CN103257464A - 一种液晶显示阵列基板的线缺陷的修复方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种液晶阵列基板的线缺陷的修复方法，液晶阵列包括：扫描线、与扫描线交错的数据线、与扫描线平行的公共电极线、以及由扫描线和数据线交叉限定的若干像素单元，每个像素单元均包括薄膜晶体管和像素电极，薄膜晶体管包括与扫描线一起形成的栅极、与数据线连接的源极、以及与像素电极连接的漏极，其中，相邻像素单元的公共电极线通过一连接线连接，当阵列基板出现扫描线断路或扫描线与公共电极短路时，通过隔离出一部分独立的公共电极线区域或将扫描线隔断，再利用激光修复机将相邻像素单元的漏极两端分别与扫描线和公共电极线连通，完成修复过程，虽然损失几个像素单元，但可以提高修复成功率，节约成本。

Description

一种液晶显示阵列基板的线缺陷的修复方法

技术领域

本发明涉及一种液晶显示阵列基板的线缺陷的修复方法。

背景技术

如图1和图2所示为现有常见液晶显示装置的平面示意图，现有液晶显示装置包括相对的阵列基板10和彩膜基板20、以及夹设在阵列基板10和彩膜基板20之间的液晶（图未示），阵列基板10的每个像素单元11包括：纵横交错的数据线12和扫描线13、存储电容线14（简称COM线）、晶体管15、以及像素电极16，像素电极16内具有有效透光区域17，像素开口率是指阵列单元11中除去数据线12、扫描线13、存储电容线14（简称COM线）等配线区域、以及晶体管15区域（通常采用黑色矩阵隐藏）后的光线通过部分的面积与阵列单元整体面积之间的比例。

在实际制作阵列基板的过程中，如图3所示，扫描线（gate线）12与公共电极线（Com线）短路、或扫描线（gate线）断路缺陷发生率比较高达到0.5%左右，这直接影响到产品的良率。

由于缺陷点灯的现象是一条横线，有时线上还会出现异物，由于没有预备线进行迂回连续，故此类缺陷目前无法修复。

发明内容

本发明的目的在于提高修复成功率的一种液晶显示阵列基板的线缺陷的修复方法。

本发明提供一种液晶阵列基板的线缺陷的修复方法，液晶阵列包括：扫描线、与扫描线交错的数据线、与扫描线平行的公共电极线、以及由扫描线和数据线交叉限定的若干像素单元，每个像素单元均包括薄膜晶体管和像素电极，薄膜晶体管包括与扫描线一起形成的栅极、与数据线连接的源极、以及与像素电极连接的漏极，其中，相邻像素单元的公共电极线通过一连接线连接，当阵列基板出现扫描线断路时，包括如下修复步骤：第一步：确认扫描线上是否存在横向线，如果存在，标记该横向线的位置，该横向线就是扫描线的断路处；第二步：将标记好的具有断线处的扫描线的阵列基板放在激光修复机台上进行断线位置确认，并判断该断线处相邻的几个像素单元的源漏极和公共电极线是否存在损坏，如果该扫描线断线处相邻的几个像素单元的源漏极和公共电极线完好无损，则修复继续；如果该扫描线断线处相邻的几个像素单元的源漏极和公共电极线都存在缺陷，则放弃修复；假定该扫描线断线处相邻的几个像素单元的源漏极和公共电极线完好无损；第三步：确定修复此扫描线断线处需要使用几个像素单元的公共电极线，然后通过激光修复，将需要的几个像素单元的公共电极线两端与相邻其他的公共电极线断开，将相邻几个像素的漏极两端分别与扫描线和公共电极线电连接。第四步：修复完成后，确认修复结果，如果横向线不良消失后，则修复完成，反之，则修复失败。

本发明又提供一种液晶阵列基板的线缺陷的修复方法，液晶阵列包括：扫描线、与扫描线交错的数据线、与扫描线平行的公共电极线、以及由扫描线和数据线交叉限定的若干像素单元，每个像素单元均包括薄膜晶体管和像素电极，薄膜晶体管包括与扫描线一起形成的栅极、与数据线连接的源极、以及与像素电极连接的漏极，其中，相邻像素单元的公共电极线通过一连接线连接，当阵列基板出现扫描线与公共电极线短路时，包括如下修复步骤：第一步：确认扫描线与公共电极线之间是否存在横向线，再确认该横向线上是否存在缺陷点，标记缺陷点的位置；第二步：将标记好具有缺陷点的阵列基板在激光修复机台进行位置确认，如果该缺陷点在扫描线上，则可修复；如果该缺陷点在公共电极线上，则不能修复。第三步：判断该缺陷点相邻的几个像素单元的源漏极和公共电极线是否存在损坏，如果该缺陷点处相邻的几个像素单元的源漏极和公共电极线完好无损，则修复继续；假定该缺陷点处相邻的几个像素单元的源漏极和公共电极线完好无损；确定修复此缺陷点处需要使用几个像素单元，将缺陷点两端的扫描线断开；第四步：通过激光修复，将需要的几个像素单元的公共电极线两端与相邻其他的公共电极线断开，将相邻几个像素的漏极两端分别与扫描线和公共电极线；第五步：修复完成后，确认修复结果，如果横向线不良消失后，则修复完成，反之，则修复失败。

本发明是针对公共电极线呈网状设计的液晶显示阵列基板的修复，具体是基板的扫描线断路、或扫描线与公共电极短路的修复，通过隔离出一部分独立的公共电极线区域或将扫描线隔断，再利用激光修复机将相邻像素单元的漏极两端分别与扫描线和公共电极线连通，完成修复过程，虽然损失几个像素单元，但可以提高修复成功率，节约成本。

附图说明

图1为现有液晶显示装置的第一基板的平面示意图；

图2为现有液晶显示装置的第二基板的平面示意图；

图3为现有液晶显示装置存在缺陷的平面示意图；

图4为本发明液晶阵列基板的平面示意图；

图5为图4所示液晶阵列基板的局部示意图；

图6为图5所示液晶阵列基板的呈网状连接的示意图；

图7为本发明液晶阵列基板的扫描线断路的平面示意图；

图8为图7所示的扫描线断路修复的示意图之一；

图9为图7所示的扫描线断路修复的示意图之二；

图10为图7所示的扫描线断路修复完成的示意图；

图11为图7所示的扫描线断路修复的另一种方式的示意图；

图12为本发明液晶阵列基板的扫描线与公共电极线的短路的平面示意图；

图13为图12所示的扫描线与公共电极线的短路的示意图；

图14为图12所示的扫描线与公共电极线的短路修复完成的示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例，进一步阐明本发明，应理解这些实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围，在阅读了本发明之后，本领域技术人员对本发明的各种等价形式的修改均落于本申请所附权利要求所限定的范围。

本发明保护的是液晶显示阵列基板线缺陷修理方法，如图3所示为本发明液晶显示阵列基板的结构示意图，其包括：纵横交错的扫描线10和数据线20、与扫描线10同层的公共电极线30、像素电极40、薄膜晶体管50、设于扫描线10与数据线20之间隔着栅极绝缘层（图未示）、以及数据线20与像素电极40之间隔着保护绝缘层（图未示）。

扫描线10和数据线20交叉限定的若干像素单元，每个像素单元均包括像素电极40和薄膜晶体管50。

20连接的源极51、以及与像素电极40连接的漏极52、以及位于源极51和漏极52之间的沟道区。

由于扫描线10与栅极（Gate）11同时形成，故扫描线10又称为栅线或G线。

每个像素单元包括三个子像素单元，分别为R子像素单元、G子像素单元和B子像素单元，且RGB三个子像素单元排列呈条状排列（如图6所示），条状排列的意思是：所有的R子像素单元在一条直线上，所有的G子像素单元在一条直线上，所有的B子像素单元在一条直线上。

在本实施例中，公共电极线30在B子像素单元区域呈网状结构，如图5所示，具体为：在铺设保护绝缘层后，需要在B子像素单元的上下相邻的公共电极线30均设置接触孔，在用ITO材料铺设形成像素电极40时，ITO材料连接进入上下相邻公共电极线30的接触孔内并形成连接线31，通过连接线31使B子像素单元区域的公共电极线30呈网状结构。

在实际生产过程中，根据需要也可以在R子像素单元区域的公共电极线呈网状结构、或G子像素单元区域的公共电极线呈网状结构、或全部的三个子像素单元的公共电极线均设置呈网状结构，当然为了节约成本和较少制造工艺程序，只需要在其中一个子像素单元的公共电极线呈网状结构设计。

在液晶显示阵列基板的制造过程中，扫描线有断线的存在、或者扫描线与公共电极线存在短路（G-C leak）的情况，对于这两种情况，可以通过修复避免基板成为报废品，具体修复过程为：需要浪费几个像素单元，隔离出一部分独立的公共电极线区域和将存在短路的扫描线两端隔断，然后利用激光修复机将源漏极分别与公共电极线和扫描线焊接起来，完成修正动作，提高修正成功率。

假定本液晶显示阵列基板的公共电极线30在B子像素单元内呈网状结构设计，且扫描线断线发生在R子像素单元或G子像素单元内，而不是在B子像素单元内，以下为修复扫描线断线的步骤：

第一步：如图7，在检查机上通过点灯确认扫描线是否存在白色的横向线，如果存在，确认该横向线的位置，并做好标记，该横向线就是扫描线10断线处12，即：标记扫描线10断线处位置。

第二步：如图8，将标记好的具有断线处12的扫描线10的阵列基板放在激光修复机台上进行断线位置确认，如果扫描线断线发生在R子像素单元或G子像素单元内，再判断该断线处12相邻的几个像素单元的源漏极51、52和公共电极线30是否存在损坏，如果该扫描线10断线处12相邻的几个像素单元的源漏极51、52和公共电极线30完好无损，那么该扫描线10断线处12可以进行修复，则修复继续；如果该扫描线断线处相邻的几个像素单元的源漏极和公共电极线都存在缺陷，则放弃修复；假定如果该扫描线10断线处12相邻的几个像素单元的源漏极51、52和公共电极线30完好无损。

第三步：如图9，将可修复的阵列基板放在低倍镜头下，确定修复此扫描线10断线处12需要使用几个像素单元的公共电极线30，然后在激光修复机在高倍镜头下，将此部分公共电极线30与周围的公共电极线30断开，使该几个像素单元的公共电极线30的两端与相邻的其他公共电极线30断开，，其两端的切点分别为32、33；最后在激光修复机台高倍镜头下，将相邻几个像素的漏极52两端分别与扫描线10和公共电极线30电连接，并形成位于漏极52两端的焊接点521、522，以此达到利用漏极52做桥梁，将源漏极52分别于公共电极线30和扫描线10焊接起来，实现扫描线10断线处12的连接。

通过激光熔融方式使漏极52两端分别与扫描线10和公共电极线30二者重叠位置处导通。

在本实施例中，修复扫描线10断线处12需要占用两个像素的公共电极线30，通过将两个公共电极线30切割分离，其两端的切点分别为32、33；通过激光熔融方式使漏极52两端分别与扫描线10和公共电极线30导通，其连通路线为：如图10，扫描线10通过漏极52的焊接点521、522到公共电极线30，公共电极线30通过下一个像素单元的漏极52的焊接点522、521至扫描线10，通过跳过相邻两像素单元中间的断线处12，实现扫描线10断线处12的连接。

第四步：修复完成后，点灯确认修复结果，如果横向线不良消失后，则修复完成，反之，则修复失败。

通过上述步骤，虽然使得两个子像素单元呈黑画面，但不至于报废整个液晶显示阵列基板。因为连续3个以及3个以上暗点缺陷才属于不合格的液晶显示器。

在上述步骤二中，如果扫描线断线发生在B子像素单元内，即：扫描线断线发生在公共电极线30呈网状结构的像素单元内，那么在需在第三步中增加一个步骤：切断公共电极线30两端的连接线31（如图11），以此使得该像素单元不能通过连接线影响其他的像素单元，其他步骤与上述步骤都相同。

以下描述扫描线与公共电极线存在短路（即：G-C leak）情况的修复，在液晶阵列基板的制造过程中，由于生产车间环境等问题，在扫描线与公共电极线之间可能出现异物、或者工艺失误问题，使得扫描线与公共电极线之间接触，从而造成阵列基板的缺陷。

假定本液晶显示阵列基板的公共电极线30在B子像素单元内呈网状结构设计，且扫描线与公共电极线存在短路发生在R子像素单元或G子像素单元内，而不是在B子像素单元内，以下为修复扫描线与公共电极线存在短路的步骤：

以下为扫描线与公共电极线存在短路（G-C leak）的修复步骤：

第一步：如图12，在点灯机上对阵列基板进行点灯，找出栅极与公共电极线之间是否存在横向线；再确认该横向线上是否存在缺陷点，标记好缺陷点的位置。

该缺陷点13可能为异物或空气中的杂质。

第二步：将标记好具有缺陷点13的阵列基板在激光修复机台进行位置确认，如果扫描线与公共电极线存在短路发生在R子像素单元或G子像素单元内，且如果该缺陷点13在扫描线10上，则可修复；如果该缺陷点13在公共电极线上，则不能修复。

第三步：判断该缺陷点相邻的几个像素单元的源漏极和公共电极线是否存在损坏，如果该缺陷点处相邻的几个像素单元的源漏极和公共电极线完好无损，则修复继续；如果该扫描线断线处相邻的几个像素单元的源漏极和公共电极线都存在缺陷，则放弃修复；假定该缺陷点处相邻的几个像素单元的源漏极和公共电极线完好无损。

确定修复此缺陷点处需要使用几个像素单元，如图13，将可修复的阵列基板放在激光修复机台高倍镜头下，将缺陷点13两端的扫描线10断开，形成断开点14和断开点15，从而隔离缺陷点13处的异物。

第四步：与扫描线10断线处12的方法相同：如图14，将可修复的阵列基板放在低倍镜头下，确定修复此扫描线10断线处12需要使用几个像素单元的公共电极线30，然后在激光修复机台高倍镜头下，将此部分公共电极线30与周围的公共电极线30断开，使该几个像素单元的公共电极线30的两端与其他公共电极线30断开，最后在激光修复机台高倍镜头下，将相邻几个像素的漏极52两端分别与扫描线10和公共电极线30电连接，以此达到利用漏极52做桥梁，将漏极52两端分别于公共电极线30和扫描线10焊接起来。

在本实施例中，修复扫描线10和公共电极线的缺陷点13需要占用两个像素单元，缺陷点13两端的扫描线10断开，形成断开点14和断开点15；通过该相邻的两个公共电极线30与其相邻的公共电极线30之间切割分离，其两端的切点分别为32、33；通过激光熔融方式将该相邻的两个漏极两端分别与扫描线10和公共电极线30导通，其连通路线为：如图14，扫描线10通过漏极52的焊接点521、522到公共电极线30，公共电极线30通过下一个像素单元的漏极52的焊接点522、521至扫描线10，通过跳过相邻两像素单元中间的缺陷点13两端的断开点14、15和公共电极线30两端的切点32、33，实现连通。

第五步：修复完成后，点灯确认修复结果，如果横向线不良消失后，则修复完成，反之，则修复失败。

通过上述步骤，虽然使得两个子像素单元呈黑画面，但不至于报废整个液晶显示阵列基板。因为连续3个以及3个以上暗点缺陷才属于不合格的液晶显示器。

在上述步骤二中，如果扫描线断线发生在B子像素单元内，即：扫描线断线发生在公共电极线30呈网状结构的像素单元内，那么需在第三步时增加一个步骤：切断公共电极线30两端的连接线31，以此使得该像素单元不能通过连接线影响其他的像素单元，其他步骤与上述步骤都相同。

本发明是针对公共电极线呈网状设计的液晶显示阵列基板的修复，具体是基板的扫描线断路、或扫描线与公共电极短路的修复，通过隔离出一部分独立的公共电极线区域或将扫描线隔断，再利用激光修复机将两个漏极两端分别与扫描线和公共电极线导通，完成修复过程，虽然损失几个像素单元，但可以提高修复成功率，节约成本。

Claims (7)

1.一种液晶阵列基板的线缺陷的修复方法，其特征在于：液晶阵列包括：扫描线、与扫描线交错的数据线、与扫描线平行的公共电极线、以及由扫描线和数据线交叉限定的若干像素单元，每个像素单元均包括薄膜晶体管和像素电极，薄膜晶体管包括与扫描线一起形成的栅极、与数据线连接的源极、以及与像素电极连接的漏极，其中，相邻像素单元的公共电极线通过一连接线连接，当阵列基板出现扫描线断路时，包括如下修复步骤：

第一步：确认扫描线上是否存在横向线，如果存在，标记该横向线的位置，该横向线就是扫描线的断路处；

第二步：将标记好的具有断线处的扫描线的阵列基板放在激光修复机台上进行断线位置确认，并判断该断线处相邻的几个像素单元的源漏极和公共电极线是否存在损坏，如果该扫描线断线处相邻的几个像素单元的源漏极和公共电极线完好无损，则修复继续；如果该扫描线断线处相邻的几个像素单元的源漏极和公共电极线都存在缺陷，则放弃修复；假定该扫描线断线处相邻的几个像素单元的源漏极和公共电极线完好无损；

第三步：确定修复此扫描线断线处需要使用几个像素单元的公共电极线，然后通过激光修复，将需要的几个像素单元的公共电极线两端与相邻其他的公共电极线断开，将相邻几个像素的漏极两端分别与扫描线和公共电极线电连接。

第四步：修复完成后，确认修复结果，如果横向线不良消失后，则修复完成，反之，则修复失败。

2.一种液晶阵列基板的线缺陷的修复方法，其特征在于：液晶阵列包括：扫描线、与扫描线交错的数据线、与扫描线平行的公共电极线、以及由扫描线和数据线交叉限定的若干像素单元，每个像素单元均包括薄膜晶体管和像素电极，薄膜晶体管包括与扫描线一起形成的栅极、与数据线连接的源极、以及与像素电极连接的漏极，其中，相邻像素单元的公共电极线通过一连接线连接，当阵列基板出现扫描线与公共电极线短路时，包括如下修复步骤：

第一步：确认扫描线与公共电极线之间是否存在横向线，再确认该横向线上是否存在缺陷点，标记缺陷点的位置；

第二步：将标记好具有缺陷点的阵列基板在激光修复机台进行位置确认，如果该缺陷点在扫描线上，则可修复；如果该缺陷点在公共电极线上，则不能修复。

第三步：判断该缺陷点相邻的几个像素单元的源漏极和公共电极线是否存在损坏，如果该缺陷点处相邻的几个像素单元的源漏极和公共电极线完好无损，则修复继续；假定该缺陷点处相邻的几个像素单元的源漏极和公共电极线完好无损；确定修复此缺陷点处需要使用几个像素单元，将缺陷点两端的扫描线断开；

第四步：通过激光修复，将需要的几个像素单元的公共电极线两端与相邻其他的公共电极线断开，将相邻几个像素的漏极两端分别与扫描线和公共电极线；

第五步：修复完成后，确认修复结果，如果横向线不良消失后，则修复完成，反之，则修复失败。

3.根据权利要求1或2所述的液晶阵列基板的线缺陷的修复方法，其特征在于：本修复方法需要黑化至少两个像素单元。

4.根据权利要求1或2所述的液晶阵列基板的线缺陷的修复方法，其特征在于：修复完成后，其连通路线为：扫描线通过漏极到公共电极线，公共电极线通过下一个像素单元的漏极的焊至扫描线。

5.根据权利要求1或2所述的液晶阵列基板的线缺陷的修复方法，其特征在于：通过激光熔融方式使漏极两端分别与扫描线和公共电极线二者重叠位置处导通。

6.根据权利要求1或2所述的液晶阵列基板的线缺陷的修复方法，其特征在于：相邻公共电极线的连接线的材料与像素电极的材料相同。

7.跟据权利要求1或2所述的液晶阵列基板的线缺陷的修复方法，其特征在于：每个像素单元均包括三个子像素单元，公共电极线的连接线设于其中之一的子像素单元内，当液晶阵列基板的线缺陷发生在没有设置公共电极线的连接线的像素单元内，其修复方法采用如权利要求1或2所述的修复方法；当液晶阵列基板的线缺陷发生在设置公共电极线的连接线的像素单元内，需在上述步骤三中增加切断公共电极线两端的连接线的步骤。

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