CN109000889B - 一种光模块劣化的检测方法及装置 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种光模块劣化的检测方法及装置，涉及光通信技术领域，为解决现有技术中光模块无法诊断自身性能的问题而发明。本申请的方法主要包括：获取光模块的实际工作温度以及实际驱动电流；根据实际工作温度、实际驱动电流及预设值进行计算，获得驱动电流的误差值；将所述误差值写入存储器的预设位置，所述预设位置可以由上位机读取。本申请主要应用于利用光模块进行通信的过程中。

Description

一种光模块劣化的检测方法及装置

技术领域

本申请涉及光通信技术领域，尤其涉及一种光模块劣化的检测方法及装置。

背景技术

参见图1，为现有技术中光模块与上位机的通信示意图。如图1所示，在光通信系统中，上位机与光模块进行通信，用于实现光电信号之间的转换。上位机中的主机作为通信主机，可以访问多个光模块，光模块作为通信从机，光模块只能接受主机的读写操作。当光模块MCU检测到自身状态异常或者触发告警门限时，会更新上述存储地址的值。当主机MCU访问从机光模块该地址时，发现读取光模块更新值后，会将光模块的异常情况上报到光通信系统，以通知运营商该光模块出现异常状态。

光模块由光电子器件、功能电路和光接口等组成，光电子器件包括发射和接收两部分。光模块中的光芯片一般由3、5价元素的化合物制作(如Al/As/Ga/In/P)，难以在光芯片内部集成保护电路。同时，光芯片作为发射激光的有源器件，工作时具有高温和大电流特性。由光芯片的高温和大电流特性导致光芯片失效，是光模块自身硬件失效的主要因素。

针对光芯片失效，目前光模块能在出现异常时上报告警，如Tx_fualt、Rx-los状态，以表示光模块或者其链路出现异常。除了光模块的自身故障，光模块的运行环境中出现的无调制信号、误操作、外部光路脏污、外部光纤断裂、浪涌、静电或点击，都能导致光模块上报告警。也就是说现有的告警状态缺少对光模块自身性能的诊断，在使用时无法通过此类告警定位故障原因。

发明内容

本申请提供了一种光模块劣化的检测方法及装置，以解决现有技术中光模块无法诊断自身性能的问题。

第一方面，本申请提供了一种光模块劣化的检测方法，该方法包括：获取光模块的实际工作温度以及实际驱动电流；根据实际工作温度、实际驱动电流及预设值进行计算，获得驱动电流的误差值；将所述误差值写入存储器的预设位置，所述预设位置可以由上位机读取。

第二方面，本申请提供了一种光模块劣化的检测方法，该方法包括：获取光模块的实际工作温度以及实际驱动电流；根据实际工作温度及实际驱动电流与预设值进行计算，获得驱动电流的误差值；将所述误差值与预设误差值进行比较，获得状态值；将所述状态值写入存储器的预设位置，所述预设位置可以由上位机读取。

第三方面，本申请提供了一种光模块劣化的检测方法，该方法包括：获取光模块的已工作时长以及实际驱动电流；根据已工作时长、实际驱动电流及预设值进行计算，获得驱动电流的误差值；将所述误差值写入存储器的预设位置，所述预设位置可以由上位机读取。

第四方面，本申请提供了一种光模块劣化的检测方法，该方法包括：获取光模块的已工作时长以及实际驱动电流；根据已工作时长及实际驱动电流与预设值进行计算，获得驱动电流的误差值；将所述误差值与预设误差值进行比较，获得状态值；将所述状态值写入存储器的预设位置，所述预设位置可以由上位机读取。

第五方面，本申请提供的一种光模块劣化的检测方法，该方法包括：获取光模块的实际工作温度、实际驱动电流及已工作时长；根据实际工作温度、实际驱动电流、已工作时长及预设值进行计算，获得驱动电流的误差值；将所述误差值写入存储器的预设位置，所述预设位置可以由上位机读取。

第六方面，本申请提供的一种光模块劣化的检测方法，该方法包括：获取光模块的实际工作温度、实际驱动电流及已工作时长；根据实际工作温度、实际驱动电流、已工作时长及预设值进行计算，获得驱动电流的误差值；将所述误差值与预设误差值进行比较，获得状态值；将所述状态值写入存储器的预设位置，所述预设位置可以由上位机读取。

第七方面，本申请还提供了一种光模块劣化的检测装置，包括：处理器；及，存储器，用于存储所述处理器的可执行指令；其中，所述处理器被配置为执行上述任一项光模块劣化的检测方法。

由上述技术方案可知，本申请提供的一种光模块劣化的检测方法及装置，通过获取光模块的实际工作温度以及实际驱动电流，然后根据实际工作温度、实际驱动电流及预设值进行计算，获取驱动电流的误差值，最后将误差值写入存储器的预设位置。与现有技术相比，光模块能够检测自身是否存在劣化趋势，预测光模块的使用寿命，使得在光模块出现性能劣化趋势时，能够提前判断，使得运营商能够提前处理，防止光模块最终失效时造成的业务异常。本申请采用的判断方法，能够明确劣化状态是光模块自身性能劣化导致的，方便用户在使用过程中快速定位故障原因，提供故障处理效率，对运维人员的技术水平要求较低。本申请在不增加外部设备的前提下，以光模块监控的自身性能判断其是否处于劣化状态，在不增加成本的前提下满足光模块劣化状态的判断需求。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。

附图说明

为了更清楚地说明本申请的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为现有技术中光模块与上位机的通信示意图；

图2为本申请实施例提供的第一种光模块劣化的检测方法流程图；

图3为本申请实施例提供的第二种光模块劣化的检测方法流程图；

图4为本申请实施例提供的第三种光模块劣化的检测方法流程图；

图5为本申请实施例提供的第四种光模块劣化的检测方法流程图；

图6为本申请实施例提供的第五种光模块劣化的检测方法流程图；

图7为本申请实施例提供的第六种光模块劣化的检测方法流程图；

图8为本申请实施例提供的第七种光模块劣化的检测方法流程图；

图9为本申请实施例提供的一种光模块劣化的检测装置结构示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

参见图1，为现有技术中光模块与上位机的通信示意图。如图1所示，在光通信系统中，上位机与光模块进行通信，用于实现光电信号之间的转换。上位机中的主机作为通信主机，可以访问多个光模块，光模块作为通信从机，光模块只能接受主机的读写操作。当光模块MCU检测到自身状态异常或者触发告警门限时，会更新上述存储地址的值。当主机MCU访问从机光模块该地址时，发现读取光模块更新值后，会将光模块的异常情况上报到光通信系统，以通知运营商该光模块出现异常状态。光模块MCU内部的数据以协议规定的数据结构形式存储，例如8472协议定义的光模块自身状态和异常告警的数据结构。在8472协议中，定义A2h byte 110/118/119中的部分位作为模块自身状态的标志位，如Rx-los、Rs sate和TXFault State。在8473协议中仍有一些未定义的保留字节，如A2h byte 111。未定义的保留字节，是指不能自定义，也不具有特定含义的字节。与8472协议中的光模块自身状态标志位类似，定义A2h byte 112/113为光模块异常的告警标志位。当光模块的电流、温度等信息超过正常门限时，上述字节的标准状态会更新。在告警标志位中也存在一些未定义的保留字节，如A2h byte 113的bit0、1。

如果光模块中的光芯片失效，通常以极限电流或者极限电压作为判断条件。然而引发判断条件的因素可能是光芯片自身出现劣化，也可能是光通信系统无调制信号或光通信系统对光模块误操作，还可能是使用过程中出现浪涌、静电、或雷击，因此不能定位故障原因和故障位置。无论何种原因导致光芯片失效，最终结果都是芯片的发光斜率下降，也就是说在同一温度下维持相同的光功率需要更大的电流。这种光芯片失效过程的变化特点，是本申请中判断光模块是否劣化的理论基础。参见图2，为本申请实施例提供的第一种光模块劣化的检测方法流程图。为了克服现有技术的缺陷，如图2所示，应用于光模块，该方法包括：

201、获取光模块的实际工作温度以及实际驱动电流。

在测量过程中，光模块保持运行状态。如果光模块不在运行状态，那么光模块上没有电流通过，温度也会不断降低，不能准确判断光模块是否出现劣化。光模块在运行过程中，能够不断地监控自身的实际工作温度和实际驱动电流，所以不需要增加额外的硬件就能够实现本申请所述的方法。为保证实际驱动电流与实时工作温度对应，获取指令可以设置为同时获取实际工作温度和实际驱动电流的指令。光模块能够测量自身的实际工作温度和实际驱动电流，所以本申请不需要增加额外的硬件设备。

202、根据实际工作温度、实际驱动电流及预设值进行计算，获得驱动电流的误差值。

光模块在运行过程中，以光电转换为基础实现信息的传输。预设值，是指驱动电流的基准值。实际工作温度，是光模块在运行过程中的内部温度，内部温度是光模块所做的额外功产生的热量与散热量的差值。在光模块设计和安装完成后，光模块的散热量只与外部环境有关，而与光模块自身的运行情况无关，所以光模块的实际温度与光模块自身的运行情况有关。如果光模块出现劣化，则光模块的光电转换效率降低，也就是光模块所做的额外功增加。也就是在同样的光电转换效率下，如果光模块开始劣化，光模块的实际工作温度会升高。实际工作温度的升高，通常由光模块中实际驱动电流增大引起的。在光模块中，实际工作温度和实际驱动电流是光模块进行自检的重要参数。预设值是获取驱动电流误差值的参照值，随着实际工作温度变化的。驱动电流的误差值，是根据实际工作温度、实际驱动电流和与实际工作温度对应的预设值计算得到的。误差值用于表征光模块的劣化程度，误差值越大、劣化程度越严重。

203、将误差值写入存储器的预设位置。

上位机能够控制光模块的运行，是光通信系统中的一部分。存储器位于光模块中，包括一个或多个存储阵列。预设位置是存储器中的一个位置。预设位置可以由上位机读取。光模块是通信从机，只能被动接受上位机的读取操作。上位机在获取误差值之后，根据误差值判断该光模块是否需要采取补救措施。

在光通信系统中，通过多个光模块的配合使用，实现信号的有效传输。为了保证传输信号的即时性，光通信系统通常长期处于运行状态，以便随时传输光信号或者进行光电信号转换，也就是说处于光通信系统中的光模块也随之处于运行状态。本申请中光模块劣化是指光模块开始呈现劣化趋势，在光通信系统运行的过程中光模块从开始劣化到完全失效，需要一定的持续时间，如果能够判断光模块何时出现劣化，则为运营商在光模块完全失效前采取补救措施提供可能。

由上述技术方案可知，本申请提供的一种光模块劣化的检测方法，通过获取光模块的实际工作温度以及实际驱动电流，然后根据实际工作温度、实际驱动电流及预设值进行计算，获取驱动电流的误差值，最后将误差值写入存储器的预设位置。与现有技术相比，光模块能够检测自身是否存在劣化趋势，预测光模块的使用寿命，使得在光模块出现性能劣化趋势时，能够提前判断，使得运营商能够提前处理，防止光模块最终失效时造成的业务异常。本申请采用的判断方法，能够明确劣化状态是光模块自身性能劣化导致的，方便用户在使用过程中快速定位故障原因，提供故障处理效率，对运维人员的技术水平要求较低。本申请在不增加外部设备的前提下，以光模块监控的自身性能判断其是否处于劣化状态，在不增加成本的前提下满足光模块劣化状态的判断需求。

参见图3，为本申请实施例提供的第二种光模块劣化的判断方法流程图。如图3所示，该方法包括：

301、获取光模块的实际工作温度以及实际驱动电流。

302、查找存储器中的预设温度电流对应关系表。

预设温度电流对应关系表用于记录目标光模块处于正常状态时不同温度与初始驱动电流之间的对应关系。预置温度电流对应关系表保存在光模块的存储器中。在光模块的制作过程中采用的材料与制作工艺的差别，导致每个型号的光模块的的预设温度电流对应关系表不完全相同。所以获取的预设温度电流对应关系表是光模块的存储区保存的该光模块的温度与电流的特定关系表。

303、在预设温度电流对应关系表中，获取实际工作温度对应的预设值。

304、根据实际工作温度、实际驱动电流及预设值进行计算，获得驱动电流的误差值。

305、获取光模块的模块型号。

初始驱动电流和实际驱动电流，都是电流值，其单位名称可能是安、毫安或微安。在比较实际偏置电流和初始偏置电流之前，统一两者的单位。如果实际偏置电流小于或等于初始偏置电流，则说明目标光模块的运行状态是正常状态。如果实际偏置电流大于初始偏置电流，则说明目标光模块的运行状态是劣化状态。如果目标光模块出现劣化状态，则需要标识目标光模块的运行状态。在标识过程中，需要确定标识位置和标识方式，确定标识信息的获取目标光模块的模块型号。目标光模块的模块型号包括SPF(Small Form-factorPluggable transceiver，小封装可插拔收发器)、GBIC(GigaBit Interface Converter，千兆以太网接口转换器)、XFP(10-Gigabit small Form-factor Pluggable transceiver，万兆以太网接口小封装可插拔收发器)。在本申请实施例中，对光模块的型号不做限定。

306、根据模块型号，查询光模块与上位机通信时采用的通信协议。

不同的模块型号，可能采用不同的协议进行通信，所以需要查询目标光模块与上位机通信是采用的通信协议。在本申请实施例中对目标光模块的类型和通信协议版本不做限定。

307、根据通信协议确定用于指示光模块自身状态的异常告警信息。

通信协议中包括标志位，以标识模块自身状态，在标识位中确定异常告警信息。

308、将性能状态标志位的预设位置的值设置为误差值。

其中，性能劣化状态标志位位于异常告警信息的保留字段。指示值用于指示目标光模块出现性能劣化状态。具体包括：获取通信协议的异常告警数据结构；查找性能状态标志位的所述预设位置；在预设位置，按照异常告警数据结构写入误差值。

保留字段，是指在异常告警信息中为定义的字段，也就是在设计时该字段的不使用的。利用目标光模块与上位机的通信协议定位性能劣化告警信息，对程序设计者而言不需要增加额外的通信协议，不易出错，不需要重新设置性能状态标志位节省目标光模块的存储空间，且性能劣化告警信息易于识别。在光模块中包括多个检测参数，在上位机中可以设置轮询机制依次访问光模块的各个检测参数对应的存储位置，以全面监测光模块的状态。

由上述技术方案可知，本申请提供的一种光模块劣化的检测方法，通过获取光模块的实际工作温度以及实际驱动电流，然后根据实际工作温度、实际驱动电流及预设值进行计算，获取驱动电流的误差值，最后将误差值写入存储器的预设位置。与现有技术相比，光模块能够检测自身是否存在劣化趋势，预测光模块的使用寿命，使得在光模块出现性能劣化趋势时，能够提前判断，使得运营商能够提前处理，防止光模块最终失效时造成的业务异常。本申请采用的判断方法，能够明确劣化状态是光模块自身性能劣化导致的，方便用户在使用过程中快速定位故障原因，提供故障处理效率，对运维人员的技术水平要求较低。本申请在不增加外部设备的前提下，以光模块监控的自身性能判断其是否处于劣化状态，在不增加成本的前提下满足光模块劣化状态的判断需求。

实施例中对如何计算进行描述：光模块的老化受工作温度、工作时长的影响，体现在驱动电流的变化，所以判断时考虑工作温度和/或工作时长，通过驱动电流的误差进行比较，从而判断光模块的劣化状态；工作温度以及工作时长可以单独考虑，也可以在工作温度的基础上兼顾考虑工作时长。

光模块是否存现劣化受工作温度和工作时长的影响，具体体现在驱动电流的变化，所以判断是考虑工作温度和/或工作时长，通过驱动电流的误差进行比较，从而判断光模块的劣化状态。工作温度和工作时长可以单独考虑，也可以在工作温度的基础上兼顾考虑工作时长。在图2所示方法的基础上，基于前述思想，本申请还包括多种光模块劣化的检测方法，如图4-8所示。参见图4，为本申请实施例提供的第三种光模块劣化的检测方法流程图。如图4所示，该方法包括：

401、获取光模块的实际工作温度以及实际驱动电流。

402、根据实际工作温度及实际驱动电流与预设值进行计算，获得驱动电流的误差值。

403、将误差值与预设误差值进行比较，获得状态值。

状态值用于表征光模块是否处于劣化状态。预设误差值是界定误差值状态的分界点。

404、将状态值写入存储器的预设位置。

预设位置可以由上位机读取。与图3所示的方法类似，图4所示的方法中，将误差值写入存储器的预设位置，包括：获取光模块的模块型号；根据模块型号，查询光模块与上位机通信时采用的通信协议；根据通信协议确定用于指示光模块自身状态的异常告警信息；将性能状态标志位的预设位置的值设置为误差值，其中，性能劣化状态标志位位于异常告警信息的保留字段。将预设位置的性能状态标志位设置为误差值，包括：获取通信协议的异常告警数据结构；查找性能状态标志位的预设位置；在预设位置，按照异常告警数据结构写入误差值。

由上述技术方案可知，本申请提供的一种光模块劣化的检测方法，通过获取光模块的实际工作温度以及实际驱动电流，然后根据实际工作温度、实际驱动电流及预设值进行计算，获取驱动电流的误差值，最后将误差值写入存储器的预设位置。与现有技术相比，光模块能够检测自身是否存在劣化趋势，预测光模块的使用寿命，使得在光模块出现性能劣化趋势时，能够提前判断，使得运营商能够提前处理，防止光模块最终失效时造成的业务异常。本申请采用的判断方法，能够明确劣化状态是光模块自身性能劣化导致的，方便用户在使用过程中快速定位故障原因，提供故障处理效率，对运维人员的技术水平要求较低。本申请在不增加外部设备的前提下，以光模块监控的自身性能判断其是否处于劣化状态，在不增加成本的前提下满足光模块劣化状态的判断需求。

参见图5，为本申请实施例提供的第四种光模块劣化的检测方法流程图。如图5所示，该方法包括：

501、获取光模块的已工作时长以及实际驱动电流。

已工作时长的时间越长，光模块的剩余使用寿命越短，出现劣化的可能性越高。所以光模块的工作时间也可以作为光模块劣化检测的参数。

502、根据已工作时长、实际驱动电流及预设值进行计算，获得驱动电流的误差值。

与图2所示的步骤202类似，获取驱动电流的误差值。该预设值随着已工作时长的变化而变化。

503、将误差值写入存储器的预设位置。

预设位置可以由上位机读取。与图3所示的方法类似，图4所示的方法中，将误差值写入存储器的预设位置，包括：获取光模块的模块型号；根据模块型号，查询光模块与上位机通信时采用的通信协议；根据通信协议确定用于指示光模块自身状态的异常告警信息；将性能状态标志位的预设位置的值设置为误差值，其中，性能劣化状态标志位位于异常告警信息的保留字段。将预设位置的性能状态标志位设置为误差值，包括：获取通信协议的异常告警数据结构；查找性能状态标志位的预设位置；在预设位置，按照异常告警数据结构写入误差值。

由上述技术方案可知，本申请提供的一种光模块劣化的检测方法，通过获取光模块的实际工作温度以及实际驱动电流，然后根据实际工作温度、实际驱动电流及预设值进行计算，获取驱动电流的误差值，最后将误差值写入存储器的预设位置。与现有技术相比，光模块能够检测自身是否存在劣化趋势，预测光模块的使用寿命，使得在光模块出现性能劣化趋势时，能够提前判断，使得运营商能够提前处理，防止光模块最终失效时造成的业务异常。本申请采用的判断方法，能够明确劣化状态是光模块自身性能劣化导致的，方便用户在使用过程中快速定位故障原因，提供故障处理效率，对运维人员的技术水平要求较低。本申请在不增加外部设备的前提下，以光模块监控的自身性能判断其是否处于劣化状态，在不增加成本的前提下满足光模块劣化状态的判断需求。

参见图6，为本申请实施例提供的第五种光模块劣化的检测方法流程图。如图4所示，该方法包括：

601、获取光模块的已工作时长以及实际驱动电流。

602、根据已工作时长及实际驱动电流与预设值进行计算，获得驱动电流的误差值。

603、将误差值与预设误差值进行比较，获得状态值。

状态值用于表征光模块是否处于劣化状态。预设误差值是界定误差值状态的分界点。

604、将状态值写入存储器的预设位置。

预设位置可以由上位机读取。与图3所示的方法类似，图4所示的方法中，将误差值写入存储器的预设位置，包括：获取光模块的模块型号；根据模块型号，查询光模块与上位机通信时采用的通信协议；根据通信协议确定用于指示光模块自身状态的异常告警信息；将性能状态标志位的预设位置的值设置为误差值，其中，性能劣化状态标志位位于异常告警信息的保留字段。将预设位置的性能状态标志位设置为误差值，包括：获取通信协议的异常告警数据结构；查找性能状态标志位的预设位置；在预设位置，按照异常告警数据结构写入误差值。

由上述技术方案可知，本申请提供的一种光模块劣化的检测方法，通过获取光模块的实际工作温度以及实际驱动电流，然后根据实际工作温度、实际驱动电流及预设值进行计算，获取驱动电流的误差值，最后将误差值写入存储器的预设位置。与现有技术相比，光模块能够检测自身是否存在劣化趋势，预测光模块的使用寿命，使得在光模块出现性能劣化趋势时，能够提前判断，使得运营商能够提前处理，防止光模块最终失效时造成的业务异常。本申请采用的判断方法，能够明确劣化状态是光模块自身性能劣化导致的，方便用户在使用过程中快速定位故障原因，提供故障处理效率，对运维人员的技术水平要求较低。本申请在不增加外部设备的前提下，以光模块监控的自身性能判断其是否处于劣化状态，在不增加成本的前提下满足光模块劣化状态的判断需求。

参见图7，为本申请实施例提供的第六种光模块劣化的检测方法流程图。如图4所示，该方法包括：

701、获取光模块的实际工作温度、实际驱动电流及已工作时长。

702、根据实际工作温度、实际驱动电流、已工作时长及预设值进行计算，获得驱动电流的误差值。

703、将误差值写入存储器的预设位置。

预设位置可以由上位机读取。与图3所示的方法类似，图4所示的方法中，将误差值写入存储器的预设位置，包括：获取光模块的模块型号；根据模块型号，查询光模块与上位机通信时采用的通信协议；根据通信协议确定用于指示光模块自身状态的异常告警信息；将性能状态标志位的预设位置的值设置为误差值，其中，性能劣化状态标志位位于异常告警信息的保留字段。将预设位置的性能状态标志位设置为误差值，包括：获取通信协议的异常告警数据结构；查找性能状态标志位的预设位置；在预设位置，按照异常告警数据结构写入误差值。

以实际工作温度、实际驱动电流和已工作时长共同计算驱动电流的误差值，提高数据的准确性，提高光模块运行的可靠性。

由上述技术方案可知，本申请提供的一种光模块劣化的检测方法，通过获取光模块的实际工作温度以及实际驱动电流，然后根据实际工作温度、实际驱动电流及预设值进行计算，获取驱动电流的误差值，最后将误差值写入存储器的预设位置。与现有技术相比，光模块能够检测自身是否存在劣化趋势，预测光模块的使用寿命，使得在光模块出现性能劣化趋势时，能够提前判断，使得运营商能够提前处理，防止光模块最终失效时造成的业务异常。本申请采用的判断方法，能够明确劣化状态是光模块自身性能劣化导致的，方便用户在使用过程中快速定位故障原因，提供故障处理效率，对运维人员的技术水平要求较低。本申请在不增加外部设备的前提下，以光模块监控的自身性能判断其是否处于劣化状态，在不增加成本的前提下满足光模块劣化状态的判断需求。

参见图8，为本申请实施例提供的第七种光模块劣化的检测方法流程图。如图4所示，该方法包括：

801、获取光模块的实际工作温度、实际驱动电流及已工作时长。

802、根据实际工作温度、实际驱动电流、已工作时长及预设值进行计算，获得驱动电流的误差值。

803、将误差值与预设误差值进行比较，获得状态值。

状态值用于表征光模块是否处于劣化状态。预设误差值是界定误差值状态的分界点。

804、将状态值写入存储器的预设位置。

预设位置可以由上位机读取。与图3所示的方法类似，图4所示的方法中，将误差值写入存储器的预设位置，包括：获取光模块的模块型号；根据模块型号，查询光模块与上位机通信时采用的通信协议；根据通信协议确定用于指示光模块自身状态的异常告警信息；将性能状态标志位的预设位置的值设置为误差值，其中，性能劣化状态标志位位于异常告警信息的保留字段。将预设位置的性能状态标志位设置为误差值，包括：获取通信协议的异常告警数据结构；查找性能状态标志位的预设位置；在预设位置，按照异常告警数据结构写入误差值。

由上述技术方案可知，本申请提供的一种光模块劣化的检测方法，通过获取光模块的实际工作温度以及实际驱动电流，然后根据实际工作温度、实际驱动电流及预设值进行计算，获取驱动电流的误差值，最后将误差值写入存储器的预设位置。与现有技术相比，光模块能够检测自身是否存在劣化趋势，预测光模块的使用寿命，使得在光模块出现性能劣化趋势时，能够提前判断，使得运营商能够提前处理，防止光模块最终失效时造成的业务异常。本申请采用的判断方法，能够明确劣化状态是光模块自身性能劣化导致的，方便用户在使用过程中快速定位故障原因，提供故障处理效率，对运维人员的技术水平要求较低。本申请在不增加外部设备的前提下，以光模块监控的自身性能判断其是否处于劣化状态，在不增加成本的前提下满足光模块劣化状态的判断需求。

参见图9，为本申请实施例提供的一种光模块劣化的检测装置结构示意图。如图9所示，一种光模块劣化的检测装置，该装置包括：该装置包括：至少一个处理器91、至少一个总线92、至少一个通信接口93和至少一个存储器94，其中，

存储器94用于存储处理器91执行指令；存储器94可以包括只读存储器和随机存取存储器，并向处理器91提供指令和数据。存储器94的一部分还可以包括非易失性随机存取存储器(NVRAM，Non-Volatile Random Access Memory)；

处理器91与通信接口93、存储器94通过总线92相连接。

在本发明一个实施例中，该装置是一种光模块，当该光模块运行时，处理器91执行存储器94中存储的计算机执行指令，处理器91可以执行图2所示实施例中的步骤，用于：获取光模块的实际工作温度以及实际驱动电流；根据实际工作温度、实际驱动电流及预设值进行计算，获得驱动电流的误差值；将误差值写入存储器的预设位置，预设位置可以由上位机读取。

由上述技术方案可知，本申请提供的一种光模块劣化的检测装置，通过获取光模块的实际工作温度以及实际驱动电流，然后根据实际工作温度、实际驱动电流及预设值进行计算，获取驱动电流的误差值，最后将误差值写入存储器的预设位置。与现有技术相比，光模块能够检测自身是否存在劣化趋势，预测光模块的使用寿命，使得在光模块出现性能劣化趋势时，能够提前判断，使得运营商能够提前处理，防止光模块最终失效时造成的业务异常。本申请采用的判断方法，能够明确劣化状态是光模块自身性能劣化导致的，方便用户在使用过程中快速定位故障原因，提供故障处理效率，对运维人员的技术水平要求较低。本申请在不增加外部设备的前提下，以光模块监控的自身性能判断其是否处于劣化状态，在不增加成本的前提下满足光模块劣化状态的判断需求。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于装置或系统实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述得比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的装置及系统实施例仅仅是示意性的，其中作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。

以上仅是本发明的具体实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (9)

1.一种光模块劣化的检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取光模块的实际工作温度以及实际驱动电流；

根据实际工作温度、实际驱动电流及预设值进行计算，获得驱动电流的误差值；

将所述误差值写入存储器的预设位置，所述预设位置可以由上位机读取；

所述获取驱动电流的误差值之前，所述方法还包括：

查找所述存储器中的预设温度电流对应关系表，所述预设温度电流对应关系表用于记录所述光模块处于正常状态时不同温度与初始驱动电流之间的对应关系；

在所述预设温度电流对应关系表中，获取所述实际工作温度对应的所述预设值。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，将所述误差值写入存储器的预设位置，包括：

获取所述光模块的模块型号；

根据所述模块型号，查询所述光模块与上位机通信时采用的通信协议；

根据所述通信协议确定用于指示光模块自身状态的异常告警信息；

将性能状态标志位的所述预设位置的值设置为所述误差值，其中，所述性能状态标志位位于所述异常告警信息的保留字段。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述将所述预设位置的性能状态标志位设置为所述误差值，包括：

获取所述通信协议的异常告警数据结构；

查找所述性能状态标志位的所述预设位置；

在所述预设位置，按照所述异常告警数据结构写入所述误差值。

4.一种光模块劣化的检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取光模块的实际工作温度以及实际驱动电流；

根据实际工作温度及实际驱动电流与预设值进行计算，获得驱动电流的误差值；

将所述误差值与预设误差值进行比较，获得状态值；

将所述状态值写入存储器的预设位置，所述预设位置可以由上位机读取；

所述获取驱动电流的误差值之前，所述方法还包括：

查找所述存储器中的预设温度电流对应关系表，所述预设温度电流对应关系表用于记录所述光模块处于正常状态时不同温度与初始驱动电流之间的对应关系；

在所述预设温度电流对应关系表中，获取所述实际工作温度对应的所述预设值。

5.一种光模块劣化的检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取光模块的已工作时长以及实际驱动电流；

根据已工作时长、实际驱动电流及预设值进行计算，获得驱动电流的误差值；

将所述误差值写入存储器的预设位置，所述预设位置可以由上位机读取；

所述获取驱动电流的误差值之前，所述方法还包括：

根据工作时长与驱动电流的对应关系，获取所述已工作时长对应的预设值。

6.一种光模块劣化的检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取光模块的已工作时长以及实际驱动电流；

根据已工作时长及实际驱动电流与预设值进行计算，获得驱动电流的误差值；

将所述误差值与预设误差值进行比较，获得状态值；

将所述状态值写入存储器的预设位置，所述预设位置可以由上位机读取；

所述获取驱动电流的误差值之前，所述方法还包括：

根据工作时长与驱动电流的对应关系，获取所述已工作时长对应的预设值。

7.一种光模块劣化的检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取光模块的实际工作温度、实际驱动电流及已工作时长；

根据实际工作温度、实际驱动电流、已工作时长及预设值进行计算，获得驱动电流的误差值；

将所述误差值写入存储器的预设位置，所述预设位置可以由上位机读取；

所述获取驱动电流的误差值之前，所述方法还包括：

根据工作时长、光模块处于正常状态时不同温度与初始驱动电流之间的对应关系，获取所述已工作时长和所述实际驱动电流对应的预设值。

8.一种光模块劣化的检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取光模块的实际工作温度、实际驱动电流及已工作时长；

根据实际工作温度、实际驱动电流、已工作时长及预设值进行计算，获得驱动电流的误差值；

将所述误差值与预设误差值进行比较，获得状态值；

将所述状态值写入存储器的预设位置，所述预设位置可以由上位机读取；

所述获取驱动电流的误差值之前，所述方法还包括：

根据工作时长、光模块处于正常状态时不同温度与初始驱动电流之间的对应关系，获取所述已工作时长和所述实际驱动电流对应的预设值。

9.一种光模块劣化的检测装置，其特征在于，所述装置包括：

处理器；及，

存储器，用于存储所述处理器的可执行指令；

其中，所述处理器被配置为执行权利要求1-8任一项所述的光模块劣化的检测方法。

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