果；
依据所述第三执行结果，确定所述CPU整数运算性能对应的第三测试结果，包括：
依据所述第三执行结果和所述第七执行结果，确定所述CPU整数运算性能对应的第三测试结果。
6.根据权利要求5所述的测试方法，其特征在于，所述待测试的硬件项目还包括：CPU浮点数运算性能；
在获得所述第六执行结果后，再执行CPU浮点数运算性能的测试，获得第八执行结果；
并依据所述第八执行结果，确定所述CPU浮点数运算性能对应的第四测试结果。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述待测试的硬件项目还包括：GPU的2D绘图性能；
在获得所述第七执行结果和所述第八执行结果后，再执行GPU的2D绘图性能的测试，获得第九执行结果；
并依据所述第九执行结果，确定所述GPU的2D绘图性能对应的第五测试结果。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述待测试的硬件项目还包括：GPU的3D绘图性能；
在获得所述第七执行结果和所述第八执行结果后，再执行GPU的3D绘图性能的测试，获得第十执行结果；
并依据所述第十执行结果，确定所述GPU的3D绘图性能对应的第六测试结果。
9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述待测试的硬件项目还包括：GPU并行加速性能；
在获得所述第七执行结果和所述第八执行结果后，再执行GPU并行加速性能的测试，获得第十一执行结果；
并依据所述第十一执行结果，确定所述GPU并行加速性能对应的第七测试结果。
10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述待测试的硬件项目还包括：数据库I/O性能；
在获得所述第六执行结果后，再执行数据库I/O性能的测试，获得第十二执行结果；
并依据所述第十二执行结果，确定所述数据库I/O性能对应的第八测试结果。
11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述待测试的硬件项目还包括：EMMC存储器性能；
在获得所述第六执行结果后，再执行EMMC存储器性能的测试，获得第十三执行结果；
并依据所述第十三执行结果，确定所述EMMC存储器性能对应的第九测试结果。
12.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述待测试的硬件项目还包括：SD卡性能；
在获得所述第六执行结果后，再执行SD卡性能的测试，获得第十四执行结果；
并依据所述第十四执行结果，确定所述SD卡性能对应的第十测试结果。
13.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
显示执行硬件项目的测试后所确定的各个测试结果；
和/或，
将执行硬件项目的测试后所确定的各个测试结果进行数学运算处理，将处理结果作为电子设备对应的测试结果，并显示所述电子设备对应的测试结果。
14.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
接收用于指示将电子设备与第一电子设备进行硬件性能对比的对比指令；
显示所述电子设备的各个硬件项目所对应的测试结果以及预先存储的或从服务器获取的所述第一电子设备的相应硬件项目的测试结果；和/或，显示所述电子设备对应的测试结果以及预先存储的或从服务器获取的所述第一电子设备的测试结果，其中，所述第一电子设备为不同于所述电子设备的设备。
15.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：
获取电子设备的机型；
将所述电子设备对应的测试结果、所述机型发送至服务器，以使得所述服务器按照预设的排序方式，确定所述电子设备在相同机型的电子设备中的排名和/或所述电子设备在不同机型的电子设备中的排名，并将所确定出的排名反馈给所述电子设备；
接收所述服务器所反馈的排名并显示。
16.一种电子设备硬件性能的测试装置，其特征在于，包括：
测试指令获得模块，用于获得开始测试指令；
测试指令响应模块，用于响应所述开始测试指令，分别对待测试的硬件项目进行测试，所述待测试的硬件项目至少包括：虚拟机性能、RAM性能、CPU整数运算性能；
所述测试指令响应模块，包括：
第一执行子模块，用于首先执行所述虚拟机性能的测试，获得第一执行结果；
第一测试结果确定子模块，用于依据所述第一执行结果，确定所述虚拟机性能对应的第一测试结果；
第二执行子模块，用于在获得所述第一执行结果后，同时执行所述RAM性能的测试和所述CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果，或，执行所述RAM性能的测试，获得第二执行结果之后，执行所述CPU整数运算性能的测试，获得第三执行结果；
第二测试结果确定子模块，用于依据所述第二执行结果，确定所述RAM性能对应的第二测试结果；
第三测试结果确定子模块，用于依据所述第三执行结果，确定所述CPU整数运算性能对应的第三测试结果。
17.根据权利要求16所述的测试装置，其特征在于，所述第二执行子模块，包括：
第一执行单元，用于执行所述RAM性能和所述CPU整数运算性能的联合测试程序，获得第二执行结果和第三执行结果；
或者，
第二执行单元，用于执行所述RAM性能的测试，获得第二执行结果之后，执行所述CPU整数运算性能的测试，获得第三执行结果。
18.根据权利要求16所述的测试装置，其特征在于，所述第二执行子模块，包括：
第三执行单元，用于同时执行所述RAM性能的测试和所述CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果；并在获得第二执行结果和第三执行结果之后，再执行所述RAM性能的二次测试，获得第四执行结果；
相应的，所述第二测试结果确定子模块，包括：
第一结果确定单元，用于依据所述第二执行结果和所述第四执行结果，确定所述RAM性能对应的第二测试结果。
19.根据权利要求16所述的测试装置，其特征在于，所述第二执行子模块，包括：
第四执行单元，用于同时执行RAM性能的测试和CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果，并在获得第二执行结果和第三执行结果之后，再执行所述CPU整数运算性能的二次测试，获得第五执行结果；
相应的，所述第三测试结果确定子模块，包括：
第一结果确定单元，用于依据所述第三执行结果和所述第五执行结果，确定所述CPU整数运算性能对应的第三测试结果。
20.根据权利要求16所述的测试装置，其特征在于，所述第二执行子模块，包括：
第四执行单元，用于同时执行RAM性能的测试和CPU整数运算性能的测试，获得第二执行结果和第三执行结果，并在获得第二执行结果和第三执行结果之后，再执行所述RAM性能的二次测试，获得第六执行结果；在获得所述第六执行结果后，再执行所述CPU整数运算性能的二次测试，获得第七执行结果；
相应的，所述第二测试结果确定子模块，包括：
第二结果确定单元，用于依据所述第二执行结果和所述第六执行结果，确定所述RAM性能对应的第二测试结果；
所述第三测试结果确定子模块，包括：
第二结果确定单元，用于依据所述第三执行结果和所述第七执行结果，确定所述CPU整数运算性能对应的第三测试结果。
21.根据权利要求20所述的测试装置，其特征在于，所述测试指令响应模块，还包括：
第三执行子模块，用于在获得所述第六执行结果后，再执行CPU浮点数运算性能的测试，获得第八执行结果；
第四测试结果确定子模块，用于依据所述第八执行结果，确定所述CPU浮点数运算性能对应的第四测试结果。
22.根据权利要求21所述的测试装置，其特征在于，所述测试指令响应模块，还包括：
第四执行子模块，用于在获得所述第七执行结果和所述第八执行结果后，再执行GPU的2D绘图性能的测试，获得第九执行结果；
第五测试结果确定子模块，用于依据所述第九执行结果，确定所述GPU的2D绘图性能对应的第五测试结果。
23.根据权利要求22所述的测试装置，其特征在于，所述测试指令响应模块，还包括：
第五执行子模块，用于在获得所述第七执行结果和所述第八执行结果后，再执行GPU的3D绘图性能的测试，获得第十执行结果；
第六测试结果确定子模块，用于依据所述第十执行结果，确定所述GPU的3D绘图性能对应的第六测试结果。
24.根据权利要求23所述的测试装置，其特征在于，所述测试指令响应模块，还包括：
第六执行子模块，用于在获得所述第七执行结果和所述第八执行结果后，再执行GPU并行加速性能的测试，获得第十一执行结果；
第七测试结果确定子模块，用于依据所述第十一执行结果，确定所述GPU并行加速性能对应的第七测试结果。
25.根据权利要求24所述的测试装置，其特征在于，所述测试指令响应模块，还包括：
第七执行子模块，用于在获得所述第六执行结果后，再执行数据库I/O性能的测试，获得第十二执行结果；
第八测试结果确定子模块，用于依据所述第十二执行结果，确定所述数据库I/O性能对应的第八测试结果。
26.根据权利要求25所述的测试装置，其特征在于，所述测试指令响应模块，还包括：
第八执行子模块，用于在获得所述第六执行结果后，再执行EMMC存储器性能的测试，获得第十三执行结果；
第九测试结果确定子模块，用于依据所述第十三执行结果，确定所述EMMC存储器性能对应的第九测试结果。
27.根据权利要求25所述的测试装置，其特征在于，所述测试指令响应模块，还包括：
第九执行子模块，用于在获得所述第六执行结果后，再执行SD卡性能的测试，获得第十四执行结果；
第十测试结果确定子模块，用于依据所述第十四执行结果，确定所述SD卡性能对应的第十测试结果。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201310395724.6A CN103455396B (zh) | 2013-09-03 | 2013-09-03 | 电子设备硬件性能的测试方法及装置 |
| PCT/CN2014/085147 WO2015032282A1 (zh) | 2013-09-03 | 2014-08-26 | 电子设备硬件性能的测试方法及装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201310395724.6A CN103455396B (zh) | 2013-09-03 | 2013-09-03 | 电子设备硬件性能的测试方法及装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN103455396A CN103455396A (zh) | 2013-12-18 |
| CN103455396B true CN103455396B (zh) | 2016-08-31 |
Family
ID=49737797
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201310395724.6A Active CN103455396B (zh) | 2013-09-03 | 2013-09-03 | 电子设备硬件性能的测试方法及装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN103455396B (zh) |
| WO (1) | WO2015032282A1 (zh) |
Families Citing this family (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103455396B (zh) * | 2013-09-03 | 2016-08-31 | 北京安兔兔科技有限公司 | 电子设备硬件性能的测试方法及装置 |
| CN103488569B (zh) * | 2013-09-30 | 2016-03-09 | 北京安兔兔科技有限公司 | 电子设备性能的测试方法及装置 |
| CN103986774B (zh) * | 2014-05-26 | 2019-03-19 | 努比亚技术有限公司 | 功耗分析系统及方法 |
| CN105404566B (zh) * | 2014-06-18 | 2019-07-12 | 北京安兔兔科技有限公司 | 电子设备性能测试方法及装置 |
| CN104022921B (zh) * | 2014-06-26 | 2019-01-08 | 北京安兔兔科技有限公司 | 一种设备性能测试方法及装置 |
| CN105204988B (zh) * | 2014-06-30 | 2018-03-06 | 北京安兔兔科技有限公司 | 电子设备游戏性能的测试方法及系统 |
| CN105335388B (zh) * | 2014-07-08 | 2019-06-04 | 阿里巴巴集团控股有限公司 | 获取终端设备属性值、价值信息的方法及装置 |
| CN104184831B (zh) * | 2014-09-10 | 2018-07-13 | 北京安兔兔科技有限公司 | 一种设备性能评测状态信息的显示方法及装置 |
| CN105630645B (zh) * | 2014-11-06 | 2019-10-11 | 南京中兴软件有限责任公司 | 虚拟机性能确定方法及装置 |
| CN104902053B (zh) * | 2015-04-30 | 2019-03-15 | 努比亚技术有限公司 | 一种加密卡功能的测试方法及系统 |
| CN105573882B (zh) * | 2015-12-15 | 2018-07-27 | 北京奇虎科技有限公司 | 一种基于多个测试设备进行测试的方法和装置 |
| CN107786357B (zh) * | 2016-08-29 | 2021-05-18 | 迈普通信技术股份有限公司 | 一种接口性能测试方法、装置及网络设备 |
| WO2019056337A1 (zh) * | 2017-09-25 | 2019-03-28 | 深圳传音通讯有限公司 | 终端的测试方法、装置及终端 |
| CN108040250B (zh) * | 2017-12-04 | 2020-11-06 | 中国电子技术标准化研究院 | 一种智能电视性能的评估方法和装置 |
| CN108650501B (zh) * | 2018-03-29 | 2019-11-12 | 深圳市九洲电器有限公司 | 一种测试机顶盒稳定性的方法、装置及电子设备 |
| CN109019215B (zh) * | 2018-09-21 | 2020-06-09 | 北京云迹科技有限公司 | 用于电梯的楼层点亮测试方法及装置 |
| CN110519456B (zh) * | 2019-08-26 | 2022-04-15 | 北京字节跳动网络技术有限公司 | 一种信息的处理方法、装置、终端、服务器及存储介质 |
| CN111158969B (zh) * | 2019-12-31 | 2024-03-08 | 奇安信科技集团股份有限公司 | 数据处理方法、电子设备和存储介质 |
| CN111786854B (zh) * | 2020-06-30 | 2022-08-16 | 曙光信息产业(北京)有限公司 | 网卡测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 |
| MX2023002015A (es) | 2020-08-18 | 2023-04-11 | Enviro Metals Llc | Refinamiento metálico. |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102075965A (zh) * | 2009-11-24 | 2011-05-25 | 中国移动通信集团天津有限公司 | 一种移动终端性能评估方法和装置 |
| CN102253874A (zh) * | 2011-08-09 | 2011-11-23 | 广东电网公司电力科学研究院 | 服务器测试方法及测试系统 |
| CN102279796A (zh) * | 2011-08-25 | 2011-12-14 | 北京神州绿盟信息安全科技股份有限公司 | 一种软件兼容性测试的方法和设备 |
| CN103207821A (zh) * | 2013-05-03 | 2013-07-17 | 北京百度网讯科技有限公司 | Cpu性能评估方法与装置 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1230830C (zh) * | 2001-12-20 | 2005-12-07 | 华为技术有限公司 | Ram高速测试控制电路及其测试方法 |
| CN101241155A (zh) * | 2007-02-09 | 2008-08-13 | 扬州奥瑞科技有限公司 | 电力设备综合自动化检测系统 |
| US7844928B2 (en) * | 2008-01-11 | 2010-11-30 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for evaluating integrated circuit design performance using enhanced basic block vectors that include data dependent information |
| EP2583225A4 (en) * | 2010-06-21 | 2014-03-05 | Hewlett Packard Development Co | SYSTEM FOR TESTING AND CERTIFYING A VIRTUAL DEVICE ON A CLIENT COMPUTER SYSTEM |
| CN103455396B (zh) * | 2013-09-03 | 2016-08-31 | 北京安兔兔科技有限公司 | 电子设备硬件性能的测试方法及装置 |
-
2013
- 2013-09-03 CN CN201310395724.6A patent/CN103455396B/zh active Active
-
2014
- 2014-08-26 WO PCT/CN2014/085147 patent/WO2015032282A1/zh active Application Filing
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102075965A (zh) * | 2009-11-24 | 2011-05-25 | 中国移动通信集团天津有限公司 | 一种移动终端性能评估方法和装置 |
| CN102253874A (zh) * | 2011-08-09 | 2011-11-23 | 广东电网公司电力科学研究院 | 服务器测试方法及测试系统 |
| CN102279796A (zh) * | 2011-08-25 | 2011-12-14 | 北京神州绿盟信息安全科技股份有限公司 | 一种软件兼容性测试的方法和设备 |
| CN103207821A (zh) * | 2013-05-03 | 2013-07-17 | 北京百度网讯科技有限公司 | Cpu性能评估方法与装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN103455396A (zh) | 2013-12-18 |
| WO2015032282A1 (zh) | 2015-03-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN103455396B (zh) | 电子设备硬件性能的测试方法及装置 | |
| CN103488569B (zh) | 电子设备性能的测试方法及装置 | |
| CN105204988B (zh) | 电子设备游戏性能的测试方法及系统 | |
| CN102799529B (zh) | 一种动态的二进制代码测试用例生成方法 | |
| CN106294120A (zh) | 测试代码的方法、设备和计算机程序产品 | |
| CN104268047A (zh) | 电子设备性能的测试方法及装置 | |
| Panas et al. | Communicating software architecture using a unified single-view visualization | |
| CN111310674B (zh) | 基于网格划分技术的河流生态缓冲带遥感监测方法和装置 | |
| CN104461846B (zh) | 检测应用程序耗电量的方法和装置 | |
| US9836876B1 (en) | Rendering images using ray tracing with multiple light sources | |
| CN104570081A (zh) | 一种积分法叠前时间偏移地震资料处理方法及系统 | |
| CN101493528A (zh) | 海量地震三维可视化显示方法 | |
| WO2016141685A1 (zh) | 一种通信工程图纸生成方法及图纸设计客户端 | |
| CN107092678B (zh) | 一种获取应用活跃程度的方法、装置及设备 | |
| CN108388509A (zh) | 一种软件测试方法、计算机可读存储介质及终端设备 | |
| CN107783886A (zh) | 一种获取运行帧率的方法及终端 | |
| Joselli et al. | Automatic dynamic task distribution between cpu and gpu for real-time systems | |
| CN116974872A (zh) | Gpu卡性能测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 | |
| CN108040250A (zh) | 一种智能电视性能的评估方法和装置 | |
| CN109426605A (zh) | 计算机的稳定性测试方法和装置 | |
| CN110109811B (zh) | 一种面向gpu计算性能问题的溯源方法 | |
| Moreta et al. | Visualizing dynamic memory allocations | |
| CN105335430B (zh) | 一种基于地图场景的用户流失路径确定方法及装置 | |
| CN109241234A (zh) | 地址的确定方法、装置及计算机可读存储介质 | |
| Fehling | Algorithms for massively parallel generic hp-adaptive finite element methods |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant |