CN102944357B - 一种工作用真空计校准装置及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种工作用真空计校准装置及方法,属于测量领域。所述装置包括:供气系统、微调阀、标准真空计、标准容器、小孔、波纹管截止阀、校准室、工作用真空计、机械泵、隔断阀、分子泵、全金属插板阀。所述装置延伸了工作用真空计的校准下限,降低了测量不确定度,提高了校准精度,解决了真空度在1×10-4Pa~1×10-1Pa范围内工作用真空计的校准。
Description
技术领域
本发明涉及一种工作用真空计校准装置及方法,特别是实现真空度在1×10-4Pa~1×10-1Pa范围内工作用真空计准确校准的装置及方法,属于测量领域。
背景技术
工作用真空计广泛应用于工业生产各个领域,其测量范围大多在1×10-4Pa~1×105Pa。工作用真空计的校准是真空计量领域的一个重要研究方向。文献“许红,张书令,唐景远。工作用热传导真空计的现场计量校准.第六届华东三省一市真空学术交流会,2009”介绍了目前工作用真空计校准时所采用的便携式真空校准系统。该系统配备了一台机械泵和一台分子泵,包含1Torr、10Torr、100Torr、1000Torr四个量程的2台薄膜真空计、真空容器、真空管道和阀门等,薄膜真空计精度分别为读数的±0.25%和±0.15%,极限真空可到10-3Pa。
这种系统的不足之处是装置的极限真空度只能到10-3Pa,无法实现1×10-4Pa~1×10-1Pa范围内工作用真空计的准确校准;配备的标准真空计精度低,使校准不确定度增大。
发明内容
本发明的目的在于提供一种工作用真空计校准装置及方法,所述装置利用了体积为1L的标准容器和压力衰减比为1/1000的小孔,使标准容器中的压力经过小孔减小后再引入到校准室中,用高精度电容薄膜型真空计作为标准真空计,延伸了工作用真空计的校准下限,降低了测量不确定度,提高了校准精度,解决了真空度在1×10-4Pa~1×10-1Pa范围内工作用真空计的校准。
本发明的目的由以下技术方案实现:
一种工作用真空计校准装置,所述装置包括:供气系统、微调阀、标准真空计、标准容器、小孔、波纹管截止阀、校准室、工作用真空计、机械泵、隔断阀、分子泵、全金属插板阀;
供气系统、微调阀、标准容器、小孔、波纹管截止阀、校准室、工作用真空计依次相连,标准真空计与标准容器相连,机械泵与标准容器相连,分子泵通过全金属插板阀与校准室相连,隔断阀一端与机械泵相连,另一端与分子泵相连;
其中,供气系统为气瓶或气袋;微调阀为超高真空全金属微调阀;标准真空计为满量程为1Torr、测量准确度为满量程的0.05%的电容薄膜型真空计;标准容器的体积为1L,小孔的压力衰减系数为1/1000。
本发明所述的一种工作用真空计校准装置的校准方法,所述方法步骤如下:
①打开标准真空计,使标准真空计稳定24小时;
②保持微调阀、隔断阀、全金属插板阀为关闭状态,波纹管截止阀为打开状态,启动机械泵,对标准容器、小孔、校准室及其管路进行抽气,使真空度小于1Pa;
③打开隔断阀和全金属插板阀,启动分子泵,使分子泵正常工作,使校准室达到10-6Pa的极限真空度,保持校准室的状态等待后续操作;
④打开微调阀,将供气系统中的气体通过标准容器、小孔引入到校准室中,当标准容器达到动态平衡,标准真空计读数稳定且达到所需的校准压力时,关闭微调阀;待校准室中气体压力达到动态平衡后,分别记录标准真空计的压力读数p1和工作用真空计所显示的压力读数p2;根据式(I)计算得到校准室的标准压力,
p=r×p1 (I)
式中,p为校准室的标准压力;r为小孔的压力衰减系数;
根据式(II)计算校准因子,
式中,c为校准因子;
其中,步骤④中所述校准压力根据工作用真空计的测量范围确定;
优选重复步骤④,每次选取不同的校准压力,进行多次测量,再将每一次测量计算得到的校准因子取平均值。
有益效果
(1)本发明所述装置及方法能够使校准室的极限真空度达到5×10-6Pa,利用了体积为1L的标准容器和压力衰减比为1/1000的小孔,有效的延伸工作用真空计的校准下限,能够实现对压力范围为1×10-4Pa~1×10-1Pa的工作用真空计的准确校准。
(2)本发明所述装置及方法使用测量准确度为满量程的0.05%的电容薄膜型真空计提供校准时的标准压力读数,降低了测量不确定度,提高了校准精度。
附图说明
图1为本发明所述的一种工作用真空计校准装置的示意图;
其中,1—供气系统、2—微调阀、3—标准真空计、4—标准容器、5—小孔、6—波纹管截止阀、7—校准室、8—工作用真空计、9—机械泵、10—隔断阀、11—分子泵、12—全金属插板阀。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例来详述本发明,但不限于此。
实施例1
如图1所示,一种工作用真空计8校准装置,所述装置包括:供气系统1、微调阀2、标准真空计3、标准容器4、小孔5、波纹管截止阀6、校准室7、工作用真空计8、机械泵9、隔断阀10、分子泵11、全金属插板阀12;
供气系统1、微调阀2、标准容器4、小孔5、波纹管截止阀6、校准室7、工作用真空计8依次相连,标准真空计3与标准容器4相连,机械泵9与标准容器4相连,分子泵11通过全金属插板阀12与校准室7相连,隔断阀10一端与机械泵9相连,另一端与分子泵11相连;
其中,供气系统1为气瓶或气袋;微调阀2为超高真空全金属微调阀2;标准真空计3为满量程为1Torr、测量准确度为满量程的0.05%的电容薄膜型真空计;标准容器4的体积为1L,小孔5的压力衰减系数为1/1000。
本发明所述的一种工作用真空计8校准装置的校准方法,所述方法步骤如下:
①打开标准真空计3,使标准真空计3稳定24小时;
②保持微调阀2、隔断阀10、全金属插板阀12为关闭状态,波纹管截止阀6为打开状态,启动机械泵9,对标准容器4、小孔5、校准室7及其管路进行抽气,使真空度小于1Pa;
③打开隔断阀10和全金属插板阀12,启动分子泵11,使分子泵11正常工作,使校准室7达到5×10-6Pa的极限真空度,保持校准室7的状态等待后续操作;
④打开微调阀2,将供气系统1中的气体通过标准容器4、小孔5引入到校准室7中,当标准容器4达到动态平衡,标准真空计3读数稳定且达到10-1Pa数量级的校准压力时,关闭微调阀2;待校准室7中气体压力达到动态平衡后,此时标准真空计3的压力读数p1为3.25×10-1Pa,工作用真空计8所显示的压力读数p2为3.6×10-4Pa;根据式(I)计算得到校准室7的标准压力,
p=r×p1 (I)
式中,p为校准室7的标准压力,单位:Pa;r为小孔5的压力衰减系数,无量纲;
将p1=3.25×10-1Pa、r=1/1000代入式(I),计算得到标准压力p=3.25×10-4Pa。
根据式(II)计算校准因子,
式中,c为校准因子,无量纲;
将p2=3.6×10-4Pa、p=3.25×10-4Pa代入式(II),计算得到被校工作用真空计的校准因子为c=0.903。
其中,步骤④中所述校准压力根据工作用真空计8的测量范围确定;
优选重复步骤④,每次选取不同的校准压力,进行多次测量,再将每一次测量计算得到的校准因子取平均值。
本发明包括但不限于以上实施例,凡是在本发明精神的原则之下进行的任何等同替换或局部改进,都将视为在本发明的保护范围之内。
Claims (4)
1.一种工作用真空计(8)校准装置,其特征在于:所述装置包括:供气系统(1)、微调阀(2)、标准真空计(3)、标准容器(4)、小孔(5)、波纹管截止阀(6)、校准室(7)、工作用真空计(8)、机械泵(9)、隔断阀(10)、分子泵(11)、全金属插板阀(12);
供气系统(1)、微调阀(2)、标准容器(4)、小孔(5)、波纹管截止阀(6)、校准室(7)、工作用真空计(8)依次相连,标准真空计(3)与标准容器(4)相连,机械泵(9)与标准容器(4)相连,分子泵(11)通过全金属插板阀(12)与校准室(7)相连,隔断阀(10)一端与机械泵(9)相连,另一端与分子泵(11)相连。
2.根据权利要求1所述的一种工作用真空计(8)校准装置,其特征在于:所述供气系统(1)为气瓶或气袋;微调阀(2)为超高真空全金属微调阀(2);标准真空计(3)为满量程为1Torr、测量准确度为满量程的0.05%的电容薄膜型真空计;标准容器(4)的体积为1L,小孔(5)的压力衰减系数为1/1000。
3.一种采用权利要求1所述的工作用真空计(8)校准装置的校准方法,其特征在于:所述方法步骤如下:
①打开标准真空计(3),使标准真空计(3)稳定24小时;
②保持微调阀(2)、隔断阀(10)、全金属插板阀(12)为关闭状态,波纹管截止阀(6)为打开状态,启动机械泵(9),对标准容器(4)、小孔(5)、校准室(7)及其管路进行抽气,使真空度小于1Pa;
③打开隔断阀(10)和全金属插板阀(12),启动分子泵(11),使分子泵(11)正常工作,使校准室(7)达到10-6Pa的极限真空度,保持校准室(7)的状态等待后续操作;
④打开微调阀(2),将供气系统(1)中的气体通过标准容器(4)、小孔(5)引入到校准室(7)中,当标准容器(4)达到动态平衡,标准真空计(3)读数稳定且达到所需的校准压力时,关闭微调阀(2);待校准室(7)中气体压力达到动态平衡后,分别记录标准真空计(3)的压力读数p1和工作用真空计(8)所显示的压力读数p2;根据式(I)计算得到校准室(7)的标准压力,
p=r×p1 (I)
式中,p为校准室(7)的标准压力;r为小孔(5)的压力衰减系数;
根据式(II)计算校准因子,
式中,c为校准因子;
其中,步骤④中所述校准压力根据工作用真空计(8)的测量范围确定。
4.根据权利要求3所述的一种采用工作用真空计(8)校准装置的校准方法,其特征在于:重复步骤④,每次选取不同的校准压力,进行多次测量,再将每一次测量计算得到的校准因子取平均值。
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