CN103378251A - 发光二极管电性接触结构 - Google Patents

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CN103378251A CN2012101094859A CN201210109485A CN103378251A CN 103378251 A CN103378251 A CN 103378251A CN 2012101094859 A CN2012101094859 A CN 2012101094859A CN 201210109485 A CN201210109485 A CN 201210109485A CN 103378251 A CN103378251 A CN 103378251A
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曾炜竣
颜伟昱
陈复邦
张智松
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Abstract

本发明为一种发光二极管电性接触结构,应用于一发光二极管结构,其包含一N型金属电极层与一氮化物中间层,该发光二极管结构包含堆迭形成三明治结构的一N型半导体层、一发光层与一P型半导体层,其中该氮化物中间层图案化的形成于该N型半导体层上,该N型金属电极层形成于该氮化物中间层上,以藉由该氮化物中间层形成阻绝介面,可避免该N型半导体层受到金属离子扩散的破坏而保持电性稳定,且该氮化物中间层不会因长时间高温而软化凝结,可增加附着力,进而避免N型金属电极层有剥离现象,据而可增加发光二极管的使用寿命。

Description

发光二极管电性接触结构
技术领域
本发明有关发光二极管,特别是指发光二极管电性接触结构。
背景技术
发光二极管(Light Emitting Diode;LED)主要由半导体材料多重磊晶堆迭而成,以蓝光发光二极管为例,其主要是三族氮化物基(III-nitride based)磊晶薄膜组成。
请参阅图1所示,为一种现有垂直式发光二极管,其包含组成三明治结构的一N型半导体层1、一发光层2与一P型半导体层3,该P型半导体层3之下依序设置一反射层4(Mirror layer)、一缓冲层5(buffer layer)、一结合层6、一硅基板7与一P型电极8,而该N型半导体层1的表面可以粗化处理以增加光出射率,并供设置一N型电极9,据此于该N型电极9与该P型电极8施予电压后,该N型半导体层1提供电子,而该P型半导体层3提供电洞,该电子与该电洞于该发光层2结合后即可产生光。
然而,N型电极9一般为使用,如银、铝、镍等等金属,其容易因为高温而软化凝结成球状,而会导致N型电极9会有剥离的现象,且长久使用之后,金属离子会慢慢渗入该N型半导体层1中,进而造成电性不稳定,其会缩短发光二极管的寿命,而无法满足长久使用的需求。
发明内容
本发明的主要目的在于公开一种发光二极管电性接触结构,以增加发光二极管的使用寿命。
经由以上可知,为达上述目的,本发明为一种发光二极管电性接触结构,应用于一发光二极管结构,该发光二极管结构包含堆迭形成三明治结构的一N型半导体层、一发光层与一P型半导体层,其包含一氮化物中间层以及一N型金属电极层,其中该氮化物中间层图案化的形成于该N型半导体层上,该N型金属电极层形成于该氮化物中间层上。
据此,本发明藉由该氮化物中间层的设置并藉由氮化物的物理特性,可让该氮化物中间层形成为一阻绝介面,相较现有而言,本发明的优点在于藉由该阻绝介面的保护,该N型半导体层可以避免受到该N型金属电极层的金属离子扩散破坏,而保持电性稳定,且该氮化物中间层不会因高温而软化凝结成球形,可增加附着力,进而避免N型金属电极层有剥离现象,据而可增加发光二极管的使用寿命。
附图说明
图1为现有发光二极管结构图;
图2A为本发明第一实施例图;
图2B为本发明图2A局部放大图;
图3A为本发明第二实施例图;
图3B为本发明图3A局部放大图。
具体实施方式
兹有关本发明的详细内容及技术说明,现以实施例来作进一步说明,但应了解的是,该等实施例仅为例示说明之用,而不应被解释为本发明实施的限制。
请再参阅图2A与图2B所示,为本发明的第一实施例,其应用于一发光二极管结构10,其包含一氮化物中间层20以及一N型金属电极层30,而该发光二极管结构10包含堆迭形成三明治结构的一N型半导体层11、一发光层12与一P型半导体层13,该P型半导体层13之下依序设置一反射层14(Mirrorlayer)、缓冲层15(buffer layer)、一结合层16、一硅基板17与一P型电极18。
该氮化物中间层20图案化的形成于该N型半导体层11上,且该氮化物中间层20可以为选自氮化铝(AlN)、氮化钛(TiN)与氮化铬(CrN)所组成的群组,亦即该氮化物中间层20的成分为Ti(X)N(1-X)、Al(X)N(1-X)、Cr(X)N(1-X),且0.05<X<0.15。
换句话说,氮化铝的氮、铝的组成比为X∶1-X,且X介于0.05~0.15之间。同样的,氮化钛与氮化铬的氮、钛与氮、铬的组成比亦为X∶1-X,且X介于0.05~0.15之间,并该氮化物中间层20的厚度,较佳的实施值为10纳米~500纳米,由于氮化物于高温下仍可维持稳定的物性,并可阻绝金属离子扩散,据此藉由该氮化物中间层20的设置,即可形成阻隔介面,避免发光二极管快速老化,又该N型半导体层11于不具有该氮化物中间层20的区域可以具有一不规则表面111,该不规则表面111可避免全反射产生,以提升光射出率,且该不规则表面111可以利用物理方法,如等离子冲击等方式形成。
而该N型金属电极层30为形成于该氮化物中间层20上,且该N型金属电极层30可以为选自铝、钛、镍、铬、铂与金所组成的群组,并该N型金属电极层30的厚度为大于1微米,又该N型金属电极层30可以具有至少二种金属材料交错迭置而成。
请再参阅图3A与图3B所示,为本发明的第二实施例,于本实施例中,该N型半导体层11可以具有一不规则表面111,且该氮化物中间层20与该N型金属电极层30形成于该不规则表面111上,且该不规则表面111可以为连续锯齿状,并且该不规则表面111相邻峰顶(peak to peak)的距离D,其较佳实施为大于500纳米。
如上所述,本发明藉由该氮化物中间层20的设置,其虽与该N型半导体层形成萧特基(Schottky)接触,但却不会造成顺向操作电压(Forward Voltage)明显增加,其可让该氮化物中间层20形成为阻绝介面,因而其可阻绝金属离子扩散,并可于高温时保持稳定的物性,故可藉由该氮化物中间层20的阻绝保护,让该N型半导体层11可以避免受到金属离子的扩散破坏,而保持电性稳定,且该氮化物中间层20不会因高温而软化凝结成球形,可维持附着力,进而避免N型金属电极层30产生剥离现象,据而本发明可增加发光二极管的使用寿命,而满足需求。

Claims (11)

1.一种发光二极管电性接触结构,应用于一发光二极管结构,该发光二极管结构包含堆迭形成三明治结构的一N型半导体层、一发光层与一P型半导体层,其特征在于,包含:
一氮化物中间层,该氮化物中间层图案化的形成于该N型半导体层上;以及
一N型金属电极层,该N型金属电极层形成于该氮化物中间层上。
2.根据权利要求1所述的发光二极管电性接触结构,其特征在于,该氮化物中间层为选自氮化铝、氮化钛与氮化铬所组成的群组。
3.根据权利要求2所述的发光二极管电性接触结构,其特征在于,氮化铝的氮、铝的组成比为X∶1-X,且X介于0.05~0.15之间,氮化钛的氮、钛的组成比为X∶1-X,且X介于0.05~0.15之间,氮化铬的氮、铬的组成比为X∶1-X,且X介于0.05~0.15之间。
4.根据权利要求2所述的发光二极管电性接触结构,其特征在于,该氮化物中间层的厚度为10纳米~500纳米。
5.根据权利要求1所述的发光二极管电性接触结构,其特征在于,该N型金属电极层为选自铝、钛、镍、铬、铂与金所组成的群组。
6.根据权利要求5所述的发光二极管电性接触结构,其特征在于,该N型金属电极层的厚度为大于1微米。
7.根据权利要求5所述的发光二极管电性接触结构,其特征在于,该N型金属电极层具有至少二种材料交错迭置而成。
8.根据权利要求1所述的发光二极管电性接触结构,其特征在于,该N型半导体层具有一不规则表面,且该氮化物中间层与该N型金属电极层形成于该不规则表面上。
9.根据权利要求8所述的发光二极管电性接触结构,其特征在于,该不规则表面为连续锯齿状。
10.根据权利要求9所述的发光二极管电性接触结构,其特征在于,该不规则表面相邻峰顶的距离大于500纳米。
11.根据权利要求1所述的发光二极管电性接触结构,其特征在于,该N型半导体层于不具有该氮化物中间层的区域具有一不规则表面。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1747191A (zh) * 2004-09-10 2006-03-15 株式会社东芝 半导体发光器件及其制造方法
CN1773736A (zh) * 2004-11-11 2006-05-17 国联光电科技股份有限公司 覆晶式的发光二极管及其制作方法
US20090159917A1 (en) * 2007-12-20 2009-06-25 Hwan Hee Jeong Semiconductor light emitting device

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