CN103064203A - 一种液晶面板响应时间测量装置及测量方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及液晶面板领域，本发明公开了一种液晶面板响应时间测量装置，包括液晶面板、光敏晶体管、取样电阻、示波器，所述光敏晶体管面贴在液晶面板的表面，所述光敏晶体管用于检测液晶面板在进行黑场到白场再到黑场循环画面播放时的光照度变化，所述光敏晶体管分别连接取样电阻和示波器。本发明还公开了一种液晶面板响应时间测量方法。通过上述装置及方法即可方便地检测到液晶面板的响应时间，因光敏晶体管的响应时间为us级，远小于液晶面板分子响应的ms级，可准确地测试到液晶面板分子的响应时间。
Description
技术领域
本发明涉及液晶面板领域，尤其涉及一种液晶面板响应时间测量装置及测量方法。
背景技术
随着电子信息显示技术的发展，利用液晶面板材料作为显示器件的产品已渗透到人们日常生活的方方面面，如：液晶面板电视、手机、笔记本电脑、iPAD等等。作为终端显示的液晶面板平板，具有超薄、轻便、低功耗、高清晰解像度、高可靠性、使用寿命长、无辐射等优点；但受液晶面板分子材料物理特性影响，在响应时间这一显示器的重要指标较差。受其影响，在观看较快速运动的画面时，会造成产生拖尾或模糊的现象；在3D电视时，会造成左、右画面串扰产生重影。因此，液晶面板分子的响应时间指标在评价液晶面板的品质时显得尤为重要，然而现有技术中却没有一种专门用于测量液晶面板响应时间的装置或方法。
发明内容
本发明的目的是针对上述问题，提供一种液晶面板响应时间测量装置及测量方法。
本发明的目的通过下述技术方案来实现：
一种液晶面板响应时间测量装置，包括液晶面板、光敏晶体管、取样电阻、示波器，所述光敏晶体管面贴在液晶面板的表面，所述光敏晶体管用于检测液晶面板在进行黑场到白场再到黑场循环画面播放时的光照度变化，所述光敏晶体管分别连接取样电阻和示波器。
优选地，上述光敏晶体管外部用黑色胶布封盖。
一种液晶面板响应时间测量方法，所述方法包含以下步骤：
在液晶面板进行黑场到白场再到黑场循环的画面播放时，液晶面板产生调制液晶面板分子从关闭到打开再关闭的循环过程；在黑场到白场再到黑场循环的画面播放时，通过液晶面板的光被调制，通过液晶面板从黑场到白场再到黑场的变化过程，光敏晶体管将其变化过程转换为电流变化，并经取样电阻取样后，转换为电压的变化过程，最后通过示波器对取样电阻电压波形的测量，得到液晶面板分子从从黑场到白场时的上升时间和从白场到黑场时的下降时间，从而得到被测的液晶面板的响应时间；
所述响应时间=上升时间+下降时间。
优选地，上述光敏晶体管外部用黑色胶布封盖。
优选地，上述测量液晶面板分子从黑场到白场再到白场的时间为：电压波形上升段10%至90%幅度的时间为液晶面板响应时间的上升时间；电压波形下降段90%至10%幅度的时间为液晶面板响应时间的下降时间。
本发明的有益效果：通过上述的装置及方法即可方便地检测到液晶面板的响应时间，因光敏晶体管的响应时间为us级，远小于液晶面板分子响应的ms级，可准确地测试到液晶面板分子的响应时间。
附图说明
图1为黑白信号交替示意图。
图2为光敏二极管检测到的光照度变化图。
图3为取样电阻的电压波形图。
图4为本发发明的液晶面板响应时间测量装置结构示意图。
其中1为液晶面板，2为光敏晶体管、3为取样电阻、4为示波器。
具体实施方式
下面结合具体实施例和附图对本发明作进一步的说明。
本发明公开的液晶面板响应时间测量装置，包括液晶面板、光敏晶体管、取样电阻、示波器，所述光敏晶体管面贴在液晶面板的表面，所述光敏晶体管用于检测液晶面板在进行黑场到白场再到黑场循环画面播放时的光照度变化，所述光敏晶体管分别连接取样电阻和示波器。所述液晶面板的光照度变化过程通过光敏晶体管的检测转换为电流变化，并经取样电阻取样后，转换为电压的变化过程，最后通过示波器对取样电阻的电压波形的测量，可测量到液晶面板分子从黑场到白场时的上升时间Tr和从白场到黑场时的下降时间Tf，从而得到被测的液晶面板的响应时间Tr+Tf。其中，光敏晶体管的连接方式可以为：光敏晶体管的阴极接+5V电压,阳极通过取样电阻RS接地，存储数字示波器的探头接光敏晶体管的阳极。通过上述装置即可方便地检测到液晶面板的响应时间，因光敏晶体管的响应时间为us级，远小于液晶面板分子响应的ms级，可准确地测试到液晶面板分子的响应时间。
优选地，所述光敏晶体管外部用黑色胶布封盖，避免环境光带来的影响，使得测量结果更加准确。
本发明还公开了一种液晶面板响应时间测量方法，所述方法包含以下步骤：
在液晶面板进行黑场到白场再到黑场循环的画面播放时，液晶面板产生调制液晶面板分子从关闭到打开再关闭的循环过程；在黑场到白场再到黑场循环的画面播放时，通过液晶面板的光被调制，通过液晶面板从黑场到白场再到黑场的变化过程，光敏晶体管将其变化过程转换为电流变化，并经电阻取样后，转换为电压的变化过程，最后通过示波器的对取样电阻的电压波形的测量，测量到液晶面板分子从从黑场到白场时的上升时间Tr和从白场到黑场时的下降时间Tf，从而得到被测的液晶面板的响应时间Tr+Tf。
优选地，所述光敏晶体管外部用黑色胶布封盖，避免环境光带来的影响，使得测量结果更加准确。
优选地，测量液晶面板分子从黑场到白场再到白场的时间为：通过对电压波形上升段10%至90%幅度的时间测试，得到液晶面板响应时间的上升时间；通过对电压波形下降段90%至10%幅度的时间测试，得到液晶面板响应时间的下降时间。使得测量的结果更加准确。
以上上述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种液晶面板响应时间测量装置，其特征在于包括液晶面板、光敏晶体管、取样电阻、示波器，所述光敏晶体管面贴在液晶面板的表面，所述光敏晶体管用于检测液晶面板在进行黑场到白场再到黑场循环画面播放时的光照度变化，所述光敏晶体管分别连接取样电阻和示波器。
2.如权利要求1所述的液晶面板响应时间测量装置，其特征在于所述光敏晶体管外部用黑色胶布封盖。
3.一种液晶面板响应时间测量方法，所述方法包含以下步骤：
在液晶面板进行黑场到白场再到黑场循环的画面播放时，液晶面板产生调制液晶面板分子从关闭到打开再关闭的循环过程；在黑场到白场再到黑场循环的画面播放时，通过液晶面板的光被调制，通过液晶面板从黑场到白场再到黑场的变化过程，光敏晶体管将其变化过程转换为电流变化，并经取样电阻取样后，转换为电压的变化过程，最后通过示波器对取样电阻电压波形的测量，得到液晶面板分子从从黑场到白场时的上升时间和从白场到黑场时的下降时间，从而得到被测的液晶面板的响应时间；
所述响应时间=上升时间+下降时间。
4.如权利要求3所述的液晶面板响应时间测量方法，其特征在于所述光敏晶体管外部用黑色胶布封盖。
5.如权利要求4所述的液晶面板响应时间测量方法，其特征在于所述测量液晶面板分子从黑场到白场再到白场的时间为：电压波形上升段10%至90%幅度的时间为液晶面板响应时间的上升时间；电压波形下降段90%至10%幅度的时间为液晶面板响应时间的下降时间。
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| CN2011103202726A CN103064203A (zh) | 2011-10-20 | 2011-10-20 | 一种液晶面板响应时间测量装置及测量方法 |
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