CN103256891A - 接触式探针 - Google Patents

接触式探针 Download PDF

Info

Publication number
CN103256891A
CN103256891A CN2013100533073A CN201310053307A CN103256891A CN 103256891 A CN103256891 A CN 103256891A CN 2013100533073 A CN2013100533073 A CN 2013100533073A CN 201310053307 A CN201310053307 A CN 201310053307A CN 103256891 A CN103256891 A CN 103256891A
Authority
CN
China
Prior art keywords
contact type
type probe
probe according
inductor
light source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN2013100533073A
Other languages
English (en)
Other versions
CN103256891B (zh
Inventor
本杰明·乌里奥德
色格·玛丽尔
A·M·麦勒杜
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tesa SARL
Original Assignee
Tesa SARL
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tesa SARL filed Critical Tesa SARL
Publication of CN103256891A publication Critical patent/CN103256891A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN103256891B publication Critical patent/CN103256891B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/002Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
    • G01B11/005Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates coordinate measuring machines
    • G01B11/007Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates coordinate measuring machines feeler heads therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/004Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points
    • G01B5/008Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring coordinates of points using coordinate measuring machines
    • G01B5/012Contact-making feeler heads therefor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

本发明涉及一种接触式探针,该接触式探针包括:固定构件;感应器,该感应器由一个或数个弹性元件相对于所述固定构件保持在静止位置,所述感应器能够响应于偏转力从所述静止位置移动;包括光源的检测系统,该光源借助所述感应器相对于所述固定构件的位移被驱动;接收由所述光源发出的光的光学图像传感器;光掩模,该光掩模插设在光路中位于所述光源和所述光学图像传感器之间。

Description

接触式探针
技术领域
本发明涉及用于坐标测量机的接触式探针或接触探针,并且特别地但不是排他地涉及触发式接触探针。
背景技术
接触式探针及其用于测量机械零件的表面的坐标的测量机的使用在计量领域中是已知的。在典型情况下,接触探针包括用于组装在测量机的可动平台上的机械接口以及触针,该触针具有位于其末端的红宝石球,所述触针被设计成接触待测量的表面。当触针接触零件并且从其静止位置移动时,探针触发表明已发生接触的电信号。该信号被传输至控制单元,该控制单元记录机器的瞬时坐标并且计算在零件上的接触点的坐标。
模拟探针(也称为扫描探针)也是已知的,其能够测量触针沿着一条或数条轴线的偏转。这些探针如它们的名字所指的那样,通过扫描零件的表面并测量沿着轨迹的坐标而被使用。
在已知的变型中,例如在EP0764827、US4270275或US6760977中,触针紧固在具有对称布置的三个径向销的支架上,每个径向销均靠在与探针的主体一体地结合的两个球上。该布置构成具有六个独立接触点的均衡连接;触针相对于探针的主体的相对位置因此被精确地限定。在其中一个销从其通常所靠的两个球升起时产生触发信号,因此中断两个球之间的电接触。简单构造的这些探针结合可靠性和精确性但受到数个限制。具体地,探针对横向力的灵敏度不是恒定的而是根据外力的取向变化,从而展现与三个销的方向对应的三个波瓣(lobe)。灵敏度的该变化对接触式触发的可重复性有害并且因此对测量的质量有害。如例如EP1610087或DE3713415中所述,改变销的布置能减小该各向异性,然而仍没有完全消除该各向异性。
欧洲专利申请EP0360853试图通过提出如下传感器来补救这些问题,即,在该传感器中,电路由对所施加力直接敏感的应变仪代替。
在其他实施方式中,例如,文献US5435072和EP0415579中所述的探针中,触针和待测量的零件之间的接触由振动传感器或光学传感器来检测。
发明内容
本发明的一个目的在于提出一种不存在已知的接触式探针的缺点并且特别地展现对横向力的恒定灵敏度的接触式探针。
本发明的另一目的在于提出一种比现有技术探针更灵敏且精确的接触式探针。
这些目的由具有所附权利要求的特征的装置来实现。
附图说明
在由附图所示的说明书中指出本发明的实施方式的示例,附图中:
图1以截面图示出了根据本发明的接触式探针。
图2示意地示出能用于本发明的框架中的光掩模。
图3a至3c示出被分成四个象限的图像传感器。
图4示意地示出能用于本发明的框架中的处理电路。
图5a、5b和6示出了能用于本发明的框架中的弹性结构。
图7和图8以分解图和剖面图示出了本发明的变型实施方式。
图9a和9b示出了图7和图8中的实施方式中所用的弹性结构的两个可能实施方式。
图10示出了图9a和9b中所示的弹性结构的另一视图。
图11是图9b的弹性元件的横截面,其中已经显示出自由度。
具体实施方式
参照图1,在一个实施方式中,本接触式探针包括具有触针100的感应器模块60,该触针安装在支架105上,所述支架105由弹簧66弹性保持在静止位置,该静止位置由支架的三个销65(局部可见)之间的六个接触点和与感应器模块一体结合的六个球(未示出)来限定。该布置在使得触针能够在外力的作用下移动并且在不再施加该外力时精确地回复到静止位置。因为需要一定间隙(超程)以在系统检测到接触时停止测量机的运动,因此触针的该弹性组装使其可以在该时间范围内限制接触力。
触针100安装在感应器模块60中的方式不是本发明的必要特征,并且根据需要能使用其他组装布局,而不脱离本发明的领域。
感应器模块60优选地以可移除的方式连接至探针35的主体以便能够根据测量需要容易地更换触针。感应器模块60和探针主体能以与目前用于测量机中的自动工具更换系统相容的方式优选地自动连接和分离。在所示的示例中,借助一对磁体52和62来实现所述连接,这对磁体中的一个放置在探针主体中并且另一个放置在感应器模块中。在其他实施方式中,能通过机械式连接器(例如本申请人名下的文献EP1577050中所述的自动连接器)来实现所述连接。如果不需要模块性,则感应器模块和探针主体能以永久的方式连接。
探针35的主体设置有连接装置32以将其紧固至测量机的移动式平台。在所示示例中,通过标准M8螺钉32来实现所述连接,但是其他连接机构是可能的。轴向电触点33使得探针主体内的电子设备能够由外部电源供电,如将在下面进一步看到的。如有必要,单个触点33能由多个触点来代替。
感应器模块通过磁体52、62或任何其他合适的连接机构与支架55一体地结合,该支架55借助弹性结构45在探针35的主体内保持就位从而能够在预定极限内跟随触针沿着轴线X、Y、Z的偏转。在本发明的框架中,弹性结构能具有不同的形状。结构45将优选地具有尺寸以使其沿三个方向展现相同的弹性。
杆42在下侧上与支架55一体地结合,并且在其上侧支承光源68(例如发光二极管(LED))。触针的偏转运动因此转换成光源68的成比例位移。
根据本发明的重要方面,探针主体还包括图像传感器,例如CCD传感器61或任何其他合适的光学图像传感器,该图像传感器与光源68并置从而接收由光源68发出的光。编码光掩模65插设在光路中位于光源68和图像传感器61之间。光掩模65在传感器上投射不均匀分布的光强度,该光强度根据LED源68的位移移动。优选地集成在与图像传感器61相同的硅片上的处理电路从传感器的表面上的光强度的分布测定触针根据相对于探针主体的三维x、y、z的偏转。
可选地,本接触式探针包括多个图像传感器,这多个图像传感器并列于光源并且布置成通过公共光掩模或通过用于每个传感器的单独光掩模接收由光源发出的光。如上述变型实施方式中,触针沿三维x、y、z的偏转从由传感器记录的光强度的分布借助处理电路来确定,该处理电路能是图像传感器所共有的或包括用于单独传感器的独立处理器。
由源68、掩模65和图像传感器61构成的变换器的操作原理已在文献EP1750099B1、EP2169357A1以及WO2010112082A1中描述,并且这里将不再详细分析。在图2所示的示例中,光掩模65承载包括方块125的规则阵列的二维编码以及由对角线段的阵列构成的编码。在所示示例中,例如,平行于段121的段编码为二进位值‘1’而平行于段120的段编码为二进位值‘0’。
有利地,由段表示的二维编码使得能够借助方块125的阵列的分辨率来绝对定位,并且同时由沿着光分布的轴线的投影获得的信号131和132的插值使得可以精确地测定x和y中的相对位置。然而其它布置是可能的。
为了提高读取和处理速度,像素可选地分组成区,其中每个区均专用于特定测量。在图3a所示的示例中,图像传感器61的像素布置在四个象限141、142、143、144中。对角线布置的象限141和143布置用于测定沿x方向的位移而其他两个象限设计用于测定沿y方向的位移。参照图2所示的示例,处理电路能被局限于计算沿着人们希望测量的位移方向的每个象限中相应地两个投影131、132中的单个投影,由此限制操作次数。光掩模65中所记录的编码也能分成象限并因此被简化。
在本发明的框架内其它装置是可能的,包括具有不被分成象限的单个图像传感器、或两个或更多个独立图像传感器的变型。
根据未示出的另选实施方式,不存在光掩模并且因此使用不均匀光源,即,在图像传感器61的表面上产生不均匀分布的光强度。为此,可以使用具有高各向异性的发射轮廓的LED,激光二极管,产生干涉条纹的光学系统或使得处理电路能够从传感器的表面上的光强度的分布测定触针沿着三维x、y、z的偏转的任何其他合适的不均匀源。
根据未示出的另一变型,光掩模不包括如图3所示的多个透明和不透明的区域,而是包括具有不同光学特性的透明区域的适当布置,以便在传感器的表面上产生可变分布的光强度。透镜的阵列能有利地用于光掩模中,以提高传感器上光分布的强度和对比度。
图3a示出了这样的情况,其中存在源68沿着x轴的位移。象限141和143记录相同的位移而另两个象限记录为无变化。相反地,当仅存在沿y轴的方向的位移时,两个象限142和144记录相同的位移并且象限141和143什么也没测量到,如图3b中能看到的。
图3c示出了在沿着z轴位移期间出现的情况。在该情况下,由掩模65投射的图像的比例变化。象限141和143,以及甚至象限142和144测量相反位移。在通常情况下,源68的相对运动能被分解为沿x、y和z的运动的叠加。
在所述示例中,投射在所述光学图像传感器上的掩模的图像根据感应器100的运动而改变,这是因为光源68由感应器相对于所述固定构件的位移驱动。还将可以想象到,在本发明的框架内的情况下,借助感应器来驱动掩模或图像传感器,具有相同的效果。本发明还包括变型实施方式,其中源、掩模和传感器保持相对于探针主体固定但是光学轨迹包括另一可动光学元件,该光学元件能够根据感应器100的位移修改传感器上的图像,该光学元件例如是反射镜、透镜、棱镜或任何其他光学元件或由感应器100驱动的光学元件的组合。
光源68的位移与触针100的位移成比例。处理电路因此能在感应器的位移超过预定阈值时触发接触信号。有利地,通过适当地重编处理电路的程序,该触发阈值能根据测量状况被动态修改。例如当测量机迅速移动以便避免通过振动确定的或对应于探针的加速和减速的错误信号时可以增大阈值,并且当机器缓慢移动时可以减小阈值以力争最大精确度。通过在安装对振动更敏感的更长且更重的触针时选择更大的阈值,触发阈值也能根据所使用的触针来调整。
根据本发明的一方面,处理电路还能执行触发信号的确认并且区别从感应器100与待测量的零件的真实接触所获得的信号与由于例如振动引起的错误信号。基于例如偏转信号的持续时间或其时间曲线能实现所述辨别。
探针也能以扫描方式被使用,其中处理电路指示由光学传感器测量的触针沿着一条或几条轴线的偏转。
根据未示出的变型实施方式,光学传感器能具有例如呈屋顶或金字塔形状的非平面表面,以提高光的收集和对轴向位移的灵敏度。
图4示意地示出了根据本发明的一方面的处理电路200的可能结构。光学传感器61有利地集成在处理电路的同一集成电路中。该示例中电路200包括微控制器230和布线逻辑单元235,以在传感器61的像素上执行处理操作,例如投影、取平均和/或相关性。单元237是专用于计算数学或三角函数的算术模块,例如利用CORDIC(坐标旋转数字计算机)技术的模块。可选地,微控制器的功能能由其它合适的计算装置(例如微处理器或DSP(数字信号处理器))履行。
电路200优选地还包括环境传感器,例如加速计和/或温度传感器。加速计例如用于确定触发信号的动态阈值或确定探针是否经受冲击。由温度传感器供应的信号用于电路200中,以补偿温度误差。
处理电路还具有输入/输出单元220,其设计用于根据确定形式向测量机传输位置信号。当接触式探针被用作触发探针时,触发信号能以由探针吸收的电流的变化的形式被传输。这允许本接触式探针用作用于典型触发接触式探针的替代。在本发明的另一变型实施方式中,输入/输出单元220允许与外部设备(例如测量机的控制器或计算机测量系统)的双向通信。然后探针能通过单元220以合适的形式发送触发信号和/或偏转测量和/或确认信号。探针还能通过单元220接收校准数据或触发阈值或任何其他信号。
图5a、5b示意地示出了能用于本发明的框架中的柔性结构45。这些结构具有赋予其更大的横向(铰链312)或轴向(铰链313)柔性的数个弹性铰链。图6示出了其中横向柔性由柱315提供的变型实施方式。然而其它装置是可能的。
现在将参照图7、8、9a、9b和10描述本接触式探针的优选实施方式。根据该变型,探针包括如前所提及的弹性结构,所述弹性结构包括一体的金属部件400,该金属部件在其下部末端处连接到支架55和在相反末端处连接到光源68。
在图9a、9b和10中可更清楚地看到弹性结构400,其中图9a、9b表示上柔性部的两个可能变型实施方式,如将在下面进一步看到的。所述弹性结构具有大致筒形形状并且由单个一体金属部件制成而没有组装或焊缝。弹性结构400优选地通过机加工(即,车削和铣削)合适材料(例如回火钢)的圆筒而获得。然而也可以在本发明的框架中使用其他制造技术,例如电腐蚀、激光切割或用于去除材料的任何其他合适方法。还将可以通过模制或通过附加制造过程(例如通过选择性激光细切、立体平版印刷术、3D压印等)来制造弹性结构400。
根据本发明的一方面,弹性结构400包括大致筒状中央主体420以及两个上下端部,这两个上下端部借助在图10和图11中可见的两个沟槽510和520与筒状主体分离。下端部包括中央凸出部436,感应器模块的支架55例如通过旋压而紧固在该中央凸出部436上。上端部也具有中央凸出部416,光源68例如通过胶粘安装在该中央凸出部416上。光源优选地由柔性导体或柔性印刷电路连接至处理电路。
两个端部还分别包括与探针主体一体结合的外周环435和415,而筒状主体420的侧面不与其他部件接触并且能在作用于感应器100上的力的作用下移动。
图9a、9b示出了弹性元件400的上端部的两个可能变型实施方式。两个变型包括:三个切向梁或叶片417a、417b、417c,这些切向梁或叶片在其末端紧固至外周环415;以及三个径向臂418a、418b和418c,这些径向臂一方面连接至相应的切向叶片的中点并且另一方面连接至端部的中心。凹口412a、412b、412c形成弹性铰链并且改善整个组件的柔性特性,特别是沿轴向和横向的柔性特性。两个变型实施方式在臂418a-c的形状方面显著不同,这些臂在第二型式中是直的并且在第一型式中具有或多或少的加强角度以便增加其柔性。
弹性元件400的上端部能有利地通过常规的机加工操作来获得:例如可以通过上侧铣削臂418a-c并且借助三个铣削的直槽417a-c(图10中可更佳看到)使切向叶片417a-c与环415分离。端部借助沟槽510(图11)与筒状主体420分离。
图10示出了弹性元件400的下端部的可能结构。外周环435借助三个臂438a-c连接至中央部436,这三个臂具有薄中央轴环以便增加整个组件尤其是沿轴向的柔性。与上端部相比,下端部适于在轴向力下变形并且沿正交于轴线的方向相对刚硬。正如上部那样,弹性元件400的下端部能以常规的机加工操作制造。
图11示出了柔性元件的横截面并且借助端部的柔性使得可能实现运动。如已提及的,外周环435和414紧固至探针主体,而下凸出部436由支架55连接至感应器并且上凸出部416支承光源。施加在触针100上的力导致端部根据其相应的机械特性而不同地变形。
下端部被设计成相对于轴向力展现相当大的柔性,并比较而言相对于横向于轴线的力展现相对刚性,这是因为臂438a-c的轴环能易于弯曲但是臂438a-c的长度保持基本不变。因此,位于臂438a-c的交叉点处的点“C”沿着轴线“z”移动。
同时,臂438a-c的独立柔性允许,如果触针100经受横向力,则元件420绕点(C)沿两个横向方向“x”和“y”旋转。因此可以将由下端部引入的约束建模为实现中心“C”与中心“C”的球窝接头的结合的轴向位移的滑动副。
由于连接至切向梁的径向臂的布置,上端部使得光源能够沿着三条轴线“x”、“y”、“z”在点“L”处移位。所述臂和梁的柔性确定回复力或沿着三条轴线的定量柔性值。由位移和力之间的关系k=x/F限定的结构的弹性大约为(1-10)x10-6m/N。这些柔性值确保良好的灵敏度和超过坐标测量机(CMM)的典型振动频率的十分高的自振频率。
臂418a-c和438a-c的对称布置使得有可能实现基本上独立于力的横向的高度各向同性的柔性。然而本发明不限于具有三个臂的装置并且能取决于情况具有两个、四个或更多个臂。
现在将参照图7和图8描述探针中弹性结构400的组装。根据本发明的优选实施方式,弹性结构400被容纳在具有柔性分支457的箍环450内。当将箍环450插入管460内时,分支457夹紧下外周环435并且使其对中就位。轴向地,箍环450的下侧靠在螺纹环452上并且其上侧支承上外周环415,第二螺纹环451被拧紧在该上外周环415上。通过在探针主体内夹紧来紧固弹性结构400使得有可能借助两个上下外周环实现沿探针的轴线的刚性和精确对中。
触针的运动和弹性部400的变形由以120°设置的三个螺钉550限制,这三个螺钉接合在感应器模块的支架55中的合适的外壳中。这些螺钉能优选地被调节以便设定其位置,并且这些螺钉构成止动件,该止动件限制感应器模块的运动并且因此限制被传递到弹性元件400的作用力以及其变形。然而其它限制装置是可能的。
止动件550因此具有确保模块对准以及保护弹性部件400的功能。发明的探针实际上包括易碎元件,特别是弹性部件400,这些易碎元件在冲击的情况下易于在过度作用力之后破裂或被改变。在该情况下,当弹性元件的变形超过预定阈值时,其中一个止动件550接触箍环450使得力被直接传递给箍环,从而避免探针的任何损坏并且改善探针的稳健性。

Claims (20)

1.一种接触式探针,该接触式探针包括:固定构件;感应器,该感应器由一个或数个弹性元件相对于所述固定构件保持在静止位置,所述感应器能够响应于偏转力从所述静止位置移动;包括光源的用于检测所述感应器的位移的检测系统;接收由所述光源发出的光的光学图像传感器;其中,所述光学图像传感器上的光强度的空间分布根据所述感应器的位移而改变。
2.根据权利要求1所述的接触式探针,该接触式探针包括接收由所述光源发出的光的数个光学图像传感器。
3.根据权利要求1所述的接触式探针,其中,所述一个或数个弹性元件由单块金属部件构成。
4.根据权利要求3所述的接触式探针,其中,所述单块金属部件具有大致筒状形状,所述筒状形状具有对应于两个底部的两个端部元件,所述感应器与一端部元件的中心连接,并且所述光源与相对的端部元件的中心连接,其中每个端部元件均具有与所述探针主体一体结合的外周环以及允许所述光源沿着三条轴线移位的多个可变形元件。
5.根据权利要求1所述的接触式探针,该接触式探针包括光掩模,该光掩模插设在光路中位于所述光源和所述光学图像传感器之间。
6.根据权利要求5所述的接触式探针,其中,所述掩模包括透镜阵列。
7.根据权利要求1所述的接触式探针,其中,所述光源借助所述感应器相对于所述固定构件的位移而被驱动。
8.根据权利要求1所述的接触式探针,其中,所述感应器借助磁性连接或机械连接以可移除的方式连接至所述检测系统。
9.根据权利要求1所述的接触式探针,其中,所述感应器由可更换的模块支承,该可更换的模块包括感应器支架,所述感应器支架由限定六个接触点的多个定位元件弹性地保持在静止位置。
10.根据权利要求1所述的接触式探针,该接触式探针还包括处理电路,该处理电路设计成从由所述光学图像传感器记录的所述图像确定所述感应器沿三维的位移。
11.根据权利要求1所述的接触式探针,其中,所述处理电路包括计算装置,所述计算装置例如是微处理器、微控制器、DSP或CORDIC单元。
12.根据权利要求10所述的接触式探针,其中,所述处理电路被设计成在所述感应器的位移超过预定阈值时触发接触信号。
13.根据权利要求10所述的接触式探针,该接触式探针能被连接至外部电源,其中,所述接触信号是由所述探针吸收的电流的变化。
14.根据权利要求11所述的接触式探针,其中,所述阈值是可编程的。
15.根据权利要求10所述的接触式探针,其中,所述处理电路被设计成根据所述感应器的位移来触发偏转信号。
16.根据权利要求1所述的接触式探针,该接触式探针还包括温度传感器,其中,所述处理电路被设计成基于由所述温度传感器提供的信号来补偿温度误差。
17.根据权利要求1所述的接触式探针,该接触式探针包括加速计。
18.根据权利要求4所述的接触式探针,其中,中心与所述光源相连的所述端部元件包括三个切向柔性叶片,所述切向柔性叶片借助柔性径向臂与所述中心相连。
19.根据权利要求4所述的接触式探针,其中,中心与所述感应器相连的所述端部元件包括三个柔性轴环。
20.根据权利要求1所述的接触式探针,该接触式探针包括止动件,这些止动件布置成限制所述弹性元件的变形并且确保在碰撞期间的稳健性。
CN201310053307.3A 2012-02-20 2013-02-19 接触式探针 Active CN103256891B (zh)

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
EP12156134.4 2012-02-20
EP12156134 2012-02-20
EP12191264.6 2012-11-05
EP12191264.6A EP2629048B1 (fr) 2012-02-20 2012-11-05 Palpeur

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN103256891A true CN103256891A (zh) 2013-08-21
CN103256891B CN103256891B (zh) 2017-07-28

Family

ID=47115598

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201310053307.3A Active CN103256891B (zh) 2012-02-20 2013-02-19 接触式探针
CN201310053303.5A Active CN103256890B (zh) 2012-02-20 2013-02-19 接触式探针

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201310053303.5A Active CN103256890B (zh) 2012-02-20 2013-02-19 接触式探针

Country Status (4)

Country Link
US (2) US9057598B2 (zh)
EP (2) EP2629048B1 (zh)
JP (2) JP2013171039A (zh)
CN (2) CN103256891B (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104210393A (zh) * 2014-10-11 2014-12-17 杨玉祥 汽车座椅安全后移装置
WO2021227549A1 (zh) * 2020-05-11 2021-11-18 深圳市中图仪器股份有限公司 一种接触式可伸缩导向定位的防撞保护系统与测量平台

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2629048B1 (fr) * 2012-02-20 2018-10-24 Tesa Sa Palpeur
DE102013001457A1 (de) * 2013-01-28 2014-07-31 Blum-Novotest Gmbh In einer Werkstückbearbeitungsmaschine aufzunehmender temperaturkompensierter Messtaster und Verfahren zur Temperaturkompensation eines Messtasters
CN103884303A (zh) * 2014-03-31 2014-06-25 青岛麦科三维测量设备有限公司 一种多功能测量机
US9250055B2 (en) * 2014-05-09 2016-02-02 Mitutoyo Corporation High speed contact detector for measurement sensors
DE102015000447B4 (de) * 2015-01-13 2018-08-30 Emz-Hanauer Gmbh & Co. Kgaa Optischer Sensor für ein Wäschebehandlungsgerät
JP6049786B2 (ja) 2015-03-05 2016-12-21 株式会社ミツトヨ 測定プローブ
JP2016161526A (ja) * 2015-03-05 2016-09-05 株式会社ミツトヨ 接触型プローブ
JP6049785B2 (ja) * 2015-03-05 2016-12-21 株式会社ミツトヨ 測定プローブ
JP6039718B2 (ja) 2015-03-05 2016-12-07 株式会社ミツトヨ 測定プローブ
WO2016183339A1 (en) 2015-05-12 2016-11-17 Hexagon Metrology, Inc. Apparatus and method of controlling a coordinate measuring machine using environmental information or coordinate measuring machine information
WO2016196292A1 (en) 2015-05-29 2016-12-08 Hexagon Metrology, Inc. Coordinate measuring machine with object location logic
CN105423914B (zh) * 2015-11-11 2018-10-30 清华大学深圳研究生院 一种光信号触发式测头
CN105466339A (zh) * 2015-12-16 2016-04-06 四川大学 基于标准质量块控制测量力的微形貌检测位移传感器系统
EP3184960B1 (en) 2015-12-22 2018-06-27 Tesa Sa Motorized orientable head for measuring system
CN105444695B (zh) * 2015-12-22 2019-03-22 四川大学 基于弹性元件限位方法调节动态特性的探针接触式测头
US9835433B1 (en) 2017-05-09 2017-12-05 Tesa Sa Touch trigger probe
US10603951B2 (en) * 2017-05-23 2020-03-31 Crayola Llc Pixel chalk art
CN107192353B (zh) * 2017-06-08 2019-07-30 京东方科技集团股份有限公司 台阶仪及探针检测装置
US10323928B2 (en) 2017-06-16 2019-06-18 Mitutoyo Corporation Optical configuration for measurement device using emitter material configuration
US10006757B1 (en) * 2017-06-16 2018-06-26 Mitutoyo Corporation Optical configuration for measurement device using emitter material configuration with quadrant photodetectors
JP6964452B2 (ja) * 2017-07-13 2021-11-10 株式会社ミツトヨ 測定機管理システム及びプログラム
TWI634336B (zh) * 2017-08-29 2018-09-01 京元電子股份有限公司 浮動溫度感應裝置及使用該裝置之半導體元件測試模組
EP3688404B1 (en) 2017-09-29 2023-06-07 Mitutoyo Corporation Compact measurement device configuration for integrating complex circuits

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5118946A (en) * 1990-10-31 1992-06-02 Grumman Aerospace Corporation Circuit for interfacing cryogenic detector array with processing circuit
JP2005315633A (ja) * 2004-04-27 2005-11-10 Hitachi Ltd 固体撮像素子におけるイメージセンサの位置決め方法、および固体撮像素子におけるイメージセンサの位置決め装置
US20060070253A1 (en) * 2002-10-29 2006-04-06 Ruijl Theo Anjes M Coordinate measuring device with a vibration damping system
CN101384879A (zh) * 2006-02-16 2009-03-11 瑞尼斯豪公司 铰接探针头部装置和方法
US20100325907A1 (en) * 2009-06-30 2010-12-30 Hexagon Metrology Ab Coordinate measurement machine with vibration detection
US20110013199A1 (en) * 2007-11-05 2011-01-20 Leica Geosystems Ag Measuring head system for a coordinate measuring machine and method for optically measuring of displacements of a probe element

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1445977A (en) 1972-09-21 1976-08-11 Rolls Royce Probes
DE3713415A1 (de) 1987-04-22 1988-11-03 Mauser Werke Oberndorf Tastkopf
GB8803847D0 (en) 1988-02-18 1988-03-16 Renishaw Plc Mounting for surface-sensing device
EP0415579A1 (en) 1989-08-30 1991-03-06 Renishaw plc Touch probe
WO1993009398A1 (en) * 1991-11-09 1993-05-13 Renishaw Metrology Limited Touch probe
DE69323289T3 (de) 1992-12-24 2003-04-24 Renishaw Plc, Wotton-Under-Edge Tastsonde und Signalverarbeitungsschaltung dafür
DE69617148T3 (de) 1995-09-25 2005-11-10 Mitutoyo Corp., Kawasaki Fühlerprobe
DE10108774A1 (de) * 2001-02-23 2002-09-05 Zeiss Carl Koordinatenmessgerät zum Antasten eines Werkstücks, Tastkopf für ein Koordinatenmessgerät und Verfahren zum Betrieb eines Koordinatenmessgerätes
EP1316778B1 (fr) 2001-11-30 2007-07-25 Tesa Sa Palpeur à déclenchement et procédé d'assemblage d'un palpeur à déclenchement
US20040125382A1 (en) * 2002-12-30 2004-07-01 Banks Anton G. Optically triggered probe
EP1443300B1 (fr) * 2003-01-29 2010-02-24 Tesa SA Palpeur orientable
EP1577050B1 (fr) 2004-03-18 2007-05-23 Tesa SA Dispositif de changement d'outils
EP1610087B1 (fr) 2004-06-22 2010-01-20 Tesa SA Palpeur avec déclencheur
DE602005007013D1 (de) 2005-08-03 2008-07-03 Suisse Electronique Microtech Vorrichtung und Verfahren zur relativen Positionsmessung einer periodischen oder quasi-periodischen Markierung
JP4774269B2 (ja) * 2005-10-07 2011-09-14 株式会社ミツトヨ 変位センサ
GB0609022D0 (en) * 2006-05-08 2006-06-14 Renishaw Plc Contact sensing probe
WO2008027588A2 (en) * 2006-08-31 2008-03-06 Faro Technologies, Inc. Smart probe
EP2169357B1 (en) 2008-09-24 2012-09-19 CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement A two-dimension position encoder
US7908757B2 (en) * 2008-10-16 2011-03-22 Hexagon Metrology, Inc. Articulating measuring arm with laser scanner
US8698892B2 (en) 2009-04-03 2014-04-15 Csem Centre Suisse D'electronique Et De Microtechnique Sa - Recherche Et Developpement One-dimension position encoder
US8832954B2 (en) * 2010-01-20 2014-09-16 Faro Technologies, Inc. Coordinate measurement machines with removable accessories
WO2012007561A2 (en) * 2010-07-16 2012-01-19 CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement Measurement system of a light source in space
US8127458B1 (en) * 2010-08-31 2012-03-06 Hexagon Metrology, Inc. Mounting apparatus for articulated arm laser scanner
EP2615425B1 (en) * 2012-01-13 2018-03-07 CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement Measurement system for optical touch trigger or scanning probe with a concave mirror
EP2629048B1 (fr) * 2012-02-20 2018-10-24 Tesa Sa Palpeur

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5118946A (en) * 1990-10-31 1992-06-02 Grumman Aerospace Corporation Circuit for interfacing cryogenic detector array with processing circuit
US20060070253A1 (en) * 2002-10-29 2006-04-06 Ruijl Theo Anjes M Coordinate measuring device with a vibration damping system
JP2005315633A (ja) * 2004-04-27 2005-11-10 Hitachi Ltd 固体撮像素子におけるイメージセンサの位置決め方法、および固体撮像素子におけるイメージセンサの位置決め装置
CN101384879A (zh) * 2006-02-16 2009-03-11 瑞尼斯豪公司 铰接探针头部装置和方法
US20110013199A1 (en) * 2007-11-05 2011-01-20 Leica Geosystems Ag Measuring head system for a coordinate measuring machine and method for optically measuring of displacements of a probe element
US20100325907A1 (en) * 2009-06-30 2010-12-30 Hexagon Metrology Ab Coordinate measurement machine with vibration detection

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN104210393A (zh) * 2014-10-11 2014-12-17 杨玉祥 汽车座椅安全后移装置
CN104210393B (zh) * 2014-10-11 2016-06-01 杨玉祥 汽车座椅安全后移装置
WO2021227549A1 (zh) * 2020-05-11 2021-11-18 深圳市中图仪器股份有限公司 一种接触式可伸缩导向定位的防撞保护系统与测量平台

Also Published As

Publication number Publication date
JP2013171040A (ja) 2013-09-02
EP2629049A3 (fr) 2014-06-04
US20130212891A1 (en) 2013-08-22
US20130212890A1 (en) 2013-08-22
US9057599B2 (en) 2015-06-16
EP2629048B1 (fr) 2018-10-24
CN103256890A (zh) 2013-08-21
CN103256890B (zh) 2016-02-24
EP2629048A3 (fr) 2014-04-16
EP2629048A2 (fr) 2013-08-21
EP2629049B1 (fr) 2019-10-16
CN103256891B (zh) 2017-07-28
US9057598B2 (en) 2015-06-16
EP2629049A2 (fr) 2013-08-21
JP2013171039A (ja) 2013-09-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103256891A (zh) 接触式探针
US7500319B2 (en) Measurement probe for use in coordinate measuring machines
JP5746121B2 (ja) 光学センサ付きの表面検出装置
KR102005626B1 (ko) 스핀들의 자유도 오차를 검측하는 광학식 검측 장치 및 그 방법
JP5813651B2 (ja) 測定オブジェクトの形状を触覚光学式に決定するための方法および装置
JP5210536B2 (ja) 測定プローブ
WO2000079216A1 (fr) Calibre à rangée de billes
CA1336532C (en) Probe motion guiding device, position sensing apparatus and position sensing method
KR100941970B1 (ko) 서로 다른 두면에 형성된 구멍 크기 및 수직거리 측정장치
JP4500729B2 (ja) 表面形状測定装置
JP5038481B2 (ja) 多軸加工機の計測装置
JP3810609B2 (ja) 3次元座標測定用タッチプローブ
KR20100045816A (ko) 구멍 크기 및 간격 측정장치

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
REG Reference to a national code

Ref country code: HK

Ref legal event code: DE

Ref document number: 1185407

Country of ref document: HK

C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
REG Reference to a national code

Ref country code: HK

Ref legal event code: WD

Ref document number: 1185407

Country of ref document: HK