CN103370639A - 包括部分补偿探测线圈中的磁激发场的用于磁感应阻抗测量设备的线圈装置 - Google Patents

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Abstract

一种用于磁感应阻抗测量设备(100)的线圈装置(215),包括:激发线圈(208),被配置为在对象(106)中生成磁激发场;匀场线圈(364),用于生成匀场场;以及探测线圈(210-214),被配置为探测磁响应场,所述磁响应场是对所述磁激发场在所述对象(106)中感生出电流作出响应而生成的。为了提高对象的参数的确定的精度,所述探测线圈(210-214)中的净磁激发场的场强的值大致在所述探测线圈(210-214)中的所述磁响应场的场强的平均值的大小范围内,所述净磁激发场为激发场和匀场场的和。

Description

包括部分补偿探测线圈中的磁激发场的用于磁感应阻抗测量设备的线圈装置
技术领域
本发明涉及磁感应阻抗测量技术领域,并且特别是涉及用于磁感应阻抗测量设备的线圈装置、用于确定对象的参数的磁感应阻抗测量设备、用于确定对象的参数的方法、以及程序元件。
背景技术
磁感应阻抗测量代表用于检查导电对象的侵入性且无接触的检查技术。特别是,此技术适合于确定对象的参数,例如人的生理特性。
常规地,磁感应阻抗测量技术的线圈装置包括激发线圈和一个或多个探测线圈。激发线圈被配置为生成磁激发场,并且该一个或多个探测线圈被配置为探测对磁激发场在对象中感生出涡流进行响应而生成的磁响应场。
在磁感应阻抗测量设备的操作中,在激发线圈中感生出时变电流,使得激发线圈生成磁激发场,该磁激发场穿过待检查的对象并且相应地在对象内感生出涡流。涡流的大小基于磁激发场的磁通密度和对象的电导率。通过对象中涡流的流动生成磁响应场,并且通过该一个或多个探测线圈来探测该磁响应场,因为在该一个或多个探测线圈中感生出了电流或电压。感生出的电流或电压是对象的电导率的量度并且取决于对象的电导率和几何结构以及激发线圈和该一个或多个探测线圈的几何结构。
通常,激发线圈位于该一个或多个探测线圈附近,使得在该一个或多个探测线圈中存在磁激发场,并且相应地在该一个或多个探测线圈中引起待感生出的附加电流或附加电压。此外,与该一个或多个探测线圈中的磁响应场的场强相比,该一个或多个探测线圈中的磁激发场的场强在更高数量级,由此导致对于磁响应场的探测的差的信噪比。
当确定对象的参数时,与由对象自身在该一个或多个探测线圈中引起的平均信号的信号值相比,由对象的参数在该一个或多个探测线圈中引起的信号改变可以包括低的值。结果归因于该一个或多个探测线圈中磁激发场的存在和/或由对象的参数引起的信号改变的低的信号改变值,可能难以精确地确定的对象的参数。
已知可以补偿该一个或多个探测线圈中的磁激发场,以提高对象的参数的确定的精度。
WO2010/052609A1描述了用于磁感应断层摄影系统的线圈装置。线圈装置包括至少一个激发线圈和至少一个探测线圈。该至少一个探测线圈中的磁激发场的场强被充分补偿或抵消,使得由该至少一个探测线圈中的磁响应场引起的信号能够用于计算待检查的对象的电导率分布并用于可视化对象的电导率分布。
EP1926424A2描述了用于感应测量导电组织的生物阻抗的系统和方法。该系统包括激发线圈和探测线圈,探测线圈的轴取向为基本垂直于通过探测线圈的磁激发场的磁通线。此外,该系统包括匀场线圈,该匀场线圈被配置为生成磁匀场场(shimming field),使得抵消探测线圈中的磁激发场。
可能仍然存在对以高精度确定对象的参数的需求。
发明内容
本发明的目的是提供用于磁感应阻抗测量设备的线圈装置以及容许容易和精确地确定对象的参数的相应的方法。
上述目的通过根据独立权利要求的用于磁感应阻抗测量设备的线圈装置、用于确定对象的参数的磁感应阻抗测量设备、确定对象的参数的方法、以及程序元件实现。
根据本发明的范例方面,提供了一种用于磁感应阻抗测量设备的线圈装置,所述线圈装置包括:激发线圈,被配置为在对象中生成磁激发场;以及探测线圈,被配置为探测磁响应场,所述磁响应场是对所述磁激发场在所述对象中感生出电流作出响应而生成的,其中,所述探测线圈中的净磁激发场的场强的值包括所述探测线圈中的所述磁响应场的场强的平均值的大小范围。
根据本发明的另一范例方面,提供了一种用于确定对象的参数的磁感应阻抗测量设备,所述磁感应阻抗测量设备包括:上述的线圈装置;以及参数确定单元,被配置为基于所述磁响应场和所述磁激发场来确定所述对象的所述参数。
根据本发明的另一范例方面,提供了一种确定对象的参数的方法,所述方法包括:由激发线圈在对象中生成磁激发场;由探测线圈探测所述探测线圈中的磁响应场,其中,所述磁响应场是对所述磁激发场在所述对象中感生出电流作出响应而生成的,其中,所述探测线圈中的净磁激发场的场强的值包括所述探测线圈中的所述磁响应场的场强的平均值的大小范围;以及基于所述磁响应场和所述磁激发场来确定所述对象的所述参数。
提供了如上所述的用于确定对象的参数的磁感应阻抗测量设备的用途。
根据本发明的另一范例方面,提供了一种程序元件,所述程序元件在由处理器执行时被配置为实现或控制如上所述的确定对象的参数的方法。
提供了一种计算机可读介质,其中,存储了用于确定对象的参数的计算机程序,所述计算机程序在由处理器执行时被配置为实现或控制如上所述的确定对象的参数的方法。
在本申请的上下文中,术语“磁场”可以特别表示以特斯拉T为单位量度的磁通密度B和/或以安培每米A/m量度的磁场强度H。为易于阅读,术语“磁场”可以用于本申请的上下文中指磁通密度和/或磁场强度。
术语“探测线圈中的净磁激发场”可以特别表示在探测线圈中得到的磁激发场,该得到的磁激发场可以由以一个或多个不同取向穿过探测线圈的磁激发场生成,其中,磁激发场可以被以一个或多个不同取向穿过探测线圈的另一磁场叠加,特别是被磁匀场场叠加。
术语磁场的“场强”可以特别表示磁场的大小。特别是,场强可以特别表示磁场的幅度的(有符号的)值。
术语“磁响应场的场强的平均值”可以特别表示由对象引起的磁响应场的场强的时间平均值。特别是,平均值可以与无参数的对象关联。
根据本发明的范例方面,对象的参数的确定可以基于利用用于磁感应阻抗测量设备的线圈装置,该线圈装置可以在该线圈装置的探测线圈中提供部分补偿的磁激发场。对象的参数的这种确定可以基于对基于探测的磁响应场和磁激发场的信号可以对由待确定的对象的参数引起的信号改变敏感的认识。特别是,如果探测线圈中的净磁激发场的场强的值可以包括探测线圈中的磁响应场的场强的平均值的大小范围,则基于磁响应场和磁激发场的信号可以显示对由对象的参数引起的小的信号改变的高的灵敏度。较后的探测或测量条件可以导致磁激发场与磁响应场之间的相位角(值)适合于确定由待确定的对象的参数引起的磁响应场的与磁激发场相关的信号改变。这里,术语“相位角”可以特别表示磁激发场与磁响应场之间的角度,并且可以定义为磁激发场的场强的值与磁响应场的场强的值之间的比率的反正切。
特别是,当使用特定的探测条件时,能够精确地确定由对象的参数引起的信号改变,由此提高对象的参数的确定的精度。
特别是,因为确定可以基于探测的磁响应场和磁激发场,所以能够采用易于得到的待测量来确定对象的参数。从而,对象的参数的确定是能够容易地执行的。
接下来,将解释用于磁感应阻抗测量设备的线圈装置的进一步的范例实施例。然而,这些实施例也适用于磁感应阻抗测量设备、确定对象的参数的方法、用于确定对象的参数的磁感应阻抗测量设备的用途、程序元件、以及计算机可读介质。
特别是,探测线圈中的磁激发场的场强的值可以(大致)在探测线圈中的磁响应场的场强的平均值的20%的大小范围内,特别地在10%的大小范围内,更特别地在5%的大小范围内。从而,可以进一步提高线圈装置对由对象的参数引起的信号改变的灵敏度并且相应地提高对象的参数的确定的精度,因为这些百分比范围可以对应于由对象的参数引起的信号改变的较好的信噪比。
探测线圈中的磁激发场的场强的值可以(大致)等于探测线圈中的磁响应场的场强的平均值。相应地,磁激发场与磁响应场之间的相位角值可以为(约)45°。此测量条件可以对应于对与对象的参数关联的信号显示最佳灵敏度的线圈装置,由此,可以进一步提高对象的参数的确定的精度。
线圈装置还可以包括匀场线圈,该匀场线圈被配置为在所述探测线圈中生成磁匀场场,使得所述探测线圈中的所述净磁激发场的所述场强的所述值可以包括所述探测线圈中的所述磁响应场的所述场强的所述平均值的所述大小范围。此常规测量可以容许探测线圈中的磁激发场与磁匀场场的叠加,使得能够将探测线圈中的净磁激发场的场强的值调整至用于对象的参数的确定的期望值。
线圈装置还可以包括至少另一探测线圈(或多个探测线圈),该至少另一探测线圈(或多个探测线圈)被配置为探测对所述磁激发场在所述对象中感生出所述电流作出响应而生成的所述磁响应场,并且所述至少另一探测线圈(或多个探测线圈)中的净磁激发场的场强的值可以包括所述至少另一探测线圈(或多个探测线圈)中的所述磁响应场的场强的平均值的大小范围。特别是,探测线圈中的净磁激发场的场强的值与所述至少另一探测线圈中的净磁激发场的场强的值可以相同或可以彼此不同。相应地,探测线圈中的磁响应场的场强的平均值与所述至少另一探测线圈中的磁响应场的场强的平均值可以相同或彼此不同。从而,通过提供具有至少两个探测线圈的线圈装置,可以提供对象的空间分辨率,由此使得线圈装置能够用于断层摄影应用。
所述线圈装置可以包括平面配置。这里,术语“平面”线圈装置可以特别表示如下线圈配置:其中,其部件(特别是激发线圈和探测线圈)可以(基本上)在公共平面中延伸,或在彼此(大致)平行但彼此(紧密)隔开的平面中延伸。特别是,探测线圈和至少另一探测线圈可以包括平面梯度计配置,其中探测线圈和所述至少另一探测线圈可以放置在公共平面中,距激发线圈等距。这里,所述至少另一线圈可以对应于被配置为探测磁响应场的上述至少另一探测线圈。特别是,线圈装置可以包括平面正交配置,其中激发线圈与探测线圈和至少另一探测线圈中的至少之一可以布置在公共平面中,并且其中探测线圈和所述至少另一探测线圈中的至少之一可以沿磁激发场的磁通线对准。这里,所述至少另一探测线圈可以对应于被配置为探测磁响应场的上述至少另一探测线圈。
特别是,替代地,线圈装置可以包括轴向梯度计配置,其中探测线圈和至少另一探测线圈可以沿探测线圈和所述至少另一探测线圈的公共轴距激发线圈等距地放置。这里,所述至少另一探测线圈可以对应于被配置为探测磁响应场的上述至少另一探测线圈。探测线圈和所述另一探测线圈彼此相对且串联地连接,使得可以将探测线圈中的净磁激发场调整至期望值。
接下来,将解释磁感应阻抗测量设备的进一步的范例实施例。然而,这些实施例也适用于线圈装置、用于确定对象的参数的方法、用于确定对象的参数的磁感应阻抗测量设备的用途、程序元件、以及计算机可读介质。
磁感应阻抗测量设备还可以包括相位差值确定单元,该相位差值确定单元被配置为确定所述磁激发场的相位的相位值与所述磁响应场的相位的相位值之间的相位差值,并且所述参数确定单元可以被配置为基于所确定的相位差值来确定所述对象的所述参数。术语磁场的“相位”可以特别表示磁场的频率(被时间相乘)的偏移。特别是,因为探测的磁响应场可以包括为磁激发场的相位值、由对象引起的磁响应场的相位值、以及由对象的参数引起的磁响应场的相位值的叠加的相位值,所以相位差值可以指示对象的参数。从而,对象的参数的确定可以依赖于简单的数学评估。
特别是,相位差确定单元可以被配置为确定磁响应场的相位值和/或可以配置为对磁响应场的相位值进行操作。
特别是,相位差确定单元可以被配置为在时间段内重复地确定磁激发场的相位的相位值与磁响应场的相位的相位值之间的相位差值,使得可以利用相位差的时间演变或时间相关性来确定对象的参数。从而,能够确定对象的时间相关的参数。此外,使用对象的参数的时间信息可以提高对象的参数的确定的精度。
特别是,相位差确定单元可以被配置为对指示至少两个探测线圈中或所有探测线圈中的磁响应场的至少两个或所有信号进行操作。
特别是,磁感应阻抗测量设备可以包括上述(分开的)相位差确定单元,用于线圈装置的每一个探测线圈。
特别是,参数确定单元可以配置为将所确定的相位差值与与无参数的对象关联的参考相位差值进行比较。特别是,比较可以包括从每一个所确定的相位差值减去参考相位差值。特别是,参数确定单元可以被配置为生成参考相位值并存储参考相位值用于对象的参数的确定。
特别是,参数确定单元可以包括高通滤波器,该高通滤波器被配置为对所确定的(时间相关的)相位差值进行滤波,特别是通过向(时间相关的)所确定的相位差值施加阈值(作为参考相位差值)来进行滤波,使得仅与对象的参数关联的信号改变可以通过高通滤波器,用于对象的参数的进一步的确定。
磁感应阻抗测量设备还可以包括激发场相位值生成单元,该激发场相位值生成单元被配置为生成激发相位值信号,所述激发相位值信号指示所述磁激发场的所述相位的相位值并待提供给所述激发线圈和所述相位差值确定单元。此措施可以使得以容易的方式给相位差值确定单元提供磁激发场的实际相位,由此提高对象的参数的确定的精度。
磁感应阻抗设备可以被配置为磁感应阻抗断层摄影设备,由此能够用于提供对象的参数的空间相关的信息。特别是,对象的参数的确定可以基于对象的截面图,该截面图是基于相位差值生成的。
特别是,对象可以是人,并且参数可以包括人的生理参数。特别是,生理参数可以包括生命特征,诸如肺活动、心脏活动以及大脑活动中的至少之一。特别是,磁感应阻抗设备能够用于临床应用,例如用于确定新生婴儿的呼吸或呼吸速率时的新生儿应用,或可以用于汽车工业中,例如用于确定驾驶员的睡意。在后一种应用中,磁感应阻抗设备可以集成在驾驶员的车辆座位中,以确定车辆驾驶员的呼吸或呼吸速率。
特别是,可以组合磁感应阻抗测量设备的至少两个所述的单元来形成一个单元。
特别是,上述包括多个功能性的单元中的每一个可以实施为分开的单元,每一个分开的单元仅包括多个功能性之一。
接下来,将解释确定对象的参数的方法的进一步的范例实施例。然而,这些实施例也适用于线圈装置、用于确定对象的参数的磁感应阻抗测量设备、用于确定对象的参数的磁感应阻抗测量设备的用途、程序元件、以及计算机可读介质。
该方法还可以包括在所述对象的所述参数的所述确定之前调整所述探测线圈中(以及可选地所述至少另一探测线圈中)的所述净磁激发场的所述场强的所述值。从而,可以在可以包括对由对象的参数引起的信号改变的提高的灵敏度的探测条件下执行对象的参数的确定。
调整可以包括以下至少之一:调整所述激发线圈和/或所述探测线圈(和/或至少另一探测线圈)的形状;调整所述激发线圈与所述探测线圈(和/或至少另一探测线圈)的相对布置;调整匀场线圈的形状;以及调整所述匀场线圈与所述激发线圈和所述探测线圈(和/或至少另一探测线圈)中的至少之一的相对布置。这些措施可以容易地(特别是电子地)描绘影响探测线圈中和/或所述至少另一探测线圈中的净磁激发场的场强的值的能够调整的参数。
调整可以包括以下至少之一:在所述激发线圈和所述探测线圈附近布置参考对象,以及对所述磁响应场进行探测和计算(特别是使用模拟)中的至少之一;以及在所述激发线圈和所述探测线圈附近布置所述对象,并且探测时间段内的与包括所述平均值的所述磁响应场的所述场强关联的所述磁响应场。从而,在第一选择中,可以通过使用可以不呈现待确定的参数的参考对象来调整探测线圈中的净磁激发场的场强的值。第二选择可以利用如下事实:对象的参数可以呈现时间周期性演变,使得磁响应场的平均值可以与由对象的参数引起的被平均的磁响应场的信号贡献关联。
附图说明
根据以下描述的实施例,本发明的这些和其它方面将是明显的,并且将参照以下描述的实施例阐述本发明的这些和其它方面。
图1示出了根据本发明的范例实施例的用于确定人的呼吸速率的磁感应阻抗测量设备。
图2示出了图1中的磁感应阻抗测量设备的测量装置。
图3示出了图1的磁感应阻抗测量设备的根据本发明的范例实施例的线圈装置。
图4示出了示例由图1的磁感应阻抗测量设备对人确定的相位差值的相位角相关性的图示。
图5示出了示例由图1的磁感应阻抗测量设备对另一人确定的相位差值的相位角相关性的图示。
具体实施方式
图样中的示例是示意性的。应当注意,在不同的图中,给类似或相同的元件设置的参考符号相同或者设置的参考符号仅各参考符号的第一个数字不同。
参照图1,将解释根据本发明的范例实施例的用于确定人的呼吸速率的磁感应阻抗测量设备100。设备100被配置为基于在对应于探测线圈中的净磁激发场与探测的磁响应场之间45度的相位角的探测条件下,对磁激发场与探测的磁响应场之间的相位差的时间相关性的评估来执行呼吸速率。
设备100包括床形式的支撑结构102。测量装置104固定在支撑结构102的躺卧表面之下。待检查的人106能够放置在支撑结构102的躺卧表面上、在测量装置104的区域中。
参照图2,将更详细地解释测量装置104。测量装置104包括:激发线圈208,被配置为在人106的感兴趣的身体区域中生成磁激发场;以及三个探测线圈210-214,每一个探测线圈被配置为探测磁响应场,该磁响应场是对磁激发场在人106的身体区域中感生出涡流作出响应而生成的。激发线圈208和探测线圈210-214形成将参照图3更详细地描述的线圈装置215。
激发场相位值生成单元216被配置为生成指示磁激发场的相位的相位值的激发相位值信号218。待经由放大单元220将激发相位值信号218提供给激发线圈208。相应地,放大单元210被配置为输出放大的激发相位值信号222。
测量装置104还包括三个相位差值确定单元224-228,每一个相位差值确定单元被配置为确定磁激发场的相位与由各探测线圈210-214探测的磁响应场的相位之间的各相位差值。为此目的,相位差值确定单元224-228中的每一个相位差值确定单元经由放大单元230-234连接至各探测线圈210-214。相位差值确定单元224-228中的每一个相位差值确定单元被配置为对激发相位信号218和由放大单元230-234输出的放大的磁响应场信号236-240进行操作。相应地,放大单元230-234中的每一个放大单元被配置为放大输入磁响应场信号242-246,输入磁响应场信号242-246是在在探测线圈210-214中探测到各磁响应场时,由各探测线圈210-214生成的。
呼吸确定单元254被配置为对由相位差值确定单元224-228输出的输入相位差值信号248-252进行操作。为此目的,呼吸确定单元254被配置为从与相位差值信号248-252关联的确定的相位差值减去与不呼吸的人106关联的相位差参考值。由呼吸确定单元254输出的输出信号256指示人106的呼吸状态或动作,并用于待检查的人106的呼吸速率的进一步的评估。
激发场相位信号生成单元216被配置为由参考振荡器控制的信号生成器。放大单元220被配置为功率放大器,并且放大单元230-234被配置为低噪声放大器。相位差值确定单元224-228被配置为相位探测器,并且呼吸确定单元254被配置为具有集成模拟-数字转换器的数字信号处理器。
因为探测线圈210-214空间上相对于人106的身体区域分布,所以信号256包括关于人106的身体区域的截面图像的信息,该信息指示人106的检查的身体区域的电导率。
测量装置104被配置为在时间段内重复确定人106的呼吸,使得根据时间相关的信号256能够确定人106的呼吸速率。
替代地,呼吸确定单元254被配置为通过将人106的呼吸状态与测量时间相关联来确定人106的呼吸速率。相应地,信号256指示人106的呼吸速率。
参照图3,将更详细地解释测量装置104的线圈装置215。
平面线圈装置215包括基底362,圆形激发线圈208和圆形探测线圈210-214以能够移动的方式布置在该基底362上。探测线圈210-214沿激发线圈208的角度范围布置。此外,线圈装置215包括匀场线圈364,匀场线圈364被配置为金属板并且被配置为在探测线圈210-214中的每一个探测线圈中生成磁匀场场,使得能够将各探测线圈210-214中的净磁激发场的场强调整至合适的值。通过测量装置104的控制单元能够对激发线圈208、探测线圈210-214、以及匀场线圈364的布置和形状进行电子调整。
下面,将解释设备100的操作。
人106放置在支撑结构102上。此外,将各探测线圈210-214中的净磁激发场的场强的值调整为等于由探测线圈210-214中的每一个探测线圈探测的磁响应场的平均值。
接下来,生成参考相位差值信号以确定人106的呼吸速率。激发相位信号生成单元216生成待提供给磁激发线圈208和相位差确定单元224-228中的每一个相位差确定单元的激发相位信号218。探测线圈210-214中的每一个探测线圈探测磁响应场并提供磁响应场信号242-246。各放大的信号236-240由放大单元230-234基于输入磁响应场信号242-246生成,并且被供应至相位差值确定单元224-228。相位差值确定单元224-228中的每一个相位差值确定单元确定各相位差值并输出指示激发场的相位与磁响应场的相位之间的相位差的各相位差值信号248-252。于是,呼吸确定单元254确定与相位差值信号248-252关联的相位差值的平均值,并且将此平均值作为生成的参考相位差值存储以用于人106的呼吸速率的评估。
接下来,确定人106的呼吸速率。激发相位信号生成单元216生成提供给磁激发线圈208和相位差确定单元224-228中的每一个相位差确定单元的激发相位信号218。探测线圈210-214中的每一个探测线圈探测磁响应场并提供磁响应场信号242-246。各放大的信号236-240由放大单元230-234基于输入磁响应场信号242-246生成,并且被供应至相位差值确定单元224-228。相位差值确定单元224-228中的每一个相位差值确定单元确定各相位差值,并输出指示激发场的相位与磁响应场的相位之间的相位差的各相位差值信号248-252。于是,呼吸确定单元254从与相位差值信号248-252关联的相位差值减去存储的参考相位差值,并输出各呼吸信号256用于人106的呼吸速率的进一步的评估。
替代地,呼吸确定单元254可以包括高通滤波器,该高通滤波器可以消除相位差值信号248-252中的静态部分,该静态部分可以对应于由人106的身体区域而不是由人106的呼吸引起的信号贡献。相应地,高通滤波器输出指示相位差值信号248-252的对于由不呼吸时的人106的身体区域引起的信号的信号改变的信号。
下面,将更详细地解释探测线圈210-214中的净磁激发场的场强的值的调整。在人的参数的上述确定之前执行此调整程序。
在第一选项中,参考对象放置在支撑结构102上。此参考对象被配置为具有与人106的身体区域的材料成分相类似的合适的材料成分的虚拟的身体区域。电子更改激发线圈208、探测线圈210-214以及匀场线圈364的形状和相对布置,直至探测线圈210-214中的每一个探测线圈中的净磁激发场的场强的各值等于对参考对象测得的探测线圈210-214中的磁响应场的各平均值。替代地,探测线圈210-214中的各磁响应场不是测得的,而是使用合适的算法基于参考对象的材料成分模拟的,以确定对于上述测量条件,激发线圈208、探测线圈210-214以及匀场线圈364的最佳形状和相对布置。
在第二选项中,待检查的人106放置在设备100的支撑结构102上,并且在充分长的时间段内在探测线圈210-214中探测磁响应场,使得由人106的呼吸引起的信号改变在信号248-252、256中得到平均。
图4和5示出了示例对两个不同的人106测得的相位差值信号248的相位角相关性的图示。
图4的图示的横坐标对应于对于人106放置在支撑结构102上时的探测条件的相位角。图4的图示的纵坐标472对应于与信号248关联并指示人106的呼吸的相位差值。信号曲线474示出了类似根的行为,最大值在等于45°的相位角值的范围中。此相位角值对应于探测线圈210中的净磁激发场的场强的值,该场强的值等于探测线圈210中的磁响应场的场强的值。为清除,需要注意,等于零的相位角值对应于探测线圈210-214中的充分补偿的(净)磁激发场,并且等于90°的相位角值对应于探测线圈210-214中的未补偿的(净)磁激发场,探测线圈210中的净磁激发场的信号强度是由探测线圈210探测的磁响应场的50倍大。
除因为检查的另一个人106包括较低的呼吸,所以曲线574的绝对值比曲线474的信号值低一个数量级外,图5中示例的图示类似于图4中示例的图示。
虽然在图样和前述描述中详细示例和描述了本发明,但是该示例和描述应视为示例性或示范性的,而非限制性的;本发明不限于公开的实施例。本领域技术人员在实施声称的本发明时,根据对图样、说明书以及所附权利要求的研究,能够理解并实现公开的实施例的其它变形。权利要求中,词语“包括”不排除其它元件或步骤,并且不定冠词“一”的使用不排除多个。某些措施记载在相互不同的从属权利要求中的纯粹的事实不指示不能有利地组合这些措施。权利要求中的任何参考符号不视为限制范围。

Claims (14)

1.一种用于磁感应阻抗测量设备(100)的线圈装置(215),所述线圈装置(215)包括:
-激发线圈(208),被配置为在对象(106)中生成磁激发场;以及
-探测线圈(210-214),被配置为探测磁响应场,所述磁响应场是对所述磁激发场在所述对象(106)中感生出电流作出响应而生成的,其中,所述探测线圈(210-214)中的净磁激发场的场强的值包括所述探测线圈(210-214)中的所述磁响应场的场强的平均值的大小范围。
2.根据权利要求1所述的线圈装置(215),其中,所述探测线圈(210-214)中的所述净磁激发场的所述场强的所述值等于所述探测线圈(210-214)中的所述磁响应场的所述场强的所述平均值。
3.根据权利要求1或2所述的线圈装置(215),所述线圈装置(215)还包括:
-匀场线圈(364),被配置为在所述探测线圈(210-214)中生成磁匀场场,使得所述探测线圈(210-214)中的所述净磁激发场的所述场强的所述值包括所述探测线圈(210-214)中的所述磁响应场的所述场强的所述平均值的所述大小范围。
4.根据权利要求1至3中的任一项所述的线圈装置(215),所述线圈装置(215)还包括:
-至少另一探测线圈(210-214),被配置为探测对所述磁激发场在所述对象(106)中感生出所述电流作出响应而生成的所述磁响应场,
其中,所述至少另一探测线圈(210-214)中的净磁激发场的场强的值包括所述至少另一探测线圈(210-214)中的所述磁响应场的场强的平均值的大小范围。
5.根据权利要求1至4中的任一项所述的线圈装置(215),其中,所述线圈装置(215)包括平面配置。
6.一种用于确定对象(106)的参数的磁感应阻抗测量设备(100),所述磁感应阻抗测量设备(100)包括:
-根据权利要求1至5中的任一项所述的线圈装置(215);以及
-参数确定单元(254),被配置为基于所述磁响应场和所述磁激发场来确定所述对象(106)的所述参数。
7.根据权利要求6所述的磁感应阻抗测量设备(100),所述磁感应阻抗测量设备(100)还包括:
-相位差值确定单元(224-228),被配置为确定所述磁激发场的相位的相位值与所述磁响应场的相位的相位值之间的相位差值,
其中,所述参数确定单元(254)被配置为基于所确定的相位差值来确定所述对象(106)的所述参数。
8.根据权利要求6或7所述的磁感应阻抗测量设备(100),所述磁感应阻抗测量设备(100)还包括:
-激发场相位值生成单元(218),被配置为生成激发相位值信号,所述激发相位值信号指示所述磁激发场的所述相位的相位值并且将被提供给所述激发线圈(208)和所述相位差值确定单元(224-228)。
9.根据权利要求6至8中的任一项所述的磁感应阻抗测量设备(100),其中,所述磁感应阻抗测量设备(100)被配置为磁感应阻抗断层摄影设备。
10.一种确定对象(106)的参数的方法,所述方法包括:
-由激发线圈(208)在对象(106)中生成磁激发场;
-由探测线圈(210-214)探测所述探测线圈(210-214)中的磁响应场,其中,所述磁响应场是对所述磁激发场在所述对象(106)中感生出电流作出响应而生成的,其中,所述探测线圈(210-214)中的净磁激发场的场强的值包括所述探测线圈(210-214)中的所述磁响应场的场强的平均值的大小范围;以及
-基于所探测的磁响应场和所述磁激发场来确定所述对象(106)的所述参数。
11.根据权利要求10所述的方法,所述方法还包括:
-在所述对象(106)的所述参数的所述确定之前调整所述探测线圈(210-214)中的所述净磁激发场的所述场强的所述值。
12.根据权利要求11所述的方法,其中,所述调整包括以下至少之一:
-调整所述激发线圈(208)和/或所述探测线圈(210-214)的形状;
-调整所述激发线圈(208)与所述探测线圈(210-214)的相对布置;
-调整匀场线圈(364)的形状;以及
-调整所述匀场线圈(364)与所述激发线圈(208)和所述探测线圈(210-214)中的至少之一的相对布置。
13.根据权利要求11或12所述的方法,其中,所述调整包括以下至少之一:
-在所述激发线圈(208)和所述探测线圈(210-214)附近布置参考对象(106),以及对所述磁响应场进行探测和计算中的至少之一;以及
-在所述激发线圈(208)和所述探测线圈(210-214)附近布置所述对象(106),并且探测时间段内与包括所述平均值的所述磁响应场的所述场强关联的所述磁响应场。
14.一种程序元件,所述程序元件在由处理器执行时被配置为实现或控制根据权利要求10至13中的任一项所述的确定对象(106)的参数的方法。
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