CN102866520B - 一种光配向液晶面板光学检测的方法及其检测设备 - Google Patents

一种光配向液晶面板光学检测的方法及其检测设备 Download PDF

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Abstract

本发明公开一种光配向液晶面板光学检测的方法及其检测设备。所述光配向液晶面板光学检测的方法包括步骤：A、根据光配向液晶面板的一个合格的预设的检测单元的内部影像生成模式影像；B、以预设的检测单元为单位，获取待检的光配向液晶面板的检测单元的内部影像生成待检影像，跟模式影像进行比对；生成比对结果。本发明根据预设的检测单元为基准的比对单位，将检测单元的内部影像纳入模式影像，相比简单以子像素边框影像作为模式影像的做法，对比的特征更多，覆盖的范围也更广，这样在比对的时候有了更多的参考细节，可以有效减少影像比对误判，增强拦检成功率。

Description

一种光配向液晶面板光学检测的方法及其检测设备
技术领域
本发明涉及液晶显示领域，更具体的说，涉及一种光配向液晶面板光学检测的方法及其检测设备。
背景技术
在液晶显示器中，以三原色为基础，对应有一个子像素，然后由至少3个分别跟三原色对应的子像素构成一个显示像素。子像素中填充有液晶，为了提高液晶分子的响应速度，一般都需要将液晶分子预先设置一定的角度。图1所示为一种采用光配向技术设置液晶分子的预倾角的工艺流程，所谓光配向技术是指在给基板印加电压的情况下，通过紫外线（UV）光照射促使面板内的取向剂（monomer）反应，从而达到液晶配向的目的。目前，光配向液晶面板技术已广泛应用于高世代TFT-LCD行业中，在光配向液晶面板时，为了及时发现不合格的产品，需要在紫外线照射（UVM）设备后配置光自动光学（AOI）检查机，专门检查经过UVM设备照射完成后基板的配向影像（LC影像）是否有异常。AOI设备能及时拦检配向异常，避免因UVM设备印加装置-探头栏（Probebar）连接（Contact）不良造成大量报废。AOI检查配向异常的方式为LC影像检查，是在给基板印加电压的情况下，由摄像装置取得LC影像，经由检查程序预先建立好的模式（Model）影像做比对评分（参见图2），如果影像差异大则判断为不合格（NG）；差异小则判断合格（OK）。目前的影像模式比对只能以单个子像素为检测单元，获取单个子像素的边框影像，然后通过影像边框差异相似度来判定OK或NG，容易出现漏判的现象。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种减少影像比对误判，增强拦检成功率的光配向液晶面板光学检测的方法及其检测设备。
本发明的目的是通过以下技术方案来实现的：
一种光配向液晶面板光学检测的方法，包括步骤：
A、根据光配向液晶面板的一个合格的预设的检测单元的内部影像生成模式影像；
B、以预设的检测单元为单位，获取待检的光配向液晶面板的检测单元的内部影像生成待检影像，跟模式影像进行比对；生成比对结果。
进一步的，所述步骤A中，所述检测单元为一个子像素，所述模式影像包括所述子像素的内部影像。此为一种具体的检测单元划分方式，子像素作为像素的基本构件，进行逐一进行比对，可以提高单个子像素不良的拦检成功率，确保合格的成品每个子像素的完整性，提升显示品质。
进一步的，所述模式影像包括至少一个子像素的边框影像。增加子像素的边框影像，多了比较特征，判断更准确。
进一步的，所述步骤A中，所述检测单元包括至少三个分别跟三原色对应的子像素，所述模式影像包括所有子像素的边框影像。液晶显示是以像素为基本的显示单位，每个像素中包括了至少三个子像素，而在实际生产中可能会出现某个子像素完全没有显示的情况，因此，本技术方案至少以一个像素为单位作为检测单元，可以检测出像素中单个子像素全无的故障，进一步提升拦检成功率。
进一步的，所述模式影像包括至少一个子像素的内部影像。增加子像素的内部影像，内部影像的特征比较多，将内部影像加入对比，可以进一步提升判断的准确性。
进一步的，所述步骤B中，通过计算机模糊比较的方法，将待检的检测单元的内部影像跟模式影像进行比对，生成比对结果。此为一种具体的比对方法。
进一步的，所述步骤A中，先通过摄像装置获取光配向液晶面板合格的检测单元的内部影像，然后再通过计算机抽取内部影像的线条特征后重新构图，形成所述模式影像。发明人研究发现，当发生配向异常时，子像素内部会出现花纹型、鱼肚型等暗线，跟正常子像素相比区别明显，而且不良的图案呈现出明显的线条特征，因此，本发明将子像素的内部影像的线条图案作为模式影像，只要进行线条图案的比对即可（类似于指纹识别），无须进行颜色相关的特征比对，在保障拦检成功率的前提下，可以简化比对难度，提升比对速度。
进一步的，所述步骤A中，先通过调节摄像装置倍率以及背光源亮度，使检测单元的内部结构清晰度最大化，然后再获取光配向液晶面板合格的检测单元的内部影像，作为模式影像。通过提高影像的分辨率，可以获取更多的参照特征，有利于提升比对的准确度。
一种光配向液晶面板光学检测设备，包括：
用于获取检测单元内部影像的摄像装置；
跟摄像装置耦合、用于获取光配向液晶面板的一个合格的检测单元的内部影像，作为模式影像的建模装置；
以及将待检的检测单元的内部影像跟模式影像进行比对的比较装置。
进一步的，所述检测单元为一个子像素，所述建模装置获取所述子像素的内部影像作为模式影像。此为一种具体的检测单元划分方式，子像素作为像素的基本构件，进行逐一进行比对，可以提高单个子像素不良的拦检成功率，确保合格的成品每个子像素的完整性，提升显示品质。
进一步的，所述检测单元包括至少三个分别跟三原色对应的子像素，所述建模装置获取所有子像素的边框影像作为模式影像。液晶显示是以像素为基本的显示单位，每个像素中包括了至少三个子像素，而在实际生产中可能会出现某个子像素完全没有显示的情况，因此，本技术方案至少以一个像素为单位作为检测单元，可以检测出像素中单个子像素全无的故障，进一步提升拦检成功率。
本发明根据预设的检测单元为基准的比对单位，将检测单元的内部影像纳入模式影像，相比简单以子像素边框影像作为模式影像的做法，对比的特征更多，覆盖的范围也更广，这样在比对的时候有了更多的参考细节，可以有效减少影像比对误判，增强拦检成功率。
附图说明
图1是光配向液晶面板的原理示意图；
图2是现有的一种以单个子像素边框影像作为比对对象的检测方法示意图；
图3是子像素内部不良的故障示意图；
图4是子像素全无的故障示意图；
图5是本发明方法的流程示意图。
具体实施方式
参见图5，本发明公开了一种光配向液晶面板光学检测的方法，该方法包括步骤：
A、根据光配向液晶面板的一个合格的预设的检测单元的内部影像生成模式影像；
B、以预设的检测单元为单位，获取待检的光配向液晶面板的检测单元的内部影像生成待检影像，跟模式影像进行比对；生成比对结果。
本发明根据预设的检测单元为基准的比对单位，将检测单元的内部影像纳入模式影像，相比简单以子像素边框影像作为模式影像的做法，对比的特征更多，覆盖的范围也更广，这样在比对的时候有了更多的参考细节，可以有效减少影像比对误判，增强拦检成功率。
下面结合附图和较佳的实施例对本发明作进一步说明。
实施例一
本实施例公开一种光配向液晶面板光学检测的方法，该方法包括步骤：
A、以一个子像素作为一个检测单元，以子像素的内部影像作为模式影像；
B、以预设的检测单元为单位，获取待检的光配向液晶面板的检测单元的内部影像生成待检影像，跟模式影像进行比对；生成比对结果。
为了获取更多的参照特征，提升比对的准确度，步骤A中可以先通过调节摄像装置倍率以及背光源亮度，使检测单元的内部结构清晰度最大化，然后再获取光配向液晶面板合格的检测单元的内部影像，作为模式影像。
步骤B中可以通过计算机模糊比较的方法，将待检的检测单元的内部影像跟模式影像进行比对，生成比对结果。
步骤A和B中，模式影像和待检影像可以是摄像装置直接拍照出来的图片，也可以通过计算机抽取内部影像的线条特征后重新构图，形成模式影像和待检影像。参见图3发明人研究发现，当发生配向异常时，子像素内部会出现花纹型、鱼肚型等暗线，跟正常子像素相比区别明显，而且不良的图案呈现出明显的线条特征，因此将子像素的内部影像的线条图案作为模式影像，只要进行线条图案的比对即可（类似于指纹识别），无须进行颜色相关的特征比对，在保障拦检成功率的前提下，可以简化比对难度，提升比对速度。
本实施例是第一种检测单元的划分方式，子像素作为像素的基本构件，进行逐一进行比对，可以提高单个子像素不良的拦检成功率，确保合格的成品每个子像素的完整性，提升显示品质。
实施例二
本实施例是对实施例一的进一步改进，在获取子像素内部影像的基础上，增加子像素的边框影像，多了比较特征，可以让判断更准确。
实施例三
进一步的，所述步骤A中，所述检测单元包括至少三个分别跟三原色对应的子像素，所述模式影像包括所有子像素的边框影像。
本实施例公开一种光配向液晶面板光学检测的方法，该方法包括步骤：
A、以至少三个分别跟三原色对应的子像素作为一个检测单元，以所有子像素的边框影像作为模式影像；
B、以预设的检测单元为单位，获取待检的光配向液晶面板的检测单元的内部影像生成待检影像，跟模式影像进行比对；生成比对结果。
为了获取更多的参照特征，提升比对的准确度，步骤A中可以先通过调节摄像装置倍率以及背光源亮度，使检测单元的内部结构清晰度最大化，然后再获取光配向液晶面板合格的检测单元的内部影像，作为模式影像。
步骤B中可以通过计算机模糊比较的方法，将待检的检测单元的内部影像跟模式影像进行比对，生成比对结果。
步骤A和B中，模式影像和待检影像可以是摄像装置直接拍照出来的图片，也可以通过计算机抽取内部影像的线条特征后重新构图，形成模式影像和待检影像。以线条特征作为比较对象，只要比对线条图案即可（类似于指纹识别），无须进行颜色相关的特征比对，在保障拦检成功率的前提下，可以简化比对难度，提升比对速度。
本实施例是第二种检测单元的划分方式，以至少三个分别跟三原色对应的子像素作为一个检测单元，即一个检测单元中至少包括一个完整的像素。液晶显示是以像素为基本的显示单位，每个像素中包括了至少三个子像素，而在实际生产中可能会出现某个子像素完全没有显示的情况，如图4所示，现有以子像素为单元的检测方式是无法识别此类故障的。因此，本技术方案至少以一个像素为单位作为检测单元，可以检测出像素中单个子像素全无的故障，进一步提升拦检成功率。
实施例四
本实施例是对实施例三的进一步改进，在获取检测单元内各子像素边框影像的基础上，增加至少一个子像素的内部影像。由于子像素内部影像的特征比较多，将内部影像加入对比，可以进一步提升判断的准确性。
实施例五
本发明还公开一种光配向液晶面板光学检测设备，包括：
用于获取检测单元内部影像的摄像装置；
跟摄像装置耦合、用于获取光配向液晶面板的一个合格的检测单元的内部影像，作为模式影像的建模装置；
以及将待检的检测单元的内部影像跟模式影像进行比对的比较装置。
检测单元为一个子像素也可以是多个子像素的组合。
以单个子像素为检测单元，建模装置可以获取子像素的内部影像作为模式影像，还可以增加边框影像作为模式影像。子像素作为像素的基本构件，进行逐一进行比对，可以提高单个子像素不良的拦检成功率，确保合格的成品每个子像素的完整性，提升显示品质。
以多个子像素为检测单元（最好是包括一个完整的像素），建模装置可以获取每个子像素的边框影像作为模式影像，还可以增加任意一个或多个子像素的内部影像作为模式影像。液晶显示是以像素为基本的显示单位，每个像素中包括了至少三个子像素，而在实际生产中可能会出现某个子像素完全没有显示的情况，因此，本技术方案至少以一个像素为单位作为检测单元，可以检测出像素中单个子像素全无的故障，进一步提升拦检成功率。
以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本发明的保护范围。

Claims (7)

1.一种光配向液晶面板光学检测的方法，包括步骤：
A、根据光配向液晶面板的预设的一个合格的检测单元的内部影像生成模式影像；所述检测单元包括至少三个分别跟三原色对应的子像素，所述模式影像包括所有子像素的边框影像；
B、以预设的检测单元为单位，获取待检的光配向液晶面板的检测单元的内部影像生成待检影像，跟模式影像进行比对；生成比对结果；
所述模式影像还包括至少一个子像素的内部影像；所述待检影像包括所有子像素的边框影像和至少一个子像素的内部影像。
2.如权利要求1所述的一种光配向液晶面板光学检测的方法，其特征在于，所述步骤A中，所述检测单元为一个子像素。
3.如权利要求2所述的一种光配向液晶面板光学检测的方法，其特征在于，所述模式影像包括至少一个子像素的边框影像。
4.如权利要求1所述的一种光配向液晶面板光学检测的方法，其特征在于，所述步骤B中，通过计算机模糊比较的方法，将待检的检测单元的内部影像跟模式影像进行比对，生成比对结果。
5.如权利要求1所述的一种光配向液晶面板光学检测的方法，其特征在于，所述步骤A中，先通过摄像装置获取光配向液晶面板合格的检测单元的内部影像，然后再通过计算机抽取内部影像的线条特征后重新构图，形成所述模式影像。
6.一种光配向液晶面板光学检测设备，其特征在于，包括：
用于获取检测单元内部影像的摄像装置；
跟摄像装置耦合、记录有光配向液晶面板的一个合格的检测单元的内部影像生成的模式影像的建模装置；所述检测单元包括至少三个分别跟三原色对应的子像素，所述建模装置获取所有子像素的边框影像作为模式影像；
以及将待检的检测单元的内部影像跟模式影像进行比对的比较装置；
建模装置还获取至少一个子像素的内部影像作为模式影像；所述光配向液晶面板光学检测设备还包括将待检的检测单元的边框影像跟模式影像进行比对的比较装置。
7.如权利要求6所述的一种光配向液晶面板光学检测设备，其特征在于，所述检测单元为一个子像素。
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