CN103353806A - 触控面板上透明引线的取相方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种触控面板上透明引线的取相方法，将投射光源与取相装置置于待取相的平面的同一侧，且所述投射光源的入射光经所述平面反射后进入所述取相装置，所述投射光源的入射光线与所述平面的垂线非平行。通过将投射光源的入射光与取相平面偏移一定的角度，可以有效降低光的透过率，从而进入取相装置的反射光的信号较强，取相装置可以较为清晰的取相，从而操作人员在对位操作过程效率高，且不易出错。

Description

触控面板上透明引线的取相方法
技术领域
本发明涉及触控面板制作领域，尤其是涉及一种触控面板上透明引线的取相方法。
背景技术
传统的CCD图像传感器对不透明物质取相效果清晰，但对于透明物质，普遍采用正面垂直取相，光的透过率在80%以上，取相模糊。为节省成本，触摸屏触控面板的引线往往直接采用导电材质作引线，而用作触控面板引线为透明状态，如透明ITO引线等，从而在柔性电路板邦定（FPC Bonding）过程中，CCD图像传感器难以取相清楚，操作人员对位难以分辨，造成对位慢，邦定效率低，且对位准确度低，易产生不良。
发明内容
基于此，有必要提供一种可以清楚取相的触控面板上透明引线的取相方法。
一种触控面板上透明引线的取相方法，将投射光源与取相装置置于待取相的平面的同一侧，且所述投射光源的入射光经所述平面反射后进入所述取相装置，所述投射光源的入射光线与所述平面的垂线非平行设置。
在其中一个实施例中，所述入射光线与所述垂线的夹角为15°～60°。
在其中一个实施例中，所述投射光源为平行光光源。
在其中一个实施例中，所述投射光源的发射光波长为400～500nm。
在其中一个实施例中，所述透明引线置于透明玻璃或透明薄膜上，所述取相装置及所述投射光源与所述透明引线分别位于所述透明玻璃或透明薄膜的两侧。
在其中一个实施例中，所述取相装置为CCD图像传感器。
在其中一个实施例中，所述透明引线为透明ITO引线。
上述触控面板上透明引线的取相方法通过将投射光源的入射光与取相平面偏移一定的角度，可以有效降低光的透过率，从而进入取相装置的反射光的信号较强，取相装置可以较为清晰的取相，从而操作人员在对位操作过程效率高，且不易出错。
附图说明
图1为一实施方式的触控面板上透明引线的取相方法示意图。
具体实施方式
下面主要结合附图对本发明的触控面板上透明引线的取相方法作进一步详细的说明。
如图1所示，本实施方式的用于取相的触控面板上透明引线100为透明ITO（氧化铟锡）引线。透明引线100置于透明玻璃或透明薄膜200上。
具体在本实施方式中，在对透明引线100取相时，将投射光源300与取相装置400置于待取相的平面的同一侧。投射光源300的入射光经待取相的平面反射后进入取相装置400。待取相的平面即透明玻璃或透明薄膜200所在的平面。进一步，在本实施方式中，投射光源300的入射光线与平面的垂线非平行而偏离一定的角度设置，如入射光线与垂线的夹角可以为15°～60°等。通过将投射光源300的入射光与取相平面偏移一定的角度，可以有效降低光的透过率，从而进入取相装置400的反射光的信号较强，取相装置400可以较为清晰的取相，从而操作人员在对位操作过程效率高，且不易出错。
本实施方式的投射光源300为平行光光源。且投射光源300为400～500nm波长的可见光光源。400～500nm波长的可见光在透明玻璃或透明薄膜200和透明引线100上的透过率较低，大部分400～500nm波长的可见光会被反射，从而进一步增强取相装置400接收的反射光的信号强度，便于取相。
透明引线100置于透明玻璃或透明薄膜200上，在本实施方式中，取相时进一步将取相装置400及投射光源300设置在透明玻璃或透明薄膜200的背侧，即非透明引线100所在的一侧。取相装置400及投射光源300与与透明引线100分别位于透明玻璃或透明薄膜200的两侧设置，入射光经过透明玻璃或透明薄膜200后再投射到透明引线100上，避免了入射光直接从空气射到透明引线100上，可以显著降低投射光的透过率，也即增强了反射光的强度。
在本实施方式中，取相过程中所使用的取相装置具体为CCD（Charge-coupled Device，电荷耦合元件）图像传感器。
该触控面板上透明引线的取相方法通过将投射光源300的入射光与取相平面偏移一定的角度，且入射光从透明引线100的背侧通过透明玻璃或透明薄膜200后再投射到透明引线100上，可以有效降低光的透过率，从而进入取相装置400的反射光的信号较强，取相装置400可以较为清晰的取相，从而操作人员在对位操作过程效率高，且不易出错。
可以理解，在其他实施方式，若透明引线100非设置在透明玻璃或透明薄膜200上时，可以直接在透明引线100的正面取相，采用短波长可见光源且入射光线与取相平面的垂线非平行设置。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (7)

1.一种触控面板上透明引线的取相方法，其特征在于，将投射光源与取相装置置于待取相的平面的同一侧，且所述投射光源的入射光经所述平面反射后进入所述取相装置，所述投射光源的入射光线与所述平面的垂线非平行设置。
2.如权利要求1所述的触控面板上透明引线的取相方法，其特征在于，所述入射光线与所述垂线的夹角为15°～60°。
3.如权利要求1所述的触控面板上透明引线的取相方法，其特征在于，所述投射光源为平行光光源。
4.如权利要求1或3所述的触控面板上透明引线的取相方法，其特征在于，所述投射光源的发射光波长为400～500nm。
5.如权利要求1所述的触控面板上透明引线的取相方法，其特征在于，所述透明引线置于透明玻璃或透明薄膜上，所述取相装置及所述投射光源与所述透明引线分别位于所述透明玻璃或透明薄膜的两侧。
6.如权利要求1所述的触控面板上透明引线的取相方法，其特征在于，所述取相装置为CCD图像传感器。
7.如权利要求1所述的触控面板上透明引线的取相方法，其特征在于，所述透明引线为透明ITO引线。
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1109973A (zh) * 1993-09-16 1995-10-11 欧文斯-布洛克威玻璃容器有限公司 透明或半透明容器的检验方法
US6369889B1 (en) * 1996-12-13 2002-04-09 Dieter Olschewski Method and devices for checking container glass
CN1705874A (zh) * 2002-10-25 2005-12-07 蒂阿马公司 用于检测透明或半透明外壁上的表面缺陷的方法和装置

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