CN102986095B

CN102986095B - 光学放大器中的ase补偿

Info

Publication number: CN102986095B
Application number: CN201180021431.0A
Authority: CN
Inventors: I·麦克林; P·约翰逊; S·弗特
Original assignee: Oclaro Technology Ltd
Current assignee: Two land companies
Priority date: 2010-03-22
Filing date: 2011-03-21
Publication date: 2016-01-20
Anticipated expiration: 2031-03-21
Also published as: CN102986095A; US8867914B2; EP2550709A1; US20130058646A1; GB201004697D0; WO2011117613A1; JP2013523037A

Abstract

用于生产光学放大器的一种操作方法，所述方法包括：在多个训练操作条件下确定训练光学放大器的放大自发辐射（ASE）值的训练数据集；在多个生产操作条件下确定生产光学放大器的ASE值的生产数据集，所述多个生产操作条件对应于多个训练操作条件的一个子集；确定通过从生产数据集外推所生成的调整后ASE值的调整后的数据集，这样调整后的数据集在与多个训练操作条件对应的多个操作条件下提供；从训练数据集和如上确定的调整后的数据集来确定适于多个操作条件的每一条件的动态ASE倾斜因子；从调整后的ASE数据集和动态ASE倾斜因子来在比训练数据集或生产数据集的操作条件更宽泛的一组操作条件下确定一个更大的ASE值数据集；以及利用在多个操作条件下相应于从生产数据集和动态ASE倾斜因子所生成的较大ASE数据集来补偿生产光学放大器的光输出功率，其优选是比训练数据集或生产数据集的操作条件更大的一组操作条件。由该方法可以比现有技术示出的那些方法更快捷和廉价地确定补偿ASE值。

Description

光学放大器中的ASE补偿

技术领域

本发明涉及光学放大器，以及更具体地但非排他性地涉及掺铒光纤放大器（EDFA）。

背景技术

在光通讯网络中，光学放大器被广泛应用于放大光数据信号。在具有倒置的掺铒光纤放大器（EDFA）的光学放大器中，输入光数据信号通过受激辐射而放大。在通常情况下，用户试图通过设定的增益放大光数据信号（其已知为增益模式放大），或通过设定的功率水平放大光数据信号（其已知为功率模式放大）。放大水平通常但非详尽地通过下述确定，即通过对来自光学放大器的光输出进行采样，并以反馈布置使用数据以产生用于控制泵浦激光器输出功率的控制信号，该泵浦激光器泵浦EDFA的光的光学反转。

除放大光数据信号之外，EDFA通过放大的自发辐射（ASE）而产生噪声分量。光数据信号通常集中在与由国际电信联盟（ITU）标准化信道相对应的一个或多个波长上。相比之下，ASE通常产生更宽波长范围的跨度，例如大约40nm，其是放大器增益带宽区域的实质性部分。ASE水平取决于Er光纤内的光数据信号增益，EDF的光学反转和温度。另外，由光学放大器所产生的ASE水平也由于光学元件的变型损耗而各不相同，因为放大器中的被动损耗影响掺铒光纤所需的增益。

不利的是，来自光学放大器的光输出中的ASE水平并不能容易地由光学确定，因为在光学放大器中通常使用的光功率检测器（例如光检测器）是对波长相对不敏感的（且如果必须如此，则是在其中光学放大器应适于在ITU信道范围下操作的情况），且因此检测放大的光数据信号和ASE两者。因此，不利的是，ASE存在可变量会导致光数据信号的不适当放大，结果其增加相关光网络中的检测误差。

下述方法是已知用于试图解决这一问题的方法。

在固定的单信道光学放大器中，已知使用固定的波长识别滤波器来对在远离光数据信号带宽的波长处所产生的ASE进行滤波。不利的是，这种方法是不灵活的，这样光学放大器只能用于波长固定限定的滤波器，以及将需要为每个信号信道制备不同的光学放大器。

使用固定波长识别滤波器的另一个缺点是这种方法不能应用于下述系统中的光学放大器，上述系统对一个以上信道处的光进行处理，例如在包括使用可调谐激光光源的发射器的光网络中。虽然可调谐滤波器是已知的，但是这种组件在尺寸上过大以及成本过高以便在商业上是不可行的，以至于不能有效地在当今所商业化生产的光学放大器的许多应用中利用。

第二种方法需要在销售之前在较大范围操作条件下对每个光学放大器针对ASE进行充分的特征化，使光学放大器可以连同较大的独特数据表出售，且该独特数据表能提供确保光数据信号适当放大所需要的补偿水平即可。对于单信道放大器而言尤其如此，其中可存在波长和光信号数据输入功率的许多独特操作输入条件，以及大量的独特增益或输出功率要求。ASE补偿数据可在存储于光学放大器操作系统中的一个查找表中提供，或单独提供。不利的是，对来自生产线的每一光学放大器进行所有特征化（表征）是费时的，需要使用昂贵表征设备的大量资源，且因此实质上增加光学放大器的制备成本。

第三种方法试图通过使用经验公式来评估所产生的ASE水平，且将相应的补偿系数应用到光学放大器的增益上，以便将光数据信号的输出功率调整到所需水平。这种方法在US6519081中公开。当存在已知和一致的输入光信号时，该项技术工作良好，但是，不利的是，所产生的ASE水平相对于作为输入光信号波长函数的ASE水平变化而言不符合简单的经验公式。

因此，需要一种用于操作光学放大器的改进方法，其通过所需的增益水平或所需的光功率水平而提供光数据信号的更精确放大。

发明内容

本发明的第一方面提供用于生产光学放大器的一种操作方法，所述方法包括：

（i）在多个训练操作条件下确定训练光学放大器的训练放大自发辐射（ASE）值的数据集；

（ii）在多个生产操作条件下确定生产光学放大器的生产ASE值的数据集，所述多个生产操作条件对应于多个训练操作条件的一个子集；

（iii）确定通过从生产数据集外推所产生的调整后ASE值的调整后的数据集，

这样调整后的数据集在与多个训练操作条件对应的多个操作条件下提供；

（iv）从训练数据集和如上确定的调整后的数据集来确定适于多个操作条件的每一条件的动态ASE倾斜因子；

（v）从调整后的ASE数据集和动态ASE倾斜因子来在比训练数据集或生产数据集的操作条件更宽泛的一组操作条件下确定一个更大的ASE值数据集；

（Vi）利用在多个操作条件下相应于从生产数据集和动态ASE倾斜因子所生成的较大ASE数据集来补偿生产光学放大器的光输出功率，其优选是比训练数据集或生产数据集的操作条件更大的一组操作条件。

本发明的第二方面提供一种生产光学放大器，其适于取决于通过利用训练光学放大器在多个训练操作条件下预先获得的训练放大自发辐射（ASE）值的数据集来补偿适于ASE噪声的光输出，所述光学放大器包括：

（i）用于在多个生产操作条件下确定生产光学放大器的生产ASE值的数据集的装置，所述多个生产操作条件对应于多个训练操作条件的一个子集；

（ii）用于确定通过从生产数据集外推所产生的调整后ASE值的调整后的数据集的装置，这样调整后的数据集在与多个训练操作条件对应的多个操作条件下提供；

（iii）用于从训练数据集和如上确定的调整后的数据集来确定适于多个操作条件的每一条件的动态ASE倾斜因子的装置；

（iv）用于从调整后的ASE数据集和动态ASE倾斜因子来在比训练数据集或生产数据集的操作条件更宽泛的一组操作条件下确定ASE值的一个更大数据集的装置；

（v）用于在多个操作条件下相应于从生产数据集和动态ASE倾斜因子所生成的较大ASE数据集来补偿生产光学放大器的光输出功率的装置，其优选是比训练数据集或生产数据集的操作条件更大的一组操作条件。

通过使得生产ASE值偏移和倾斜来与训练数据集的训练ASE值相匹配可从生产ASE值的数据集来确定调整后的ASE值。可确定上述偏移和倾斜以便使得训练数据集和生产数据集的相应ASE值之间差异的均方根最小化。

当生产光学放大器被放置成操作时，如此确定的ASE值用于补偿总输出功率的读数以产生信号输出功率读数。通过下述可以完成上述，即例如从对应于8个固定操作条件下的8个测量的ASE值开始，然后通过其可用于确定适于操作条件范围的ASE的倾斜和偏移来产生与训练值相匹配的更大数目的ASE值，

此外，调整后的ASE值可用于确定多个波长和/或多个外部操作增益范围下的ASE值。以这种方式，其可通过用于确定适于任何操作条件下（而不只是一个有限的数据集）的ASE的倾斜和偏移来产生与训练值相匹配的更大数目的ASE值产生ASE值的大矩阵。

多个训练操作条件可包括多个操作波长。

多个生产操作条件可包括不对应于训练操作条件的操作条件。

多个训练操作条件可包括多个增益或输出功率水平。调整后的ASE值可通过偏移和倾斜训练数据集的训练ASE值来确定，以及每个增益或输出功率水平下的调整后的ASE值可独立地偏移和倾斜。

多个训练操作条件可包括与训练光学放大器和生产光学放大器的一部分相关联的多个温度。

训练光学放大器和生产光学放大器可包括掺铒光纤放大器（EDFA）。

训练ASE值可以是来自多个训练光学放大器的平均训练ASE值。

优选地，用于生产光学放大器的操作方法还包括使用由光信道监测器（OCM）或光功率监测器（OPM）或用户输入所提供的信道波长信息来调整ASE值以便改善增益或信号功率精确度。

信道波长信息可由用户输入、由外部光信道监测器（OCM）或光功率监测器（OPM）提供，或通过具有信道波长的先验知识来提供，以便调整ASE值，从而改善增益或信号功率精确度。

自OCM或OPM的测量可方便地在放大之前或之后进行。

附图说明

为了更好地理解本发明，以及为更清楚地示出它是如何可有效执行的，现在将仅仅通过实例的方式来参照附图，其中：

图1示意性地示出训练光学放大器；

图2A是训练数据集的曲线图；

图2B是进一步解释说明的曲线图；

图3示意性地示出生产光学放大器。

具体实施方式

图1示出了示例性的训练光学放大器100。训练光学放大器100包括输入光学耦合器102，掺铒光纤（EDF）104，输出光学耦合器106，泵浦激光器108，光学检测器110和电子控制元件112。

由训练光学放大器100接收输入光数据信号120。输入光数据信号120被传输到输入光学耦合器132。输入光学耦合器132是光学分路器，其将放大器的光数据信号120分成待放大的光数据信号134以及采样光136。光学检测器138（例如光检测器）生成与所接收的采样光136的光功率对应的电检测器信号140。光数据信号134通过随后的光学耦合器102被传输到EDF104。光数据信号134由EDF104放大，产生放大的光数据信号122和ASE噪声，其通过输出光学耦合器106传输。输出光学耦合器106是光学分路器，其将放大的光数据信号122分成光学放大器输出124和采样光126。光学检测器110（例如，光检测器）生成与所接收的采样光126的光功率对应的电检测器信号128。来自电子控制元件112的电控制信号130根据反馈程序设定泵浦激光器108的输出功率。反馈程序根据电检测器信号140和128操作以便将训练光学放大器100的光学增益设定到预定水平。备选的方法将适于反馈程序以便根据电检测器信号128来设定泵浦激光器108，从而将训练光学放大器100的光输出功率设定到预定水平。

影响训练光学放大器100ASE性能的参数包括被放大的光数据信号波长，光数据信号的增益水平或与输出功率水平，以及EDF的温度。光学放大器输出124被光耦合到光学频谱分析器114，其通过数据处理器116对光进行分析，以确定放大的输入光数据信号和ASE噪声的光功率。

训练光学放大器100的ASE性能以在训练波长范围下通过在多个波长范围下提供输入光数据信号120为特征，并确定相应的ASE值。此外ASE性能以不同的增益水平或输出功率为特征。此外，ASE性能可以不同的EDF温度为特征。

有利的是，ASE性能以高的光增益状态和低的光增益状态为特征。有利的是，ASE性能在相同的波长λ内以高的光增益状态和低的光增益状态为特征。在训练数据集118内对与增益和波长条件对应的ASE值进行整理设置（collated）。

有利的是，几个光学放大器100在相同的操作条件下进行特征化，以确定适于来自制造过程代表性样品设备的ASE值的平均值。

在一个优选的训练周期中，参照ASE/λ/增益数据集包括针对给定的输入信号波长存在的ASE量，因为给定的外部增益只生成一次，处于高和低的增益状态下的数据集200_A和200_B（图2A）跨过特定放大器的工作波长带宽。对于一个特定的应用程序，跨过频带的11个波长被选择（22个点）以便获得预测的精确度，从而满足ASE/λ的特定规格，但是通常而言，选择更多波长则在生产中可得到更高的精确度。此外，在11个波长点之间进行插补，以获得更多的数据点。用于生成数据集的方法是获得适于10个放大器的ASE/λ/增益数据集的测量值，然后对通过上述测量获得的数据取平均。这样做是为了除去跨过放大器的被动损耗的变化，以获得平均的被动损耗。测量的放大器越多，则获得的平均数据越好。

在图2A的曲线图中示出训练数据集200_#A和200_B。训练数据集包括跨过波长范围的在高增益200_A和低增益200_B下且在相同EDF温度下测量的ASE值。

在备选方法中，单个放大器和其被动损耗详细地特征化以便确定掺铒内（in-erbium）性能，然后利用所得到的数据以及还利用每一放大器的特征化（表征）被动损耗来预测每一放大器的性能。虽然这样的方法在生产中需要额外步骤，但是其会更精确。在另外备选的方法中，放大器的行为模型用于生成数据集200_A和200_B。可以使用多种技术来生成数据集200_A和200_B，不管使用任何一种方法，对于任何光学放大器设计而言只需要执行必要的特征化步骤一次。

在对训练光学放大器100的ASE性能特征化之后，具有基本相同于训练光学放大器构造的生产光学放大器300（在图3中示出）的ASE性能在例如波长、增益水平、功率输出和温度的操作参数的显著降低的生产范围下特征化。在包括比训练数据集200_A和200_B显著更少数目数据点的初级数据集202_A和202_B（图2A）内对与特征化性能对应的ASE值进行整理设置。初级数据集202_A和202_B包括与训练数据集200_A和200_B的数据点子集相对应的数据点，且其具有与训练数据集的数据点基本相同的参数值。生产数据集还可包括与训练数据集200_A和200_B数据点的参数值不对应的数据点202_C和202_D（例如，与训练数据集200_A和200_B的数据点不同的增益水平）。

在生产数据集和训练数据集内数据点的参数值之间的对应关系便于对其ASE值直接进行比较。然而，备选地，从训练数据集的数据点外推可用于生成与生产数据集数据点对应的适于参数值的外推数据点，且外推的数据点可用于与来自训练数据集的相应数据点进行比较。

可对来自训练数据集和生产数据集的具有基本相同参数值的相应数据点进行比较，以确定它们在相同操作条件下的差异。对于每一增益水平（或输出功率）以及在每一EDFA温度下，针对训练数据集的数据点，确定相对于波长的线性调整，其将通过均方根方法将相应成对数据点的ASE值的差异最小化。备选地，可以使用其它已知的差异最小化算法。线性调整包括偏移系数和倾斜系数。

为了实现上述，整个训练数据集通过相应于数据点的增益水平（温度等）的线性调整来进行调整，以产生调整后的数据集204_A和204_B。例如，根据下列公式来对训练数据集200_A中数据点的高增益组的每一ASE值进行调整，以便确定调整后的ASE值（AAV_A）：

AAV_A＝ASE_A+offset_A+{(λ-λ₀)×tiltcoefficient_A}

其中λ是所论述数据点处的光数据信号波长，以及λ₀是参照波长（例如，生产数据集波长范围的中点）。相对于训练数据集200_B中数据点的低增益组的ASE值对相同的偏移系数和倾斜系数进行相同过程，以便确定另一组调整的ASE值（AAV_B），然后这些AAV数据集用于确定适于任何增益与波长的ASE值，如下文所述的那样。当两个数据集202_A和202_B之间的误差最小化到调整后的训练数据集204_A和204_B时将得到最终的偏移和倾斜系数。

在一个优选的生产周期中，仅在三个波长和两个增益（6个点，202_A（外部增益g1）和202_B（外部增益g2））处测量每个放大器的ASE。然后使用一种线性算法通过将参照数据偏移成与6个点最接近匹配（新的数据集204_A和204_B）而将所测量的6个点与更精确的参照数据（训练数据集）相匹配。最接近的匹配程序使用平方根方法，但可以使用任何最合适的算法。然后通过公式对每个波长计算动态ASE倾斜（DAT）系数：

DAT_λ＝(ASE_xg1-ASE_xg2)/(ASE_nomg1-ASE_nomg2)

其中DAT_λ是输入信号波长λ下的DAT；

ASE_ab是波长a和增益b下的ASE值；

nom是标称（固定参照）波长（其通常是中点，但是其并不必需是中点）；

g1是外部增益1；

g2是外部增益2。

动态ASE倾斜（DAT）系数（因子）是放大器设计的独特特性，其从调整后的ASE值数据集来确定，然后在所需的算法中使用。其可以由DAT随波长变化的曲线表示为特征。

可确定适于其它增益水平（或其它参数，例如温度）的另外线性调整项。

在一个优选的生产周期中，则每个放大器具有在单个（标称）波长λ₀在两个另外增益202C和202D（图2B）下测量的其ASE值。在该特定的实例中，这两个另外的增益低于在其下测量6个数据点202A，202B的增益g1和g2，但是备选的，这些收益可高于增益g1和g2。然后将一条曲线适配到数据点202A到202D，因此，其可预测适于标称波长的与增益相对的ASE值。

使用曲线204A和204B，DAT_A值和曲线适配到202A至202D，利用公式其可预测适于任何输入信号波长和适于任何外部增益的ASE值：

ASE_xλ＝ASE_g1λ-DAT_λ ^＊(ASE_g1nom-ASE_xnom)+Off(g)

其中：

ASE_Xλ是用输入信号波长λ和外部光增益x预测的ASE值；

ASE_g1λ是用输入信号波长λ和外部光增益g1预测的ASE值；

DAT_A是适于输入信号波长λ的动态ASE倾斜系数。

越多地测量适于生产光学放大器的ASE值，则应用于放大器的ASE补偿将更精确。然而需要被测量的ASE值的最小数目为两个，每个对应每一增益。然后，可从倾斜和偏移后的这些测量值计算适配的ASE_nom（g），并仅使用这些测量值来确定ASE矩阵，如果没有应用ASE补偿，那么其仍然会产生性能好于如果没有应用ASE补偿情况下的放大器。

图2A和图2B中的所有数据点都在相同的温度下确定，如在热稳定的EDFA的情况下将需要的那样。然而，在生产光学放大器内的EDF温度没有热稳定（例如，通过加热器或电热冷却装置，诸如帕尔贴（Peltier）冷却器）的情况下，可使用训练光学放大器的特性来确定不同温度下的补偿系数。因此，通过与图2A或图2B中所示的外推方法类似的方法，可确定调整后的补偿值数据集，其包括EDF温度变化的补偿。在其中EDF没有热稳定的情况下，通常会提供一个监测器，以便将与EDF温度相关的信号反馈到电子控制元件。

图3示出了生产光学放大器300。为了方便起见，在实际上相当于图1中所示训练光学放大器100相应部分的生产光学放大器300的组件部分通过相同的附图标记加上200来标记。因此，相比于图1中的EDF104，图3中所示的EDF由附图标记304标示。提供调整后的ASE值AAV的查找表340以便控制由电子控制元件312施加给泵浦激光器308的ASE值。

因此，通过本发明的方法，其没有必要对生产光学放大器300的ASE性能相对于操作参数来充分表征，如在现有技术中的情况那样。相比之下，生产光学放大器300仅需要进行简短的表征以生成更小的初级数据集，从该初级数据集来确定调整后的ASE值AAV的数据集。然后，对于给定的操作波长，从处于（或接近）该波长下的调整后的ASE值AAV_A和AAV_B可推出增益水平或功率水平，温度和操作的ASE值。为此目的，光学检测器338将光输入功率的电信号指示以及光学检测器310将光输出功率的电信号指示供应给电子控制元件312以便提供增益和/或输出功率的信息，以及由电子控制元件312从系统控制或通过从系统中另一光学组件（诸如光信道监测器（OCM））传递的信息来确定光信号的波长，然后由电子控制元件312将所需的调整应用到泵浦激光器308。

有利的是，由本发明的方法可以比现有技术的方法更快捷和廉价地确定ASE（增益，波长，温度）表。

有利的是，可将补偿技术应用到具有许多信号信道的系统，诸如密集型波分复用（DWDM）传输系统，其中需要从现有系统构造增加或减少信号信道。信号波长和ASE的获知将允许更快且更精确地确定对不受影响的信号通道造成的影响。

应该意识到通过使用由光信道监测器（OCM）或光功率监测器（OPM）或用户输入的信道波长信息可以执行上述的ASE补偿方法，以便调整ASE补偿，从而提高增益或信号功率精确度。对于非平坦增益的放大器而言，对于精确增益或信号精确度所需的ASE与波长有关。放大器中存在的信道波长的简单获知提供了足够的信息来进行增益或信号功率精确度的显著改进。可能并不需要放大之前和之后的来自OCM的详细信道增益或功率值，但是随着使用越来越多的信息，误差可进一步减小。

在高输出信号功率（通常为高信道数和满载的信道设计）下，ASE的量通常相对于信号功率比例很小，因此最多只对增益精确度存在较小影响。在低信号功率（几个信道或很少加载的信道设计）下，ASE会很容易地超过信号功率，从而对增益或功率设定精确度存在显著影响。

值得一提的是，对于EDF的给定平均反转而言ASE功率几乎是不变的。其结果是，平坦放大器的总ASE功率大约独立于存在的精确信道波长以及功率输出信号，因为相同的平均变化对所有波长给出相同的增益。

还值得一提的是，放大器（具体为EDFA）由于很多原因可具有非平坦的增益频谱。非平整度可由用于补偿从增益介质的基本增益变化的增益平坦滤波器（GFF）缺乏导致，或由倾斜状态下的操作导致。

正如前面所提到的，对于非平坦的放大器，特定增益所需的平均反转依赖决于波长。这意味着ASE补偿也将需要依赖于波长，以便对于给定的输入波长来准确地获得目标增益。ASE对波长的依赖性可以在制备时被特征化且以程序编入于放大器内。

因此，OCM/OPM或顾客只需提供存在于放大器内的信道波长，然后控制件可计算出增益设定和存在波长的组合所需的合适ASE补偿。为了ASE补偿的目的，在存在的所有信道（无论是放大之前或之后）中的相对功率的测量可用于计算有效平均波长。

利用来自OCM/OPM或顾客的信息以及每个信道中的相对功率，可以应用适当的加权，以便进一步改善ASE补偿。

Claims

1.一种基于第二光学放大器的特性来操作第一光学放大器的方法，该第一光学放大器为生产光学放大器，该第二光学放大器为训练光学放大器，并且该第一光学放大器和第二光学放大器具有基本相同的构造，所述方法包括：

通过在多个训练操作条件下确定所述第二光学放大器的训练ASE值的数据集，对该第二光学放大器进行特征化；

通过以下步骤对所述第一光学放大器进行特征化：

在多个生产操作条件下确定该第一光学放大器的生产ASE值的数据集，所述多个生产操作条件对应于多个训练操作条件的一个子集；

确定通过从生产ASE值的数据集外推所生成的调整后ASE值的调整后的数据集，这样调整后ASE值的数据集在与多个训练操作条件对应的多个操作条件下提供；

从所述训练ASE值的数据集和如上确定的调整后ASE值的数据集来确定适于多个操作条件的每一条件的动态ASE倾斜因子；

从调整后ASE值的数据集和动态ASE倾斜因子来在比训练ASE值的数据集或生产ASE值的数据集的操作条件更宽泛的一组操作条件下确定一个ASE值的更大数据集；以及

根据所述更大的ASE值数据集来补偿所述第一光学放大器的光输出功率。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述调整后ASE值用于确定多个波长和/或多个外部操作增益范围下的ASE值。

3.根据权利要求1所述的方法，其中所述调整后ASE值的调整后的数据集通过偏移和倾斜生产ASE值而与训练数据集的训练ASE值相匹配来由生产ASE值的数据集确定。

4.根据权利要求3所述的方法，其中确定所述偏移和倾斜以便将训练数据集和生产数据集的相应ASE值之间差异的均方根最小化。

5.根据权利要求1-4中任意一条所述的方法，其中调整后ASE值的数据集包括与训练数据集的每一训练ASE值相对应的调整后ASE值。

6.根据权利要求1-4中任意一条所述的方法，其中所述多个训练操作条件包括多个操作波长。

7.根据权利要求1-4中任意一条所述的方法，其中所述多个生产操作条件包括与训练操作条件不对应的操作条件。

8.根据权利要求1-4中任意一条所述的方法，其中所述多个训练操作条件包括多个增益或输出功率水平。

9.根据权利要求8所述的方法，其中调整后ASE值通过偏移和倾斜训练数据集的训练ASE值来确定，以及每一增益或输出功率水平下的调整后ASE值独立地偏移和倾斜。

10.根据权利要求1-4中任意一条所述的方法，其中由下述公式确定动态ASE倾斜因子：

DAT_λ＝(ASE_xg1-ASE_xg2)/(ASE_nomg1-ASE_nomg2)

其中：

DAT_λ是输入信号波长λ下的动态ASE倾斜因子；

ASE_ab是波长a和增益b下的ASE值；

nom是标称波长；

g1是外部增益1；

g2是外部增益2。

11.根据权利要求1-4中任意一条所述的方法，其中所述调整后ASE值利用下述关系式用于确定多个波长和/或外部操作增益范围下的ASE值：

ASE_Xλ＝ASE_g1λ-DAT_λ*(ASE_g1nom-ASE_xnom)+Off(g)

其中：

ASE_Xλ是用输入信号波长λ和外部光增益x预测的ASE值；

ASE_g1λ是用输入信号波长λ和外部光增益g1预测的ASE值；

DAT_λ是适于输入信号波长λ的动态ASE倾斜系数；

ASE_g1nom是处于标称波长和外部光增益为1的ASE值；

ASE_xnom是处于标称波长和外部光增益为x的ASE值；

Off(g)是线性补偿。

12.根据权利要求1-4中任意一条所述的方法，其中所述多个训练操作条件包括与所述第二光学放大器和所述第一光学放大器的一部分相关联的多个温度。

13.根据权利要求1-4中任意一条所述的方法，其中所述第二光学放大器和第一光学放大器包括掺铒光纤放大器。

14.根据权利要求1-4中任意一条所述的方法，其中所述训练ASE值是多个第一光学放大器的平均训练ASE值。

15.根据权利要求1-4中任意一条所述的方法，该方法还包括使用由光信道监测器或光功率监测器或用户输入所提供的信道波长信息来调整ASE值，以便改善增益或信号功率精确度。

16.根据权利要求1-4中任意一条所述的方法，该方法还包括使用由用户输入提供的、由外部光信道监测器或光功率监测器提供的、或由具有信道波长的先验知识提供的信道波长信息来调整ASE值，以便改善增益或信号功率精确度。

17.根据权利要求15所述的方法，其中自外部光信道监测器或光功率监测器的测量在放大之前或之后进行。

18.—种第一光学放大器，其适于取决于通过利用第二光学放大器在多个训练操作条件下预先获得的训练ASE值的数据集来补偿适于ASE噪声的光输出，该第一光学放大器为生产光学放大器，该第二光学放大器为训练光学放大器，并且该第一光学放大器和第二光学放大器具有基本相同的构造，所述第一光学放大器包括：

用于在多个生产操作条件下确定该第一光学放大器的生产ASE值的数据集的装置，所述多个生产操作条件对应于多个训练操作条件的一个子集；

用于确定通过从生产ASE值的数据集外推所生成的调整后的ASE值的调整后的数据集的装置，这样调整后ASE值的数据集在与多个训练操作条件对应的多个操作条件下提供；

用于从所述训练ASE值的数据集和如上确定的调整后ASE值的数据集来确定适于多个操作条件的每一条件的动态ASE倾斜因子的装置；

用于从调整后ASE值的数据集和动态ASE倾斜因子来在比训练ASE值的数据集或生产ASE值的数据集的操作条件更宽泛的一组操作条件下确定ASE值的一个更大数据集的装置；以及

用于根据所述ASE值的更大数据集来补偿所述第一光学放大器的光输出功率的装置。

19.一种光网络，其包括根据权利要求18所述的第一光学放大器。