CN102955136A - 冗余电源辅助检测电路及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种冗余电源辅助检测电路,用于辅助检测一电子设备的冗余电源的工作状况,该电子设备包括至少二个电源供应器,该冗余电源辅助检测电路包括计时器、切换单元及微控制器,该计时器用以每间隔一段时间向微控制器触发脉冲信号,切换单元电性连接于一外部的供电电源与二电源供应器之间,该微控制器用以控制切换单元作动,以使任意一个电源供应器与供电电源导通或断开。本发明还提供一种冗余电源辅助检测方法,该冗余电源辅助检测方法测试效率高,且不会造成人力资源的浪费。
Description
技术领域
本发明涉及一种冗余电源辅助检测电路及方法。
背景技术
服务器、路由器和交换机等对可靠性要求较高的设备中广泛使用两个或两个以上的电源供应模块同时供电,这种技术称为冗余电源技术。冗余电源一般是由两个或多个完全一样的电源组成,由芯片控制电源进行负载分配,当一个电源出现故障时,另一个电源马上可以接管其工作以保持电子设备继续正常运行。实际使用时,常需要检测冗余电源的工作状态时的相关参数及其与系统的相容性。然而,现有的检测工作大都是一个较为繁琐的过程,检测效率较低且浪费人力资源。
发明内容
鉴于以上情况,有必要提供一种检测效率较高的冗余电源辅助检测电路。
另,还有必要提供一种使用上述冗余电源辅助检测电路对冗余电源进行检测的检测方法。
一种冗余电源辅助检测电路,用于辅助检测一电子设备的冗余电源的工作状况,该电子设备包括至少二个电源供应器,该冗余电源辅助检测电路包括计时器、切换单元及微控制器,该计时器用以每间隔一段时间向微控制器触发脉冲信号,切换单元电性连接于一外部的供电电源与二电源供应器之间,该微控制器用以控制切换单元作动,以使任意一个电源供应器与供电电源导通或断开。
一种冗余电源辅助检测方法,其包括如下步骤:a:控制器控制切换单元断开,以使一个电源供应器与供电电源断开;b:控制器控制切换单元闭合,以使该电源供应器与供电电源导通;c:控制器控制切换单元断开,以使另一个电源供应器与供电电源断开;d:控制器控制切换单元闭合,以使该另一个电源供应器与供电电源导通。
上述的冗余电源辅助检测电路通过计时器每隔一定时间触发脉冲信号,并通过微控制器控制切换单元作动,使第一电源供应器和第二电源供应器与供电电源导通或断开,进而实现测试自动化。该冗余电源辅助检测电路工作时无需人为操作,检测效率高。
附图说明
图1为本发明较佳实施方式的冗余电源辅助检测电路的功能模块图;
图2及图3为本发明较佳实施方式的冗余电源辅助检测方法的流程图。
主要元件符号说明
冗余电源辅助检测电路 | 100 |
计时器 | 10 |
微控制器 | 30 |
切换单元 | 50 |
单刀单掷开关 | S1、S2 |
电子设备 | 200 |
第一电源供应器 | 220 |
第二电源供应器 | 240 |
基板管理控制器 | 260 |
供电电源 | 300 |
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参阅图1,本发明提供一种冗余电源辅助检测电路100,其用以辅助检测一电子设备200的冗余电源的工作状态。
该电子设备200可为一服务器,其包括第一电源供应器(Power Supply Unit,PSU)220、第二电源供应器240及基板管理控制器(Baseboard Management Controller,BMC)260。该第一电源供应器220和第二电源供应器240用以将一供电电源300(约220V)的电压转换成供电子设备200使用的电压。该基板管理控制器260用以监控并记录电子设备200的运行状况,并依据该电子设备200的运行状况判断第一电源供应器220和第二电源供应器240的工作状况。
该冗余电源辅助检测电路100包括计时器10、微控制器30及切换单元50。
该计时器10与微控制器30电性连接,用以在一设定的测试时间内每隔间一段时间向微控制器30触发一个脉冲信号。在本实施例中,该测试时间约为12小时,该计时器10每隔5分钟向微控制器30触发一个高电平信号。
微控制器30与切换单元50电性连接,用以依据计时器10传送的脉冲信号控制切换单元50。
在本实施例中,切换单元50包括单刀单掷开关S1、S2。该单刀单掷开关S1、S2各自的一端与供电电源300电性连接,另一端分别与第一电源供应器220和第二电源供应器240电性连接。同时,该单刀单掷开关S1、S2用以在微控制器30的控制下分别使第一电源供应器220和第二电源供应器240与供电电源300导通或断开。
下面结合图2及图3说明使用该冗余电源辅助检测电路100对第一电源供应器220和第二电源供应器240进行检测的方法,即该冗余电源辅助检测方法包括如下步骤:
步骤S1:计时器10开始计时,并在计时到一设定的时间(在本实施例为5分钟)后向微控制器30触发第一脉冲信号;
步骤S2:微控制器30接收脉冲信号,并控制单刀单掷开关S1断开,以使第一电源供应器220与供电电源300断开;
步骤S3:基板管理控制器260监控并记录此时电子设备200的运行状况;
步骤S4:计时器10继续计时,并在5分钟后向微控制器30触发第二脉冲信号;
步骤S5:微控制器30接收脉冲信号,并控制单刀单掷开关S1闭合,以使第一电源供应器220与供电电源300导通;
步骤S6:基板管理控制器260监控并记录此时电子设备200的运行状况;
步骤S7:计时器10继续计时,并在5分钟后向微控制器30触发第三脉冲信号;
步骤S8:微控制器30接收脉冲,并控制单刀单掷开关S2断开,以使第二电源供应器240与供电电源300断开;
步骤S9:基板管理控制器260监控并记录此时电子设备200的运行状况;
步骤S10:计时器10继续计时,并在5分钟后向微控制器30触发第四脉冲信号;
步骤S11:微控制器30接收脉冲信号,并控制单刀单掷开关S2闭合,以使第二电源供应器240与供电电源300导通;
步骤S12:基板管理控制器260监控并记录此时电子设备200的运行状况;
步骤S13:计时器10判断计时总时间是否达到设定的测试时间,若达到则停止计时,并执行步骤S14;若未达到则继续计时,并返回步骤S1;
步骤S14:基板管理控制器260依据在设定的测试时间内对电子设备200的运行状况的监控判断第一电源供应器220和第二电源供应器240的工作状况,并将判断的结果通过电子设备200的显示屏(图未示)显示。例如当第一电源供应器220与供电电源300断开时,该电子设备200运行正常,而第一电源供应器220与供电电源300导通时,该电子设备200运行异常,则基板管理控制器260判断该第一电源供应器220工作状况异常,此为现有技术,在此不再赘述。
可以理解,本发明的切换单元50不局限于实施例所述的单刀单掷开关,也可为继电器等现有的开关元件。
可以理解,本发明的冗余电源辅助检测电路100还可以用以同时辅助检测数量更多的电源供应器的工作状况,只需使上述单刀单掷开关如S1、S2等开关元件的数量与被检测的电源供应器的数量保持一致并依照上述方式建立对应的连接即可。
本发明的冗余电源辅助检测电路100通过计时器10每隔一定时间触发脉冲信号,并通过微控制器30控制切换单元50作动,使第一电源供应器220和第二电源供应器240与供电电源300导通或断开,进而实现测试自动化。该冗余电源辅助检测电路100工作时无需人为操作,不会浪费人力资源,且检测效率高。
Claims (9)
1.一种冗余电源辅助检测电路,用于辅助检测一电子设备的冗余电源的工作状况,该电子设备包括至少二个电源供应器,其特征在于:该冗余电源辅助检测电路包括计时器、切换单元及微控制器,该计时器用以每间隔一段时间向微控制器触发脉冲信号,切换单元电性连接于一外部的供电电源与二电源供应器之间,该微控制器用以控制切换单元作动,以使任意一个电源供应器与供电电源导通或断开。
2.如权利要求1所述的冗余电源辅助检测电路,其特征在于:所述切换单元包括至少二个单刀单掷开关,每一单刀单掷开关连接于一电源供应器与供电电源之间。
3.如权利要求1所述的冗余电源辅助检测电路,其特征在于:所述切换单元为继电器。
4.如权利要求1所述的冗余电源辅助检测电路,其特征在于:所述电子设备包括基板管理控制器,该基板管理控制器用以监控并记录电子设备的运行状况,并依据该电子设备的运行状况判断电源供应器的工作状况。
5.一种如权利要求1所述的冗余电源辅助检测装置的检测方法,其包括如下步骤:
a:控制器控制切换单元断开,以使一个电源供应器与供电电源断开;
b:控制器控制切换单元闭合,以使该电源供应器与供电电源导通;
c:控制器控制切换单元断开,以使另一个电源供应器与供电电源断开;
d:控制器控制切换单元闭合,以使该另一个电源供应器与供电电源导通。
6.如权利要求5所述的冗余电源辅助检测方法,其特征在于:所述步骤a、b、c、d之前均包括计时器开始计时,并在计时到一设定的时间后向微控制器触发一个脉冲信号的步骤。
7.如权利要求5所述的冗余电源辅助检测方法,其特征在于:所述步骤a、b、c、d之后均包括监控并记录此时电子设备的运行状况的步骤。
8.如权利要求5所述的冗余电源辅助检测方法,其特征在于:所述冗余电源辅助检测方法还包括计时器判断计时总时间是否达到设定的测试时间,若达到设定的测试时间则停止计时,若未达到设定的测试时间则继续计时的步骤。
9.如权利要求8所述的冗余电源辅助检测方法,其特征在于:所述冗余电源辅助检测方法在所述计时总时间达到设定的测试时间后,还包括依据在设定的测试时间内电子设备的运行状况判断电源供应器的工作状况的步骤。
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C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
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