CN102856434A - 一种正方形硅纳米孔阵列的制备方法 - Google Patents

一种正方形硅纳米孔阵列的制备方法 Download PDF

Info

Publication number
CN102856434A
CN102856434A CN2012103228453A CN201210322845A CN102856434A CN 102856434 A CN102856434 A CN 102856434A CN 2012103228453 A CN2012103228453 A CN 2012103228453A CN 201210322845 A CN201210322845 A CN 201210322845A CN 102856434 A CN102856434 A CN 102856434A
Authority
CN
China
Prior art keywords
silicon
silicon chip
square
hole array
preparation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN2012103228453A
Other languages
English (en)
Other versions
CN102856434B (zh
Inventor
丁建宁
张福庆
袁宁一
程广贵
王秀琴
凌智勇
张忠强
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Jiangsu University
Original Assignee
Jiangsu University
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Jiangsu University filed Critical Jiangsu University
Priority to CN201210322845.3A priority Critical patent/CN102856434B/zh
Publication of CN102856434A publication Critical patent/CN102856434A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102856434B publication Critical patent/CN102856434B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product

Landscapes

  • Weting (AREA)
  • Silicon Compounds (AREA)

Abstract

本发明涉及硅纳米孔阵列,特指一种单面或双面正方形硅纳米孔阵列的制备方法。本发明在较低温度条件下,利用溶液的腐蚀性和金属粒子催化性相结合,在硅表面进行刻蚀得到方形硅纳米孔阵列。具体包括硅表面清洗的步骤、氢钝化硅片表面的步骤、正方形硅纳米孔阵列的制备步骤和多余银纳米颗粒去除的步骤,其特征在于:所述正方形硅纳米孔阵列的制备步骤为:在室温暗室环境下,将已经氢钝化表面的硅片放入到三号腐蚀液中刻蚀10~60min,处理好后用去离子水反复冲洗硅片的两个表面;所述三号溶液为HF酸和AgNO3的混合溶液,其中每升混合溶液中含有的HF酸为2.4~5mol,每升混合溶液中含有的AgNO3为0.01~0.05mol。

Description

一种正方形硅纳米孔阵列的制备方法
技术领域
本发明涉及硅纳米孔阵列,特指应用于大面积单面或双面硅基太阳电池的正方形硅纳米孔阵列的制备方法,即一种单面或双面正方形硅纳米孔阵列的制备方法。
背景技术
硅纳米孔具有许多显著不同于其他低维半导体材料的电学、光学等新颖物理性质, 这使其在光探测器件、纳米传感器和太阳能电池行业中具有潜在的应用,尤其在提高太阳能电池光吸收、光谱响应、有效分离电子-空穴和减反射等方面拥有潜在的优势。由于硅纳米孔的自身机械强度要比硅纳米线好很多,因此硅纳米孔的研究受到了极大的关注;目前硅纳米孔阵列的制备方法按腐蚀剂成分不同可以分为干法刻蚀和湿法刻蚀;干法刻蚀主要有光刻法、中子束刻蚀法、深反应离子刻蚀法等方法来刻蚀硅表面以获得硅纳米孔阵列的方法;湿法刻蚀主要有两步金属粒子辅助刻蚀法。干法刻蚀虽然刻蚀均匀性和重复性好,但是需在高温的条件下利用较为精密且价格昂贵的设备进行制备,这些因素造成硅纳米孔阵列制备成本的大幅度提高,同时制备效率也不是太高,因此难以实现广泛工业应用。采用两步的金属粒子辅助刻蚀法成本低,但是操作过程复杂、金属粒子直径及其均匀性的可控性差;申请号为201110051278.8的专利在制备正方形纳米孔阵列时所采用的方法是先在硅片表面沉积金属膜,将沉积的金属膜进行热处理后获得具有特定形貌的金属纳米颗粒,在这些具有特定形貌的金属纳米颗粒的催化下,对硅片进行腐蚀从而获得方形纳米孔洞阵列,这种方法采用的是两步法,虽然能得到正方形纳米孔洞,但是操作过程相对复杂,金属纳米颗粒的尺寸、均匀性等不好控制。
本文提出了一种无电镀刻蚀硅表面制备正方形硅纳米孔阵列的方法,这种正方形的硅纳米孔与先前报道的圆形硅纳米孔和无规则的硅纳米孔几何形状完全不同,其中正方形银纳米颗粒形成原理图如图1所示,在硅表面附近的银离子从硅原子中捕获电子形成银原子,并以银纳米颗粒的形式沉积在抛光的硅基底上,这些银纳米颗粒从硅基底吸收电子从而变得带有大量负电荷,这导致溶液中靠近带负电银核的银离子优先得到电子并沉积在银核上,小的银纳米颗粒聚在一起逐渐变成近似正方体的银纳米粒子或是银枝结构,配合上HF酸不断腐蚀被氧化的硅原子,这样在硅片表面就形成了被腐蚀成的正方形硅纳米孔阵列;正方形硅纳米孔阵列的形成原理示意图如图2(单面)和图3(双面)所示,在正方形硅纳米孔阵列形成过程中,银离子作为氧化剂不断氧化硅原子,HF酸不断腐蚀被氧化的硅原子,并且银纳米颗粒的运动方向不受重力影响,这样就慢慢形成了单面或是双面的正方形孔状结构,虽然申请号为2012100344 87.6的专利中也提到利用HF酸和AgNO3的混合溶液来无电镀镀银,但该专利中镀银时间短,无法形成近似正方体的银纳米颗粒,镀银结束后采用HF酸和H2O2的混合溶液对硅片进行刻蚀处理就能够获得硅纳米线阵列,这是采用两步法制备硅纳米线阵列的,本文所提出的方法是在较低温度下利用溶液的腐蚀性进行制备的,具有操作简单、无设备需求、易控制的优点。
发明内容
本发明的目的是提供一种大面积制备正方形硅纳米孔阵列的方法,在较低温度条件下,利用溶液的腐蚀性和金属粒子催化性相结合,在硅表面进行刻蚀得到方形硅纳米孔阵列。
    本发明解决其关键问题所采用的技术方案是根据一步无电镀金属催化辅助纯化学腐蚀,在单面或双面抛光的硅基表面制备正方形硅纳米孔阵列,其制备工艺流程见图4所示,据此,其核心技术如下:
1. 硅表面清洗:将硅片依次经过丙酮超声振荡清洗,酒精超声振荡清洗,然后放入一号溶液中煮沸30 ~ 60 min,清洗过程中硅片表面会形成一薄层氧化层。
2. 氢钝化硅片表面:将硅片放入二号溶液中,室温下处理1 ~ 3 min。
3.正方形硅纳米孔阵列的制备:在室温暗室环境下,放入到三号腐蚀液中刻蚀10 ~ 60 min,处理好后用去离子水反复冲洗硅片的两个表面。
4.多余银纳米颗粒去除:将上述处理好的硅片放入四号溶液中在20 ~ 60℃水浴处理30 ~ 60 min,之后取出硅片,并用去离子水反复清洗硅片表面,然后氮气吹干。
上述制备方案中,步骤1中所用硅片为经过单面或双面抛光处理的硅片,若制备单面正方形硅纳米孔阵列需要将单面抛光的硅片抛光面向上放置,若制备双面正方形硅纳米孔阵列需要将硅片在溶液中被垫起并固定,如图5所示,一号溶液为浓H2SO4:H2O2=3:1(V:V)。
上述制备方案中,步骤2中所用二号溶液为HF酸溶液,其质量百分浓度为5%,以去除步骤1中形成氧化层,若制备单面正方形硅纳米孔阵列需要将单面抛光的硅片抛光面向上放置,若制备双面正方形硅纳米孔阵列需要将硅片在溶液中被垫起并固定,如图5所示。
上述制备方案中,步骤3中所用三号溶液为HF酸和AgNO3混合溶液,其中每升混合溶液中含有HF酸为2.4 ~ 5 mol,每升混合溶液中含有AgNO3为0.01 ~ 0.05 mol,若制备单面正方形硅纳米孔阵列需要将单面抛光的硅片抛光面向上放置,若制备双面正方形硅纳米孔阵列需要将硅片在溶液中被垫起并固定,如图5所示。
上述制备方案中,步骤4中所用四号溶液为浓HNO3和H2O的体积比为1:1,所用浓HNO3的质量百分浓度为65 ~ 68%,若制备单面正方形硅纳米孔阵列需要将单面抛光的硅片抛光面向上放置,若制备双面正方形硅纳米孔阵列需要将硅片在溶液中被垫起并固定,如图5所示。
通过调节反应温度,腐蚀时间,氢氟酸,硝酸银的浓度,可以调节方形硅纳米孔洞的边长大小及孔洞的深度,制备出形貌可控易控的硅纳米孔洞结构。
上述制备方案中,所制备的正方形纳米孔的边长为100 ~ 1000纳米(图6);深度达为0.1 ~ 6微米(图7),硅片表面正方形硅纳米孔的密度可以达到10~ 108个每平方厘米(图6)。
本发明的有益效果为:本发明制备方法简单实用,不需要掩膜技术,通过调节反应温度、腐蚀时间、氢氟酸和硝酸银浓度等参数可控制孔洞边长的大小和孔洞的深度;得到的方形硅纳米孔洞其反射率为2 ~ 3%左右,作为太阳电池绒面结构能提高电池对光的吸收,提高短路电流,从而提高太阳能电池效率;同时,在所述的方形硅纳米孔洞内部或硅片表面沉积半导体化合物,可以获得具硅纳米孔洞的新型硅/半导体的太阳能电池;该结构还可以作为模板,在纳米孔洞内部沉积金属、无机物、有机物及其复合材料,获得具有方形结构的纳米线/纳米管,或将所述的方形硅纳米孔洞衬底表面沉积金属银或金颗粒或薄膜,作为表面增强拉曼光谱基底。
本发明的优点是其制备过程不需要昂贵设备、高温环境条件和复杂的工艺,具有操作简单、易控制等明显的优点,且成本低、效率高可应用于大型工业化生产。
附图说明:
图 1是本发明中正方形银纳米颗粒形成原理图;
图2是本发明的单面正方形硅纳米孔阵列形成原理示意图;
图3是本发明的双面正方形硅纳米孔阵列形成原理示意图;
图4是本发明的正方形硅纳米孔阵列制备工艺流程示意图;
图 5是本发明的制备双面正方形硅纳米孔阵列时硅片垫起并固定结构示意图;
图 6是经过不同时间无电镀化学刻蚀后的具有单面正方形纳米孔阵列的硅片表面SEM图((a)10 min;(b)30 min);
图 7是经过30 min无电镀化学刻蚀后的具有单面正方形纳米孔阵列的硅片倾斜20°时表面的SEM图。
具体实施方式:
一、制备单面正方形硅纳米孔阵列
1.硅片的清洗:
用丙酮超声振荡清洗(室温10 min),硅片抛光面向上放置,用去离子水冲洗硅片表面;
用酒精超声振荡清洗(室温10 min),硅片抛光面向上放置,用去离子水冲洗硅片表面;
放入浓H2SO4:H2O2=3:1(V:V)的溶液中煮沸30 min,硅片抛光面向上放置,用去离子水冲洗硅片表面; 
用高纯氮气吹干。
2.在室温下将清洗处理好的硅片放入到5%的HF酸溶液中腐蚀1 min,硅片抛光面向上放置。
3.在室温下迅速放入HF酸和AgNO3的混合溶液中处理20 min,硅片抛光面向上放置,其中每升混合溶液中含有HF酸为5 mol,每升混合溶液中含有AgNO3为0.05 mol,然后将硅片表面用去离子水反复清洗。
4.将硅片放入浓HNO3和H2O的体积比为1:1的混合溶液中在60℃水浴处理30 min,硅片抛光面向上放置。
5.取出硅片,并用去离子水反复清洗硅片的两个表面,然后用氮气吹干。二、制备双面正方形硅纳米孔阵列
1.硅片的清洗:
用丙酮超声振荡清洗(室温10 min),硅片应被垫起并固定,如图5所示,用去离子水冲洗硅片表面;
用酒精超声振荡清洗(室温10 min),硅片应被垫起并固定,如图5所示,用去离子水冲洗硅片表面;
放入浓H2SO4:H2O2=3:1(V:V)的溶液中煮沸60 min,硅片应被垫起并固定,如图5所示,用去离子水冲洗硅片表面; 
用高纯氮气吹干。
2.在室温下将清洗处理好的硅片放入到5%的HF酸溶液中腐蚀3 min,硅片应被垫起并固定,如图5所示。
3.在室温下迅速放入HF酸和AgNO3的混合溶液中处理60 min,其中每升混合溶液中含有HF酸为2.5mol,每升混合溶液中含有AgNO3为0.02mol,硅片应被垫起并固定,如图5所示,然后将硅片表面用去离子水反复清洗。
4.将硅片放入浓HNO3和H2O的体积比为1:1的混合溶液中在20℃水浴处理60 min,硅片应被垫起并固定,如图5所示。
5.取出硅片,并用去离子水反复清洗硅片的表面,然后用氮气吹干。

Claims (5)

1.一种正方形硅纳米孔阵列的制备方法,包括硅表面清洗的步骤、氢钝化硅片表面的步骤、正方形硅纳米孔阵列的制备步骤和多余银纳米颗粒去除的步骤,其特征在于:所述正方形硅纳米孔阵列的制备步骤为:在室温暗室环境下,将已经氢钝化表面的硅片放入到三号腐蚀液中刻蚀10 ~ 60 min,处理好后用去离子水反复冲洗硅片的两个表面;所述三号溶液为HF酸和AgNO3的混合溶液,其中每升混合溶液中含有的HF酸为2.4 ~ 5 mol,每升混合溶液中含有的AgNO3为0.01 ~ 0.05 mol。
2.如权利要求1所述的一种正方形硅纳米孔阵列的制备方法,其特征在于:所
述的硅表面清洗的步骤为:将硅片依次经过丙酮超声振荡清洗,酒精超声振荡清洗,然后放入一号溶液中煮沸30 ~ 60 min,用去离子水冲洗硅片表面,用高纯氮气吹干,所述一号溶液为浓H2SO4和H2O2按照体积比3:1组成的混合溶液。
3.如权利要求1所述的一种正方形硅纳米孔阵列的制备方法,其特征在于:所述氢钝化硅片表面的步骤为:将表面清洗后的硅片放入到质量百分浓度为5%的HF酸溶液中,室温下处理1 ~ 3 min。
4.如权利要求1所述的一种正方形硅纳米孔阵列的制备方法,其特征在于:所述的多余银纳米颗粒去除的步骤为:将制备好正方形硅纳米孔阵列的硅片放入四号溶液中在20 ~ 60℃水浴处理30 ~ 60 min,之后取出硅片,并用去离子水反复清洗硅片表面,然后氮气吹干;所述四号溶液为浓HNO3和H2O按照体积比1:1组成的混合溶液,所用浓HNO3的质量百分浓度为65 ~ 68%。
5.如权利要求1所述的一种正方形硅纳米孔阵列的制备方法,其特征在于:所述硅片为单面或双面抛光的硅片,若制备单面正方形硅纳米孔阵列需要将单面抛光的硅片抛光面向上放置,若制备双面正方形硅纳米孔阵列需要将双面抛光的硅片在溶液中被垫起并固定。
CN201210322845.3A 2012-09-04 2012-09-04 一种正方形硅纳米孔阵列的制备方法 Expired - Fee Related CN102856434B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201210322845.3A CN102856434B (zh) 2012-09-04 2012-09-04 一种正方形硅纳米孔阵列的制备方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201210322845.3A CN102856434B (zh) 2012-09-04 2012-09-04 一种正方形硅纳米孔阵列的制备方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102856434A true CN102856434A (zh) 2013-01-02
CN102856434B CN102856434B (zh) 2015-04-22

Family

ID=47402828

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201210322845.3A Expired - Fee Related CN102856434B (zh) 2012-09-04 2012-09-04 一种正方形硅纳米孔阵列的制备方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN102856434B (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103066160A (zh) * 2013-01-15 2013-04-24 浙江大学 一种太阳电池硅片表面生成多孔硅的方法
CN104409564A (zh) * 2014-10-31 2015-03-11 浙江大学 一种n型纳米黑硅的制备方法以及太阳能电池的制备方法
CN105668509A (zh) * 2016-01-28 2016-06-15 华东医药(杭州)基因科技有限公司 一种刻蚀微米硅通孔的方法
CN108203074A (zh) * 2016-12-19 2018-06-26 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 一种半导体器件的制备方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020194958A1 (en) * 2001-06-08 2002-12-26 Chien-Liang Lee Process for preparing noble metal nanoparticles
CN1454841A (zh) * 2003-05-19 2003-11-12 清华大学 大面积p-n结纳米硅线阵列及其制备方法
US20090045720A1 (en) * 2005-11-10 2009-02-19 Eun Kyung Lee Method for producing nanowires using porous glass template, and multi-probe, field emission tip and devices employing the nanowires
CN102556953A (zh) * 2012-02-16 2012-07-11 江苏大学 一种双面硅纳米线阵列的制备方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020194958A1 (en) * 2001-06-08 2002-12-26 Chien-Liang Lee Process for preparing noble metal nanoparticles
CN1454841A (zh) * 2003-05-19 2003-11-12 清华大学 大面积p-n结纳米硅线阵列及其制备方法
US20090045720A1 (en) * 2005-11-10 2009-02-19 Eun Kyung Lee Method for producing nanowires using porous glass template, and multi-probe, field emission tip and devices employing the nanowires
CN102556953A (zh) * 2012-02-16 2012-07-11 江苏大学 一种双面硅纳米线阵列的制备方法

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103066160A (zh) * 2013-01-15 2013-04-24 浙江大学 一种太阳电池硅片表面生成多孔硅的方法
CN103066160B (zh) * 2013-01-15 2016-01-20 浙江大学 一种太阳电池硅片表面生成多孔硅的方法
CN104409564A (zh) * 2014-10-31 2015-03-11 浙江大学 一种n型纳米黑硅的制备方法以及太阳能电池的制备方法
CN104409564B (zh) * 2014-10-31 2017-01-11 浙江大学 一种n型纳米黑硅的制备方法以及太阳能电池的制备方法
CN105668509A (zh) * 2016-01-28 2016-06-15 华东医药(杭州)基因科技有限公司 一种刻蚀微米硅通孔的方法
CN108203074A (zh) * 2016-12-19 2018-06-26 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 一种半导体器件的制备方法
CN108203074B (zh) * 2016-12-19 2020-07-07 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 一种半导体器件的制备方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN102856434B (zh) 2015-04-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Huo et al. Metal‐assisted chemical etching of silicon in oxidizing HF solutions: origin, mechanism, development, and black silicon solar cell application
JP6392866B2 (ja) 結晶シリコン太陽電池の表面テクスチャ構造及びその製造方法
Liu et al. Fabrication and photocatalytic properties of silicon nanowires by metal-assisted chemical etching: effect of H 2 O 2 concentration
Li et al. Structure and antireflection properties of SiNWs arrays form mc-Si wafer through Ag-catalyzed chemical etching
Geng et al. Fabrication of antireflective layers on silicon using metal-assisted chemical etching with in situ deposition of silver nanoparticle catalysts
CN102157608A (zh) 一种降低硅片表面光反射率的方法
CN102157621B (zh) 一种方形硅纳米孔洞及其制备方法
US20130025663A1 (en) Inverted pyramid texture formation on single-crystalline silicon
CN106229386B (zh) 一种银铜双金属mace法制备黑硅结构的方法
Singh et al. Fabrication of vertical silicon nanowire arrays on three-dimensional micro-pyramid-based silicon substrate
Leng et al. Progress in metal-assisted chemical etching of silicon nanostructures
CN102856434B (zh) 一种正方形硅纳米孔阵列的制备方法
Cao et al. Texturing a pyramid-like structure on a silicon surface via the synergetic effect of copper and Fe (III) in hydrofluoric acid solution
CN103979485B (zh) 一种微纳多孔硅材料的制备方法
CN105967139A (zh) 在硅基体上刻蚀孔洞的方法、含孔洞硅基体和半导体器件
Gao et al. Enhanced etching rate of black silicon by Cu/Ni Co-assisted chemical etching process
CN102556953A (zh) 一种双面硅纳米线阵列的制备方法
Zou et al. Metal-catalyzed chemical etching using DIO3 as a hole injection agent for efficient submicron-textured multicrystalline silicon solar cells
Gao et al. Fabrication of black silicon by Ni assisted chemical etching
CN106521635A (zh) 一种硅表面纳米金字塔绒面的全溶液制备方法
CN104505408A (zh) 晶体硅纳米孔阵列材料及其制备方法
Hong et al. Surface Texturing Behavior of Nano-Copper Particles under Copper-Assisted Chemical Etching with Various Copper Salts System
US8945794B2 (en) Process for forming silver films on silicon
Lévy-Clément Porous silicon formation by metal nanoparticle-assisted etching
Abdulkadir et al. Effects of hydrogen peroxide concentration on properties of black silicon fabricated by two-step silver-assisted wet chemical etching for photovoltaics

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
EE01 Entry into force of recordation of patent licensing contract
EE01 Entry into force of recordation of patent licensing contract

Application publication date: 20130102

Assignee: Changzhou Trina Solar Ltd.

Assignor: Jiangsu University

Contract record no.: 2017320000201

Denomination of invention: Preparation method for square silicon nano-porous array

Granted publication date: 20150422

License type: Exclusive License

Record date: 20171206

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20150422

Termination date: 20190904