CN102998611A - 一种对包含adc和dac的电路的快速检测方法 - Google Patents

一种对包含adc和dac的电路的快速检测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN102998611A
CN102998611A CN2011102660055A CN201110266005A CN102998611A CN 102998611 A CN102998611 A CN 102998611A CN 2011102660055 A CN2011102660055 A CN 2011102660055A CN 201110266005 A CN201110266005 A CN 201110266005A CN 102998611 A CN102998611 A CN 102998611A
Authority
CN
China
Prior art keywords
adc
dac
data
read
zero
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN2011102660055A
Other languages
English (en)
Inventor
张瑞
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
8358 Research Institute of 3th Academy of CASC
Original Assignee
8358 Research Institute of 3th Academy of CASC
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 8358 Research Institute of 3th Academy of CASC filed Critical 8358 Research Institute of 3th Academy of CASC
Priority to CN2011102660055A priority Critical patent/CN102998611A/zh
Publication of CN102998611A publication Critical patent/CN102998611A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Abstract

本发明属于稳定平台自动跟踪系统控制电路检测技术领域，具体涉及一种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法。目的是提供一种不依赖外部仪器，减少人工操作的快速检测方法。包含如下步骤：步骤1、先将ADC的输入端接地并读取输入信号，将读取的数据求平均作为ADC的零位数据A0；步骤2、将DAC的输出与ADC的输入相连，使DAC输出零值，ADC将读到的信号取平均减去上一步获得的ADC零位数据A0，即得到DAC的零位数据D0；步骤3、DAC输出变化信号，使用ADC进行读取，通过读取的数据与输出的数据进行比对。优点是：使用工装将电路本身的DAC和ADC闭环联结，通过测试程序使DAC输出测试用模拟信号，对电路上ADC进行检测。ADC通过读取的模拟信号对电路上DAC进行检测。完成闭环测试。

Description

一种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法
技术领域
本发明属于稳定平台自动跟踪系统控制电路检测技术领域，涉及一种电路快速检测技术。 
背景技术
稳定平台自动跟踪系统在军事上获得了广泛的应用，要获得良好的稳定跟踪性能，采集稳定平台上传感器信息的ADC和控制稳定平台运动的DAC都需要较高精度。为了提高精度和使控制电路具备通用性。需要对每块电路板上ADC和DAC进行详细的测试，并对电路的初始零位进行测试并进行补偿。 
人工对每块电路进行测试需要专用的仪器(高精度信号发生器和高精度数字示波器)和一定的专业技能，并需要较长时间。 
发明内容
本发明的目的是在于提供一种对包含ADC和DAC的电路的不依赖外部仪器，减少人工操作的快速检测方法。 
本发明是这样实现的：一种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法，其中，包含如下步骤： 
步骤1、先将ADC的输入端接地并读取输入信号，将读取的数据求平均作为ADC的零位数据A0，用于校准ADC读数； 
步骤2、将DAC的输出与ADC的输入相连，使DAC输出零值，ADC将读到的信号取平均减去上一步获得的ADC零位数据A0，即得到DAC的零位数据D0，用于校准DAC的输出； 
步骤3、DAC输出变化信号，信号幅度为DAC的上下极限输出值，每一次的变化幅度为最低数据位，使用ADC进行读取，通过读取的数据与输出的数据进行比对，此时的数据均通过步骤1和步骤2中得到的零位数据进行修正； 
如果步骤1和步骤2的零位数据满足预定的要求，并且步骤3中DAC输出信号和ADC读取信号一致，则被检测件通过检测； 
否则，被检测件没有通过检测。 
如上所述的一种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法，其中，在步骤3中通过检测之后，将测的零位数据A0和D0记录到板上的存储器件中。 
本发明的优点是使用工装将电路本身的DAC和ADC闭环联结，通过测试程序使DAC输出测试用模拟信号，对电路上ADC进行检测。ADC通过读取的模拟信号对电路上DAC进行检测。完成闭环测试。 
电路再将测得的零位信号记录到板上的存储器件中，从而在使用过程中使用此参数对DAC和ADC进行自动校准。 
测试过程不依赖于外部仪器，人工操作少，能快速准确的进行测试过程。 
具体实施方式
下面结合具体实施例对本发明做进一步的说明： 
一种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法，包括如下步骤： 
步骤1、先将ADC的输入端接地并读取输入信号，读取的数据个数可以是一个也可以是多个，一般读取多个，将读取的数据求平均作为ADC的零位数据A0，用于校准ADC读数。 
步骤2、然后将DAC的输出与ADC的输入相连，通过程序使DAC输出零值，ADC将读到的信号取平均减去上一步获得的ADC零位数据，即得到DAC的零位数据D0，用于校准DAC的输出。 
上述两个步骤可以判断出ADC和DAC零位是否正常，如果ADC和DAC零 位数据与设定值差别过大，则进行记录，用于本发明之后，使用高精度的仪器进行进一步的检测。如果ADC和DAC零位正常，继续进行步骤3。 
步骤3、DAC输出慢变的三角波信号，信号幅度为DAC的上下极限输出值，变化幅度为最低数据位，信号长度可以是一条斜线(从最小值到最大值或者从最大值到最小值)，也可以是一个或者多个周期，ADC进行读取，通过读取的数据与输出的数据(此时的数据均通过步骤1和步骤2中得到的零位数据进行修正)进行比对，一致的话说明DAC和ADC的功能和性能正常。 
本实施例中，DAC输出数据的和ADC读取数据的频率保持一致，每个更新周期均输出不同的值，如此，能够得到三角波的图形。 
也可以DAC输出数据时，每个值均保持多个周期，这样得到的是带有台阶的三角波信号，可以进一步的了解在每个不同的值处，DAC和ADC的性能。 
进一步的，本实施例中，使用专用工装实现上述电路的连接，能够进一步加快测试速度。 
测试过程使用编写的软件程序自动完成。 
如有异常还可根据读取的数据对故障进行初步定位。用于本发明之后，使用高精度的仪器进行进一步的检测。 
虽然本发明所述的方法，对故障情况定位后，之后的检测还需要使用高精度的外部仪器进行，但是，在电路质量合格率很高的情况下，合格电路能够通过所述方法，快速的通过检测，进而直接使用。 
如此，极大的减小了人工的工作量，减小了对外部高精度仪器的依赖。 
本发明以稳定平台自动跟踪系统为例进行了说明，但是实施范围不限于此，所有设置有DAC输出电路和ADC输入电路的电路系统均可以适用。 

Claims (2)

1.一种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法，其特征在于：包含如下步骤：
步骤1、先将ADC的输入端接地并读取输入信号，将读取的数据求平均作为ADC的零位数据A0，用于校准ADC读数；
步骤2、将DAC的输出与ADC的输入相连，使DAC输出零值，ADC将读到的信号取平均减去上一步获得的ADC零位数据A0，即得到DAC的零位数据D0，用于校准DAC的输出；
步骤3、DAC输出变化信号，信号幅度为DAC的上下极限输出值，每一次的变化幅度为最低数据位，使用ADC进行读取，通过读取的数据与输出的数据进行比对，此时的数据均通过步骤1和步骤2中得到的零位数据进行修正；
如果步骤1和步骤2的零位数据满足预定的要求，并且步骤3中DAC输出信号和ADC读取信号一致，则被检测件通过检测；
否则，被检测件没有通过检测。
2.如权利要求1所述的一种对包含ADC和DAC的电路的快速检测方法，其特征在于：
在步骤3中通过检测之后，将测的零位数据A0和D0记录到板上的存储器件中。
CN2011102660055A 2011-09-09 2011-09-09 一种对包含adc和dac的电路的快速检测方法 Pending CN102998611A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2011102660055A CN102998611A (zh) 2011-09-09 2011-09-09 一种对包含adc和dac的电路的快速检测方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2011102660055A CN102998611A (zh) 2011-09-09 2011-09-09 一种对包含adc和dac的电路的快速检测方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN102998611A true CN102998611A (zh) 2013-03-27

Family

ID=47927430

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2011102660055A Pending CN102998611A (zh) 2011-09-09 2011-09-09 一种对包含adc和dac的电路的快速检测方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN102998611A (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109164377A (zh) * 2018-10-24 2019-01-08 电子科技大学 一种高速ad/da混合芯片的故障测试装置及方法
CN109975032A (zh) * 2019-03-12 2019-07-05 广州小鹏汽车科技有限公司 对硬件在环设备进行功能检测的方法、设备及系统
CN113900006A (zh) * 2021-08-26 2022-01-07 湖南艾科诺维科技有限公司 一种芯片故障测试装置、系统及方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1354503A (zh) * 2000-11-22 2002-06-19 三菱电机株式会社 半导体集成电路的测试装置及半导体集成电路的测试方法
US20080165040A1 (en) * 2007-01-10 2008-07-10 Rotchford Christian J Calibrating a digital-to-analog converter
CN101409557A (zh) * 2007-10-10 2009-04-15 义隆电子股份有限公司 测试dac/adc的信号噪声比的方法及系统
CN101576603A (zh) * 2008-05-07 2009-11-11 环隆电气股份有限公司 测试装置
EP2333569A1 (en) * 2009-10-26 2011-06-15 Fluke Corporation System and method for calibrating a high resolution data acquisition system with a low resolution digital to analog converter

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1354503A (zh) * 2000-11-22 2002-06-19 三菱电机株式会社 半导体集成电路的测试装置及半导体集成电路的测试方法
US20080165040A1 (en) * 2007-01-10 2008-07-10 Rotchford Christian J Calibrating a digital-to-analog converter
CN101409557A (zh) * 2007-10-10 2009-04-15 义隆电子股份有限公司 测试dac/adc的信号噪声比的方法及系统
CN101576603A (zh) * 2008-05-07 2009-11-11 环隆电气股份有限公司 测试装置
EP2333569A1 (en) * 2009-10-26 2011-06-15 Fluke Corporation System and method for calibrating a high resolution data acquisition system with a low resolution digital to analog converter

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109164377A (zh) * 2018-10-24 2019-01-08 电子科技大学 一种高速ad/da混合芯片的故障测试装置及方法
CN109164377B (zh) * 2018-10-24 2021-02-02 电子科技大学 一种高速ad/da混合芯片的故障测试装置及方法
CN109975032A (zh) * 2019-03-12 2019-07-05 广州小鹏汽车科技有限公司 对硬件在环设备进行功能检测的方法、设备及系统
CN113900006A (zh) * 2021-08-26 2022-01-07 湖南艾科诺维科技有限公司 一种芯片故障测试装置、系统及方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN103048087B (zh) 压力传感器调试系统及其调试方法
CN203858353U (zh) 一种测试机台校准系统
CN104807475B (zh) 动中通卫星天线倾角校准过程中零点漂移值的测量方法
CN204886925U (zh) 数模转换器全码测试模块和数模转换器全码测试系统
CN102252820A (zh) 光模块生产中的在线自动化测试系统
CN101865946B (zh) 一种可编程的数字集成电路交流参数测试系统及方法
CN103697928A (zh) 一种仪器校准方法及装置
CN102998611A (zh) 一种对包含adc和dac的电路的快速检测方法
CN101832813A (zh) 基于虚拟仪器技术的噪声和振动测量系统
CN110764118A (zh) 一种用于rdss用户机测试系统的校准标定方法与装置
CN103868525A (zh) 惯性导航设备指标测试仪
CN105929209B (zh) 一种汽车点火瞬间电压模拟方法及电路
CN101980039A (zh) 一种用于无线电计量测试的示波器触发校准装置
JPS61262671A (ja) フアンクシヨンテスト方法とフアンクシヨンテスタ
CN110784236B (zh) 增强系统集成镜的精确度和分辨率的方法和系统
CN116989916A (zh) 一种温度传感器芯片ate校准方法
CN113325243A (zh) 射频测试系统线损测量设备及方法
CN109084867B (zh) 一种汽车组合仪表燃油仿真测试系统及方法
CN100465656C (zh) 集成电路测试装置
CN105811981A (zh) 一种高精度adc测量的自动测试平台
CN115733543A (zh) 一种光模块固件时序测试平台及测试方法
CN215678646U (zh) Pwm电路的测试系统
CN109672447A (zh) 高精度模数转化器的积分非线性参数测试方法
CN114486057A (zh) 基于应变、温度传感器的非接触压力测量方法及系统
CN113325244A (zh) 射频测试系统线损测量设备及方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20130327