CN103078249B

CN103078249B - 生成光模块温度查找表的方法及装置

Info

Publication number: CN103078249B
Application number: CN201310003863.XA
Authority: CN
Inventors: 陈彪
Original assignee: Hisense Broadband Multimedia Technology Co Ltd
Current assignee: Hisense Broadband Multimedia Technology Co Ltd
Priority date: 2013-01-06
Filing date: 2013-01-06
Publication date: 2015-04-22
Anticipated expiration: 2033-01-06
Also published as: CN103078249A

Abstract

本发明公开了一种生成光模块温度查找表的方法及装置。该方法包括：调整测试光模块输出的光功率及消光比至预先设置的目标值，获取测试光模块在温度点的测试温度值、测试偏置电流设定寄存器值以及测试调制电流设定寄存器值；对获取的电流值进行归一化处理，获取各温度点形成的温度区间电流归一化斜率参数；调整待应用光模块输出的光功率及消光比至预先设置的目标值，获取该待应用光模块在常温环境下的工作温度值、偏置电流设定寄存器值以及调制电流设定寄存器值；结合预先获取的电流归一化斜率参数，生成该待应用光模块的电流温度查找表，并将生成的电流温度查找表写入该待应用光模块。应用本发明，可以提高生成光模块温度查找表的效率。

Description

生成光模块温度查找表的方法及装置

技术领域

本发明涉及光通信技术，尤其涉及一种生成光模块温度查找表的方法及装置。

背景技术

目前的国内市场以及国际市场，高带宽、高速率和多种业务融合的光纤通信方向已经开始应用；在众多的解决方案中，光纤到户(FTTH，FiberTo The Home)的出现被认为是宽带接入的终极解决方案，国内市场已经大面积应用。

光模块作为光纤通信系统中FTTH的核心部件，光模块整体性能的稳定直接与光纤通信系统的性能稳定相关，而光模块发射端的光口性能，即发射的光信号质量，又是影响光纤通信系统性能稳定的重要因素。

影响光模块发射端的光口发射的光信号质量参数中，主要考虑的是眼图质量，其中，影响眼图质量的主要因素是平均光功率和消光比，平均光功率和消光比是由光模块中的激光驱动芯片提供给激光器的偏置电流和调制电流大小决定的，偏置电流越大，平均光功率就越大；当平均光功率固定时，调制电流越大，消光比就越大；在此基础上，由于激光器是具有温度特性的器件，还需要考虑器件的温度特性，对于固定的偏置电流和调制电流来说，当温度降低时，光功率会变大，消光比会降低；当温度升高时，光功率会变小，消光比会升高。

光模块在实际应用中，需要保持在工作温度范围内，例如，商业级应用的温度范围为0～70℃，工业级应用的温度范围为-40～85℃。如果光模块发射端的光口参数不稳定，例如，光眼图参数波动较大，都可能导致收端无法识别，进而导致通信中断。

实际应用中，为了稳定光模块发射端的光口参数，光模块发射端一般采用闭环控制，通过在光模块中引入光功率自动功率控制(APC，AutomaticPower Control)环路，用于调节偏置电流控制电路中的激光二极管以及背光二极管，APC环路为发射端的偏置电流控制电路引入一个负反馈量，通过与激光二极管靠近的背光二极管，耦合部分激光二极管所发出来的光功率，产生反馈的背光电流，从而使得APC环路根据该反馈电流与偏置电流，与设定的参考值相比较后，调整输出至发光二极管的偏置电流，进而稳定平均光功率。

理论上，背光二极管是没有温度特性的，即只要激光二极管的发光恒定，以及，激光二极管与背光二极管的耦合系数恒定，背光二极管提供给APC环路的反馈电流(偏置电流)是恒定的，但实际应用中，将激光二极管与背光二极管进行封装的发端光器件，即光发射次模块(TOSA，Transmitter Optical Subassembly)，受温度影响，当激光二极管发射恒定光功率，如果温度变化，背光二极管输出的偏置电流也会发生变化，而偏置电流的变化又会影响激光二极管发射的光功率。这样，将导致APC环路在环境温度变化时，光模块发射的光功率无法稳定在设定值；而如果平均光功率发生变动，消光比也会随之发生变化，同时，温度的变化，也将影响对电流进行调制的效果。

实际应用中，在APC环路中，需要根据光模块发射端的温度，对输入激光二极管的调制电流进行控制，以使激光二极管发射功率恒定的光信号。因而，现有技术中，在光模块的软件中，通过定义一个光模块温度查找表，根据包含温度传感器的微控制单元(MCU，Micro Control Unit)的实测温度来补偿光模块中的偏置电流(APCset)值及调制电流(MODset)值，即根据温度变化调整APCset、MODset，从而补偿光功率及消光比，使得光模块输出光信号的光功率及消光比稳定。其中，

APCset、MODset分别对应一个独立的光模块温度查找表，当MCU监测到温度改变时，根据MCU监测到的当前温度，在预先设置的光模块温度查找表中查找该当前温度点对应的APCset、MODset值，并将查找到的值分别作为当前的APCset、MODset设定值，以控制激光二极管，从而稳定光模块发端的光信号质量。

现有生成光模块温度查找表的方法，针对每一光模块，根据其工作温度范围，选取多个工作温度点，在每一工作温度点，记录包含温度传感器的MCU监测得到的温度，调节激光二极管的偏置电流以及调制电流，以使激光二极管发射的光信号的光功率及消光比同时满足预先设置的数值，并将该工作温度点对应的监测温度，以及，该工作温度点对应的偏置电流以及调制电流设定寄存器值写入光模块温度查找表，根据同样的方式，得到各工作温度点对应的偏置电流以及调制电流设定寄存器值，并写入光模块温度查找表。这样，在该光模块的后续工作中，根据MCU监测得到的温度，查找光模块温度查找表，获取相应的偏置电流以及调制电流设定寄存器值，作为激光二极管的控制参数，从而使激光二极管输出的光功率及消光比恒定，提升光纤通信系统的稳定性。

由上述可见，现有生成光模块温度查找表的方法，需要对每一光模块进行工作温度范围内的测试，以用来确定后续工作中对应校正点的调制电流以及偏置电流设定值，通常采用高低温箱或风枪来将光模块的温度调节至各工作温度点，而在从升/降温到光模块温度稳定，都是需要时间的，因而，这种常规生成光模块温度查找表的方法，需要针对每一光模块，所需时间长、生成光模块温度查找表的效率低，占用的生产资源多，不利于生产线生产效率的提高。

发明内容

本发明的实施例提供了一种生成光模块温度查找表的方法，提高生成光模块温度查找表的效率。

本发明的实施例还提供了一种生成光模块温度查找表的装置，提高生成光模块温度查找表的效率。

根据本发明的一个方面，提供了一种生成光模块温度查找表的方法，包括：

预先划分环境温度为多个温度点，在每一温度点，调整测试光模块输出的光功率至预先设置的目标光功率，获取测试光模块在温度点的测试温度值以及测试偏置电流设定寄存器值；

调整测试光模块输出的消光比至预先设置的目标消光比，获取测试光模块在各温度点的测试调制电流设定寄存器值；

对获取的测试偏置电流设定寄存器值进行归一化处理，获取各温度点形成的温度区间偏置电流归一化斜率参数；对获取的测试调制电流设定寄存器值进行归一化处理，获取各温度点形成的温度区间调制电流归一化斜率参数；

调整待应用光模块输出的光功率至预先设置的目标光功率，以及，输出的消光比至预先设置的目标消光比，分别获取该待应用光模块在常温环境下的工作温度值、偏置电流设定寄存器值以及调制电流设定寄存器值；

根据获取的工作温度值、偏置电流设定寄存器值，结合预先获取的偏置电流归一化斜率参数，生成该待应用光模块的偏置电流温度查找表；根据获取的工作温度值以及调制电流设定寄存器值，结合预先获取的调制电流归一化斜率参数，生成该待应用光模块的调制电流温度查找表，并将生成的偏置电流温度查找表及调制电流温度查找表写入该待应用光模块。

其中，所述对获取的测试偏置电流设定寄存器值进行归一化处理，获取各温度点形成的温度区间偏置电流归一化斜率参数包括：

根据划分的各温度点，形成相应的温度区间；

获取预先设置温度点的测试偏置电流设定寄存器值；

获取每一温度点区间对应的测试温度值的差值；

获取每一温度点区间对应的测试偏置电流设定寄存器值的差值；

针对每一温度点区间，将该温度点区间的测试偏置电流设定寄存器值的差值除以测试温度值的差值，再与预先设置温度点的测试偏置电流设定寄存器值的倒数相乘，得到该温度区间偏置电流归一化斜率参数。

其中，获取所述偏置电流归一化斜率参数的公式为：

k_{b} = \frac{I_{bu} - I_{bd}}{T_{u} - T_{d}} \times \frac{1}{I_{bc}}

式中，

k_b为偏置电流归一化斜率参数；

I_bu为温度点区间上限温度对应的测试偏置电流设定寄存器值；

I_bd为温度点区间下限温度对应的测试偏置电流设定寄存器值；

T_u为温度点区间上限温度对应的测试温度值；

T_d为温度点区间下限温度对应的测试温度值；

I_bc为预先设置温度点的测试偏置电流设定寄存器值。

其中，所述对获取的测试调制电流设定寄存器值进行归一化处理，获取各温度点形成的温度区间调制电流归一化斜率参数包括：

根据划分的各温度点，形成相应的温度区间；

获取预先设置温度点的测试调制电流设定寄存器值；

获取每一温度点区间对应的测试温度值的差值；

获取每一温度点区间对应的测试调制电流设定寄存器值的差值；

针对每一温度点区间，将该温度点区间的测试调制电流设定寄存器值的差值除以测试温度值的差值，再与预先设置温度点的测试调制电流设定寄存器值的倒数相乘，得到该温度区间调制电流归一化斜率参数。

其中，获取所述调制电流归一化斜率参数的公式为：

k_{m} = \frac{I_{mu} - I_{md}}{T_{u} - T_{d}} \times \frac{1}{I_{mc}}

式中，

k_m为调制电流归一化斜率参数；

I_mu为温度点区间上限温度对应的测试调制电流设定寄存器值；

I_md为温度点区间下限温度对应的测试调制电流设定寄存器值；

T_u为温度点区间上限温度对应的测试温度值；

T_d为温度点区间下限温度对应的测试温度值；

I_mc为预先设置温度点的测试调制电流设定寄存器值。

其中，获取各温度点形成的温度区间偏置电流归一化斜率参数以及调制电流归一化斜率参数后，所述方法进一步包括：

构建温度点与偏置电流归一化斜率参数的映射关系，以及，构建温度点与调制电流归一化斜率参数的映射关系。

其中，所述根据获取的工作温度值、偏置电流设定寄存器值，结合预先获取的偏置电流归一化斜率参数，生成该待应用光模块的偏置电流温度查找表包括：

查询预先获取的各温度点形成的温度区间偏置电流归一化斜率参数，获取该工作温度值对应的偏置电流归一化斜率值；

根据该斜率值以及偏置电流设定寄存器值，计算该温度点区间内其它温度点的偏置电流设定寄存器值；

根据该温度点区间上下限温度点对应的偏置电流设定寄存器值以及预先获取的相邻温度点区间的偏置电流归一化斜率参数，计算相邻温度点区间内各温度点的偏置电流设定寄存器值，直至计算得到该待应用光模块的各温度区间的偏置电流设定寄存器值，生成偏置电流温度查找表。

其中，所述计算该温度点区间内其它温度点的偏置电流设定寄存器值的公式为：

I_bt＝I_bw-k_b×(T_w-T_t)×I_bc

式中，

I_bt为工作温度对应的温度点区间内在其它工作温度T_t时的偏置电流设定寄存器值；

I_bw为工作温度对应的偏置电流设定寄存器值；

k_b为工作温度对应的温度点区间的偏置电流归一化斜率参数；

T_w为工作温度值；

I_bc为预先设置温度点的测试偏置电流设定寄存器值。

其中，所述计算相邻温度点区间内各温度点的偏置电流设定寄存器值的公式为：

I_bt'＝I_bwu-k_b'×(T_w'-T_t')×I_bc

式中，

I_bt'为相邻温度点区间内在工作温度T_t'时的偏置电流设定寄存器值；

I_bwu为工作温度对应的温度点区间与相邻温度点区间的交点温度对应的偏置电流设定寄存器值；

k_b'为相邻温度点区间的偏置电流归一化斜率参数；

T_w'为交点温度值；

I_bc为预先设置温度点的测试偏置电流设定寄存器值。

构建温度与偏置电流设定寄存器值的坐标系，以温度为横坐标，偏置电流设定寄存器值为纵坐标，以工作温度值对应的偏置电流设定寄存器值为基点，以该工作温度值对应的偏置电流归一化斜率值为斜率，构建该工作温度值对应的温度点区间直线；

获取构建的直线的上下限温度点对应的偏置电流设定寄存器值，以相邻温度点区间对应的偏置电流归一化斜率值为斜率，构建相邻温度点区间直线，生成以坐标系表示的偏置电流温度查找表。

其中，所述根据获取的工作温度值以及调制电流设定寄存器值，结合预先获取的调制电流归一化斜率参数，生成该待应用光模块的温度区间调制电流温度查找表包括：

查询预先获取的各温度点形成的温度区间调制电流归一化斜率参数，获取该工作温度值对应的调制电流归一化斜率值；

根据该斜率值以及调制电流设定寄存器值，计算该温度点区间内其它温度点的调制电流设定寄存器值；

根据该温度点区间上下限温度点对应的调制电流设定寄存器值以及预先获取的相邻温度点区间的调制电流归一化斜率参数，计算相邻温度点区间内各温度点的调制电流设定寄存器值，直至计算得到该待应用光模块的各温度区间的调制电流设定寄存器值，生成调制电流温度查找表。

其中，所述计算该温度点区间内其它温度点的调制电流设定寄存器值的公式为：

I_mt＝I_mw-k_m×(T_w-T_t)×I_mc

式中，

I_mt为工作温度对应的温度点区间内在其它工作温度T_t时的调制电流设定寄存器值；

I_mw为工作温度对应的调制电流设定寄存器值；

k_m为工作温度对应的温度点区间的调制电流归一化斜率参数；

T_w为工作温度值；

I_mc为预先设置温度点的测试调制电流设定寄存器值。

其中，所述计算相邻温度点区间内各温度点的调制电流设定寄存器值的公式为：

I_mt'＝I_mwu-k_m'×(T_w'-T_t')×I_mc

式中，

I_mt'为相邻温度点区间内在工作温度T_t'时的调制电流设定寄存器值；

I_mwu为工作温度对应的温度点区间与相邻温度点区间的交点温度对应的调制电流设定寄存器值；

k_m'为相邻温度点区间的调制电流归一化斜率参数；

T_w'为交点温度值；

I_mc为预先设置温度点的测试调制电流设定寄存器值。

一种生成光模块温度查找表的装置，该装置包括：测试偏置电流获取模块、测试调制电流获取模块、归一化处理模块、应用光模块电流获取模块以及温度查找表生成模块，其中，

测试偏置电流获取模块，用于预先划分环境温度为多个温度点，在每一温度点，调整测试光模块输出的光功率至预先设置的目标光功率，获取测试光模块在温度点的测试温度值以及测试偏置电流设定寄存器值；

测试调制电流获取模块，用于调整测试光模块输出的消光比至预先设置的目标消光比，获取测试光模块在各温度点的测试调制电流设定寄存器值；

归一化处理模块，用于对获取的测试偏置电流设定寄存器值进行归一化处理，获取各温度点形成的温度区间偏置电流归一化斜率参数；对获取的测试调制电流设定寄存器值进行归一化处理，获取各温度点形成的温度区间调制电流归一化斜率参数；

应用光模块电流获取模块，用于调整待应用光模块输出的光功率至预先设置的目标光功率，以及，输出的消光比至预先设置的目标消光比，分别获取该待应用光模块在常温环境下的工作温度值、偏置电流设定寄存器值以及调制电流设定寄存器值；

温度查找表生成模块，用于根据获取的工作温度值、偏置电流设定寄存器值，结合预先获取的偏置电流归一化斜率参数，生成该待应用光模块的偏置电流温度查找表；根据获取的工作温度值以及调制电流设定寄存器值，结合预先获取的调制电流归一化斜率参数，生成该待应用光模块的调制电流温度查找表，并将生成的偏置电流温度查找表及调制电流温度查找表写入该待应用光模块。

较佳地，所述测试偏置电流获取模块包括：温度区间划分单元、测试温度差值计算单元、测试偏置电流差值计算单元、偏置电流归一化斜率计算单元、测试调制电流差值计算单元以及调制电流归一化斜率计算单元，其中，

温度区间划分单元，用于根据划分的各温度点，形成相应的温度区间；

测试温度差值计算单元，用于获取每一温度点区间对应的测试温度值的差值；

测试偏置电流差值计算单元，用于根据获取的设置温度点的测试偏置电流设定寄存器值，获取每一温度点区间对应的测试偏置电流设定寄存器值的差值；

偏置电流归一化斜率计算单元，用于针对每一温度点区间，将该温度点区间的测试偏置电流设定寄存器值的差值除以测试温度值的差值，再与预先设置温度点的测试偏置电流设定寄存器值的倒数相乘，得到该温度区间偏置电流归一化斜率参数；

测试调制电流差值计算单元，用于根据获取的预先设置温度点的测试调制电流设定寄存器值，获取每一温度点区间对应的测试调制电流设定寄存器值的差值；

调制电流归一化斜率计算单元，用于针对每一温度点区间，将该温度点区间的测试调制电流设定寄存器值的差值除以测试温度值的差值，再与预先设置温度点的测试调制电流设定寄存器值的倒数相乘，得到该温度区间调制电流归一化斜率参数。

较佳地，所述温度查找表生成模块包括：偏置电流归一化斜率获取单元、偏置电流设定寄存器值获取单元、偏置电流温度查找表生成单元、调制电流归一化斜率获取单元、调制电流设定寄存器值获取单元以及调制电流温度查找表生成单元，其中，

偏置电流归一化斜率获取单元，用于查询偏置电流归一化斜率计算单元，获取工作温度值对应的偏置电流归一化斜率值；

偏置电流设定寄存器值获取单元，用于根据获取的该斜率值以及该工作温度对应的偏置电流设定寄存器值，计算该温度点区间内其它温度点的偏置电流设定寄存器值；

偏置电流温度查找表生成单元，用于根据该温度点区间上下限温度点对应的偏置电流设定寄存器值以及预先获取的相邻温度点区间的偏置电流归一化斜率参数，计算相邻温度点区间内各温度点的偏置电流设定寄存器值，直至计算得到该待应用光模块的各温度区间的偏置电流设定寄存器值，生成偏置电流温度查找表；

调制电流归一化斜率获取单元，用于查询调制电流归一化斜率计算单元，获取该工作温度值对应的调制电流归一化斜率值；

调制电流设定寄存器值获取单元，用于根据获取的该斜率值以及该工作温度对应的调制电流设定寄存器值，计算该温度点区间内其它温度点的调制电流设定寄存器值；

调制电流温度查找表生成单元，用于根据该温度点区间上下限温度点对应的调制电流设定寄存器值以及预先获取的相邻温度点区间的调制电流归一化斜率参数，计算相邻温度点区间内各温度点的调制电流设定寄存器值，直至计算得到该待应用光模块的各温度区间的调制电流设定寄存器值，生成调制电流温度查找表。

由上述可见，本发明实施例的生成光模块温度查找表的方法及装置，该方法包括：预先划分环境温度为多个温度点，在每一温度点，调整测试光模块输出的光功率至预先设置的目标光功率，获取测试光模块在温度点的测试温度值以及测试偏置电流设定寄存器值；调整测试光模块输出的消光比至预先设置的目标消光比，获取测试光模块在各温度点的测试调制电流设定寄存器值；对获取的测试偏置电流设定寄存器值进行归一化处理，获取各温度点形成的温度区间偏置电流归一化斜率参数；对获取的测试调制电流设定寄存器值进行归一化处理，获取各温度点形成的温度区间调制电流归一化斜率参数；调整待应用光模块输出的光功率至预先设置的目标光功率，以及，输出的消光比至预先设置的目标消光比，分别获取该待应用光模块在常温环境下的工作温度值、偏置电流设定寄存器值以及调制电流设定寄存器值；根据获取的工作温度值、偏置电流设定寄存器值，结合预先获取的偏置电流归一化斜率参数，生成该待应用光模块的偏置电流温度查找表；根据获取的工作温度值以及调制电流设定寄存器值，结合预先获取的调制电流归一化斜率参数，生成该待应用光模块的调制电流温度查找表，并将生成的偏置电流温度查找表及调制电流温度查找表写入该待应用光模块。这样，无需对每一光模块，都需在工作温度范围内进行测试，提高了生成光模块温度查找表的效率，降低了生成光模块温度查找表所需的时间。

附图说明

图1为本发明实施例APC环路控制电路结构示意图。

图2为本发明实施例激光三极管的偏置电流与输出光功率以及加载电压的示意图。

图3为本发明实施例激光三极管的调制特性示意图。

图4为本发明实施例生成光模块温度查找表的方法流程示意图。

图5为本发明实施例归一化斜率参数示意图。

图6为本发明实施例生成光模块温度查找表的装置结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下参照附图并举出优选实施例，对本发明进一步详细说明。然而，需要说明的是，说明书中列出的许多细节仅仅是为了使读者对本发明的一个或多个方面有一个透彻的理解，即便没有这些特定的细节也可以实现本发明的这些方面。

本申请使用的“模块”、“系统”等术语旨在包括与计算机相关的实体，例如但不限于硬件、固件、软硬件组合、软件或者执行中的软件。例如，模块可以是，但并不仅限于：处理器上运行的进程、处理器、对象、可执行程序、执行的线程、程序和/或计算机。举例来说，计算设备上运行的应用程序和此计算设备都可以是模块。一个或多个模块可以位于执行中的一个进程和/或线程内，一个模块也可以位于一台计算机上和/或分布于两台或更多台计算机之间。

现有生成光模块温度查找表的方法，需要对每一光模块，在预先设置的光功率以及消光比情形下，进行工作温度范围内的测试，以用来确定后续的调制电流以及偏置电流设定值，所需时间长、生成光模块温度查找表的效率低。

本发明实施例中，考虑预先对一定数量的光模块样品进行工作温度范围内的测试，获取预定光功率以及消光比下的各偏置电流设定寄存器值以及调制电流设定寄存器值，进行归一化处理，得到包含工作温度与电流值映射关系的光模块测试温度查找表，然后，根据常温时光模块的测试，得到该光模块在该常温时的调制电流以及偏置电流设定值，并结合预先得到的光模块测试温度查找表，进行推算，生成该光模块的温度查找表，并写入到该光模块中，从而使得无需对每一光模块，都需在工作温度范围内进行测试，提高了生成光模块温度查找表的效率，降低了生成光模块温度查找表所需的时间。

下面先对本发明实施例涉及的APC环路进行说明。

图1为本发明实施例APC环路控制电路结构示意图。参见图1，该控制电路包括：偏置电流电路以及调制电流电路，其中，

调制电流电路包括：第一激光三极管V1、第二激光三极管V2以及第一电阻R1；

偏置电流电路包括：第三激光三极管V3、第一运放放大器A1、第二运放放大器A2、第三比较器A3、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5以及电感L1，其中，

第一激光三极管V1的基极接入第一调制电流(MOD-)，射电极与第二激光三极管V2的射电极相连，并接入预先设置的电压(VCC)，发射极与第二激光三极管V2的发射极相连，并与第一电阻R1的一端相连；

第二激光三极管V2的基极接入第二调制电流(MOD+)；

第一电阻R1的另一端接地；

第一运放放大器A1的负相端与第二电阻R2的一端相连，正相端与第二电阻R2的一端相连，输出端与第二电阻R2的另一端相连；

第二运放放大器A2的负相端与第三电阻R3的一端相连，正相端与第四电阻R4的一端相连，输出端与第三电阻R3的另一端相连；

第四电阻R4的一端还与电感L1的一端相连，第四电阻R4的另一端接地，电感L1的另一端接入预定电压；

第三比较器A3的负相端与第一运放放大器A1的输出端相连，正相端与第二运放放大器A2的输出端相连，输出端与第三激光三极管V3的基极相连；

第三激光三极管V3的发射极与第五电阻R5的一端相连，集电极与第二激光三极管V2的集电极相连；

第五电阻R5的另一端接地。

第二激光三极管V2为激光器LD，第一运放放大器A1为背光二极管PD，PD用于根据感应光度的强弱，将感应光信号转换成相应的电信号，进行放大、运算，得到所需的调制信号；

MOD+、MOD-为调制电流信号输入，Ibias为流经LD的偏置电流，该偏置电流的大小决定了光功率的大小；

Vset(第三比较器A3的正相端)为目标光功率的设定电压参考点；

PD检测到LD的输出光后，LD的输出光信号通过运放放大器A1进行放大，输出至至比较器A3的反相输入端，同时，经过调整的Vset参考电压被送至比较器A3的同相端，经过比较后输出至第三比较器V3；

第三比较器A3和第三激光三极管V3组成直流恒流源，调节LD的偏置电流Ibias，当LD输出光功率下降时，PD输出减小，比较器A3的反相端输入电压下降，比较器A3输出电压上升，第三激光三极管V3的基极电流上升，于是集电极电流Ibias上升，LD输出光功率增大，使得PD输出也相应增大，抵消LD输出光功率的下降。反之，则电流Ibias减小，LD输出光功率下降。

图2为本发明实施例激光三极管的偏置电流与输出光功率以及加载电压的示意图。参见图2，横坐标为偏置电流，纵坐标分别为输出光功率以及加载电压。

Ith为LD激光器的电流阈值点，当正向加载在LD激光器上的偏置电流未超过Ith时，LD激光器的发光功率可以忽略不计，而超过Ith时，LD激光器的发光功率增大明显，Ibias与LD输出光功率的大小接近于线性关系。随着偏置电流Ibias的加大，加载到LD激光器两端的电压也会逐步增加。

如果温度升高，会使LD的输出光功率降低，例如，在高温下，同样的电流Ibias，LD的输出光功率会随之降低，即在图2中，当T1<T2时，在同样的偏置电流下，T1对应的输出光功率大于T2对应的输出光功率。

图3为本发明实施例激光三极管的调制特性示意图。参见图3，偏置电流Ibias决定了LD激光器的工作点，调制电流信号通过Imod(MOD+、MOD-)加载到激光器的基极，Imod是一个交流差分信号，而Ibias是一个直流信号，如图3所示，通过将Ibias和Imod加载到激光器两端(基极及射电极)时，就得到一个光强度被调制了的信号。

图4为本发明实施例生成光模块温度查找表的方法流程示意图。参见图4，该流程包括：

步骤401，预先划分环境温度为多个温度点，在每一温度点，调整测试光模块输出的光功率至预先设置的目标光功率，获取测试光模块在温度点的测试温度值以及测试偏置电流设定寄存器值；

本步骤中，对于常用的光模块，其所处的环境温度一般在-40℃～85℃的温度范围内，因而，取环境温度为-40℃～85℃，并将该环境温度划分为-40℃、-20℃、5℃、25℃、50℃、70℃以及85℃共七个温度点。当然，实际应用中，也可以采用其它方式划分环境温度，例如，以5℃为温度步长划分环境温度。

光模块在工作过程中，由于发光、发热等因素影响，使得其工作时的温度与周围环境温度不相同，而光模块发射光信号的特性(光功率以及消光比)与工作时温度相关，因而，需要获取在不同的环境温度时，光模块对应的工作温度，即测试温度。

由于光模块中内置有包含温度传感器的MCU，由包含温度传感器的MCU感测温度。

表1为本发明实施例获取的1#测试光模块在各温度点的测试温度值以及测试偏置电流设定寄存器值参数表。

表1

表1中，

SN，为测试光模块的序列号；

在测试温度所在栏位，第二行值为温度点值(-40℃～85℃)，第三行为测试光模块在相应温度点下，MCU中的温度传感器实测电路板得到的电路板温度，即测试温度值，单位是℃；

在测试偏置电流设定寄存器值所在栏位，第二行值为温度点值(-40℃～85℃)，第三行为测试光模块在相应温度点下，调整测试光模块输出的光功率至预先设置的目标光功率时，得到的测试偏置电流设定寄存器值，无单位，采用十进制(Dec)进行计数。即测试光模块在指定环境温度情况下(-40℃～85℃)的各温度点，将LD输出的光功率调整至目标光功率值-2.5分贝毫瓦(dBm)时的APCset寄存器值，为十进制数据。实际应用中，该APCset寄存器的范围最小值为0，最大值为255。

间隔测试样品1#模块，在环境温度-40℃～85℃范围内，取多个测试温度点，并将光功率调整到-2.5dBm、消光比调整到6.5DB目标值，记录各个温度点时的偏置电流设定值APCset及调制电流设定值MODset。

步骤402，调整测试光模块输出的消光比至预先设置的目标消光比，

获取测试光模块在各温度点的测试调制电流设定寄存器值；

本步骤中，可以在步骤401获取测试偏置电流设定寄存器值的基础上，调节该测试光模块的消光比至预先设置的目标消光比，从而获取测试光模块在该温度点的测试调制电流设定寄存器值；也可以是在步骤401获取各温度点的测试偏置电流设定寄存器值后，重新将该测试光模块置于各温度点，并调节该测试光模块的消光比至预先设置的目标消光比，从而分别获取测试光模块在各温度点的测试调制电流设定寄存器值。

表2为本发明实施例获取的1#测试光模块在各温度点的测试温度值以及测试调制偏置电流设定寄存器值参数表。

表2

表2中，

SN，为测试光模块的序列号；

在测试调制电流设定寄存器值所在栏位，第二行值为温度点值(-40℃～85℃)，第三行为测试光模块在相应温度点下，调整测试光模块输出的消光比至预先设置的目标消光比时，得到的测试调制电流设定寄存器值，无单位，采用十进制(Dec)进行计数。即测试光模块在指定环境温度情况下(-40℃～85℃)的各温度点，将LD输出的消光比调整至目标消光比值6.5分贝(DB)时的MODset寄存器值，为十进制数据。实际应用中，该MODset寄存器的范围最小值为0，最大值为255。

实际应用中，可以采用固定偏置电流设定参考点，通过APC环路来稳定光功率，而消光比的稳定，则通过三点校正法来完成光模块温度查找表的写入，例如，将光模块分别置于工作低温点T1、常温点T2、工作高温点T3，调整调制电流，使消光比为预先设置的目标值，设三个温度点对应的调制电流设定值分别为A1、A2、A3，应用程序自动对{T1、T2、T3}、{A1、A2、A3}使用二折线法，拟合成调制电流设定值-温度曲线，进而得到温度查找表对应温度点的调制电流设定值，并将查找表数据写入光模块。

步骤403，对获取的测试偏置电流设定寄存器值进行归一化处理，获取各温度点形成的温度区间偏置电流归一化斜率参数；对获取的测试调制电流设定寄存器值进行归一化处理，获取各温度点形成的温度区间调制电流归一化斜率参数；

本步骤中，对获取的测试偏置电流设定寄存器值进行归一化处理，获取各温度点形成的温度区间偏置电流归一化斜率参数包括：

A11，根据划分的各温度点，形成相应的温度区间；

本步骤中，如前所述，如果环境温度被划分为-40℃、-20℃、5℃、25℃、50℃、70℃以及85℃共七个温度点，则形成的温度区间分别为[-40，-20]、[-20，-5]、[5，25]、[25，50]、[50，70]。

A12，获取预先设置温度点的测试偏置电流设定寄存器值；

本步骤中，较佳地，预先设置温度点为25℃。

A13，获取每一温度点区间对应的测试温度值的差值；

本步骤中，每一温度点区间，对应两个测试温度值，例如，对于温度区间[-40，-20]，对应的测试温度值区间为[-22.6，-2.72]，则测试温度值的差值为19.88。

A14，获取每一温度点区间对应的测试偏置电流设定寄存器值的差值；

本步骤中，与步骤A13相类似，每一温度点区间，对应两个测试偏置电流设定寄存器值，例如，对于温度区间[-40，-20]，包括两个温度点，即上限温度点以及下限温度点，对应的测试偏置电流设定寄存器值区间为[48，49]，包含上限温度点对应的测试偏置电流设定寄存器值以及下限温度点对应的测试偏置电流设定寄存器值，则测试偏置电流设定寄存器值的差值为1。

A15，针对每一温度点区间，将该温度点区间的测试偏置电流设定寄存器值的差值除以测试温度值的差值，再与预先设置温度点的测试偏置电流设定寄存器值的倒数相乘，得到该温度区间偏置电流归一化斜率参数。

本步骤中，计算偏置电流归一化斜率参数的公式为：

k_{b} = \frac{I_{bu} - I_{bd}}{T_{u} - T_{d}} \times \frac{1}{I_{bc}}

式中，

k_b为偏置电流归一化斜率参数；

T_u为温度点区间上限温度对应的测试温度值；

T_d为温度点区间下限温度对应的测试温度值；

I_bc为预先设置温度点的测试偏置电流设定寄存器值。

表3为根据表1计算得到的各温度点区间对应的偏置电流归一化斜率参数表。

表3

表3中，

对于光模块的环境温度超过85℃以上的情形，可以默认其偏置电流归一化斜率参数与70～85℃温度点区间的偏置电流归一化斜率参数相同。

表3中，以1#模块测试的表1及表2的测试数据为基础进行处理：根据归一化斜率参数计算公式，分别计算偏置电流APCset、调制电流MODset设定值的各温度区间的归一化斜率。本发明实施例中，是以室温25℃时的set值进行归一化处理。

对获取的测试调制电流设定寄存器值进行归一化处理，获取各温度点形成的温度区间调制电流归一化斜率参数包括：

A21，根据划分的各温度点，形成相应的温度区间；

A22，获取预先设置温度点的测试调制电流设定寄存器值；

本步骤中，较佳地，预先设置温度点为25℃。

A23，获取每一温度点区间对应的测试温度值的差值；

A24，获取每一温度点区间对应的测试调制电流设定寄存器值的差值；

A25，针对每一温度点区间，将该温度点区间的测试调制电流设定寄存器值的差值除以测试温度值的差值，再与预先设置温度点的测试调制电流设定寄存器值的倒数相乘，得到该温度区间调制电流归一化斜率参数。

本步骤中，计算调制电流归一化斜率参数的公式为：

k_{m} = \frac{I_{mu} - I_{md}}{T_{u} - T_{d}} \times \frac{1}{I_{mc}}

式中，

k_m为调制电流归一化斜率参数；

T_u为温度点区间上限温度对应的测试温度值；

T_d为温度点区间下限温度对应的测试温度值；

I_mc为预先设置温度点的测试调制电流设定寄存器值。

表4为根据表2计算得到的各温度点区间对应的调制电流归一化斜率参数表。

表4

表4中，

对于光模块的环境温度超过85℃以上的情形，可以默认其调制电流归一化斜率参数与70～85℃温度点区间的调制电流归一化斜率参数相同。

较佳地，在得到各温度点区间的偏置电流归一化斜率参数以及调制电流归一化斜率参数后，构建温度点与偏置电流归一化斜率参数的映射关系，以及，构建温度点与调制电流归一化斜率参数的映射关系。从而根据温度点，可以获取该温度点对应的偏置电流归一化斜率参数以及调制电流归一化斜率参数。

图5为本发明实施例归一化斜率参数示意图。参见图5，图中横坐标为环境温度，纵坐标为偏置电流归一化斜率参数或调制电流归一化斜率参数，包含七个温度点区间，每一温度点区间对应一个归一化斜率，分别为K1～K7，其中，纵坐标为0表示归一化斜率参数对应的寄存器值为0，纵坐标为,1表示归一化斜率参数对应的寄存器值为255。归一化斜率趋势线一共分为7段，而每一段归一化斜率趋势线的斜率是已知的，因而，后续应用中，只要获取T温度点的补偿值(工作温度)，就可以由归一化斜率趋势线的分段斜率，推导出整个趋势线的补偿值。

步骤404，调整待应用光模块输出的光功率至预先设置的目标光功率，以及，输出的消光比至预先设置的目标消光比，分别获取该待应用光模块在常温环境下的工作温度值、偏置电流设定寄存器值以及调制电流设定寄存器值；

本步骤中，如果需要将光模块置于工作状态，需要在该光模块中写入温度区间偏置电流归一化斜率参数以及调制电流归一化斜率参数，以使该光模块能够根据工作温度的变化，实时调整偏置电流设定寄存器值以及调制电流设定寄存器值，从而维持光模块光功率以及消光比的恒定。

按照与步骤401与步骤402相类似的方法，可以获取该待应用光模块在设定工作温度下的偏置电流设定寄存器值以及调制电流设定寄存器值。

本发明实施例中，加工模块样品2#，在环境温度30℃环境下，通过外部程序与MCU单片机通信，调整APCset、MODset寄存器设定值，得到目标光功率-2.5dBm及消光比6.5DB，该调整的APCset、MODset寄存器设定值分别为在该设定工作温度下的偏置电流设定寄存器值以及调制电流设定寄存器值。

较佳地，常温环境为25℃或30℃。

步骤405，根据获取的工作温度值、偏置电流设定寄存器值，结合预先获取的偏置电流归一化斜率参数，生成该待应用光模块的偏置电流温度查找表；根据获取的工作温度值以及调制电流设定寄存器值，结合预先获取的调制电流归一化斜率参数，生成该待应用光模块的调制电流温度查找表，并将生成的偏置电流温度查找表及调制电流温度查找表写入该待应用光模块。

本步骤中，根据获取的工作温度值、偏置电流设定寄存器值，结合预先获取的偏置电流归一化斜率参数，生成该待应用光模块的偏置电流温度查找表包括：

B11，查询预先获取的各温度点形成的温度区间偏置电流归一化斜率参数，获取该工作温度值对应的偏置电流归一化斜率值；

本步骤中，从预先获取的偏置电流归一化斜率参数中，查找工作温度值对应的温度点区间，获取该区间的偏置电流归一化斜率值。

B12，根据该斜率值以及偏置电流设定寄存器值，计算该温度点区间内其它温度点的偏置电流设定寄存器值；

本步骤中，计算该温度点区间内其它温度点的偏置电流设定寄存器值的公式为：

I_bt＝I_bw-k_b×(T_w-T_t)×I_bc

式中，

I_bw为工作温度对应的偏置电流设定寄存器值；

T_w为工作温度值；

I_bc为预先设置温度点的测试偏置电流设定寄存器值。

本发明实施例中，根据上述得到的30度环境温度下的APCset、MODset设定值，由归一化斜率进行反推算，得到偏置电流APCset温度查找表数据、调制电流MODset温度查找表数据。例如，如上所述，在30度环境温度下时，MCU监测到的温度为T1，光功率及消光比调整到目标值后，此时的APCset设定值为APCset1，MODset设定值为MODset1，则借鉴表3、表4和图5，假如T1在K3的分段内，则K3分段内其他温度点T2的APCset、MODset补偿值可通过如上公式获取，得到补偿值后，在获取温度补偿表分段补偿归一化斜率的基础上，可由归一化斜率进行推算，从而得到整个温度区间APCset补偿表或MODset补偿表的值，由PC程序通过与MCU单片机的通讯，将补偿表各个温度点的设定值写入MCU软件，完成模块调试。

这样，根据斜率值以及偏置电流设定寄存器值，可以计算得到该温度点区间内各工作温度对应的偏置电流设定寄存器值，从而避免对每一温度点进行测试。

B13，根据该温度点区间上下限温度点对应的偏置电流设定寄存器值以及预先获取的相邻温度点区间的偏置电流归一化斜率参数，计算相邻温度点区间内各温度点的偏置电流设定寄存器值，直至计算得到该待应用光模块的各温度区间的偏置电流设定寄存器值，生成偏置电流温度查找表。

本步骤中，计算相邻温度点区间内各温度点的偏置电流设定寄存器值的公式为：

I_bt'＝I_bwu-k_b'×(T_w'-T_t')×I_bc

式中，

I_bwu为工作温度对应的温度点区间与相邻温度点区间的交点温度对应的偏置电流设定寄存器值，即工作温度对应的温度点区间的上限温度点或下限温度点对应的偏置电流设定寄存器值；

k_b'为相邻温度点区间的偏置电流归一化斜率参数；

T_w'为交点温度值；

I_bc为预先设置温度点的测试偏置电流设定寄存器值。

实际应用中，根据获取的工作温度值、偏置电流设定寄存器值，结合预先获取的偏置电流归一化斜率参数，生成该待应用光模块的偏置电流温度查找表可以包括：

B15，查询预先获取的各温度点形成的温度区间偏置电流归一化斜率参数，获取该工作温度值对应的偏置电流归一化斜率值；

B16，构建温度与偏置电流设定寄存器值的坐标系，以温度为横坐标，偏置电流设定寄存器值为纵坐标，以工作温度值对应的偏置电流设定寄存器值为基点，以该工作温度值对应的偏置电流归一化斜率值为斜率，构建该工作温度值对应的温度点区间直线；

B17，获取构建的直线的上下限温度点对应的偏置电流设定寄存器值，以相邻温度点区间对应的偏置电流归一化斜率值为斜率，构建相邻温度点区间直线，生成以坐标系表示的偏置电流温度查找表。

根据获取的工作温度值以及调制电流设定寄存器值，结合预先获取的调制电流归一化斜率参数，生成该待应用光模块的温度区间调制电流温度查找表包括：

B21，查询预先获取的各温度点形成的温度区间调制电流归一化斜率参数，获取该工作温度值对应的调制电流归一化斜率值；

本步骤中，从调制电流归一化斜率参数中，查找工作温度值对应的温度点区间，获取该区间的斜率值。

B22，根据该斜率值以及调制电流设定寄存器值，计算该温度点区间内其它温度点的调制电流设定寄存器值；

本步骤中，计算该温度点区间内其它温度点的调制电流设定寄存器值的公式为：

I_mt＝I_mw-k_m×(T_w-T_t)×I_mc

式中，

I_mw为工作温度对应的调制电流设定寄存器值；

T_w为工作温度值；

I_mc为预先设置温度点的测试调制电流设定寄存器值。

这样，根据斜率值以及调制电流设定寄存器值，可以计算得到该温度点区间内各工作温度对应的调制电流设定寄存器值，从而得到该温度点区间的调制电流归一化斜率参数。

B23，根据该温度点区间上下限温度点对应的调制电流设定寄存器值以及预先获取的相邻温度点区间的调制电流归一化斜率参数，计算相邻温度点区间内各温度点的调制电流设定寄存器值，直至计算得到该待应用光模块的各温度区间的调制电流设定寄存器值，生成调制电流温度查找表。

本步骤中，计算相邻温度点区间内各温度点的调制电流设定寄存器值的公式为：

I_mt'＝I_mwu-k_m'×(T_w'-T_t')×I_mc

式中，

I_mwu为工作温度对应的温度点区间与相邻温度点区间的交点温度对应的调制电流设定寄存器值，即工作温度对应的温度点区间的上限温度点或下限温度点对应的调制电流设定寄存器值；

k_m'为相邻温度点区间的调制电流归一化斜率参数；

T_w'为交点温度值；

I_mc为预先设置温度点的测试调制电流设定寄存器值。

当然，实际应用中，根据获取的工作温度值以及调制电流设定寄存器值，结合预先获取的调制电流归一化斜率参数，生成该待应用光模块的温度区间调制电流温度查找表也可以包括：

B25，查询预先获取的各温度点形成的温度区间调制电流归一化斜率参数，获取该工作温度值对应的调制电流归一化斜率值；

B26，以温度为横坐标，调制电流设定寄存器值为纵坐标构建温度与调制电流设定寄存器值的坐标系，以工作温度值对应的调制电流设定寄存器值为基点，以该工作温度值对应的调制电流归一化斜率值为斜率，构建该工作温度值对应的温度点区间直线；

B27，获取构建的直线的上下限温度点对应的调制电流设定寄存器值，以相邻温度点区间对应的调制电流归一化斜率值为斜率，构建相邻温度点区间直线，生成以坐标系表示的调制电流温度查找表。

这样，在得到相邻温度点区间的调制电流归一化斜率参数，再通过相邻温度点区间的调制电流归一化斜率参数的公式，可以得到与该相邻温度点区间相邻的下一温度点区间的调制电流归一化斜率参数，从而得到所有温度点区间的调制电流归一化斜率参数。即在已知补偿表归一化斜率和常温一个温度点设定值的情况下，可以从公式中推算出其他温度点补偿值。

表5为本发明实施例将生成的光模块温度查找表写入光模块后，依据写入的光模块温度查找表控制光模块，得到的光模块输出的光功率以及消光比的参数示意表。

表5

温度点/℃	-40	-20	-5	0	25	50	70	85
									光功率/dBm	-2.4	-2.46	-2.45	-2.49	-2.51	-2.5	-2.45	-2.42
消光比/DB	6.44	6.52	6.56	6.61	6.69	6.63	6.58	6.61

表5中，

光模块在设定的环境温度下，例如，在-40℃～85℃内的多个温度点下，通过MCU获取环境温度下对应的工作温度，查找光模块温度查找表，获取该工作温度对应的偏置电流以及调制电流，从而对光模块的光功率以及消光比进行控制，使之稳定。

由表5可见，光功率以及消光比的测试值均接近设定目标：光功率-2.5dBm，消光比6.5DB，表明本发明实施例生成光模块温度查找表的方法是可行的。

由上述可见，本发明实施例的生成光模块温度查找表的方法，基于光模块激光二极管的P-I曲线及温度特性，预先获取预定光功率以及消光比下的各偏置电流设定寄存器值以及调制电流设定寄存器值，结合数学归一化方法进行处理，得到电流归一化斜率参数，后续应用中，根据光模块在常温下的偏置电流设定寄存器值以及调制电流设定寄存器值，利用预先得到的电流归一化斜率参数，计算各温度点下的电流值，从而生成温度查找表并写入光模块，以有效控制光模块的偏置电流设定及调制电流设定，使偏置电流及调制电流在光模块工作温度范围内，光功率及消光比满足使用要求。这样，在温度查找表的生成过程中，针对每一光模块，仅需进行常温测试即可，节省了现有采用常规方法时的低温和高温测试资源，提高了生成光模块温度查找表的效率，降低了生成光模块温度查找表所需的时间，同时降低了光模块生产成本；进一步地，避免了光模块低温、高温测试，有效节省了加工时间，减小了生产资源占用；而且，通过新的加工流程，简化了光模块生产工序。

图6为本发明实施例生成光模块温度查找表的装置结构示意图。参见图6，该装置包括：测试偏置电流获取模块、测试调制电流获取模块、归一化处理模块、应用光模块电流获取模块以及温度查找表生成模块，其中，

其中，测试偏置电流获取模块包括：温度区间划分单元、测试温度差值计算单元、测试偏置电流差值计算单元、偏置电流归一化斜率计算单元、测试调制电流差值计算单元以及调制电流归一化斜率计算单元(图中未示出)，其中，

温度查找表生成模块包括：偏置电流归一化斜率获取单元、偏置电流设定寄存器值获取单元、偏置电流温度查找表生成单元、调制电流归一化斜率获取单元、调制电流设定寄存器值获取单元以及调制电流温度查找表生成单元(图中未示出)，其中，

本发明实施例中，可以将偏置电流温度查找表和调制电流温度查找表进行合并，得到温度查找表。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，该程序可以存储于一计算机可读取存储介质中，如：ROM/RAM、磁碟、光盘等。

以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims

1.一种生成光模块温度查找表的方法，该方法包括：

对获取的测试偏置电流设定寄存器值进行归一化处理，获取各温度点形成的温度区间偏置电流归一化斜率参数，包括：根据划分的各温度点，形成相应的温度区间；获取预先设置温度点的测试偏置电流设定寄存器值；获取每一温度区间对应的测试温度值的差值；获取每一温度区间对应的测试偏置电流设定寄存器值的差值；针对每一温度区间，将该温度区间的测试偏置电流设定寄存器值的差值除以测试温度值的差值，再与预先设置温度点的测试偏置电流设定寄存器值的倒数相乘，得到该温度区间偏置电流归一化斜率参数；

对获取的测试调制电流设定寄存器值进行归一化处理，获取各温度点形成的温度区间调制电流归一化斜率参数；

2.如权利要求1所述的方法，其中，获取所述偏置电流归一化斜率参数的公式为：

k_{b} = \frac{I_{bu} - I_{bd}}{T_{u} - T_{d}} \times \frac{1}{I_{bc}}

式中，

k_b为偏置电流归一化斜率参数；

I_bu为温度区间上限温度对应的测试偏置电流设定寄存器值；

I_bd为温度区间下限温度对应的测试偏置电流设定寄存器值；

T_u为温度区间上限温度对应的测试温度值；

T_d为温度区间下限温度对应的测试温度值；

I_bc为预先设置温度点的测试偏置电流设定寄存器值。

3.如权利要求1所述的方法，其中，所述对获取的测试调制电流设定寄存器值进行归一化处理，获取各温度点形成的温度区间调制电流归一化斜率参数包括：

根据划分的各温度点，形成相应的温度区间；

获取预先设置温度点的测试调制电流设定寄存器值；

获取每一温度区间对应的测试温度值的差值；

获取每一温度区间对应的测试调制电流设定寄存器值的差值；

针对每一温度区间，将该温度区间的测试调制电流设定寄存器值的差值除以测试温度值的差值，再与预先设置温度点的测试调制电流设定寄存器值的倒数相乘，得到该温度区间调制电流归一化斜率参数。

4.如权利要求1所述的方法，其中，获取所述调制电流归一化斜率参数的公式为：

k_{m} = \frac{I_{mu} - I_{md}}{T_{u} - T_{d}} \times \frac{1}{I_{mc}}

式中，

k_m为调制电流归一化斜率参数；

I_mu为温度区间上限温度对应的测试调制电流设定寄存器值；

I_md为温度区间下限温度对应的测试调制电流设定寄存器值；

T_u为温度区间上限温度对应的测试温度值；

T_d为温度区间下限温度对应的测试温度值；

I_mc为预先设置温度点的测试调制电流设定寄存器值。

5.如权利要求1至4任一项所述的方法，其中，获取各温度点形成的温度区间偏置电流归一化斜率参数以及调制电流归一化斜率参数后，所述方法进一步包括：

6.如权利要求5所述的方法，其中，所述根据获取的工作温度值、偏置电流设定寄存器值，结合预先获取的偏置电流归一化斜率参数，生成该待应用光模块的偏置电流温度查找表包括：

根据该斜率值以及偏置电流设定寄存器值，计算该温度区间内其它温度点的偏置电流设定寄存器值；

根据该温度区间上下限温度点对应的偏置电流设定寄存器值以及预先获取的相邻温度区间的偏置电流归一化斜率参数，计算相邻温度区间内各温度点的偏置电流设定寄存器值，直至计算得到该待应用光模块的各温度区间的偏置电流设定寄存器值，生成偏置电流温度查找表。

7.如权利要求6所述的方法，其中，所述计算该温度区间内其它温度点的偏置电流设定寄存器值的公式为：

I_bt＝I_bw-k_b×(T_w-T_t)×I_bc

式中，

I_bt为工作温度对应的温度区间内在其它工作温度T_t时的偏置电流设定寄存器值；

I_bw为工作温度对应的偏置电流设定寄存器值；

k_b为工作温度对应的温度区间的偏置电流归一化斜率参数；

T_w为工作温度值；

I_bc为预先设置温度点的测试偏置电流设定寄存器值。

8.如权利要求7所述的方法，其中，所述计算相邻温度区间内各温度点的偏置电流设定寄存器值的公式为：

I_bt'＝I_bwu-k_b'×(T_w'-T_t')×I_bc

式中，

I_bt'为相邻温度区间内在工作温度T_t'时的偏置电流设定寄存器值；

I_bwu为工作温度对应的温度区间与相邻温度区间的交点温度对应的偏置电流设定寄存器值；

k_b'为相邻温度区间的偏置电流归一化斜率参数；

T_w'为交点温度值；

I_bc为预先设置温度点的测试偏置电流设定寄存器值。

9.如权利要求5所述的方法，其中，所述根据获取的工作温度值、偏置电流设定寄存器值，结合预先获取的偏置电流归一化斜率参数，生成该待应用光模块的偏置电流温度查找表包括：

构建温度与偏置电流设定寄存器值的坐标系，以温度为横坐标，偏置电流设定寄存器值为纵坐标，以工作温度值对应的偏置电流设定寄存器值为基点，以该工作温度值对应的偏置电流归一化斜率值为斜率，构建该工作温度值对应的温度区间直线；

获取构建的直线的上下限温度点对应的偏置电流设定寄存器值，以相邻温度区间对应的偏置电流归一化斜率值为斜率，构建相邻温度点区间直线，生成以坐标系表示的偏置电流温度查找表。

10.如权利要求5所述的方法，其中，所述根据获取的工作温度值以及调制电流设定寄存器值，结合预先获取的调制电流归一化斜率参数，生成该待应用光模块的温度区间调制电流温度查找表包括：

根据该斜率值以及调制电流设定寄存器值，计算该温度区间内其它温度点的调制电流设定寄存器值；

根据该温度区间上下限温度点对应的调制电流设定寄存器值以及预先获取的相邻温度区间的调制电流归一化斜率参数，计算相邻温度区间内各温度点的调制电流设定寄存器值，直至计算得到该待应用光模块的各温度区间的调制电流设定寄存器值，生成调制电流温度查找表。

11.如权利要求10所述的方法，其中，所述计算该温度区间内其它温度点的调制电流设定寄存器值的公式为：

I_mt＝I_mw-k_m×(T_w-T_t)×I_mc

式中，

I_mt为工作温度对应的温度区间内在其它工作温度T_t时的调制电流设定寄存器值；

I_mw为工作温度对应的调制电流设定寄存器值；

k_m为工作温度对应的温度区间的调制电流归一化斜率参数；

T_w为工作温度值；

I_mc为预先设置温度点的测试调制电流设定寄存器值。

12.如权利要求10所述的方法，其中，所述计算相邻温度区间内各温度点的调制电流设定寄存器值的公式为：

I_mt'＝I_mwu-k_m'×(T_w'-T_t')×I_mc

式中，

I_mt'为相邻温度区间内在工作温度T_t'时的调制电流设定寄存器值；

I_mwu为工作温度对应的温度区间与相邻温度区间的交点温度对应的调制电流设定寄存器值；

k_m'为相邻温度区间的调制电流归一化斜率参数；

T_w'为交点温度值；

I_mc为预先设置温度点的测试调制电流设定寄存器值。

13.一种生成光模块温度查找表的装置，其特征在于，该装置包括：测试偏置电流获取模块、测试调制电流获取模块、归一化处理模块、应用光模块电流获取模块以及温度查找表生成模块，其中，

测试偏置电流获取模块，用于预先划分环境温度为多个温度点，在每一温度点，调整测试光模块输出的光功率至预先设置的目标光功率，获取测试光模块在温度点的测试温度值以及测试偏置电流设定寄存器值；测试偏置电流获取模块包括：温度区间划分单元、测试温度差值计算单元、测试偏置电流差值计算单元、偏置电流归一化斜率计算单元、测试调制电流差值计算单元以及调制电流归一化斜率计算单元，其中，

测试温度差值计算单元，用于获取每一温度区间对应的测试温度值的差值；

测试偏置电流差值计算单元，用于根据获取的设置温度点的测试偏置电流设定寄存器值，获取每一温度区间对应的测试偏置电流设定寄存器值的差值；

偏置电流归一化斜率计算单元，用于针对每一温度区间，将该温度区间的测试偏置电流设定寄存器值的差值除以测试温度值的差值，再与预先设置温度点的测试偏置电流设定寄存器值的倒数相乘，得到该温度区间偏置电流归一化斜率参数；

测试调制电流差值计算单元，用于根据获取的预先设置温度点的测试调制电流设定寄存器值，获取每一温度区间对应的测试调制电流设定寄存器值的差值；

调制电流归一化斜率计算单元，用于针对每一温度区间，将该温度区间的测试调制电流设定寄存器值的差值除以测试温度值的差值，再与预先设置温度点的测试调制电流设定寄存器值的倒数相乘，得到该温度区间调制电流归一化斜率参数；

14.如权利要求13所述的装置，其特征在于，所述温度查找表生成模块包括：偏置电流归一化斜率获取单元、偏置电流设定寄存器值获取单元、偏置电流温度查找表生成单元、调制电流归一化斜率获取单元、调制电流设定寄存器值获取单元以及调制电流温度查找表生成单元，其中，

偏置电流设定寄存器值获取单元，用于根据获取的该斜率值以及该工作温度对应的偏置电流设定寄存器值，计算该温度区间内其它温度点的偏置电流设定寄存器值；

偏置电流温度查找表生成单元，用于根据该温度区间上下限温度点对应的偏置电流设定寄存器值以及预先获取的相邻温度区间的偏置电流归一化斜率参数，计算相邻温度区间内各温度点的偏置电流设定寄存器值，直至计算得到该待应用光模块的各温度区间的偏置电流设定寄存器值，生成偏置电流温度查找表；

调制电流设定寄存器值获取单元，用于根据获取的该斜率值以及该工作温度对应的调制电流设定寄存器值，计算该温度区间内其它温度点的调制电流设定寄存器值；

调制电流温度查找表生成单元，用于根据该温度区间上下限温度点对应的调制电流设定寄存器值以及预先获取的相邻温度区间的调制电流归一化斜率参数，计算相邻温度区间内各温度点的调制电流设定寄存器值，直至计算得到该待应用光模块的各温度区间的调制电流设定寄存器值，生成调制电流温度查找表。