CN103376476A - 薄片类介质检测装置及薄片类介质处理装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种薄片类介质检测装置及薄片类介质处理装置，该薄片类介质检测装置包括形成介质输送通道的机架、在介质输送通道的一侧设置的导光条、在导光条的至少一端设置的光源、以及在介质输送通道另一侧设置的光接收组件，其中，导光条具有沿介质输送通道的宽度方向延伸的导光面，光接收组件与导光面相面对并且沿介质输送通道的宽度方向位置可调。本发明提供的薄片类介质检测装置操作简单、结构尺寸小，当介质宽度或标记位置改变时，只需要在介质输送通道的一侧调节光接收组件的位置即可实现对宽度或标记位置不同的介质检测。

Description

薄片类介质检测装置及薄片类介质处理装置

技术领域

本发明涉及一种薄片类介质检测装置及使用该检测装置的薄片类介质处理装置。

背景技术

薄片类介质处理装置中的介质检测装置一般采用光电式、机械式等传感器，检测在介质输送通道内是否存在介质以及检测介质上的标记的位置。

当采用光电式传感器时，光电传感器包括光发射器和光接收器，光发射器发出光线，经过介质后被光接收器接收，如果没有介质阻挡光线，光接收器接收到的光线强度最大，输出第一电信号，如果有介质阻挡光线时，光接收器接收到的光线强度变弱，输出第二电信号，因此，可以根据光接收器输出的电信号判断介质的有无。

同理，当介质上设置有标记，如黑标、孔隙等标记时，当光电传感器的光发射器发出的光线照射在介质的标记上或者照射在介质的其他部分时，光接收器接收到的光线强度不同，输出电信号也不同，因此，可以根据光接收器输出的电信号来判断介质上的标记的位置。

光电式传感器包括反射式传感器和透射式传感器两种，其中，反射式传感器的光发射器和光接收器位于介质的同一侧，反射传感器的光发射器发出光线，照射在介质上，根据介质及介质上的标记的反射率不同，光接收器接收不同强度的光线，从而产生不同强度的电信号；透射式传感器的光发射器和光接收器分别位于介质的两侧，透射传感器的光发射器发出光线，通过介质透射到光接收器上，根据介质及介质上的标记的透射率不同，透射传感器的光接收器接收到不同强度的光线，从而产生不同强度的电信号。当介质上的标记与介质上的其他部分的反射率相差较大、透射率相差较小时，选用反射式传感器；当介质上的标记与介质上其他部分的透射率相差较大、反射率相差较小时，选用透射式传感器。

然而，为了适应尽可能多的介质类型，介质输送通道的宽度通常根据介质的最大宽度设定，不同宽度的介质在介质输送通道内的横向位置不同，因此，要求介质检测装置能够检测不同宽度的介质。

为了解决上述问题，现有技术中的介质检测装置如图1a、图1b所示，沿介质输送方向，依次设置有输送辊13’、限位件20’，以及介质检测装置15’，其中，输送辊13’用于将介质送入介质输送通道；限位件20’可沿图中所示A方向移动，用于限制介质在介质输送通道宽度方向的位置；介质检测装置15’可沿图中所示B方向移动，与不同宽度的介质相对应，用于检测介质输送通道内是否存在介质，以及介质上的标记的位置。

其中，介质检测装置为U型结构，包括沿介质输送通道的高度方向相对平行设置的上部21’和下部22’，其中当传感器25’为反射传感器时，在上部21’或下部22’上安装传感器25’的光发射器和光接收器，或者当传感器为透射传感器时，在上部21’和下部22’上分别安装有传感器25’的光发射器和光接收器，介质从上部21’与下部22’之间通过。

工作时，根据介质的宽度沿图中所示B方向调整介质检测装置15’的位置，使介质检测装置15’上的传感器25’与介质或者介质上的标记位置相适配，因此传感器25’可以检测介质输送通道内是否存在介质，以及介质上的标记的位置。

上述介质检测装置的问题在于，当传感器25’为透射传感器时，由于透射传感器的光发射器和光接收器分别位于介质输送通道的两侧，为了保证光发射器发出的光线能够被光接收器接收，要求在调节传感器位置时必须始终保证光发生器与光接收器相对，因此存在着调节过程复杂，操作不便的问题，另外，由于光发生器和光接收器均通过连接线46’与控制装置电连接，在调节介质检测装置15’的位置时，位于通道两侧的光发射器和光接收器以及连接线46’随之移动，因此，需要在介质输送通道的两侧预留足够的调节空间，介质检测装置占用的空间大。

发明内容

本发明的目的在于提供一种操作简单、结构尺寸小的介质检测装置及使用该检测装置的薄片类介质处理装置。

为此，本发明提供了一种薄片类介质检测装置，包括形成介质输送通道的机架，并且还包括在介质输送通道的一侧设置的导光条、在导光条的至少一端设置的光源、以及在介质输送通道另一侧设置的光接收组件，其中，导光条具有沿介质输送通道的宽度方向延伸的导光面，光接收组件与导光面相面对并且沿介质输送通道的宽度方向位置可调。

进一步地，上述光接收组件包括移动座和在移动座上设置的光接收器，光接收器与导光面相对。

进一步地，上述光接收组件还包括在移动座上设置的光发生器。

进一步地，上述移动座位于机架的长形凹槽中，长形凹槽的敞口处设置有透明盖，长形凹槽和移动座之间设有定位结构。

进一步地，上述光接收组件还包括支撑移动座的螺杆和在螺杆的一端设置的拨轮，其中，移动座和螺杆形成螺旋传动副。

进一步地，上述导光条的面对光源的端面为凹形弧面。

进一步地，上述导光条还具有面对光源与导光面呈锐角设置的反光面，锐角为3°～10°。

进一步地，上述反光面的垂直于介质输送通道的宽度方向的截面为圆弧形。

进一步地，上述反光面沿其宽度方向的截面为圆弧形，沿远离光源的方向，圆弧的高度逐渐减小，光接收组件的移动轨迹为圆弧面的圆心在介质输送通道上形成的投影线。

进一步地，上述导光条的沿介质输送通道的宽度方向的两端分别设有光源，导光条的反光面包括沿导光面的延伸方向依次布置并相互呈V型设置的第一反光面和第二反光面，第一反光面和第二反光面面对邻近的光源并且与导光面的夹角为锐角，锐角为3°～10°。

根据本发明的另一方面，提供了一种薄片类介质处理装置，包括沿介质输入方向依次排布的介质支撑装置、根据上面所描述的薄片类介质检测装置、以及介质处理机构。

在本发明中，当介质宽度或标记位置改变时，只需要在介质输送通道的一侧调节光接收组件的位置即可实现宽度或标记位置不同的介质检测。因此本发明提供的薄片类介质检测装置操作简单，另外，由于只需要预留光接收组件的调节空间，结构简化并且结构尺寸小。

除了上面所描述的目的、特征、和优点之外，本发明具有的其它目的、特征、和优点，将结合附图作进一步详细的说明。

附图说明

构成本说明书的一部分、用于进一步理解本发明的附图示出了本发明的优选实施例，并与说明书一起用来说明本发明的原理。图中：

图1a是现有技术提供的薄片类介质检测装置的结构示意图；

图1b是现有技术提供的薄片类介质检测装置的局部结构示意图；

图2是根据本发明一实施例的薄片类介质检测装置的结构示意图；

图3是根据本发明一实施例的薄片类介质检测装置中的光接收组件与机架连接的结构示意图；

图4a是根据本发明另一实施例的薄片类介质检测装置中的光接收组件与机架连接的结构示意图；

图4b是图4a所示的光接收组件与机架连接的截面示意图；

图5是根据本发明提供的薄片类介质检测装置一实施例的导光条沿其宽度方向的截面示意图；

图6是根据本发明另一实施例的薄片类介质检测装置的结构示意图；

图7是根据本发明又一实施例的薄片类介质检测装置示意图；以及

图8是使用本发明提供的薄片类介质检测装置的薄片类介质处理装置结构示意图。

附图标记说明

1光源          2导光条

21反光面       22导光面

211第一反光面  212第二反光面

3光接收组件    31光接收器

32移动座       321定位部

33支撑调节件   331螺杆

332拨轮        36光发生器

4介质输送通道  5输送辊组

51主动辊       52从动辊

8机架          81长形凹槽

811限位部      82盖板

83通道板       831第一支撑架

832第二支撑架  833第一限位部

834第二限位部  835第一长槽

100介质支撑装置200介质处理机构

210打印头      220胶辊

300薄片类介质检测装置。

具体实施方式

以下结合附图对本发明的实施例进行详细说明，但是本发明可以由权利要求限定和覆盖的多种不同方式实施。

图2是根据本发明一实施例提供的薄片类介质检测装置的结构示意图。如图所示，薄片类介质检测装置包括光源1、导光条2和光接收组件3。其中，导光条2与光接收组件3分别位于介质输送通道4两侧，二者相对设置并相距设定距离，介质在输送过程中从两者之间通过。

导光条2为透明材料，其长度与介质输送通道4的宽度相适配，其宽度沿介质输送方向延伸，沿其长度方向的截面形状为三角形或者楔形。导光条2包括反光面21和导光面22，反光面21与导光面22的长度均沿介质输送通道的宽度方向延伸，其中，导光面22与介质输送通道4平行；反光面21位于导光面22的远离介质输送通道4的一侧，反光面21相对于导光面22呈锐角倾斜设置，即反光面21与导光面22之间的夹角a为锐角，优选地，a为3°～10°，本实施例中a等于5°。

光源1可以为点光源，如发光二极管，其形状可以为球体、半球体等，位于导光条2的一端，与导光条2的反光面21和导光面22组成的锐角相对，用于向导光条2发射光线。

光源1发射的光线一部分直接照射在导光面22上，照射在导光面22上的光线一部分穿过导光面22透射进入介质输送通道4内，另一部分经导光面22反射至反光面21；光源1发射的另一部分光线直接照射在反光面21上，经过反光面21反射至导光面22，反射至导光面22的光线一部分透射进入介质输送通道，另一部分又被反射至反射面21，再由反射面21反射至导光面22，直至被透射进入介质输送通道，这样，光源1发射的光线经过反光面21的反射和导光面22的透射，沿导光面22的长度方向形成一向介质输送通道发射光线的发光平面，该发光平面与光接收组件3相对。

光接收组件3与机架8活动连接，可沿介质输送通道的宽度方向移动，光接收组件3的移动行程与介质的最大宽度相适配。在移动过程中，光接收组件3始终与发光平面相对，当介质输送通道内没有介质时，光接收组件3可以接收到发光平面射入的光线。

图3是根据本发明一实施例的薄片类介质检测装置中的光接收组件与机架连接的结构示意图。如图3所示，机架8包括长形凹槽81和盖板82，长形凹槽81沿介质输送通道的宽度方向设置，相对于导光条2，位于介质输送通道4的另一侧，长形凹槽81的长度与光接收组件3的移动行程相适配，长形凹槽81具有设定的宽度与深度；盖板82的形状与长形凹槽81的敞口形状相适配，材料为透明材料。当盖板82与长形凹槽81卡接配合时，将光接收组件3封闭在长形凹槽81内，光接收组件3的光接收器31透过盖板82可接收到发光平面发射的光线。

光接收组件3包括光接收器31和移动座32，其中光接收器31与移动座32固定连接。在移动座32的一侧，设置有定位部321，在长形凹槽81的长边一侧设置多个限位部811，多个限位部811间隔设定距离沿长形凹槽81的长度方向排列。当光接收组件3放置在长形凹槽81内时，移动座32上的定位部321与多个限位部811中的一个卡接配合，使移动座32沿长形凹槽81长度方向位置固定。因此，可以根据介质宽度或介质上的标记位置从多个限位部811中选择一个与定位部321配合，从而调节光接收组件3在长形凹槽81长度方向(即介质宽度方向)的相对位置，使其与介质或介质上的标记位置对应。

图4a是根据本发明另一实施例的薄片类介质检测装置中的光接收组件与机架连接的结构示意图，图4b是图4a所示的光接收组件与机架连接的截面示意图。如图4a和图4b所示，本实施例中机架8包括通道板83。其中，通道板83沿介质输送通道的宽度方向延伸，与导光条2相对设置。

具体地，在通道板83上沿介质输送通道的宽度方向设置有第一长槽835，第一长槽835的长度与最大介质宽度相适配；在第一长槽835的长边两侧，设置有垂直于通道板83的第一限位部833和第二限位部834，两者位于通道板83背离导光条2的一侧，且向远离导光条2的方向延伸；在第一长槽835的短边两侧，设置有垂直于通道板83的第一支撑架831和第二支撑架832，两者位于通道板83背离导光条2的一侧，且向远离导光条2的方向延伸。

光接收组件3包括光接收器31和移动座32，以及支撑调节件33，其中，支撑调节件33包括螺杆331和拨轮332，螺杆331的两端由通道板83的第一支撑架831和第二支撑架832支撑，可以绕自身轴线自由转动，在螺杆331上沿轴向设置有螺纹；移动座32上设置有与螺杆331上螺纹对应配合的螺纹孔，移动座32与螺杆331螺纹连接，当螺杆331转动时，移动座32可以沿螺杆331轴向运动；光接收器31与移动座32固定连接，位于通道板83的第一限位部833和第二限位部834之间，光接收器31的检测部透过通道板83上的第一长槽835与导光条2的导光面22相对；拨轮332与螺杆331一端同轴固定连接，当转动拨轮332时，可以使螺杆331随之转动，与螺杆331螺纹连接的移动座32受通道板83上的第一限位部833和第二限位部834限制，随之沿螺杆331的轴线方向连续移动，从而可以调节光接收器31与介质的相对位置，使其与介质的宽度匹配或与介质的标记相对应。

下面介绍本发明提供的薄片类介质检测装置的工作过程。

首先调节移动座32沿介质输送通道4的宽度方向的位置，使光接收器31与介质的宽度匹配或与介质上的标记相对应。由于光源1照射的光线经导光条2传递后沿导光面22的长度方向形成一向介质输送通道内发射光线的发光平面，因此，光接收器31在介质输送通道的宽度方向的任一位置均可以接收到光线，当光接收器31与导光条2之间无介质通过时，光接收器31接收到强度高的光线，因此光接收器输出第一电信号；当光接收器31和导光条2之间有介质通过时，光接收器31无法接收到光线或接收到的光线强度很弱，因此光接收器31输出第二电信号；在薄片类介质检测装置已经检测到介质输送通道内存在介质后，当介质上的标记经过光接收器31与导光条2之间时，根据标记对光线反射或透射的特性，光接收器31接收到的光线强度会发生相应变化，因此光接收器31输出第三电信号。

由于在有介质、无介质，以及介质上的标记经过光接收器31与发光平面之间的三种情况下光接收器31输出的电信号不同，从而通过检测光接收器31的输出电信号，可以判断出光接收器31所在位置是否有介质存在，以及当有介质存在时，介质上的标记位置。

优选地，在本发明提供的其它实施例中，导光条2的反光面21上可以涂覆水银或者粘贴反光膜等反光材料，从而增加反光面21的反光率。

本发明提供的薄片类介质检测装置包括在介质输送通道的一侧设置的导光条，在导光条的至少一端设置光源，以及与导光条相对，位于介质输送通道另一侧的可沿介质输送通道宽度方向移动的光接收组件。其中，导光条包括长度沿介质输送通道宽度方向延伸且长度与介质输送通道宽度相适配的导光面，以及面对光源与导光面呈锐角设置的反光面，光源发射的光线经过导光条的反光面的反射和导光面的透射后，沿导光面的长度方向形成一向介质输送通道内发射光线的发光平面，当介质宽度或标记位置改变时，只需要在介质输送通道的一侧调节光接收组件的位置即可实现宽度或标记位置不同的介质检测。因此本发明提供的薄片类介质检测装置操作简单，另外，由于只需要预留光接收组件的调节空间，因此减小了薄片类介质检测装置的结构尺寸。

图5是根据本发明一实施例的导光条沿其宽度方向的截面示意图。如图5所示，本实施例中，导光条的反光面的垂直于介质输送通道的宽度方向的截面为圆弧形。优选的，反光面的垂直于介质输送通道的宽度方向的截面为圆弧形，且沿远离光源的方向，圆弧的高度逐渐减小，光接收组件的移动轨迹为反光面21的圆弧圆心在介质输送通道上形成的投影线，光源1照射的光线经过导光条2的反光面21反射的部分均集中在光接收器31处，加强了光接收器31接收的光线强度，因此提高了薄片类介质检测装置的可靠性。在本发明的其他实施例中，导光条的反光面也可以是沿介质输送通道宽度方向延伸方向的圆锥面，光接收组件的移动轨迹与反光面21的轴线一致。

图6是根据本发明另一实施例的薄片类介质检测装置的结构示意图。本实施例与上述实施例的区别在于，在导光条2长度方向的两端分别设有光源1，导光条2的反光面21沿介质输送通道的宽度方向的横截面呈V型，优选的，该V型顶点位于导光条2的长度中心。

具体地，在导光条2长度方向的两端分别设置两个光源1。导光条2的反光面21包括以导光条2的长度中心为顶点呈V型设置的第一反光面211和第二反光面212，第一反光面211和第二反光面212各自面对邻近的光源1，分别与导光面22呈锐角设置。

其中，以导光条2长度中心为分界线，第一反光面211与其邻近的光源1相配合，用于将光源1照射的光线反射给导光面22，经导光面22透射沿导光面长度方向形成与导光条2一半长度相适配的发光平面；第二反光面212与其邻近的光源1相配合，用于将光源1发射的光线反射给导光面22，并经导光面22透射，沿导光面长度方向形成与导光条2另一半长度相适配的发光平面，两个发光平面位于同一平面内，且在导光条2的长度中心处相连，形成一长度与导光面22长度相适配的发光平面。

本实施例通过在导光条2两端均设置光源1，并将导光条的反光面21设置成V型设置的第一反光面211和第二反光面212，两个反光面分别将其邻近的光源1发射的光线反射至导光面，并经导光面透射形成一条长度与导光面长度相适配的发光平面，此时，即使介质输送通道很宽，导致导光条较长，也不会因反光面21远离光源1造成反射的光线强度不足的问题，因此进一步提高了薄片类介质检测装置的可靠性。

图7是根据本发明又一实施例的薄片类介质检测装置示意图。如图7所示，与上述实施例相比，不同之处在于，本实施例中的薄片类介质检测装置还包括光发生器36，其中，光发生器36与移动座32固定连接，与光接收器31一起位于移动座32邻近导光条2的一侧，当介质输送通道4内存在介质时，光发生器36发出的光线照射在介质上，经介质反射至光接收器31上。

使用本实施例提供的薄片类介质检测装置，当介质上的标记与介质上的其他部分的反射率相差较大、透射率相差较小时，关闭光源1，打开光发生器36，光发生器36发射光线照射在介质上，由介质反射至光发生器31；当介质上的标记与介质上其他部分的透射率相差较大、反射率相差较小时，关闭光发生器36，打开光源1，由光源1发光，经过导光条2，沿导光面1形成一条长度与介质输送通道宽度相适配的发光平面照射在光接收器31上。因此，本实施例提供的薄片类介质检测装置能够适应更多的介质类型，提高了薄片类介质检测装置的适应性。

图8是使用本发明提供的薄片类介质检测装置的薄片类介质处理装置的结构示意图，如图8所示，薄片类介质处理装置包括沿介质输入方向依次排布的介质支撑装置100、薄片类介质检测装置300，以及介质处理机构200。其中，介质支撑装置100用于支撑介质S，介质可以是卷筒状非连续性介质，如标签纸或带有标记孔或黑色标记的介质；薄片类介质检测装置300用于检测介质输送通道4内是否有介质存在或者检测介质上的标记的位置；介质处理机构200用于对介质进行处理，介质处理机构可以是打印机构、扫描机构、读写磁机构等处理机构中的一种或者几种的组合。介质输送通道4的宽度与薄片类介质处理装置适用的最大介质宽度相适配。

薄片类介质检测装置300的结构形式可以采用上述任一实施例提供的薄片类介质检测装置，其工作原理与上述实施例中介绍的工作原理相同，在此不再赘述。

输送辊组5沿介质输入方向位于薄片类介质检测装置300的下游，包括相对相切设置的主动辊51和从动辊52，当介质从主动辊51和从动辊52之间通过时，在主动辊51驱动下，介质可以沿介质输送通道输入或输出薄片类介质处理装置。

介质处理机构200位于输送辊组5的下游，本实施例中，介质处理机构200为打印机构。打印机构可以是热打印机构，也可以是针式、喷墨、激光等打印机构。本实施例中打印机构为热打印机构，包括打印头210和胶辊220，两者相切设置，介质从两者之间穿过。胶辊220在驱动机构驱动下绕自身轴线转动，带动介质在打印头210与胶辊220之间运动，并向打印机构的下游传输。在介质运动过程中，打印头210在介质上打印设定的文字或图像。由于针式、喷墨、激光等打印机构设置形式为本领域技术人员所熟知，在此不再赘述。

下面简单介绍薄片类介质处理装置工作原理。

当介质从入口输入薄片类介质处理装置时，根据介质的宽度或者介质上的标记位置，调整薄片类介质检测装置300的光接收器31的位置，使其与介质的宽度匹配或者与介质上的标记相对应，根据光接收器31的输出信号，判断介质输送通道中是否有介质存在或者介质上的标记是否经过光接收器31，从而控制输送辊组5或介质处理机构200执行相应动作。比如，当薄片类处理装置的控制器根据光接收器的输出信号判断出介质标记恰好经过光接收器后开始计时，经过设定时间后，介质移动预定距离使介质上的打印位置与打印头210相对时，控制打印头210在介质上进行打印。

使用本发明提供的薄片类介质检测装置的薄片类介质处理装置，通过导光条沿介质输送通道宽度方向形成一向介质输送通道内发射光线的发光平面，当薄片类介质处理装置使用的介质宽度或标记位置改变时，只需要在介质输送通道的一侧调节光接收组件的位置即可实现宽度或标记位置不同的介质检测。因此使用本发明提供的介质检测装置的薄片类介质处理装置操作简单，另外，由于只需要预留光接收组件的调节空间，因此有利于薄片类介质处理装置小型化。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种薄片类介质检测装置，包括形成介质输送通道的机架(8)，其特征在于，还包括在所述介质输送通道的一侧设置的导光条(2)、在所述导光条(2)的至少一端设置的光源(1)、以及在所述介质输送通道另一侧设置的光接收组件(3)，

其中，所述导光条(2)具有沿所述介质输送通道的宽度方向延伸的导光面(22)，所述光接收组件(3)与所述导光面(22)相面对并且沿所述介质输送通道的宽度方向位置可调。

2.根据权利要求1所述的薄片类介质检测装置，其特征在于，所述光接收组件(3)包括移动座(32)和在所述移动座(32)上设置的光接收器(31)，所述光接收器(31)与所述导光面(22)相对。

3.根据权利要求2所述的薄片类介质检测装置，其特征在于，所述光接收组件(3)还包括在所述移动座(32)上设置的光发生器(36)。

4.根据权利要求2所述的薄片类介质检测装置，其特征在于，所述移动座(32)位于所述机架(8)的长形凹槽(81)中，所述长形凹槽(81)的敞口处设置有透明的盖板(82)，所述长形凹槽(81)和所述移动座(32)之间设有定位结构。

5.根据权利要求2所述的薄片类介质检测装置，其特征在于，所述光接收组件(3)还包括支撑所述移动座(32)的螺杆(331)和在所述螺杆(331)的一端设置的拨轮(332)，其中，所述移动座(32)和所述螺杆(331)形成螺旋传动副。

6.根据权利要求1所述的薄片类介质检测装置，其特征在于，所述导光条(2)的面对所述光源(1)的端面为凹形弧面。

7.根据权利要求1所述的薄片类介质检测装置，其特征在于，所述导光条(2)还具有面对所述光源(1)与所述导光面(22)呈锐角设置的反光面(21)。

8.根据权利要求7所述的薄片类介质检测装置，其特征在于，所述反光面(21)的垂直于所述介质输送通道的宽度方向的截面为圆弧形。

9.根据权利要求7所述的薄片类介质检测装置，其特征在于，所述导光条(2)的沿所述介质输送通道的宽度方向的两端分别设有光源，所述导光条(2)的反光面(21)包括沿所述导光面(22)的延伸方向依次布置并相互呈V型设置的第一反光面(211)和第二反光面(212)，所述第一反光面(211)和所述第二反光面(212)面对邻近的所述光源并且与所述导光面(22)的夹角为锐角。

10.一种薄片类介质处理装置，包括沿介质输入方向依次排布的介质支撑装置(100)、介质检测装置(300)、以及介质处理机构(200)，其特征在于，所述介质检测装置(300)为根据权利要求1至9中任一项所述的薄片类介质检测装置。

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