CN103323368A - 一种固体材料密度测量方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种固体材料密度测量方法,主要应用于大、中专院校实验教学,该方法包括如下步骤:用电子天平测出待测固体材料样品的质量m3,将盛有密度为ρ 0的水的容器置于电子天平上,将样品专用容器浸没于水中,但不与盛水的容器相接触,电子天平读数为m2,再将待测固体材料样品置于样品专用容器中,并与样品专用容器一起浸没于水中,但不与容器相接触,测出此时的电子天平读数m4,由
Description
所属技术领域
本发明涉及一种固体材料密度测量方法,主要应用于大、中专院校实验教学。
背景技术
密度是物质的一个物理参数,常见的固体材料密度测量方法有:放射性原理测量法、不等臂天平法、微波技术测量法和利用阿基米德定律间接测量法等,这些方法都存在测量精度不高、测量繁杂的缺点。
发明内容
为了克服上述现有技术的不足,本发明提供一种固体材料密度测量方法,它既可以用来测量密度大于1g/cm3的固体材料样品密度,也可以测量密度小于1g/cm3的固体材料样品密度。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是,步骤1:用电子天平测出样品专用容器的质量m1和待测样品的质量m3;步骤2:将盛有密度为ρ 0的水的容器置于电子天平上,电子天平读数为m;步骤3:将密度大于1g/cm3、质量为m1的样品专用容器浸没于水中,但不与盛水的容器相接触,读出电子天平读数为m2,根据其受力分析有:
…………… (1)
ν1为样品专用容器的体积,g为当地的重力加速度;步骤4:将质量为m3的待测样品置于样品专用容器中,但不与盛水的容器相接触,此时的电子天平读数为m4,根据其受力分析有:
ν3为待测固体材料样品的体积;步骤5:由(1)式和(2)式得待测固体材料样品的密度为:
式中,ρ 0为容器中水的密度。
具体实施方式
下面结合具体实施例对本发明作进一步说明。
本发明实施例1步骤:
a、用电子天平测出待测固体材料样品在空气中的质量m3;
b、将盛有密度为ρ 0的水的容器置于电子天平上;
c、用细线的一端系住样品专用容器,用手捏住细线的另一端,将固体材料样品专用容器浸没于水中,但不与盛水的容器相接触,电子天平读数为m2;
d、将待测固体材料样品置于样品专用容器中,用手捏住细线的另一端,将装有固体材料样品的样品专用容器一起浸没于水中,但不与容器相接触,此时的电子天平读数m4;
本发明实施例2步骤:
a、用电子天平测出待测固体材料样品在空气中的质量m3;
b、将盛有密度为ρ0的水的容器置于电子天平上;
c、用细线的一端系住样品专用容器,细线的另一端固定在一支架上,将样品专用容器浸没于水中,但不与盛水的容器相接触,电子天平读数为m2;
d、将待测固体材料样品置于样品专用容器中,细线的另一端固定在一支架上,将装有固体材料样品的样品专用容器一起浸没于水中,但不与容器相接触,此时的电子天平读数m4;
e、由得到待测固体材料样品的密度,式中,ρ 0为容器中水的密度。
Claims (1)
1.一种固体材料密度测量方法,其特征是采用如下步骤:用电子天平测出待测固体材料样品的质量m3,将盛有密度为ρ 0的水的容器置于电子天平上,将样品专用容器浸没于水中,但不与盛水的容器相接触,电子天平读数为m2,再将待测固体材料样品置于样品专用容器中,并与样品专用容器一起浸没于水中,但不与容器相接触,测出此时的电子天平读数m4,由 求得待测固体材料样品的密度。
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