CN103132018B - 一种提高非晶硅薄膜电导率的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种提高非晶硅薄膜电导率的方法,属于非晶半导体薄膜材料与器件技术领域。该方法包括以下步骤:①对绝缘衬底基片进行清洗;②采用射频磁控溅射方法,在上述基片表面通过硅钌复合靶溅射沉积非晶硅钌合金薄膜;③原位退火处理;④采用共面电极方法制备金属电极。本发明通过在非晶网络中引入贵金属钌,在保留非晶硅薄膜具有较高电阻温度系数、良好光吸收特性的同时,能有效提高非晶硅薄膜的电导率;可用于热敏电阻、红外探测器件和硅基薄膜太阳能电池等领域。
Description
技术领域
本发明属于硅基非晶半导体薄膜材料与器件技术领域,具体涉及一种提高非晶硅薄膜电导率的方法。
背景技术
非晶半导体材料有别于传统的晶体材料,不具有长程有序性,而是一种共价无规则网络结构,没有周期性排列的约束。因而,非晶半导体材料在光学、电学等方面拥有不同于晶体半导体的特性。非晶硅(a-Si)薄膜具有光吸收率高、电阻温度系数(TCR)相对较大、禁带宽度可控、可大面积低温(<400℃)成膜、基片种类不限、生产工艺较简单、与硅半导体工艺兼容等突出优点,在红外成像、薄膜太阳能电池、液晶显示、复印机感光鼓等领域具有广泛应用。
与单晶硅相比,本征非晶硅薄膜因其存在大量以悬挂键为主的缺陷,导致了费米能级钉扎效应,材料性能很差,一般很少直接使用。1975年,Spear等利用硅烷的直流辉光放电技术,首次制备了氢化非晶硅(a-Si:H)薄膜。氢的加入饱和了非晶硅薄膜中的悬挂键,降低了缺陷密度,使掺杂改性变得可行,从而促使了氢化非晶硅薄膜的器件化应用。
为了提高氢化非晶硅薄膜的电导率,常用的掺杂剂以磷或硼为主。通常情况下,薄膜电导率随掺入磷(硼)比例增加而提高,当室温电导率增至10-2S/cm时达到最大值,此时费米能级EF刚好进入导带(价带)的带尾态,因此电导率不再随磷(硼)比例增加而提高。
测量薄膜电阻率可以采用“四探针法”或共面电极电阻测试方法。其中“四探针法”一般只适用于低阻薄膜,而共面电极电阻测试方法适用于低阻和高阻薄膜。
薄膜电导率σ可由以下公式求得:
其中:R是薄膜电阻,L是薄膜长度即两共面电极间距,W是薄膜宽度,d是薄膜厚度,ρ是薄膜电阻率。
薄膜方阻RS可由以下公式求得:
薄膜电阻温度系数TCR可由以下公式求得:
其中T为温度。
发明内容
针对上述现有技术,本发明的目的在于,提供了一种新的提高非晶硅薄膜电导率的方法,其通过在非晶网络中引入贵金属钌,在保留非晶硅薄膜具有良好电阻温度系数等优点的同时,能有效提高非晶硅薄膜的电导率。
为达到上述目的,本发明采用如下技术方案:
一种提高非晶硅薄膜电导率的方法,其特征在于,包括以下步骤:
①对绝缘衬底基片进行清洗,分别用丙酮、乙醇溶液和去离子水进行超声清洗,使基片表面洁净;
②采用射频磁控溅射方法,纯钌块被对称镶嵌于纯硅靶表面;
③首先将沉积室抽至高真空并加热基片,然后预溅射,最后沉积非晶硅钌合金薄膜;
④对步骤③得到的薄膜进行原位退火处理;
⑤在步骤④得到的薄膜表面制备金属电极,采用矩形金属共面电极,用于非晶硅钌合金薄膜的电导率测试。
作为本发明进一步的改进:
步骤①中所述的丙酮和乙醇均为分析纯,超声时间均为15min;
步骤②中所述靶材为纯硅靶,并将纯钌块对称镶嵌于溅射轨迹上;钌块与硅靶溅射轨迹面积之比决定了薄膜的钌掺入量,钌/硅的面积比为1%~8%;
步骤③中所述射频磁控溅射本底真空为10-4Pa,基片温度为300℃,溅射功率为200W;
步骤④中所述退火处理为原位真空退火,温度为200℃,时间为30min;
步骤⑤中所述金属电极材料采用镍铬、钛,制备方法采用热蒸发、磁控溅射真空沉积技术。
与现有技术相比,本发明具有以下有益效果:
硅钌合金薄膜在保留非晶硅薄膜具有较高电阻温度系数、良好光吸收特性的同时,能有效提高非晶硅薄膜的电导率;可用于热敏电阻、红外探测器件和硅基薄膜太阳能电池等领域。
附图说明
图1是本发明工艺流程示意图;
图2是本发明所使用靶材示意图;
图3是本发明所使用共面电极示意图;
附图标记为: 1为金属电极、2为待测薄膜、3为纯钌块、4为纯硅靶,L是薄膜长度、W是薄膜宽度、d是薄膜厚度。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白,以下结合具体实施例,并参照附图,对本发明进一步详细说明。
实施例1:
步骤1:采用K9玻片作为基片。使用洗涤剂擦试基片,并用去离子水冲洗。把基片放入盛有丙酮(分析纯)的容器中,将该容器放入超声清洗仪中,超声清洗15min,然后用去离子水冲洗基片。基于同样的方法,继续依次使用乙醇(分析纯)和去离子水清洗基片。将清洗好的基片放入盛有去离子水的容器中。
步骤2:采用直径为100mm、厚度为3mm的硅钌复合靶,6颗规格为4mm×15mm×1mm的纯钌块对称镶嵌于硅靶的溅射轨迹上;钌块与硅靶溅射轨迹面积之比约为6%。
步骤3:使用机械泵抽真空至3Pa以下,再使用分子泵抽真空至10-4Pa以下,并加热基片至300℃。预热射频匹配器和气体流量计约5~6min。通入氩气,调节气流量为20sccm,沉积室气压为0.50Pa,调节射频功率为200W,预溅射10min。转动工件位置,维持氩气流量为20sccm,此时沉积室气压为0.50Pa,开始溅射沉积硅钌合金薄膜,时间为1h。
步骤4:采用原位退火,在真空度10-4Pa、温度200℃的条件下保温30min。
步骤5:采用真空热蒸发,通过掩膜版在步骤4所得薄膜的表面蒸镀8-2镍铬合金,得到共面电极。
测量所得硅钌合金薄膜的厚度d为1200nm,长度L为4mm,宽度W为7mm。在室温下的测试结果如表1所示,其中本征非晶硅薄膜的电导率、TCR由查阅资料获得,薄膜方阻为同等厚度d下计算获得。
表1
非晶硅基薄膜 | 薄膜电导率 | 薄膜方阻 | TCR(绝对值) |
本征非晶硅薄膜 | 1×10-9S/cm | 8.33×1012Ω/□ | 1.8~8%/K |
非晶硅钌合金薄膜 | 0.63S/cm | 1.33×104Ω/□ | 1.5%/K |
实施例2:
步骤1:同实施例1的步骤1。
步骤2:采用直径为100mm,厚度为3mm的硅钌复合靶,4颗规格为4mm×15mm×1mm的纯钌块对称镶嵌于硅靶的溅射轨迹上。钌块与硅靶溅射轨迹面积之比约为4%。
步骤3:同实施例1的步骤3。
步骤4:同实施例1的步骤4。
步骤5:同实施例1的步骤5。
测量所得硅钌合金薄膜的厚度d为864nm,长度L为4mm,宽度W为7mm。在室温下的测试结果如表2所示,其中本征非晶硅薄膜的电导率、TCR由查阅资料获得,薄膜方阻为同等厚度d下计算获得。
表2
非晶硅基薄膜 | 薄膜电导率 | 薄膜方阻 | TCR(绝对值) |
本征非晶硅薄膜 | 1×10-9S/cm | 1.16×1013Ω/□ | 1.8~8%/K |
非晶硅钌合金薄膜 | 1.79×10-2S/cm | 6.45×105Ω/□ | 2.0%/K |
实施例3:
步骤1:同实施例1的步骤1。
步骤2:采用直径为100mm、厚度为3mm的硅钌复合靶,2颗规格为4mm×15mm×1mm的纯钌块对称镶嵌于硅靶的溅射轨迹上。钌块与硅靶溅射轨迹面积之比约为2%。
步骤3:同实施例1的步骤3。
步骤4:同实施例1的步骤4。
步骤5:同实施例1的步骤5。
测量所得硅钌合金薄膜的厚度d为770nm,长度L为4mm,宽度W为7mm。在室温下的测试结果如表3所示,其中本征非晶硅薄膜的电导率、TCR由查阅资料获得,方阻为同等厚度d下计算获得。
表3
非晶硅基薄膜 | 薄膜电导率 | 薄膜方阻 | TCR(绝对值) |
本征非晶硅薄膜 | 1×10-9S/cm | 1.30×1013Ω/□ | 1.8~8%/K |
非晶硅钌合金薄膜 | 1.67×10-3S/cm | 7.78×106Ω/□ | 2.4%/K |
以上仅是本发明众多具体应用范围中的代表性实施例,对本发明的保护范围不构成任何限制。凡采用变换或是等效替换而形成的技术方案,均落在本发明权利保护范围之内。
Claims (1)
1.一种提高非晶硅薄膜电导率的方法,其特征在于,包括以下步骤:
①对绝缘衬底基片进行清洗,分别用丙酮、乙醇溶液和去离子水进行超声清洗,使基片表面洁净;
②采用射频磁控溅射方法,纯钌块被对称镶嵌于硅靶表面;
③首先将沉积室抽至高真空并加热基片,然后预溅射,最后沉积非晶硅钌合金薄膜;
④对步骤③得到的薄膜进行原位退火处理;
⑤在步骤④得到的薄膜表面制备金属电极,采用矩形金属共面电极,用于非晶硅钌合金薄膜的电导率测试;
步骤①的具体步骤如下:采用K9玻片作为基片,使用洗涤剂擦试基片,并用去离子水冲洗,把基片放入盛有丙酮的容器中,将该容器放入超声清洗仪中,超声清洗15min,然后用去离子水冲洗基片,基于同样的方法,继续依次使用乙醇和去离子水清洗基片,将清洗好的基片放入盛有去离子水的容器中,其中丙酮和乙醇均为分析纯;
步骤②的具体步骤如下:所述靶材为纯硅靶,并将纯钌块对称镶嵌于溅射轨迹上;钌块与硅靶溅射轨迹面积之比决定了薄膜的钌掺入量;采用直径为100mm、厚度为3mm的硅钌复合靶,6颗规格为4mm×15mm×1mm的纯钌块对称镶嵌于硅靶的溅射轨迹上;钌块与硅靶溅射轨迹面积之比约为6%;
步骤③的具体步骤如下:使用机械泵抽真空至3Pa以下,再使用分子泵抽真空至10-4Pa以下,并加热基片至300℃;预热射频匹配器和气体流量计5~6min;通入氩气,调节气流量为20sccm,沉积室气压为0.50Pa,调节射频功率为200W,预溅射10min,转动工件位置,维持氩气流量为20sccm,此时沉积室气压为0.50Pa,开始溅射沉积硅钌合金薄膜,时间为1h;
步骤④的具体步骤如下:采用原位退火,在真空度10-4Pa、温度200℃的条件下保温30min;
步骤⑤的具体步骤如下:采用真空热蒸发,通过掩膜版在步骤④所得薄膜的表面蒸镀8-2镍铬合金,得到共面电极。
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