CN103364753A - 一种磁共振质量控制多参数测试体模 - Google Patents

Abstract

一种磁共振质量控制多参数测试体模，设置有壳体、多个测试层和定位构件；所述壳体设置有上密封盖、下密封盖和侧壁，所述上密封盖、所述下密封盖密封装配于所述侧壁的两端；所述定位构件设置有圆棒和与所述圆棒相匹配的套管；每个所述测试层均设置有与所述圆棒相匹配的通孔，所述测试层通过各自设置的通孔穿设于所述圆棒，相邻两个测试层之间的圆棒上均套设有套管以将相邻的两个测试层隔开，最外两测试层分别距离上密封盖和下密封盖的圆棒上套设有套管，所述圆棒的两端分别固定装配于所述上密封盖和所述下密封盖。该磁共振质量控制多参数测试体模能同时测试多种参数、精度高、模块化强且测试层可灵活组合,并可以通过套管的选择调节测试层之间的间距，还可以灵活更换测试层。

Description

一种磁共振质量控制多参数测试体模

技术领域

本发明涉及核磁共振质量保证和质量控制领域，特别是涉及一种磁共振质量控制多参数测试体模。

背景技术

    近年来随着工程技术和计算机技术的迅速发展,磁共振成像(MRI)技术的水平和功能得到不断地改进和完善,为临床医学水平的提高和科研的深入发展提供了有利的条件。磁共振成像技术已经成为临床诊断不可缺少的测试方法之一。因此,要保证磁共振成像系统能够正常高效地运行,需要确保磁共振测试装置的质量。

为保证核磁共振设备检测时能达到要求的精度，不仅要求在出厂前进行参数测试，而且在使用过程中，还必须依据国家标准，由相关检测机构对设备进行定期检查。

    现有测试体模存在以下不足：一是部分体模功能单一，每次只能测量少量性能参数，综合测试时需要多个体模才能完成；二是测试精度不高；三是模块化、标准化不够，成本较高；四是体模不易拆卸、安装及灌液，在体模拆卸过程中易产生零部件的损坏，体模内易出现气泡等。

因此，针对现有磁共振测试体模的不足，提供一种能同时测试多种参数、精度高、模块化强、测试层可灵活组合的磁共振质量控制多参数测试体模以克服现有技术不足甚为必要。

发明内容

本发明的目的在于避免现有技术的不足之处而提供一种磁共振质量控制多参数测试体模,该磁共振质量控制多参数测试体模能同时测试多种参数、精度高、模块化强且测试层可灵活组合,并可以通过套管的选择调节测试层之间的间距，还可以灵活更换测试层。

本发明的一个目的通过以下技术措施实现。

一种磁共振质量控制多参数测试体模，设置有壳体、多个测试层和定位构件；

所述壳体设置有上密封盖、下密封盖和侧壁，所述上密封盖、所述下密封盖密封装配于所述侧壁的两端；

所述定位构件设置有圆棒和与所述圆棒相匹配的套管；

每个所述测试层均设置有与所述圆棒相匹配的通孔，所述测试层通过各自设置的通孔穿设于所述圆棒，相邻两个测试层之间的圆棒上均套设有套管以将相邻的两个测试层隔开，最外两测试层分别距离上密封盖和下密封盖的圆棒上套设有套管，所述圆棒的两端分别固定装配于所述上密封盖和所述下密封盖,所述上密封盖设置有与所述圆棒匹配的上装配件，所述下密封盖设置有与所述圆棒匹配的下装配件，所述圆棒的两端分别固定装配于所述上装配件和所述下装配件。

上述上密封盖设置两个灌液口，所述灌液口固定设置于所述上密封盖。

上述圆棒设置为1至5个,所述套管的数量为所述圆棒数量的3至6倍，每个圆棒配置的套管数量相等。

上述上密封盖设置有装配尼龙螺丝的螺丝孔，所述上密封盖与所述侧壁通过密封圈密封装配，尼龙螺丝装配于所述螺丝孔并抵压于所述密封圈使得所述上密封盖、所述密封圈和所述侧壁密封装配。

上述测试层包括网格测试层、层厚测试层、高对比度分辨率测试层、低对比度测试层和溢流层；或者

所述测试层包括网格测试层、层厚测试层、高对比度分辨率测试层、低对比度测试层、溢流层中的任意两种或者任意三种或者任意四种。

上述网格测试层设置有网格盘体和矩形方孔，所述矩形方孔规则分布设置于所述网格圆盘,其中两个方孔填充为实体。

上述层厚测试层设置有层厚盘体、带有槽孔的“回”字形结构的主体和设置于主体外侧的四个斜面；

所述层厚盘体中心设有与所述槽孔相匹配的正方形通孔，所述层厚圆盘的边缘处设置有用于通液、排气泡的第一半圆形通孔；

所述主体固定设置于所述层厚盘体，所述主体的中心与所述层厚盘体的中心重合，四个所述斜面一一对应固定装配于所述主体的侧面；

所述主体的外壁面自其左上角至右下角方向的对角线位置设置有装配槽，所述斜面固定装配于所述装配槽，所述斜面与水平面之间的夹角A的范围为10——20度。

优选的，上述夹角A的范围为14——16度。

上述高对比度分辨率测试层包括孔式高对比度分辨率测试模块、线对式高对比度分辨率测试模块、中心定位模块和高对比度盘体；

所述高对比度盘体的边缘处设置有用于通液、排气泡的第二半圆形通孔；

所述孔式高对比度分辨率测试模块上设有呈半圆状分布的孔式测试模块，所述孔式测试模块设有孔径大小不同且与测试层垂直的测试孔，相同孔径的测试孔位于同一半径的半圆上，相同孔径的测试孔的外轮廓之间的最小间隔距离等于其孔径；

所述线对式高对比度分辨率测试模块设有垂直线对式测试模块和水平线对式测试模块，垂直线对式测试模块沿频率方向分布,所述水平线对式测试模块沿相位编码方向分布，所述垂直线对式测试模块和水平线对式测试模块均设有线性孔；

所述中心定位模块设置为一等腰直角三角形状的通孔，其中一个45°角的顶点位于所述高对比度分辨率测试层测试层的中心。

上述低对比度测试层为孔式测试层，所述测试层由N组直径不同的圆孔组及低对比度盘体组成，所述圆孔组设置于所述低对比度盘体，每组圆孔组由M个直径相同、深度不同的圆孔组成,其中，N                                                

2， M

 2，所述圆孔的直径范围为2——8mm，所述圆孔的深度为0.2——1.0mm，所述低对比度盘体的边缘处设置有用于通液、排气泡的第三半圆形通孔。

本发明的磁共振质量控制多参数测试体模，设置有壳体、多个测试层和定位构件；所述壳体设置有上密封盖、下密封盖和侧壁，所述上密封盖、所述下密封盖密封装配于所述侧壁的两端；所述定位构件设置有圆棒和与所述圆棒相匹配的套管；每个所述测试层均设置有与所述圆棒相匹配的通孔，所述测试层通过各自设置的通孔穿设于所述圆棒，相邻两个测试层之间的圆棒上均套设有套管以将相邻的两个测试层隔开，最外两测试层分别距离上密封盖和下密封盖的圆棒上套设有套管，所述圆棒的两端分别固定装配于所述上密封盖和所述下密封盖。该磁共振质量控制多参数测试体模能同时测试多种参数、精度高、模块化强且测试层可灵活组合,并可以通过套管的选择调节测试层之间的间距，还可以灵活更换测试层。 

附图说明

利用附图对本发明作进一步的说明，但附图中的内容不构成对本发明的任何限制。

图1是本发明一种磁共振质量控制多参数测试体模的结构示意图；

图2是图1的A-A剖视图；

图3是本发明一种磁共振质量控制多参数测试体模去掉侧壁后的其余部分的结构示意图；

图4是本发明一种磁共振质量控制多参数测试体模的上密封盖的结构示意图；

图5是本发明一种磁共振质量控制多参数测试体模的定位构件与下密封盖的装配结构示意图；

图6是本发明一种磁共振质量控制多参数测试体模的网格测试层的结构示意图；

图7是本发明一种磁共振质量控制多参数测试体模的层厚测试层的部分结构示意图；

图8是图7的主视图；

图9是本发明一种磁共振质量控制多参数测试体模的高对比度分辨率测试层的结构示意图；

图10是本发明一种磁共振质量控制多参数测试体模的低对比度分辨率测试层的结构示意图。

在图1至图10中，包括：

上密封盖110、 

灌液口111、螺丝孔112、

密封圈113、尼龙螺丝114、上装配件115、

下密封盖120、

侧壁130、

定位构件200、

圆棒210、套管220、

通孔350、

网格测试层310、网格盘体311、矩形方孔312、实体313、

层厚测试层320、层厚盘体321、主体322、斜面323、

夹角A、第一半圆形通孔324、

高对比度分辨率测试层330、

孔式高对比度分辨率测试模块331、

测试孔3311、  

线对式高对比度分辨率测试模块332、   

中心定位模块333、

高对比度盘体334、第二半圆形通孔335；

低对比度测试层340、圆孔341、低对比度盘体342、第三半圆形通孔343。

具体实施方式

结合以下实施例对本发明作进一步描述。

实施例1。

一种磁共振质量控制多参数测试体模，如图1至图10所示，设置有壳体、多个测试层和定位构件200。

壳体为圆柱状，圆柱的径向线与测试层所在的平面平行。圆柱状的外形有利于体模的任意角度的旋转，圆柱的径向线与测试层所在平面平行有利于测量和观察实验结果。

壳体设置有上密封盖110、下密封盖120和侧壁130，上密封盖110、下密封盖120密封装配于侧壁130的两端。由于在进行体模测试时，要求保证壳体处于密封状态，防止测试液渗漏，故上密封盖110、下密封盖120与侧壁130之间的密封性能非常重要。

通常下密封盖120与侧壁130焊接为一体，需要说明的是，下密封盖120也可以与侧壁130密封装配，也可以直接设置为一体结构。

上密封盖110设置有装配尼龙螺丝114的螺丝孔112，上密封盖110与侧壁130通过密封圈113密封装配，尼龙螺丝114装配于螺丝孔112并抵压于密封圈113使得密封圈113分别与上密封盖110和侧壁130密封装配。旋紧尼龙螺丝114，上密封盖110、密封圈113和侧壁130之间装配得越紧，防漏效果更好。

定位构件200设置为圆棒210和与圆棒210相匹配的套管220。每个测试层均设置有与圆棒210相匹配的通孔350，测试层通过各自设置的通孔350穿设于圆棒210，相邻两个测试层之间的圆棒210上均套设有套管220以将相邻的两个测试层隔开，最外两测试层分别距离上密封盖110和下密封盖120的圆棒210上套设有套管220，圆棒210的两端分别固定装配于上密封盖110和下密封盖120。

具体的，上密封盖110设置有与圆棒210匹配的上装配件115，下密封盖120设置有与圆棒210匹配的下装配件，圆棒210的两端分别固定装配于上装配件115和下装配件。优选圆棒210与壳体的中轴线平行。

需要说明的是，上装配件115与下装配件的具体结构可以采用多种形式，如设置为一圆孔或者其他形式，只要能够实现圆棒210两端与上、下装配件固定的效果皆可。

本实施例中,圆棒设置为两根,需要说明的是,实际中,圆棒和套管的数量可以灵活设置。优选的，圆棒设置为1至5个,套管的数量为所述圆棒数量的3至6倍，每个圆棒配置的套管数量相等。

该磁共振质量控制多参数测试体模采用圆棒210、套管220装配各个测试层，不仅能够牢固固定各测试层，而且方便拆卸，使用时也可以根据需要灵活装配需要的测试层，具有使用方便灵活的特点。避免了现有了技术中的体模各个测试层之间采用尼龙螺钉固定的方式容易出现断裂、不易拆卸的缺陷。

该磁共振质量控制多参数测试体模的各测试层为模块化设计，通过圆棒210和套管220固定，可灵活拆卸、更换和组合，改变搭配和排放顺序，使用者可根据研究测试目的任意组合测试组件，具有测试层种类多、功能全、测试范围广等特点，解决了国内体模功能单一，需要几个体模才能完成常规参数测试相比的缺点，可测试多个核磁共振质量控制和质量保证参数，可完全满足核磁共振系统常规日测试、月测试和年测试的绝大部分的要求。

上密封盖110设置两个灌液口111，灌液口111固定设置于上密封盖110。灌液口111用于搭水平仪，方便体模迅速摆位。

具体的，测试层包括网格测试层310、层厚测试层320、高对比度分辨率测试层330、低对比度测试层340和溢流层。

网格测试层310设置有网格盘体311和矩形方孔312，矩形方孔312规则分布设置于网格圆盘,其中两个方孔填充为实体313，填充为实体313的两个方孔优选分布于同一象限，如第一象限。通过网格测试层310可有效测量纵横比、线性度、均匀度、信噪比以及图像畸变程度，此外结合软件测试还可以测量共振频率。矩形方孔312中可选择两块方孔填充为实体313，用于ghost伪影测试等磁共振成像系统的伪影分析和研究。

矩形方孔312的设计，可以避免现有技术中的体模用均匀分布格栅设计粘结不牢固的缺陷。

层厚测试层320设置有层厚盘体321、带有槽孔的“回”字形结构的主体322和设置于主体322外侧的四个斜面323。

层厚盘体321中心设有与槽孔相匹配的横截面为正方形的通孔，该横截面为正方形的通孔的尺径根据具体需要灵活设置，优选正方形的规格设置为60*60mm。层厚圆盘321的边缘处设置有用于通液、排气泡的第一半圆形通孔324,该设置能够方便体模液体的灌输，减少灌液过程中气泡的产生。第一半圆形通孔的直径优选设置为20mm,具体可根据实际需要灵活设置。

主体322固定设置于层厚盘体321，主体322的中心与层厚盘体321的中心重合，四个所述斜面323一一对应固定装配于主体322的侧面。

主体322的外壁面自其左上角至右下角方向的对角线位置设置有装配槽，斜面323固定装配于装配槽，斜面323与水平面之间的夹角A为14度。

需要说明的是，斜面323与水平面之间的夹角A的范围为10——20度，效果均较佳，以夹角A的范围为14——16度测试效果最佳。

“回”字形结构的主体322用于固定斜面323，避免了现有技术中一些体模用支架固定斜面323容易引起伪影干扰的缺陷，使得该结构能够减少了支架带来的伪影的干扰、提高层厚测量的精度。

此外用斜面323测试层厚具有简单、方便的特点，在斜面323影像上，应用计算机影像分析软件功能，测量斜面323影像的像素强度的剖面分布曲线。在剖面分布曲线上测定峰值一半处的全宽度FWHM，则层厚按式层厚d=FWHM*tanA计算。故本发明可通过计算机软件测出其灵敏度剖面线，根据公式：层厚d=FWHM*tanA求出层厚即可。相比现有技术中的部分体模采用楔形板测量层厚，得到的灵敏度剖面线再通过求导之后才可以测量层厚容易引起误差的缺陷，本发明采用斜面323测试层计算简单，结果准确。

高对比度分辨率测试层330包括孔式高对比度分辨率测试模块331、线对式高对比度分辨率测试模块332、中心定位模块333 、高对比度盘体334，孔式高对比度分辨率测试模块331、线对式高对比度分辨率测试模块332、中心定位模块333分别设置于高对比度盘体334。

高对比度盘体334的边缘处设置有用于通液、排气泡的第二半圆形通孔335,该设置能够方便体模液体的灌输，减少灌液过程中气泡的产生。第二半圆形通孔的直径优选设置为20mm,具体可根据实际需要灵活设置。

孔式高对比度分辨率测试模块331上设有呈半圆状分布的孔式测试模块，孔式测试模块设有孔径大小不同且与测试层垂直的测试孔3311，相同孔径的测试孔3311位于同一半径的半圆上，相同孔径的测试孔3311的外轮廓之间的最小间隔距离等于其孔径。该设计可在于不旋转体模的情况下可以测试0-180°的高对比度空间分辨率；另外，测试孔3311的直径和可分辨的最小分辨率一一对应，目前还没有体模具有此功能。

线对式高对比度分辨率测试模块332设有垂直线对式测试模块和水平线对式测试模块，垂直线对式测试模块沿频率方向分布,水平线对式测试模块沿相位编码方向分布，垂直线对式测试模块和水平线对式测试模块均设有线性孔。线对式高对比度分辨率测试模块332可在于不旋转体模的情况下测试频率和相位编码方向的高对比度空间分辨率。

中心定位模块333设置为一等腰直角三角形状的通孔350，其中一个45°角的顶点位于高对比度分辨率测试层330的中心。该设计同时满足AAPM测试几何畸变时任何方向、任何位置的要求；也满足了NEMA测试时必须过中心点的要求。该设计能够兼顾不同标准，适应性强。

孔式高对比度分辨率测试层330的设计可以在一次扫描过程中，不需要转动体模的情况下，不仅可以对比测量频率编码方向和相位编码方向分辨率，而且还可以进行0—180°任意方向的高对比度分辨率的测试。线对式高对比度分辨率测试层330包含垂直和水平两个测试组件，可以在一次扫描，不需要转动体模的情况下，可以对比测量频率编码方向和相位编码方向分辨率。该测试可采用多组宽度不同的线性槽，矩形波线对卡的形式进行分辨率的测量，结合软件可测得调制传递函数。

低对比度测试层340为孔式测试层，测试层由N组直径不同的圆孔组及低对比度盘体342组成，每组圆孔组由M个直径相同、深度不同的圆孔组成,其中，N

 2， M

 2；圆孔的直径范围为2——8mm，圆孔的深度为0.1——1.2mm，低对比度盘体的边缘处设置有用于通液、排气泡的第三半圆形通孔343，该设置能够方便体模液体的灌输，减少灌液过程中气泡的产生。第三半圆形通孔的直径优选设置为为20mm,具体可根据实际需要灵活设置。

    该低对比度测试层340通过对圆孔341孔径、深度及分布的设置，可以满足获得更精确的低对比度分辨率测试结果。

该低对比度测试层340测试用于测试几何畸变，同时满足AAPM测试几何畸变时任何方向，任何位置的要求；也满足了NEMA测试时必须过中心点的要求。

溢流层包含纯液体测试组件，测试层内设有液体构成等同于体模配液。区域高度

20mm。纯液体组件可测试信噪比、均匀度、线性度、纵横比和几何畸变。

该磁共振质量控制多参数测试体模，其使用时这样的，将测试层进行选择然后将其需要的测试层固定在圆棒210上，将密封盖固定在外壳上，将体模放入通用头线圈，使用定位序列扫描，查看定位层图像，修正定位，重新扫描直至保证体模水平。使用常规回波序列进行扫描，设定扫描参数，扫描各测试层的断层影像，通过分析计算各层图像，获得各测试参数即可。

该磁共振质量控制多参数测试体模，具有测试层种类多、功能全、测试范围广等特点，解决了国内体模功能单一，需要几个体模才能完成常规参数测试相比的缺点，可测试多个核磁共振质量控制和质量保证参数，可完全满足核磁共振系统常规日测试、月测试和年测试的绝大部分的要求。

现有技术中，不同的质量参数采用不同的测试标准，如AAPM、NEMA、ACR等测试标准，由于各个测试标准之间相互独立，故现有技术中没有能够同时兼容不同测试标准的体模。本发明的磁共振质量控制多参数测试体模通过不同的模块化测试层，能够兼容AAPM、NEMA、ACR等测试标准，不仅能够节约了成本、减少了资源的浪费，同时也减少了综合参数测试时需要携带不同体模的麻烦。

需要说明的是，各测试层的位置可任意互换，测试层也可以根据需要灵活设置，而不局限于本实施例中的全部设置的情况。如测试层可包括网格测试层310、层厚测试层320、高对比度分辨率测试层330、低对比度测试层340、溢流层中的任意两种或者任意三种或者任意四种。

实施例2 。

一种磁共振质量控制多参数测试体模，其他技术特征与实施例1相同，不同之处在于，采用如下具体参数：网格测试层310的矩形方孔312尺寸5mm*5mm，空间隔等于方孔的尺寸，深为5mm。

孔式测试模块上设有孔径为0.5 、0.75、1 、1.25 、1.5 、2mm且与测试层垂直的测试孔3311，相同测试孔3311位于同一半圆上且间距与孔径相等，同孔径的小圆距离圆盘中心分别为6.3727、9.5591 、12.7455、 15.9319、19.1182、25.4910mm；每个线对式测试组件（一个槽和一个等宽度的间隔组成一对，称为线对），组件由7组槽式线对卡组成，每组线对间隔为4mm，空间分辨率为3、4、5、6、9、10、11 lp/cm（线对/厘米）。

低对比度测试层340，由低对比度测试组件构成，测试组件由7组直径为2～8mm圆孔组成，每组同直径的圆孔有7个，7个深度分别为0.2、0.3、0.4、0.5、0.6 ，0.8，1.0mm，同孔径的小圆分别距离圆盘中心10、17、25、36、48、63mm。

该磁共振质量控制多参数测试体模，具有测试层种类多、功能全、测试范围广、测量结果准确等特点。

最后应当说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非对本发明保护范围的限制，尽管参照较佳实施例对本发明作了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本发明技术方案的实质和范围。

Claims (10)

1.一种磁共振质量控制多参数测试体模，其特征在于：设置有壳体、多个测试层和定位构件；

所述壳体设置有上密封盖、下密封盖和侧壁，所述上密封盖、所述下密封盖密封装配于所述侧壁的两端；

所述定位构件设置有圆棒和与所述圆棒相匹配的套管；

每个所述测试层均设置有与所述圆棒相匹配的通孔，所述测试层通过各自设置的通孔穿设于所述圆棒，相邻两个测试层之间的圆棒上均套设有套管以将相邻的两个测试层隔开，最外两测试层分别距离上密封盖和下密封盖的圆棒上套设有套管，所述圆棒的两端分别固定装配于所述上密封盖和所述下密封盖；

所述上密封盖设置有与所述圆棒匹配的上装配件，所述下密封盖设置有与所述圆棒匹配的下装配件，所述圆棒的两端分别固定装配于所述上装配件和所述下装配件。

2.根据权利要求1所述的磁共振质量控制多参数测试体模,其特征在于：所述上密封盖设置两个灌液口，所述灌液口固定设置于所述上密封盖。

3.根据权利要求1所述的磁共振质量控制多参数测试体模,其特征在于：所述圆棒设置为1至5个,所述套管的数量为所述圆棒数量的3至6倍，每个圆棒配置的套管数量相等。

4.根据权利要求1所述的磁共振质量控制多参数测试体模,其特征在于：所述上密封盖设置有装配尼龙螺丝的螺丝孔，所述上密封盖与所述侧壁通过密封圈密封装配，尼龙螺丝装配于所述螺丝孔并抵压于所述密封圈使得所述上密封盖、所述密封圈和所述侧壁密封装配。

5.根据权利要求1至4任意一项所述的磁共振质量控制多参数测试体模,其特征在于：

所述测试层包括网格测试层、层厚测试层、高对比度分辨率测试层、低对比度测试层和溢流层；或者

所述测试层包括网格测试层、层厚测试层、高对比度分辨率测试层、低对比度测试层、溢流层中的任意两种或者任意三种或者任意四种。

6.根据权利要求5所述的磁共振质量控制多参数测试体模，其特征在于：所述网格测试层设置有网格盘体和矩形方孔，所述矩形方孔规则分布设置于所述网格圆盘,其中两个方孔填充为实体。

7.根据权利要求5所述的磁共振质量控制多参数测试体模，其特征在于：

所述层厚测试层设置有层厚盘体、带有槽孔的“回”字形结构的主体和设置于主体外侧的四个斜面；

所述层厚盘体中心设有与所述槽孔相匹配的横截面为正方形的通孔，所述层厚圆盘的边缘处设置有用于通液、排气泡的第一半圆形通孔；

所述主体固定设置于所述层厚盘体，所述主体的中心与所述层厚盘体的中心重合，四个所述斜面一一对应固定装配于所述主体的侧面；

所述主体的外壁面自其左上角至右下角方向的对角线位置设置有装配槽，所述斜面固定装配于所述装配槽，所述斜面与水平面之间的夹角A的范围为10——20度。

8.根据权利要求7所述的磁共振质量控制多参数测试体模，其特征在于：所述夹角A的范围为14——16度。

9.根据权利要求5所述的磁共振质量控制多参数测试体模，其特征在于：

所述高对比度分辨率测试层包括孔式高对比度分辨率测试模块、线对式高对比度分辨率测试模块、中心定位模块和高对比度盘体，所述孔式高对比度分辨率测试模块、线对式高对比度分辨率测试模块、中心定位模块分别设置于所述高对比度盘体；

所述高对比度盘体的边缘处设置有用于通液、排气泡的第二半圆形通孔；

所述孔式高对比度分辨率测试模块上设有呈半圆状分布的孔式测试模块，所述孔式测试模块设有孔径大小不同且与测试层垂直的测试孔，相同孔径的测试孔位于同一半径的半圆上，相同孔径的测试孔的外轮廓之间的最小间隔距离等于其孔径；

所述线对式高对比度分辨率测试模块设有垂直线对式测试模块和水平线对式测试模块，垂直线对式测试模块沿频率方向分布,所述水平线对式测试模块沿相位编码方向分布，所述垂直线对式测试模块和水平线对式测试模块均设有线性孔；

所述中心定位模块设置为一等腰直角三角形状的通孔，其中一个45°角的顶点位于所述高对比度分辨率测试层测试层的中心。

10.根据权利要求5所述的磁共振质量控制多参数测试体模，其特征在于：

所述低对比度测试层为孔式测试层，所述测试层由N组直径不同的圆孔组及低对比度盘体组成，所述圆孔组设置于所述低对比度盘体，每组圆孔组由M个直径相同、深度不同的圆孔组成,其中，N                                                

2， M

 2，所述圆孔的直径范围为2——8mm，所述圆孔的深度为0.2——1.0mm，所述低对比度盘体的边缘处设置有用于通液、排气泡的第三半圆形通孔。

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