CN103137051A - 快速检验像素驱动电路驱动管阈值补偿效果的测试电路 - Google Patents

快速检验像素驱动电路驱动管阈值补偿效果的测试电路 Download PDF

Info

Publication number
CN103137051A
CN103137051A CN2013100672146A CN201310067214A CN103137051A CN 103137051 A CN103137051 A CN 103137051A CN 2013100672146 A CN2013100672146 A CN 2013100672146A CN 201310067214 A CN201310067214 A CN 201310067214A CN 103137051 A CN103137051 A CN 103137051A
Authority
CN
China
Prior art keywords
circuit
current
driving
driving tube
voltage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN2013100672146A
Other languages
English (en)
Inventor
陈鑫
黄辉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BEIJING POLYCHIEVE TECHNOLOGY Co Ltd
Original Assignee
BEIJING POLYCHIEVE TECHNOLOGY Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by BEIJING POLYCHIEVE TECHNOLOGY Co Ltd filed Critical BEIJING POLYCHIEVE TECHNOLOGY Co Ltd
Priority to CN2013100672146A priority Critical patent/CN103137051A/zh
Publication of CN103137051A publication Critical patent/CN103137051A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Electroluminescent Light Sources (AREA)
  • Control Of El Displays (AREA)

Abstract

本发明披露了一种用于快速检验像素驱动电路驱动管阈值补偿效果的测试电路，测试电路作为一个基准电路，依次接入三个电流源，分别得到三个反馈电压值，可以计算出测试电路中驱动管的阈值电压，通过均匀改变测试电路驱动管衬底电压进行相同的计算可以得出驱动管的阈值电压和其衬底电压的关系曲线。基于该关系曲线，再通过定量改变像素驱动点阵中像素驱动电路中驱动管的衬底电压来以改变阈值电压值，并测量像素驱动电路中OLED亮度，多次测试后得到像素驱动电路OLED亮度随着其驱动管阈值电压变化的曲线图，根据曲线图判断像素驱动电路是否具有补偿作用。

Description

快速检验像素驱动电路驱动管阈值补偿效果的测试电路
技术领域
本发明涉及一种用于快速检验像素驱动电路驱动管阈值补偿效果的测试电路。
背景技术
最近几年来随着数位咨询和多媒体应用不断的增加，以及世界各大显示器厂商的推波助澜，而使得平面显示器快速地深入每个家庭与个人，而人类对于高品质的影像显示器是非常期待的。而有机电激发光二极管显示器（OLED）由于其重量轻、体积薄、反应速度快、亮度高、省电、对比度高、视角广、成本低等优点备受关注。
由于OLED的各种优点，它的像素驱动电路研究便成为了热点。由于每个像素驱动电路中驱动管由于制造偏差导致阈值电压不完全相等，以及驱动管老化而导致阈值电压的偏移，会导致面板呈现显示亮度不均匀的现象。所以像素驱动电路的重点研究问题之一就是驱动管老化的补偿问题。
综上所述，检测一个像素驱动电路对其驱动管是否具有阈值补偿作用也变得极其重要。在设计阶段，通过检测像素驱动电路的实际补偿效果，可以检验设计，帮助设计者发现电路的问题，找到下一步的工作方向。在实用阶段，通过检测像素驱动电路的实际补偿效果，可有利于调整控制算法，减小由于阈值变化带来的显示缺陷。而现阶段，对于这方面的研究还很空缺。因此，有必要进行相关测试电路的设计，能够快速检测像素驱动电路对驱动管阈值补偿效果。
发明内容
本发明的目的在于解决上述问题，提出了一种测试电路，该测试电路通过改变MOS管衬底电压来快速改变阈值电压，以达到加速老化的作用，进而实现快速检测像素驱动电路是否对驱动管有阈值补偿作用的目的。
本发明的上述目的是这样实现的：所说的测试电路，其特征在于：测试电路输入端口分别是电流源开关SW1、电流源开关SW2、电流源开关SW3、衬底电压开关SW4、扫描信号SCAN、衬底电压，输出为反馈电压；电路由PMOS晶体管T1、T2、M1、M2、M3和M4、电容C和三个电流源S1、S2和S3组成；电流源S1的电流大小为                                                
Figure 7227DEST_PATH_IMAGE001
，
Figure 206128DEST_PATH_IMAGE001
是能驱动OLED最大发光亮度的电流，S1和M1的漏极相连；电流源S2的电流大小为
Figure 78269DEST_PATH_IMAGE002
，m是大于1的常数，S2和M2的漏极相连；电流源S3的电流大小为，n是不等于m且大于1的常数，S3和M3的漏极相连；M1的栅极与电流源开关SW1相连，M1的源极和反馈电压相连；M2的栅极与电流源开关SW2相连，M2的源极和反馈电压端口相连；M3的栅极与电流源开关SW3相连，M3的源极和反馈电压相连；T1的栅极和扫描信号SCAN相连，T1的源极和反馈电压相连，T1的漏极与T2管的栅极、漏极以及电容C的端口2相连；T2的源极与电容C的端口1还有电源相连，T2的衬底与M4的漏极相连；M4的栅极和衬底电压开关SW4端口相连，M4的漏极和衬底电压相连。
附图说明
图1是本发明中的测试电路；
图2是针对像素驱动电路的测试框图。
图3是以4T1C电路作为像素驱动电路时的测试框图
具体实施方式
下面结合附图与实施例对本发明作进一步详细描述。
测试电路的结构如图1所示。测试电路输入端口分别是电流源开关SW1、电流源开关SW2、电流源开关SW3、衬底电压开关SW4、扫描信号SCAN、衬底电压，输出为反馈电压；电路由PMOS晶体管T1、T2、M1、M2、M3和M4、电容C和三个电流源S1、S2和S3组成；电流源S1的电流大小为
Figure 806721DEST_PATH_IMAGE001
，
Figure 543732DEST_PATH_IMAGE001
是能驱动OLED最大发光亮度的电流，S1和M1的漏极相连；电流源S2的电流大小为
Figure 519648DEST_PATH_IMAGE002
，m是大于1的常数，S2和M2的漏极相连；电流源S3的电流大小为
Figure 949492DEST_PATH_IMAGE003
，n是不等于m且大于1的常数，S3和M3的漏极相连；M1的栅极与电流源开关SW1相连，M1的源极和反馈电压相连；M2的栅极与电流源开关SW2相连，M2的源极和反馈电压端口相连；M3的栅极与电流源开关SW3相连，M3的源极和反馈电压相连；T1的栅极和扫描信号SCAN相连，T1的源极和反馈电压相连，T1的漏极与T2管的栅极、漏极、电容C的端口2以及OLED的正极相连；OLED的负极和地相连；T2的源极与电容C的端口1还有电源相连，T2的衬底与M4的漏极相连；M4的栅极和衬底电压开关SW4端口相连，M4的漏极和衬底电压相连。
如图2所示，操作模块有一个输入端口和两个输出端口，输入端口输入的是测试电路输出的反馈电压；所说的两个输出端口分别与测试电路的衬底电压和像素驱动电路的驱动管衬底相连。
操作模块工作的时候分两个阶段：
第一个阶段，SW4为低电平，SW5为高电平，使得M4导通，M5截止。数字模拟转换器的输出端口通过门开关M4与测试电路中T2的衬底相连，控制器输出的均匀增大的数字衬底电压控制信号通过数字模拟转换器转化为衬底电压输入到测试电路中，每给一个衬底电压控制信号后，SW1、SW2和SW3依次为低电平，测试电路将会输出三个反馈电压值，这三个反馈电压值经过模拟数字转换器转化为数字反馈电压信号后经过控制器计算得到检测路中T2的阈值电压，经过多次测试后可以得到测试电路驱动管T2的衬底电压与其阈值电压的变化曲线图。
第二个阶段，SW4为高电平，SW5为低电平，使得M4截止，M5导通。此时，操作模块与像素驱动电路相连，数字模拟转换器的输出端口通过门开关M5与像素驱动电路的衬底相连，此时操作模块根据第一阶段得到的T2管的衬底电压与阈值电压的变化曲线图来改变输出的数字衬底电压控制信号，使得像素驱动电路在测试中，驱动管的阈值电压是均匀增大的，此时，控制器输出的数字衬底电压控制信号通过数字模拟转换器转化为模拟衬底电压控制信号与像素驱动电路中的驱动管衬底相连，控制驱动管衬底电压，借此来控制每次测试中驱动管的阈值电压是均匀增大的，像素驱动电路中OLED发光得到的亮度信号经过亮度检测器接收后得到量化的亮度信号，传导回控制器中，经过多次测试后，控制器可以得到像素驱动电路OLED发光的量化的亮度信号随着其驱动管的阈值电压变化而变化的曲线图，并通过结果显示器显示给测试者。通过分析阈值电压和亮度之间的关系，可以评判该像素驱动电路对阈值电压的补偿效果。
图3是以4T1C电路作为像素驱动电路为例的测试图。操作模块与像素驱动电路相连的输出端口接在4T1C电路中的驱动管TFT4的衬底上，4T1C的OLED发光后的亮度信号由操作模块的亮度检测器接收。
具体工作状态如下：
测试电路模块中，SCAN为低电平，所以T1是ON状态。
    首先，操作模块中的SW4为低电平，SW5为高电平，M4导通，M5截止。使得操作模块和测试电路模块相连：
T1工作在线性区，可以得到T1的等效电阻值是：
                        
Figure 191117DEST_PATH_IMAGE004
                          （1）
T2处于饱和状态，T2的漏极电流是：
                      
Figure 138345DEST_PATH_IMAGE005
                 （2）
检测模块中的取SW1为低电平，SW2、SW3为高电平，使得M1导通，M2和M3截止。通过T2的电流为
Figure 2013100672146100002DEST_PATH_IMAGE006
，经过计算得栅极电压为：
                                （3）
由于MOS管的等效电阻远远大于数据线电阻，所以数据线电阻可以忽略。所以模拟数字转换器输入端的传感电压为：
                
Figure 2013100672146100002DEST_PATH_IMAGE008
                     （4）
    然后，SW1、SW3为高电平，SW2为低电平，使得M2导通，M1和M3截止，同样的，我们可以求T2的栅极电压：
               
Figure 428567DEST_PATH_IMAGE009
                          (5)
    加在模拟数字转换器输入端的传感电压为：
               
Figure 2013100672146100002DEST_PATH_IMAGE010
                （6）
同理，取SW1、SW2给高电平，SW3给低电平，使得M3导通，M1和M2截止，同样得到反馈电压
                 
Figure 360750DEST_PATH_IMAGE011
               （7）
    对（4）、（6）、（7）进行计算，可得
                               （8）
    其中，VDD是给定的，
Figure 2013100672146100002DEST_PATH_IMAGE013
 、
Figure 937542DEST_PATH_IMAGE014
、是可测得的准确值，m、n是两个不相等的大于1的常数。所以计算的
Figure 2013100672146100002DEST_PATH_IMAGE016
是准确的。式（8）的计算过程是在操作模块中的控制器中完成的。
    再由控制器通过修改衬底电压的值可以快速修改
Figure 584129DEST_PATH_IMAGE016
的值，修改电路中T2的衬底电压由操作模块输出的模拟衬底电压控制信号控制，在控制器每进行完一次阈值电压的计算后，操作块通过改变输出的模拟衬底电压控制信号对T2的衬底电压进行修改，计算所需要的次数后得出T2的阈值电压和衬底电压的曲线图。
最后SW4为高电平，SW5为低电平，M4截止，M5导通，此时，测试电路模块的SCAN为高电平，T1截止，并且让4T1C电路工作。操作模块与4T1C电路相连，由衬底电压和阈值电压的关系曲线为基准，操作模块通过改变输出的模拟衬底电压控制信号4T1C电路驱动管TFT4的衬底电压，使得4T1C电路驱动管TFT4的阈值电压均匀地增大，然后通过亮度检测器检测OLED的亮度，多次测试后得到4T1C电路OLED亮度随着其驱动管阈值电压变化的曲线图，根据曲线图判断4T1C电路是否具有补偿作用。

Claims (1)

1.一种快速检测像素驱动电路驱动管老化补偿的检测方法，使用的测试电路模块，其特征在于：测试电路输入端口分别是电流源开关SW1、电流源开关SW2、电流源开关SW3、衬底电压开关SW4、扫描信号SCAN、衬底电压端口，输出为反馈电压；电路由PMOS晶体管T1、T2、M1、M2、M3和M4、电容C和三个电流源S1、S2和S3组成；电流源S1的电流大小为，是能驱动OLED最大发光亮度的电流，S1和M1的漏极相连；电流源S2的电流大小为                                               
Figure 2013100672146100001DEST_PATH_IMAGE001
，m是大于1的常数，S2和M2的漏极相连；电流源S3的电流大小为
Figure 2013100672146100001DEST_PATH_IMAGE002
，n是不等于m且大于1的常数，S3和M3的漏极相连；M1的栅极与电流源开关SW1相连，M1的源极和反馈电压相连；M2的栅极与电流源开关SW2相连，M2的源极和反馈电压端口相连；M3的栅极与电流源开关SW3相连，M3的源极和反馈电压相连；T1的栅极和扫描信号SCAN相连，T1的源极和反馈电压相连，T1的漏极与T2管的栅极、漏极以及电容C的端口2相连；T2的源极与电容C的端口1还有电源相连，T2的衬底与M4的漏极相连；M4的栅极和衬底电压开关SW4端口相连，M4的漏极和衬底电压相连。
CN2013100672146A 2013-03-04 2013-03-04 快速检验像素驱动电路驱动管阈值补偿效果的测试电路 Pending CN103137051A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2013100672146A CN103137051A (zh) 2013-03-04 2013-03-04 快速检验像素驱动电路驱动管阈值补偿效果的测试电路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2013100672146A CN103137051A (zh) 2013-03-04 2013-03-04 快速检验像素驱动电路驱动管阈值补偿效果的测试电路

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN103137051A true CN103137051A (zh) 2013-06-05

Family

ID=48496812

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2013100672146A Pending CN103137051A (zh) 2013-03-04 2013-03-04 快速检验像素驱动电路驱动管阈值补偿效果的测试电路

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN103137051A (zh)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016026218A1 (zh) * 2014-08-22 2016-02-25 京东方科技集团股份有限公司 像素电路、有机电致发光显示面板及显示装置
CN105911339A (zh) * 2016-04-11 2016-08-31 上海华力微电子有限公司 Mos管阈值电压分布的测量系统及测量方法
CN109410807A (zh) * 2018-11-21 2019-03-01 惠科股份有限公司 驱动电路和显示面板
CN111341263A (zh) * 2020-04-26 2020-06-26 合肥视涯技术有限公司 一种像素电路、硅基显示面板和显示装置
CN113345355A (zh) * 2021-06-09 2021-09-03 云谷（固安）科技有限公司 显示面板的Mura检测方法、装置及介质

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1924983A (zh) * 2006-09-22 2007-03-07 北京交通大学 一种有源有机发光显示器的象素驱动电路
US20080122759A1 (en) * 2006-11-28 2008-05-29 Levey Charles I Active matrix display compensating method
CN102651189A (zh) * 2011-05-17 2012-08-29 京东方科技集团股份有限公司 有机发光二极管驱动电路、显示面板及显示器
CN102708785A (zh) * 2011-05-18 2012-10-03 京东方科技集团股份有限公司 像素单元电路及其工作方法、oled显示装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1924983A (zh) * 2006-09-22 2007-03-07 北京交通大学 一种有源有机发光显示器的象素驱动电路
US20080122759A1 (en) * 2006-11-28 2008-05-29 Levey Charles I Active matrix display compensating method
CN102651189A (zh) * 2011-05-17 2012-08-29 京东方科技集团股份有限公司 有机发光二极管驱动电路、显示面板及显示器
CN102708785A (zh) * 2011-05-18 2012-10-03 京东方科技集团股份有限公司 像素单元电路及其工作方法、oled显示装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
刘金娥: "a-Si:H-TFT阈值电压漂移机理及其在驱动OLED显示中的补偿设计", 《液晶与显示》 *

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016026218A1 (zh) * 2014-08-22 2016-02-25 京东方科技集团股份有限公司 像素电路、有机电致发光显示面板及显示装置
US9711085B2 (en) 2014-08-22 2017-07-18 Boe Technology Group Co., Ltd. Pixel circuit having a testing module, organic light emitting display panel and display apparatus
CN105911339A (zh) * 2016-04-11 2016-08-31 上海华力微电子有限公司 Mos管阈值电压分布的测量系统及测量方法
CN105911339B (zh) * 2016-04-11 2019-01-18 上海华力微电子有限公司 Mos管阈值电压分布的测量系统及测量方法
CN109410807A (zh) * 2018-11-21 2019-03-01 惠科股份有限公司 驱动电路和显示面板
US11443666B2 (en) 2018-11-21 2022-09-13 HKC Corporation Limited Drive circuit for adjusting a voltage required for aging detection using a feedback circuit, and display panel
CN111341263A (zh) * 2020-04-26 2020-06-26 合肥视涯技术有限公司 一种像素电路、硅基显示面板和显示装置
CN113345355A (zh) * 2021-06-09 2021-09-03 云谷（固安）科技有限公司 显示面板的Mura检测方法、装置及介质

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103093724A (zh) 一种新型的amoled像素驱动电路
CN105702212B (zh) 有机发光显示设备及其驱动方法
CN104809986B (zh) 一种有机电致发光显示面板及显示装置
CN103137051A (zh) 快速检验像素驱动电路驱动管阈值补偿效果的测试电路
US9875679B2 (en) Gamma curve adjusting method and device
CN109215581B (zh) 一种显示面板的补偿方法、补偿装置及显示装置
TWI549108B (zh) 有機發光顯示器及其驅動方法
TWI556213B (zh) 畫素補償裝置、具有電流補償功能的顯示器
JP2018528476A (ja) Ａｍｏｌｅｄリアルタイム補償システム
CN101903935A (zh) 显示装置
KR20150057192A (ko) 표시 장치 및 표시 장치 구동방법
WO2006079003A3 (en) System and method for setting brightness uniformity in an active-matrix organic light-emitting diode (oled) flat-panel display
CN103177685A (zh) Oled显示装置及感测像素驱动电路的特性参数的方法
US20170018224A1 (en) Apparatus and method for compensating for luminance difference of organic light-emitting display device
CN105427806A (zh) 像素电路、显示基板及显示装置、驱动显示基板的方法
CN107705754B (zh) 一种有机电致发光元件的驱动方法和驱动电路、显示装置
TWI619107B (zh) 有機發光顯示裝置及其驅動方法
CN103108445B (zh) 驱动发光二极管的电路及方法
CN104167167A (zh) 像素电路及其驱动方法、显示装置
CN109616050B (zh) 一种oled显示面板驱动电路及驱动方法
KR20090120211A (ko) 액정 표시 장치 및 그 구동 방법
CN104200776A (zh) 改善OLED面板Mura缺陷的像素驱动电路及驱动方法
CN106297658B (zh) 一种电流补偿设备、方法及有机发光二极管显示面板
CN104882094A (zh) 一种oled面板驱动电路、驱动方法及显示装置
CN102651189A (zh) 有机发光二极管驱动电路、显示面板及显示器

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20130605