CN103412462B - 一种掩膜板及液晶面板 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种掩膜板及液晶面板,涉及半导体制造技术领域,为不需要改善硬件设备条件而使过孔具有较小的尺寸而设计。所述掩膜板包括板体,所述板体上设有孔,从所述孔的边缘向孔内部延伸形成有多个凸起。所述液晶面板包括过孔,所述过孔由前述的掩膜板制得。本发明掩膜板适用于过孔的制备。
Description
技术领域
本发明涉及半导体制造技术领域,尤其涉及一种掩膜板及液晶面板。
背景技术
在液晶显示器中,过孔例如用于连接漏电极和像素电极。过孔的大小决定了漏电极的大小,从而决定了薄膜晶体管(TFT,ThinFilmTransistor)的大小。
减小过孔尺寸有利于降低薄膜晶体管的大小,而降低薄膜晶体管的大小可以提高像素的开口率,从而可以增加显示亮度和减少背光源的功耗。因此,减小过孔的尺寸对于提高显示器的性能和节约能源有着重要的意义。
在现有技术中,过孔的制备工艺涉及:薄膜沉积、光刻(包括曝光、显影等)和刻蚀(包括干法刻蚀和湿法刻蚀)等工艺。其中,光刻方面在曝光时采用具有光滑内圆弧形状过孔的掩膜板。设计的目标是追求过孔尺寸越小越好,但是现有的设备条件限制了过孔尺寸的减小。例如,对于光刻方面,受限于曝光机的分辨率,现有的常规形貌的过孔尺寸往往不能少于4μm,如果小于该尺寸的话,曝光机便无法使光刻胶充分曝光。
因此,为了制备出尺寸更小的过孔,可以考虑改善硬件设备条件。但是现有的薄膜沉积、光刻及刻蚀设备改善成本过大;而且,刻蚀之后形成的过孔尺寸往往大于曝光显影工艺中对应的过孔尺寸,由于薄膜沉积、刻蚀等工艺水平依托于现有的设备硬件参数,工艺水平提升的难度较大,因此在现有的工艺水平下,刻蚀之后的过孔尺寸与曝光显影后的过孔尺寸的差值降低效果有限。
上述原因均导致过孔的缩小遇到了瓶颈。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种掩膜板及液晶面板,能够不需要改善硬件设备条件而使过孔具有较小的尺寸。
为达到上述目的,本发明采用如下技术方案:
一种掩膜板,包括板体,所述板体上设有孔,从所述孔的边缘向孔内部延伸形成有多个凸起。
进一步地,所述凸起的顶角处设有圆角或倒角。
在一些实施例中,所述孔为圆形孔,所述凸起的位置相对于所述孔的中心呈中心对称分布。
具体的,各个所述凸起具有相同的形状和尺寸。
而且所述凸起的个数不超过12个。
在另一些实施例中,所述孔为矩形孔,所述凸起均匀分布在所述矩形孔的任意两个对边上,并且所述凸起的位置呈中心对称分布。
具体的,各个所述凸起具有相同的形状和尺寸。
其中,所述矩形的两个对边的长度小于另两个对边的长度,所述凸起设置在较短的两个对边上。
其中,所述凸起的中线长度为1.0-2.0μm。
一种液晶面板,包括过孔,所述过孔的边缘向孔内部延伸形成有多个凸起。
对于本发明实施例所提供的掩膜板而言,由于其上的孔的边缘向内部延伸形成有多个凸起,因此可以制得边缘具有凸起形状的过孔,这样一方面掩膜板上孔的边缘尺寸可以与现有的薄膜沉积、光刻及刻蚀设备相适应,例如可以适用于现有曝光机的分辨率的水平,另一方面制得的过孔尺寸减小,从而有利于提高液晶显示面板的开口率,进而增强了液晶面板本身的显示性能,同时降低了能耗。
附图说明
图1为本发明实施例具有圆形孔的掩膜板示意图;
图2为本发明实施例具有矩形孔的掩膜板示意图。
附图标记:
1-板体,2-凸起,3-圆角或倒角,4-孔的边缘尺寸,5-孔的有效尺寸。
具体实施方式
下面将结合附图,对本发明实施例掩膜板及液晶面板进行清楚描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
如图1及图2所示,本发明实施例所提供的掩膜板包括板体1,板体1上设有孔,从该孔的边缘向孔内部延伸形成有多个凸起2。
对于本发明实施例所提供的掩膜板而言,由于其上的孔的边缘向内部延伸形成有多个凸起2,因此可以制得具有凸起形状的过孔,这样一方面掩膜板上孔的边缘尺寸4可以与现有的薄膜沉积、光刻及刻蚀设备相适应,例如可以使曝光机的光线从多个凸起之间的缝隙中透过,从而适用于现有曝光机的分辨率水平,另一方面掩膜板的孔内部的凸起2顶端可以环绕近似形成圆形,而该圆形的尺寸即对应于在液晶屏中形成的过孔的有效尺寸5,该过孔的尺寸显然小于所述掩膜板的孔的边缘尺寸4。边缘尺寸4大致相当于现有技术中光滑内圆弧的孔的最小尺寸,边缘尺寸4可以在曝光显影的过程中适应现有曝光机的分辨率水平,可以保证本发明的掩膜板可以在现有设备条件下制备出过孔。而当过孔制备完成,再经过沉积之后连接漏电极时,能够以凸起2围成的圆形的尺寸作为所形成的过孔的参考尺寸,该过孔的尺寸显然小于现有技术中过孔的尺寸,即所形成的过孔的有效尺寸5减小了。
如图1及图2可见,在上述各个凸起2的顶角处设有圆角或倒角3,圆角或倒角3可以使曝光显影之后的凸起2的形貌更加平滑,有利于后续像素电极的沉积,防止断裂的发生。
在图1所示的实施例中,所述孔为圆形,凸起2相对于所述孔的中心呈中心对称分布。这样有利于形成规则图形,为后续像素电极的沉积带来便利。
具体而言,优选地,上述实施例中的各个凸起2具有相同的形状和尺寸。即所有的凸起2均为全等形,这样可以方便凸起2的加工,并且有利于凸起2的顶端互相环绕形成近似圆形的轮廓。
而且优选地,上述实施例中凸起2的个数不超过12个。由于孔的边缘尺寸4为一相对的定值,如果凸起2的个数过多,那么每个凸起2的尺寸和相邻凸起2之间的空隙可能会过小,不利于凸起2的加工,并且相邻凸起2之间的空隙过小,可能不利于后续的曝光显影。
作为替代,在图2所示的实施例中,所述孔为矩形孔,凸起2均匀分布在所述矩形的任意两个对边上,并且更优选地,凸起2呈中心对称分布。这样有利于形成规则图形,为后续像素电极的沉积带来便利。
具体而言,在图2所示的实施例中,各个凸起2具有相同的形状和尺寸,即所有的凸起2均为全等形,这样可以方便凸起2的加工。
其中,如图2所示,当所述矩形的两个对边的长度小于另两个对边的长度时,优选将凸起2设置在较短的两个对边上。这样,凸起2的顶端更容易与另两个较长的对边形成近似圆形的轮廓。
在图1和图2所示的实施例中,均可以将凸起2的中线长度设置为1.0-2.0μm之间的任一值,优选为1.5μm。其中如果凸起2的中线过短,那么对于过孔尺寸的缩小效果不明显。在现有技术中,过孔可以达到的最小极限尺寸为4μm,而在本发明各实施例中,所得到的过孔的最小尺寸可以小于4μm(该最小尺寸是排除相应凸起中线长度之后得到的);此外,上述对凸起2的中线长度的设定使得凸起的中线长度不能超过2μm,这是因为如果凸起2的中线过长,会使得过孔尺寸减小得过多,从而不利于在过孔中进行像素电极的沉积。
此外,本发明实施例还提供一种液晶面板,其包括过孔,该过孔的边缘向孔内部延伸形成有多个凸起,相较于现有技术中的光滑内圆弧的过孔,凸起所围成的圆形的尺寸较小,从而能够以较小的尺寸去连接尺寸较小的漏电极,有利于开口率的提高。该过孔可以由上述任一项实施例提供的掩膜板制得。因此应用了该过孔的液晶面板,将会因为开口率的提高,而增强液晶面板本身的显示性能,同时降低能耗。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。
Claims (10)
1.一种掩膜板,包括板体,所述板体上设有孔,其特征在于,从所述孔的边缘向孔内部延伸形成有多个凸起,所述多个凸起的顶端环绕成圆形或近似圆形。
2.根据权利要求1所述的掩膜板,其特征在于,所述凸起的顶角处设有圆角或倒角。
3.根据权利要求1或2所述的掩膜板,其特征在于,所述孔为圆形孔,所述凸起的位置相对于所述孔的中心呈中心对称分布。
4.根据权利要求3所述的掩膜板,其特征在于,各个所述凸起具有相同的形状和尺寸。
5.根据权利要求4所述的掩膜板,其特征在于,所述凸起的个数不超过12个。
6.根据权利要求1或2所述的掩膜板,其特征在于,所述孔为矩形孔,所述凸起均匀分布在所述矩形孔的任意两个对边上,并且所述凸起的位置呈中心对称分布。
7.根据权利要求6所述的掩膜板,其特征在于,各个所述凸起具有相同的形状和尺寸。
8.根据权利要求6所述的掩膜板,其特征在于,所述矩形的两个对边的长度小于另两个对边的长度,所述凸起设置在较短的两个对边上。
9.根据权利要求1或2所述的掩膜板,其特征在于,所述凸起的中线长度为1.0-2.0μm。
10.一种液晶面板,包括过孔,其特征在于,所述过孔是由权利要求1所述的掩模板制得。
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