CN103329023A - 透镜驱动装置及拍摄装置 - Google Patents
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Abstract
本发明是一种透镜驱动装置1,具有基底构件2;第一透镜框4,其用于保持聚焦透镜N并被设置成能在变焦透镜M的光轴C方向上相对于基底构件2进行移动;光折射部3,其使所入射的光折射并将光朝向聚焦透镜N射出;第一驱动部V1,其使第一透镜框4移动;第一位置检测部H1,其检测第一透镜框4的位置;其中,第一位置检测部H1具有:反射部16,设置在基底构件2与第一透镜框4中的一个上,并具有相对于变焦透镜M的光轴C倾斜的反射面18;第一光反射器12,设置在基底构件2与第一透镜框4中的另一个上,并具有将光照射至反射面18上的投光部和接受被反射面18反射来的光的受光部。
Description
技术领域
本发明涉及驱动透镜的透镜驱动装置及利用该透镜驱动装置的拍摄装置。
背景技术
以往,作为此种领域的技术文献,有日本特开2008-83396号公报。在此公报中,记载有一种透镜的位置检测机构,所述透镜的位置检测机构具有:光反射器,所述光反射器具有照射光的投光部和接受光的受光部;以及透镜保持体,所述透镜保持体具有面向光反射器的侧面部,并相对于光反射器进行相对移动。在此透镜保持体的侧面部上形成有贯穿孔,内部的反射板从此贯穿孔露出。在如此构成的位置检测机构中,可基于光反射器面向反射板时的受光量与不面向反射板时的受光量之差,来检测透镜保持体的位置。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2008-83396号公报
发明内容
发明所要解决的问题
但是,在前述的现有的位置检测机构中,存在以下问题:仅可在光反射器面向贯穿孔内的反射板与不面向反射板的情况这两个阶段,检测透镜的位置,因此,解析力(resolving power)低而不能进行微细的透镜位置检测。
因此,本发明的目的在于提供一种可进行高精度且高解析力的透镜位置检测的透镜驱动装置。
用于解决问题的手段
为了解决上述问题,本发明是一种透镜驱动装置,具有基底;透镜框,其用于保持透镜并被设置成能在透镜的光轴方向上相对于基底进行移动;光折射部,其使入射的光朝向透镜折射;驱动单元,其使透镜框移动;及位置检测单元,其检测透镜框的位置;其特征在于,
位置检测单元具有:
反射部,其设置在基底和透镜框中的一个上,并具有相对于透镜的光轴倾斜的反射面;
光反射器,其设置在基底和透镜框中的另一个上,且并有将光照射至反射面上的投光部与接受被反射面反射出来的光的受光部。
根据本发明的透镜驱动装置,因为反射部的反射面与光反射器的距离会对应于透镜框的位置而变化,所以利用光反射器来检测此距离,就能够检测透镜框的位置。而且,因为反射面相对于光轴倾斜,所以反射面与光反射器的距离会对应于透镜框的位置而连续地变化。另外,反射面是倾斜度(斜率)固定的平面,所以能够根据反射面与光反射器的距离来特定出透镜框的位置。因此,根据此透镜驱动装置,因为能够利用光反射器来检测与反射面的距离,由此精密地特定出对应于检测距离的透镜框的位置,所以能够进行高精度且高解析力的透镜位置检测。
在本发明的透镜驱动装置中,较佳是:反射部的反射面面向光反射器的投/受光面。
根据本发明的透镜驱动装置,通过使反射面面向投/受光面,相较于没有面向的情况,能够确实地进行由光反射器所实行的投光及受光,而能够谋求光反射器的检测精度的提升。
在本发明的透镜驱动装置中,较佳是:反射部设置在透镜框上;驱动单元具有设置在基底上的磁体和设置在透镜框上的线圈;透镜框具有线圈保持部,该线圈保持部与反射部一体形成,用于保持线圈。
根据本发明的透镜驱动装置,因为在透镜框中线圈保持部与反射部一体形成,所以能够谋求结构的简化及装置的小型化。
在本发明的透镜驱动装置中,较佳是:在与反射面与光反射器的距离对应的光反射器的输出电压特性中,将输出电压相对于距离的变化率大的范围,设定作为近距离用的透镜检测位置区域及远距离用的透镜检测位置区域中的任一个,并利用变化率比该范围小的范围作为另一个的透镜检测位置区域。
根据本发明的透镜驱动装置,因为根据聚焦用的透镜位置检测区域中的输出电压相对于检测距离的变化率大小,来设定近距离用的透镜位置检测区域和远距离用的透镜位置检测区域,所以能够实现分别与近距离及远距离的拍摄状况对应的透镜位置检测。
在本发明的透镜驱动装置中,较佳是:基底具有沿着光轴方向延伸的引导槽,透镜框具有能够与引导槽卡合且能够沿着引导槽滑动的凸部。
根据本发明的透镜驱动装置,卡合于引导构件的引导槽中的凸部,配合透镜框的移动而沿着引导槽进行滑动,由此使透镜框能够在光轴方向上以精度良好的方式移动。另外,在此透镜驱动装置中,相较于设置引导轴的情况,能够削减构件个数,所以能够谋求装置的低成本化。另外,此结构有利于装置的小型化。
在本发明的透镜驱动装置中,较佳是:在基底上形成有观察用孔,该观察用孔用于观察透镜框。
根据本发明的透镜驱动装置,因为即使在将透镜驱动装置安装于拍摄装置中之后,利用基底的观察用孔,也容易进行透镜框的位置调整,因此,可谋求提高装配作业的效率。
在本发明的透镜驱动装置中,较佳是:反射面为平面或能聚光的曲面。
通过将反射面作成可聚光的弯曲面,能以较少的光量,效率良好地探测光,即使为小型反射部,也可提高位置检测的精度。
在本发明的透镜驱动装置中,较佳是:反射面形成为剖面呈锯齿状。
若采用此种构成,可扩大反射面的倾斜角度。由此,可扩大受光量的变化,即使为小型反射部,也可提高位置检测的精度。
本发明的拍摄装置的特征在于:具有上述透镜驱动装置。
根据本发明的拍摄装置,因为可进行高精度且高解析力的透镜位置检测,所以可谋求拍摄性能的提升。
发明效果
根据本发明,则可进行高精度且高解析力的透镜位置检测。
附图说明
图1是表示第一实施方式的透镜驱动装置的侧方剖视图。
图2是表示图1的透镜驱动装置的俯视图。
图3是表示图1的透镜驱动装置的立体图。
图4是表示聚焦透镜N位于制动器位置的状态下的透镜驱动装置的侧方剖视图。
图5是用于说明图1的透镜驱动装置中的透镜位置检测的示意图。
图6是用于说明光反射器的输出电压特性中的微动区域及粗动区域的其他例子的曲线图。
图7是用于说明光反射器的输出电压特性中的微动区域及粗动区域的其他例子的曲线图。
图8是用于说明第二实施方式的透镜驱动装置的示意图。
图9是第三实施方式的透镜驱动装置的立体图。
图10是表示图11的基底构件及透镜框的剖视图。
图11是表示图11的透镜框的引导用凸部的放大剖视图。
图12是表示反射面的其他变形例的立体图。
图13是表示反射面的另一其他变形例的立体图。
图14是表示反射面的另一其他变形例的立体图。
具体实施方式
以下,参照附图,详细说明本发明的较佳实施方式。在各图中,对相同或相当部分附以相同附图标记,而省略重复说明。另外,各附图中的尺寸、形状及构成要素之间的大小关系未必与实物相同。
(第一实施方式)
如图1至图4所示,第一实施方式的透镜驱动装置1,例如要被组装至薄型数码相机或附带拍摄功能的便携式信息终端中,用于驱动变焦透镜M及聚焦透镜N。变焦透镜M及聚焦透镜N由多个透镜所构成。
在透镜驱动装置1中,变焦透镜M及聚焦透镜N配置成它们的光轴C一致。透镜驱动装置1,在沿着此光轴C的方向(以下称为光轴方向C)上,驱动变焦透镜M及聚焦透镜N。在透镜驱动装置1的外部,设置有拍摄部P,该拍摄部P具有电荷耦合元件(Charge Coupled Device,CCD)影像传感器。
透镜驱动装置1具有:基底构件2、光折射部3、第一透镜框4、第二透镜框5、引导轴6、引导轴7、磁体8、第一线圈9、第二线圈10、柔性印刷电路板(Flexible Printed Circuits,FPC)11、第一光反射器12、及第二光反射器13。
基底构件2是收容变焦透镜M及聚焦透镜N的扁平的箱状构件。此基底构件2的长度方向与光轴C一致。在基底构件2中,以在光轴C上夹住变焦透镜M及聚焦透镜N的方式,设置固定透镜G1、G2。
光折射部3设置在基底构件2的外侧,使来自被摄物体的被摄物体光的光轴E朝向基底构件2折射。光折射部3具有大致呈三棱柱状的棱镜3a。光折射部3,通过棱镜3a使被摄物体光的光轴E朝向光轴C方向折射成直角,并朝向基底构件2内的变焦透镜M及聚焦透镜N射出。从光折射部3射出的被摄物体光,依次通过固定透镜G1、变焦透镜M、聚焦透镜N、及固定透镜G2,而被射出至基底构件2的外侧,且由拍摄部P进行检测。
第一透镜框4及第二透镜框5是保持变焦透镜M及聚焦透镜N的长方形板状的构件。以下,对第一透镜框4进行说明。
在第一透镜框4的中央,形成有用于嵌入变焦透镜M的透镜孔15。在此第一透镜框4的两侧,设置有轴滑动部(反射部)16、轴滑动部17。在轴滑动部16、17上设置有插通孔,该插通孔用于插入沿着光轴方向C延伸的引导轴6、7。引导轴6、7相对于基底构件2固定,引导第一透镜框4在光轴方向C上的移动。这些引导轴6、7的一端,从基底构件2突出并被固定在拍摄部P上。
第一透镜框4,通过第一驱动部(驱动单元)V1沿着引导轴6、7在光轴方向C上移动。第一透镜框4,在基底构件2的光折射部3侧的侧壁2a与制动器部2b之间移动。第一驱动部V1,是由固定在基底构件2上的棒状的磁体8和固定在第一透镜框4上的第一线圈9所构成的线性致动器。磁体8,在基底构件2内以沿着光轴方向C延伸的方式而配置,且N极和S极在光轴方向C上交替地被磁化。
第一线圈9,以与第一透镜框4的轴滑动部16一体化的方式而被固定。即,轴滑动部16,作为用以保持第一线圈9的线圈保持部而发挥功能。第一线圈9的空心部,被磁体8插通。第一驱动部V1,利用通过通电而在第一线圈9与磁体8之间所产生的推力来驱动第一透镜框4。
如图2、3及5所示,第一透镜框4的轴滑动部16,也作为反射第一光反射器12的光的反射部而发挥功能。在轴滑动部16的侧面,形成有反射用平面18。此反射用平面18设置成相对于光轴C倾斜。图5所示的L1是与光轴C平行的假想线。反射用平面18,在光轴方向C上越朝向(接近)基底构件2的出口侧也就是固定透镜G2侧,越向从光轴C远离的方向倾斜。
第一光反射器12,被埋设在基底构件2的侧壁2c中,且其投/受光面12a露出至基底构件2的内部。在第一光反射器12的背面,连接有FPC11的第一连接端部11a。第一连接端部11a,在基底构件2的前面侧与FPC11的终端11b连结。
第一光反射器12,具有将光照射至反射用平面18上的投光部与接受被反射用平面18反射出来的光的受光部(两者都没有图示)。另外,第一光反射器12,将投/受光面12a以面向反射用平面18的方式而被配置。即,第一光反射器12,将投/受光面12a以平行于反射用平面18的方式配置。
第一光反射器12与具有反射用平面18的轴滑动部16,作为用以检测第一透镜框4的位置的第一位置检测部(位置检测单元)H1而发挥功能。根据此第一位置检测部H1,因为第一光反射器12的投/受光面12a与反射用平面18的距离会对应于第一透镜框4的位置而变化,所以利用第一光反射器12来检测投/受光面12a与反射用平面18的距离,就能够进行第一透镜框4的位置检测。
接着,对第二透镜框5进行说明。如图1至图4所示,在第二透镜框5的中央,形成有用于嵌入聚焦透镜N的透镜孔20。此第二透镜框5和第一透镜框4,具有几乎相同的结构。
在第二透镜框5的两侧,设置有轴滑动部21、22。在轴滑动部21、22中,设置有插通孔,插通孔分别用于插入沿着光轴方向C延伸的引导轴6、7。第二透镜框5,在基底构件2的制动器部2b与拍摄部P侧的侧壁2d之间沿着引导轴6、7移动。第二透镜框5,通过第二驱动部(驱动单元)V2在光轴方向C上移动。
第二驱动部V2,是由固定在基底构件2上的棒状的磁体8和固定在第二透镜框5上的第二线圈10所构成的线性致动器。第二驱动部V2,利用通过通电而在第二线圈10与磁体8之间所产生的推力来驱动第二透镜框5。第二线圈10,以与第二透镜框5的轴滑动部21一体化的方式而被固定。即,轴滑动部21,作为用以保持第二线圈10的线圈保持部而发挥功能。
如第2、3及5图所示,第二透镜框5的轴滑动部21,也作为反射第二光反射器13的光的反射部而发挥功能。在轴滑动部21的侧面,形成有反射用平面23。此反射用平面23,被设置成相对于光轴C倾斜。图5所示的L2,是与光轴C平行的假想线。反射用平面23,在光轴方向C上越朝向(接近)基底构件2的出口侧也就是固定透镜G2侧越向从光轴C远离的方向倾斜。
第二光反射器13,以其投/受光面13a从内侧露出的方式而被埋设在基底构件2的侧壁2c中。在第二光反射器13的背面,连接有FPC11的第二连接端部11c。
第二光反射器13,具有将光照射至反射用平面23上的投光部与接受被反射用平面23反射出来的光的受光部(两者都没有图示)。另外,第二光反射器13,以其投/受光面13a面向反射用平面23的方式而被配置。即,第二光反射器13,将投/受光面13a以平行于反射用平面23的方式配置。第二光反射器13与具有反射用平面23的轴滑动部21,作为用以检测第二透镜框5的位置的第二位置检测部(位置检测单元)H2而发挥功能。
在具有这种结构的透镜驱动装置1中,因为第一透镜框4的反射用平面18相对于光轴C倾斜,所以第一光反射器12的投/受光面12a与反射用平面18的距离会对应于第一透镜框4的位置而连续地变化。另外,反射用平面18是斜率固定的平面,所以能够基于反射用平面18与投/受光面12a的距离来特定出第一透镜框4的位置。因此,根据此透镜驱动装置1,因为能够利用第一光反射器12来检测与反射用平面18的距离,来精密地特定出对应于检测距离的第一透镜框4的位置,所以能够进行高精度且高解析力的透镜位置检测。
另外,根据此透镜驱动装置1,相较于通过第一光反射器12来直接检测第一透镜框4的移动距离的情况,因为不需要使第一光反射器12与反射用平面18在光轴方向C上相向,所以能够谋求装置在光轴方向C上的小型化。另外,在透镜驱动装置1中,相较于通过第一光反射器12直接检测第一透镜框4的移动距离的情况,能够使第一光反射器12被要求的距离检测范围变小。这有利于第一光反射器12的小型化及低成本化。
进而,在此透镜驱动装置1中,通过采用一种使投/受光面12a面向反射用平面18的结构,相较于没有面向的情况,能够确实地进行由光反射器所实行的投/受光,而能够谋求光反射器的检测精度的提升。
另外,在此透镜驱动装置1中,因为在第一透镜框4上,保持第一线圈9的线圈保持部、具有反射用平面18的反射部、及沿着引导轴6滑动的轴滑动部16一体形成,所以相较于将线圈保持部、反射部、及轴滑动部分别单独地设置的情况,其结构被大幅简化而能够谋求装置的小型化。另外,根据此透镜驱动装置1,对于第二透镜框5也能得到上述的各种效果。
接着,针对在透镜驱动装置1中的透镜位置检测的控制,以聚焦透镜N为例进行说明。
在图4中,示出聚焦透镜N位于微动区域Fn的状态。另外,在图1中,示出聚焦透镜N位于粗动区域Ff的状态。所谓的微动区域Fn,是指用以聚焦于近距离的被摄物体上的聚焦透镜N的位置范围,是需要进行微细的透镜位置检测的范围。另外,所谓的粗动区域Ff,是指用以聚焦于远距离的被摄物体上的聚焦透镜N的位置范围,是在比微动区域Fn粗略的透镜位置检测中可调整的范围。微动区域Fn相当于近距离用透镜位置检测区域,粗动区域Ff相当于远距离用透镜位置检测区域。
图6是用于说明第二光反射器13的输出电压特性中的微动区域Fn及粗动区域Ff的曲线图。所谓第二光反射器13的输出电压特性,是指第二光反射器13的检测距离与输出电压的关系。所谓检测距离,是指第二光反射器13的进行检测的投/受光面13a与反射用平面23的距离。图6的纵轴表示输出电压,横轴表示检测距离。
如图6所示,第二光反射器13的输出电压特性被表示成:从零距离至预定的峰值距离为止,检测距离越长输出电压越上升,输出电压在峰值距离处上升至最大后,对应于检测距离的长度而缓缓地下降的曲线。在这样的输出电压特性中,因为输出电压相对于检测距离的变化率越大,越能够检测输出电压来进行微细的位置检测,所以变化率大的范围被设定为微动区域Fn。另外,为了确保准确性,选择线性度高的范围即变化率的变动少的范围作为微动区域Fn。另一方面,在粗动区域Ff中不必进行微细的位置检测,所以变化率小的范围被设定为粗动区域Ff。在图6中,第二光反射器13的输出电压特性当中的输出电压超过峰值后的范围,被设定为微动区域Fn及粗动区域Ff。
图7是表示将第二光反射器13的输出电压特性当中的输出电压超过峰值前的范围,设定为微动区域Fn及粗动区域Ff的情况的例子的曲线图。在图7中,输出电压超过峰值前的范围中,将输出电压相对于检测距离的变化率大且线性度高的范围设定作为微动区域Fn,比微动区域Fn变化率小的范围被设定作为粗动区域Ff。另外,较佳是线性度高的范围也被设定作为粗动区域Ff。
根据此透镜驱动装置1,因为依据光反射器12、13的输出电压特性中的输出电压相对于检测距离的变化率大小,来设定近距离用的微动区域Fn与远距离用的粗动区域Ff,所以能够实现分别与近距离及远距离的拍摄状况对应的透镜位置检测。
而且,在此透镜驱动装置1中,因为利用粗动区域Ff来进行远距离用的透镜位置检测,且利用微动区域Fn进行近距离用的透镜位置检测,所以一边确保远距离的拍摄所需要的充分的聚焦透镜N的位置检测精度,一边实现近距离的拍摄时的高精度且微细的聚焦透镜N的位置检测。由此,在此透镜驱动装置1中,相较于将输出电压相对于检测距离的变化率大且线性度高的范围用于微动区域Fn与粗动区域Ff两方的情况,因为能够扩大可利用于微动区域Fn的输出电压特性的范围,所以在近距离拍摄时能够进行高精度的透镜位置检测。这有助于针对近距离拍摄的相机的拍摄性能的提升。
(第二实施方式)
如图8所示,第二实施方式的透镜驱动装置31,相较于关于第一实施方式的透镜驱动装置1,主要差异在于第二透镜框32的形状和第二光反射器33的位置。
具体来说,在第二实施方式的第二透镜框32中,轴滑动部34、35当中,在位于与第一透镜框4的轴滑动部16相反一侧的轴滑动部35上,具有反射用平面36。反射用平面36是相对于光轴C倾斜的平面。图8中表示平行于光轴C的假想线L3。第二光反射器33,以面向反射用平面36的方式而被配置在第一光反射器13的相反侧。
在具有这种构成的透镜驱动装置31中,也能够得到与关于第一实施方式的透镜驱动装置1同样的效果。另外,因为在光轴方向C上具有长度的第一透镜框4的轴滑动部16和第二透镜框5的轴滑动部35被配置在不同的引导轴上,所以在光轴方向C上有利于装置的小型化。
(第三实施方式)
如图9所示,第三实施方式的透镜驱动装置41,相较于关于第一实施方式的透镜驱动装置1,主要差异点在于通过引导槽43、44来引导第一透镜框45及第二透镜框46,以取代引导轴6、7。
在第三实施方式的透镜驱动装置41的基底构件42中,在侧壁42c的内表面上形成有沿着光轴方向C延伸的引导槽43。引导槽43,通过在侧壁42c的内侧形成的制动器部42b,被区分成第一透镜框45用的槽43A和第二透镜框46用的槽43B。同样,在基底构件42的侧壁42e的内表面上形成有沿着光轴方向C延伸的引导槽44。此引导槽44,也被区分成第一透镜框45用的槽44A和第二透镜框46用的槽44B。
图10及图11,是沿着引导槽43、44切断的剖视图。在图10及图11中,为了容易理解,仅图示基底构件42、第一透镜框45、及第二透镜框46。
如图10及图11所示,在第一透镜框45的两侧,形成有分别与槽43A、44A对向的引导滑动部48、49。在引导滑动部48上,形成有与槽43A卡合的引导用凸部48a。另外,在引导滑动部49上,形成有与槽44A卡合的引导用凸部49a。这些引导用凸部48a、49a,沿着光轴方向C延伸。
同样,在第二透镜框46的两侧,形成有分别与槽43A、44A对向的引导滑动部51、52。在引导滑动部51上,形成有与槽43B卡合的引导用凸部51a。另外,在引导滑动部52上,形成有与槽44B卡合的引导用凸部52a。这些引导用凸部51a、52a,沿着光轴方向C延伸。
根据此透镜驱动装置41,卡合于基底构件42的槽43A、44A中的引导用凸部48a、49d,配合第一透镜框45的移动而在槽43A、44A内滑动,由此,第一透镜框45能够在光轴方向C上以精度良好的方式移动。另外,根据此透镜驱动装置41,关于第二透镜框46的移动也能得到同样的效果。
另外,根据此透镜驱动装置41,不需要引导轴这样的构件,相应地可减少构件的数量,而能够谋求装置的低成本化。此结构有利于装置的小型化。
本发明不限定于上述的实施方式。
例如,作为本发明的拍摄装置,除了数码相机以外,也能够利用于附带拍摄功能的便携式电话机或便携用个人电脑、PDA等便携式信息终端。
另外,光反射器12、13与反射用平面18、23,也可以是相反的位置关系。即,也能将光反射器12、13设置在透镜框上,并将反射用平面18、23设置在基底构件2上。另外,光反射器12、13的投/受光面12a、13a与反射用平面18、23,不一定要平行配置。
进而,在光反射器11的输出电压特性中,也能够调换微动区域Fn与粗动区域Ff的作用。即,将输出电压相对于检测距离的变化率大的微动区域Fn,设定成远距离用的透镜检测区域,并将变化率小的粗动区域Ff设定成近距离用的透镜检测区域。
如图12所示,反射面形成为相对于聚焦透镜N的光轴C倾斜的反射用弯曲面60。此反射用弯曲面60成为可聚光的凹面镜。通过将反射面作成可聚光的弯曲面60,能以较少的光量效率良好地探测光,即使为小型的轴滑动部(反射部)16,也可提高位置检测的精度。
如图13所示,反射面形成为剖面为锯齿状。反射面具有两个反射面61a、61b,所述反射面61a、61b具有相同的倾斜角度。具有平面形状的各反射面61a、61b的倾斜角度,大于所述反射用平面18的倾斜角度,在反射面61a与反射面61b之间,配置有不倾斜的台阶部61c。若采用此种结构,可增加反射面61a、61b的倾斜角度。由此,可扩大受光量的变化,即使为小型的轴滑动部(反射部)16,也可提高位置检测的精度。另外,反射面61a、61b,也可形成为弯曲面,也可在光轴C方向上,并列设置多个台阶部61c。
如图14所示,作为相关技术,作为轴滑动部而发挥功能的反射部70的反射面71,也可在光轴方向上,使其面积以连续性地扩大或缩小的方式变化。如此一来,由于若改变反射面71的反射面积则受光量会变化,因此,可进行位置检测。
图12至图14所示的反射部,也能适用于轴滑动部21、35、48、51。
前述的反射面18、23、34、60、61a、61b、71,在利用棱镜来弯折光路的折射光学系统、及收回镜筒并将其收纳于本体内的可伸缩光学系统中均可适用。其中,前述的透镜驱动装置1、31、41,具有折射光学系统。
也可以在光轴C上,在拍摄部P的前面,配置红外线截止滤光片(IR-cutfilter)(未图示)。通过采用红外截止滤光片,可避免拍摄部P接受光反射器12、13的投光部所射出的红外线,而影响拍摄。因此,易于将光反射器12、13配置于拍摄元件的附近,这有助于透镜驱动装置1、31、41的小型化。
附图标记说明如下:
1、31、41 透镜驱动装置
2、42 基底构件
2a、2c、2d、2e 侧壁
2b 制动器部
3 光折射部
3a 棱镜
4、45 第一透镜框
5、46 第二透镜框
6、7 引导轴
8 磁体
9 第一线圈
10 第二线圈
12 第一光反射器
12a、13a 投/受光面
13、33 第二光反射器
13a 投/受光面
16、21、35、48、51、70 轴滑动部(反射部、线圈保持部)
17、22、34、49、52 轴滑动部
18、23、36、61a、61b、71 反射用平面(反射面)
42b 制动器部
48a、49a、51a、52a 引导用凸部
60 反射用弯曲面(反射面)
C 光轴
E 被摄物体光的光轴
Ff 粗动区域
Fn 微动区域
G1 固定透镜
G2 固定透镜
H1 第一位置检测部(位置检测单元)
H2 第二位置检测部(位置检测单元)
M 变焦透镜
N 聚焦透镜
P 拍摄部
V1 第一驱动部(驱动单元)
V2 第二驱动部(驱动单元)
Claims (9)
1.一种透镜驱动装置,具有:基底;透镜框,其用于保持透镜并被设置成能在所述透镜的光轴方向上相对于所述基底进行移动;光折射部,其设置在所述基底的外侧,用于使入射的光朝向所述透镜折射;驱动单元,其使所述透镜框移动;位置检测单元,其检测所述透镜框的位置,其特征在于,
所述位置检测单元具有:
反射部,其设置在所述基底和所述透镜框中的一个上,并具有相对于所述透镜的光轴倾斜的反射面;
光反射器,其设置在所述基底和所述透镜框中的另一个上,并具有将光照射至所述反射面上的投光部和接受被所述反射面反射来的光的受光部。
2.如权利要求1所述的透镜驱动装置,其特征在于,所述反射部的所述反射面,面向所述光反射器的投/受光面。
3.如权利要求1或2所述的透镜驱动装置,其特征在于,
所述反射部设置在所述透镜框上;
所述驱动单元具有设置在所述基底上的磁体和设置在所述透镜框上的线圈;
所述透镜框具有用于保持所述线圈的线圈保持部,所述线圈保持部与所述反射部一体形成。
4.如权利要求1至3中任一项所述的透镜驱动装置,其特征在于,在与所述光反射器与所述反射面的距离对应所述光反射器的输出电压特性中,将所述输出电压相对于所述距离的变化率大的范围,设定作为近距离用的透镜检测位置区域及远距离用的透镜检测位置区域中的任一个,并将所述变化率比该范围小的范围设定作为另一个的透镜检测位置区域。
5.如权利要求1至4中任一项所述的透镜驱动装置,其特征在于,
所述基底具有沿着所述光轴方向延伸的引导槽,
所述透镜框具有能够与所述引导槽卡合并且能够沿着所述引导槽滑动的凸部。
6.如权利要求1至5中任一项所述的透镜驱动装置,其特征在于,在所述基底上形成有观察用孔,该观察用孔用于观察所述透镜框。
7.如权利要求1至6中任一项所述的透镜驱动装置,其特征在于,所述反射面是平面或能够聚光的曲面。
8.如权利要求7所述的透镜驱动装置,其特征在于,所述反射面形成为剖面呈锯齿状。
9.一种拍摄装置,其特征在于,具有如权利要求1至8中任一项所述的透镜驱动装置。
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