CN103323368A - 一种固体材料密度测量方法 - Google Patents

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陈光伟
文景
王国友
文宽逸
文广为
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Abstract

本发明涉及一种固体材料密度测量方法，主要应用于大、中专院校实验教学，该方法包括如下步骤：用电子天平测出待测固体材料样品的质量m3，将盛有密度为ρ 0的水的容器置于电子天平上，将样品专用容器浸没于水中，但不与盛水的容器相接触，电子天平读数为m2，再将待测固体材料样品置于样品专用容器中，并与样品专用容器一起浸没于水中，但不与容器相接触，测出此时的电子天平读数m4，由

Description

一种固体材料密度测量方法
所属技术领域
本发明涉及一种固体材料密度测量方法，主要应用于大、中专院校实验教学。
背景技术
密度是物质的一个物理参数，常见的固体材料密度测量方法有：放射性原理测量法、不等臂天平法、微波技术测量法和利用阿基米德定律间接测量法等，这些方法都存在测量精度不高、测量繁杂的缺点。
发明内容
为了克服上述现有技术的不足，本发明提供一种固体材料密度测量方法，它既可以用来测量密度大于1g/cm3的固体材料样品密度，也可以测量密度小于1g/cm3的固体材料样品密度。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是，步骤1：用电子天平测出样品专用容器的质量m1和待测样品的质量m3；步骤2：将盛有密度为ρ 0的水的容器置于电子天平上，电子天平读数为m；步骤3：将密度大于1g/cm3、质量为m1的样品专用容器浸没于水中，但不与盛水的容器相接触，读出电子天平读数为m2，根据其受力分析有：
                                                                              …………… （1）
ν1为样品专用容器的体积，g为当地的重力加速度；步骤4：将质量为m3的待测样品置于样品专用容器中，但不与盛水的容器相接触，此时的电子天平读数为m4，根据其受力分析有：
               
Figure 2013102369158100002DEST_PATH_IMAGE002
   …………（2）
ν3为待测固体材料样品的体积；步骤5：由（1）式和（2）式得待测固体材料样品的密度为：
                          
Figure 2013102369158100002DEST_PATH_IMAGE003
 
Figure 2013102369158100002DEST_PATH_IMAGE004
        ………………（3）
式中，ρ 0为容器中水的密度。
本发明的有益效果是：用电子天平测出待测样品的质量m3，将盛有密度为ρ 0的水的容器置于电子天平上，将样品专用容器浸没于水中，但不与盛水的容器相接触，电子天平读数为m2，再将待测样品置于样品专用容器中，并与样品专用容器一起浸没于水中，但不与容器相接触，测出此时的电子天平读数m4，由
Figure 2013102369158100002DEST_PATH_IMAGE005
即可求得待测样品的密度，此发明方法简单、方便、快速、测量精度高，且适用于不同密度、不同形状的固体材料样品。
具体实施方式
下面结合具体实施例对本发明作进一步说明。
本发明实施例1步骤： 
a、用电子天平测出待测固体材料样品在空气中的质量m3；
b、将盛有密度为ρ 0的水的容器置于电子天平上；
c、用细线的一端系住样品专用容器，用手捏住细线的另一端，将固体材料样品专用容器浸没于水中，但不与盛水的容器相接触，电子天平读数为m2；
d、将待测固体材料样品置于样品专用容器中，用手捏住细线的另一端，将装有固体材料样品的样品专用容器一起浸没于水中，但不与容器相接触，此时的电子天平读数m4；
e、由
Figure 19772DEST_PATH_IMAGE005
即可得到待测固体材料样品的密度，式中，ρ 0为容器中水的密度。
本发明实施例2步骤：
a、用电子天平测出待测固体材料样品在空气中的质量m3；
b、将盛有密度为ρ0的水的容器置于电子天平上；
c、用细线的一端系住样品专用容器，细线的另一端固定在一支架上，将样品专用容器浸没于水中，但不与盛水的容器相接触，电子天平读数为m2；
d、将待测固体材料样品置于样品专用容器中，细线的另一端固定在一支架上，将装有固体材料样品的样品专用容器一起浸没于水中，但不与容器相接触，此时的电子天平读数m4；
e、由得到待测固体材料样品的密度，式中，ρ 0为容器中水的密度。 

Claims (1)

1.一种固体材料密度测量方法，其特征是采用如下步骤：用电子天平测出待测固体材料样品的质量m3，将盛有密度为ρ 0的水的容器置于电子天平上，将样品专用容器浸没于水中，但不与盛水的容器相接触，电子天平读数为m2，再将待测固体材料样品置于样品专用容器中，并与样品专用容器一起浸没于水中，但不与容器相接触，测出此时的电子天平读数m4，由                                                求得待测固体材料样品的密度。
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