CN103033128A - 影像测量系统及方法 - Google Patents

影像测量系统及方法 Download PDF

Info

Publication number
CN103033128A
CN103033128A CN2011103044648A CN201110304464A CN103033128A CN 103033128 A CN103033128 A CN 103033128A CN 2011103044648 A CN2011103044648 A CN 2011103044648A CN 201110304464 A CN201110304464 A CN 201110304464A CN 103033128 A CN103033128 A CN 103033128A
Authority
CN
China
Prior art keywords
measured
image
central point
zone
pixel
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN2011103044648A
Other languages
English (en)
Inventor
张旨光
袁忠奎
邹志军
佘正才
薛晓光
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Original Assignee
Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd, Hon Hai Precision Industry Co Ltd filed Critical Hongfujin Precision Industry Shenzhen Co Ltd
Priority to CN2011103044648A priority Critical patent/CN103033128A/zh
Priority to TW100137202A priority patent/TW201316289A/zh
Priority to US13/598,776 priority patent/US9251579B2/en
Publication of CN103033128A publication Critical patent/CN103033128A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004—Industrial image inspection
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2200/00—Indexing scheme for image data processing or generation, in general
    • G06T2200/24—Indexing scheme for image data processing or generation, in general involving graphical user interfaces [GUIs]
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30108—Industrial image inspection
    • G06T2207/30141—Printed circuit board [PCB]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

一种影像测量系统，包括：读取模块，用于从数据库中读取一张由多张影像拼接成的拼接图片及该拼接图片的信息；选择模块，用于接收用户选取的待测区域，并确定该待测区域的中心点位置和与该待测区域有重叠部分的影像；确定模块，用于确定待测区域中心点与每张有重叠部分的影像的中心点之间的像素点个数；计算模块，用于计算所述待测区域中心点的坐标值；接收模块，用于接收用户选择的测量工具和需要测量的元素；及执行模块，用于分别确定组成所述需要测量的元素的每个像素点与该待测区域中心点之间的像素点个数，并计算组成该需要测量的元素的所有点的坐标值。另外本发明还提供一种影像测量方法，利用本发明，可以对拼接图片进行测量。

Description

影像测量系统及方法
技术领域
本发明涉及一种影像处理系统及方法，尤其涉及一种影像测量系统及方法。
背景技术
在测量工件时，客户往往需要对较大的工件进行表面评估，这时，工作人员只能用光学影像测量仪在工件表面进行局部地评估，浪费大量的时间和人力，工作效率低。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种影像测量系统，可以对工件的拼接图片上的元素进行测量。
还有必要提供一种影像测量方法，可以对工件的拼接图片上的元素进行测量。
一种影像测量系统，该系统包括：读取模块，用于从数据库中读取一张由多张影像拼接成的拼接图片及该拼接图片的信息，该拼接图片的信息包括拼接图片上每个像素点的尺寸；选择模块，用于接收用户选取的待测区域，并确定该待测区域的中心点及与该待测区域有重叠部分的影像；确定模块，用于根据所述拼接图片的信息确定所述待测区域的中心点与每张有重叠部分的影像的中心点之间的像素点个数；计算模块，用于根据上述确定的待测区域的中心点与每张有重叠部分的影像的中心点之间的像素点个数以及拼接图片上每个像素点的尺寸，计算所述待测区域的中心点的坐标值；接收模块，用于接收用户选择的测量工具和需要测量的元素；及执行模块，用于分别确定组成所述需要测量的元素的每个像素点与该待测区域的中心点之间的像素点个数，并根据该像素点个数、每个像素点的尺寸以及该待测区域中心点的坐标值计算组成该需要测量的元素的所有点的坐标值。
一种影像测量方法，该方法包括：读取步骤，从数据库中读取一张由多张影像拼接成的拼接图片及该拼接图片的信息，该拼接图片的信息包括拼接图片上每个像素点的尺寸；选择步骤，接收用户选取的待测区域，并确定该待测区域的中心点及与该待测区域有重叠部分的影像；确定步骤，根据所述拼接图片的信息确定所述待测区域的中心点与每张有重叠部分的影像的中心点之间的像素点个数；计算步骤，根据上述确定的待测区域的中心点与每张有重叠部分的影像的中心点之间的像素点个数以及拼接图片上每个像素点的尺寸，计算所述待测区域的中心点的坐标值；接收步骤，接收用户选择的测量工具和需要测量的元素；及执行步骤，分别确定组成所述需要测量的元素的每个像素点与该待测区域的中心点之间的像素点个数，并根据该像素点个数、每个像素点的尺寸以及该待测区域中心点的坐标值计算组成该需要测量的元素的所有点的坐标值。
相较于现有技术，所述影像测量系统及方法，不需要测量机台的辅助，根据待测工件的影像拼接而成的图片即可测量用户选择的待测元素。
附图说明
图1是本发明影像测量系统较佳实施例的运行环境示意图。
图2是图1中影像测量系统10的功能模块图。
图3是本发明影像测量方法较佳实施例的作业流程图。
图4是本发明中拼接图片示意图。
主要元件符号说明
  计算机   1
  影像测量系统   10
  数据库   11
  选择区域   40
  读取模块   100
  选择模块   101
  确定模块   102
  计算模块   103
  接收模块   104
  执行模块   105
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
如图1所示，是本发明影像测量系统较佳实施例的运行环境示意图。该影像测量系统10运行于计算机1中，该计算机1包括数据库11，该数据库11中存储有待测物体的拼接图片，该拼接图片是指将待测物体的各个部分的影像拼接而成的图片。本实施例中，该拼接图片为2D量测图片或者3D量测图片。
如图2所示，是图1中影像测量系统10的功能模块图。所述影像测量系统10包括：读取模块100、选择模块101、确定模块102、计算模块103、接收模块104及执行模块105。所述模块是具有特定功能的软件程序段，该软件存储于计算机可读存储介质或其它存储设备，可被计算机或其它包含处理器的计算装置执行，从而完成对影像进行测量的作业流程。
读取模块100用于从数据库11中读取一张拼接图片及该拼接图片的信息。该信息包括组成该拼接图片的每张影像的中心点信息，该拼接图片的尺寸，该拼接图片上每个像素点的尺寸以及该拼接图片的分辨率等。所述每张影像的中心点信息包括每张影像的中心点位置和坐标值。该每个像素点的尺寸包括X轴和Y轴上的尺寸。如图4所示，该拼接图片由9张影像拼接而成，分别对每张影像进行标号，所述读取模块100读取组成该拼接图片的每张影像的中心点信息。
选择模块101用于接收用户选取的待测区域，并确定该待测区域的中心点及与该待测区域有重叠部分的影像。本实施例中，所述影像测量系统10提供了一个界面，该界面包括导航区域和显示区域。该导航区域上显示了整张拼接图片，用户可用鼠标或其他输入装置在该整张拼接图片上选取一个待测区域，该待测区域被放大显示在所述显示区域上，即所述显示区域用于显示所述选取的待测区域及该待测区域的中心点。如图4所示，选择模块101选择区域40为待测区域。
确定模块102用于根据所述拼接图片的分辨率、待测区域的中心点及每张有重叠部分的影像的中心点信息，确定所述待测区域的中心点与每张有重叠部分的影像的中心点之间的像素点个数。所述像素点个数包括X轴和Y轴上像素点的个数。
计算模块103用于根据上述确定的待测区域的中心点与每张有重叠部分的影像的中心点之间的像素点个数以及所述拼接图片上每个像素点的尺寸，计算所述待测区域的中心点的坐标值。例如，所述待测区域40与影像5、影像6、影像7及影像8有重叠部分。所述读取模块100从数据库11中读取该影像5、影像6、影像7及影像8的中心点的坐标值分别为c5(x，y)、c6(x，y)、c7(x，y)、c8(x，y)。所述待测区域的中心点的坐标值为该待测区域的中心点相对于c5，c6，c7，c8的坐标值的平均值。举例来说，根据c5的坐标值计算待测区域的中心点在X轴上的坐标值为：c5的X轴坐标值-每个像素点在X轴的尺寸*待测区域的中心点与影像5之间的像素点在X轴上的个数。以此类推，该计算模块103可以分别计算出该待测区域的中心点相对于c5，c6，c7，c8的坐标值，并计算该计算得到的所有坐标值的平均值，该平均值即为所述待测区域中心点的坐标值。
接收模块104用于接收用户选择的测量工具和需要测量的元素。本实施例中，该测量工具包括：自动寻点、手动寻点、自动寻线、自动寻边等。需要测量的元素包括：点、线、圆、椭圆等。
执行模块105用于分别确定组成所述需要测量的元素的每个点与该待测区域的中心点之间的像素点个数，并根据所述像素点个数、每个像素点的尺寸以及该待测区域的中心点的坐标值来计算组成该需要测量的元素的所有点的坐标值。
如图3所示，是本发明影像测量方法较佳实施例的作业流程图。
步骤S30，读取模块100从数据库11中读取一张拼接图片及该拼接图片的信息。该信息包括组成该拼接图片的每张影像的中心点信息，该拼接图片的尺寸，该拼接图片上每个像素点的尺寸以及该拼接图片的分辨率等。所述每张影像的中心点信息包括每张影像的中心点位置和坐标值。该每个像素点的尺寸包括X轴和Y轴上的尺寸。如图4所示，该拼接图片由9张影像拼接而成，分别对每张影像进行标号，所述读取模块100读取组成该拼接图片的每张影像的中心点信息。
步骤S31，选择模块101接收用户选取的待测区域，并确定该待测区域的中心点及与该待测区域有重叠部分的影像。本实施例中，所述影像测量系统10提供了一个界面，该界面包括导航区域和显示区域。该导航区域上显示了整张拼接图片，用户可用鼠标或其他输入装置在该整张拼接图片上选取一个待测区域，该待测区域被放大显示在所述显示区域上，即所述显示区域用于显示所述选取的待测区域及该待测区域的中心点。如图4所示，选择模块101选择区域40为待测区域。
步骤S32，确定模块102根据所述拼接图片的分辨率、待测区域的中心点及每张有重叠部分的影像的中心点信息，确定所述待测区域的中心点与每张有重叠部分的影像的中心点之间的像素点个数。所述像素点个数包括X轴和Y轴上像素点的个数。
步骤S33，计算模块103根据上述确定的待测区域的中心点与每张有重叠部分的影像的中心点之间的像素点个数以及所述拼接图片上每个像素点的尺寸，计算所述待测区域的中心点的坐标值。例如，所述待测区域40与影像5、影像6、影像7及影像8有重叠部分。所述读取模块100从数据库11中读取该影像5、影像6、影像7及影像8的中心点的坐标值分别为c5(x，y)、c6(x，y)、c7(x，y)、c8(x，y)。所述待测区域的中心点的坐标值为该待测区域的中心点相对于c5，c6，c7，c8的坐标值的平均值。举例来说，根据c5的坐标值计算待测区域的中心点在X轴上的坐标值为：c5的X轴坐标值-每个像素点在X轴的尺寸*待测区域的中心点与影像5之间的像素点在X轴上的个数。以此类推，该计算模块103可以分别计算出该待测区域的中心点相对于c5，c6，c7，c8的坐标值，并计算该计算得到的所有坐标值的平均值，该平均值即为所述待测区域中心点的坐标值。
步骤S34，接收模块104接收用户选择的测量工具和需要测量的元素。本实施例中，该测量工具包括：自动寻点、手动寻点、自动寻线、自动寻边等。需要测量的元素包括：点、线、圆、椭圆等。
步骤S35，执行模块105分别根据用户选择的测量工具来确定组成所述需要测量的元素的每个点与该待测区域的中心点之间的像素点个数，并根据所述像素点个数、每个像素点的尺寸以及该待测区域的中心点的坐标值来计算组成该需要测量的元素的所有点的坐标值。
最后所应说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或等同替换，而不脱离本发明技术方案的精神和范围。

Claims (8)

1.一种影像测量系统，其特征在于，该系统包括：
读取模块，用于从数据库中读取一张由多张影像拼接成的拼接图片及该拼接图片的信息，该拼接图片的信息包括拼接图片上每个像素点的尺寸；
选择模块，用于接收用户选取的待测区域，并确定该待测区域的中心点及与该待测区域有重叠部分的影像；
确定模块，用于根据所述拼接图片的信息确定所述待测区域的中心点与每张有重叠部分的影像的中心点之间的像素点个数；
计算模块，用于根据上述确定的待测区域的中心点与每张有重叠部分的影像的中心点之间的像素点个数以及拼接图片上每个像素点的尺寸，计算所述待测区域的中心点的坐标值；
接收模块，用于接收用户选择的测量工具和需要测量的元素；及
执行模块，用于分别确定组成所述需要测量的元素的每个像素点与该待测区域的中心点之间的像素点个数，并根据该像素点个数、每个像素点的尺寸以及该待测区域中心点的坐标值计算组成该需要测量的元素的所有点的坐标值。
2.如权利要求1所述的影像测量系统，其特征在于，所述拼接图片的信息还包括：拼接成所述拼接图片的每张影像的中心点信息，该拼接图片的尺寸，以及该拼接图片的分辨率。
3.如权利要求1所述的影像测量系统，其特征在于，所述拼接图片上每个像素点的尺寸包括该像素点在X轴上的尺寸和Y轴上的尺寸。
4.如权利要求1所述的影像测量系统，其特征在于，所述需要测量的元素包括：点、线、圆、椭圆。
5.一种影像测量方法，其特征在于，该方法包括：
读取步骤，从数据库中读取一张由多张影像拼接成的拼接图片及该拼接图片的信息，该拼接图片的信息包括拼接图片上每个像素点的尺寸；
选择步骤，接收用户选取的待测区域，并确定该待测区域的中心点及与该待测区域有重叠部分的影像；
确定步骤，根据所述拼接图片的信息确定所述待测区域的中心点与每张有重叠部分的影像的中心点之间的像素点个数；
计算步骤，根据上述确定的待测区域的中心点与每张有重叠部分的影像的中心点之间的像素点个数以及拼接图片上每个像素点的尺寸，计算所述待测区域的中心点的坐标值；
接收步骤，接收用户选择的测量工具和需要测量的元素；及
执行步骤，分别确定组成所述需要测量的元素的每个像素点与该待测区域的中心点之间的像素点个数，并根据该像素点个数、每个像素点的尺寸以及该待测区域中心点的坐标值计算组成该需要测量的元素的所有点的坐标值。
6.如权利要求5所述的影像测量方法，其特征在于，所述拼接图片的信息还包括：拼接成所述拼接图片的每张影像的中心点信息，该拼接图片的尺寸，以及该拼接图片的分辨率。
7.如权利要求5所述的影像测量方法，其特征在于，所述拼接图片上每个像素点的尺寸包括该像素点在X轴上的尺寸和Y轴上的尺寸。
8.如权利要求5所述的影像测量方法，其特征在于，所述需要测量的元素包括：点、线、圆、椭圆。
CN2011103044648A 2011-10-10 2011-10-10 影像测量系统及方法 Pending CN103033128A (zh)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2011103044648A CN103033128A (zh) 2011-10-10 2011-10-10 影像测量系统及方法
TW100137202A TW201316289A (zh) 2011-10-10 2011-10-13 影像量測系統及方法
US13/598,776 US9251579B2 (en) 2011-10-10 2012-08-30 System and method for measuring images of object

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2011103044648A CN103033128A (zh) 2011-10-10 2011-10-10 影像测量系统及方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN103033128A true CN103033128A (zh) 2013-04-10

Family

ID=48020277

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2011103044648A Pending CN103033128A (zh) 2011-10-10 2011-10-10 影像测量系统及方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US9251579B2 (zh)
CN (1) CN103033128A (zh)
TW (1) TW201316289A (zh)

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4470930B2 (ja) * 2006-09-21 2010-06-02 ソニー株式会社 画像処理装置、画像処理方法、及び、プログラム
JP4882956B2 (ja) * 2007-10-22 2012-02-22 ソニー株式会社 画像処理装置および画像処理方法
JP5115497B2 (ja) * 2009-02-27 2013-01-09 富士通セミコンダクター株式会社 画像処理プログラム、画像処理装置および画像処理方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20130089238A1 (en) 2013-04-11
TW201316289A (zh) 2013-04-16
US9251579B2 (en) 2016-02-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9031314B2 (en) Establishing coordinate systems for measurement
CN102410811B (zh) 一种弯管参数的测量方法和系统
US7974462B2 (en) Image capture environment calibration method and information processing apparatus
CN102589435B (zh) 噪声环境下激光束中心高效精确检测方法
US7830374B2 (en) System and method for integrating dispersed point-clouds of multiple scans of an object
CN104422406A (zh) 平面度量测系统及方法
de Araujo et al. Computer vision system for workpiece referencing in three-axis machining centers
US20090289953A1 (en) System and method for adjusting view of a measuring report of an object
CN107504917B (zh) 一种三维尺寸测量方法及装置
CN115035031A (zh) Pin针的缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质
CN105427282A (zh) 一种3d定位精度的测试方法和装置
JP7131127B2 (ja) 外観検査システム、外観検査結果の表示方法、および、外観検査結果の表示プログラム
CN103033128A (zh) 影像测量系统及方法
CN102680012A (zh) 量测信息自动输出系统及方法
CN102314263B (zh) 光学触控屏幕系统、光学距离判断装置及其方法
JP7344156B2 (ja) 穴広げ試験のき裂判定装置、き裂判定方法及びプログラム
López-Estrada et al. Design and implementation of a vision system on an innovative single point micro-machining device for tool tip localization
TW201411092A (zh) 輪廓線自動量測系統及方法
CN109196499B (zh) 用于自动产生晶片图像到设计的坐标映射的系统、方法及计算机程序产品
CN101173853A (zh) 定位测量装置及方法
JP6653539B2 (ja) 画像測定装置、その制御プログラム及び測定装置
CN110118530A (zh) 一种大工件高精度光学视觉测量方法
TW201518677A (zh) 測量儀器線鐳射測頭測量資料擬合系統及方法
CN104197832A (zh) 一种基于图像识别技术的产品测量方法
CN109406545A (zh) 一种基于机器视觉的电路板测点自动定位系统

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20130410