CN102800335A - 光驱聚焦电压校正方法 - Google Patents
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Abstract
一种光驱聚焦电压校正方法,预设聚焦电压区间及变压时间范围,在预设聚焦电压区间检测聚焦所需的变压时间;检查检测的变压时间假如小于预设变压时间范围,减少聚焦电压的增益值;检测的变压时间假如大于预设变压时间范围,增加聚焦电压的增益值;检测的变压时间在预设变压时间范围内时,不校正聚焦电压,作为聚焦电压,以提高效能。
Description
技术领域
本发明有关一种读写光盘片的光驱的控制方法,尤其是关于光驱利用检测聚焦电压升压快慢,校正聚焦电压的方法。
背景技术
光驱利用控制读取头投射激光束,聚焦在高速转动光盘片的数据轨,并使激光束循着数据轨快速地移动,接收数据轨中细密记号的反射光束转换成信号,才能精确在光盘片读写数据。
请同时参考图1及图2,图1为已知光驱控制聚焦的功能方块图,图2为已知光驱调整聚焦的示意图。图1中已知光驱10控制光学读取头11发射激光束,经由物镜12投射在光盘片13。必须再移动物镜12,使物镜12接近光盘片13一定距离,才能将投射激光束的焦点,精确地聚焦在光盘片13上,以获得较佳的光反射信号。
因此已知光驱10通过光学读取头11的致动器14利用电压所产生的电磁力驱动物镜12上下移动,调整激光束的焦点投射在光盘片13上,再由光盘片13将激光束反射回光学读取头11,照射在光能转换器15。光能转换器15等分为A、B、C、D四个光接收部,分别接受反射光束中不同的区域,经放大器16放大接收的反射光量所转换的电信号,将信号(A+C)-(B+D)形成聚焦误差信号(Focus Error Signal,简称FE信号),再将FE信号输入一聚焦伺服单元17产生一聚焦电压FOO(Focus Servo Output Voltage),聚焦电压FOO,驱动物镜12上下移动,让投射激光束的焦点聚焦在光盘片13上。
然而,如图2所示,当聚焦电压FOO驱动物镜12上升或下降时,由于光驱系统的延迟,光学读取头并无法立即反应物镜12的相对位移,而造成焦点位置偏移,且驱动聚焦电压FOO越大,物镜12的移动速度越快,焦点位置偏移越大。使得物镜12焦点位于光盘片13上a位置或c位置所测得信号,因系统的延迟所求得的焦点位置偏移至b位置或d位置,而无法精确地聚焦在光盘片13,以致影响读写信号的正确性。虽然以较小的聚焦电压FOO较慢的上升或下降速度驱动物镜12,可以减少系统延迟所产生的焦点位置偏移,但需花费较多的时间,也会影响光驱的效能。光驱需适当调整的聚焦电压FOO控制物镜12的聚焦移动速度,才能有效降低系统延迟的影响及降低焦点位置的偏移。因此先前技术光驱在聚焦电压FOO的校正上,仍有问题亟待解决。
发明内容
本发明的目的在于提供一种光驱聚焦电压校正方法,通过在预设聚焦电压区间,检测聚焦电压的变压时间,对不在允许变压时间范围的聚焦电压进行增益校正,以提升光驱效能。
为了达到前述发明的目的,本发明的光驱聚焦电压校正方法,预设聚焦电压区间及变压时间范围,在预设聚焦电压区间检测聚焦所需的变压时间;检查检测的变压时间假如小于预设变压时间范围,减少聚焦电压的增益值;检测的变压时间假如大于预设变压时间范围,增加聚焦电压的增益值;检测的变压时间在预设变压时间范围内时,不校正聚焦电压。
本发明提供了一种光驱聚焦电压校正方法,其步骤包含:(1)预设一聚焦电压区间及一变压时间范围;(2)在预设聚焦电压区间检测聚焦所需的变压时间;(3)检查检测的变压时间是否小于预设变压时间范围?假如小于预设变压时间范围,则进入步骤(4),否则不小于预设变压时间范围时进入步骤(5);(4)对聚焦电压进行校正,减少聚焦电压的增益值,再回到步骤(2);(5)检查检测的变压时间差是否大于预设变压时间范围?假如大于预设变压时间范围,则进入步骤(6),假如不大于预设变压时间范围,则进入步骤(7);(6)对聚焦电压进行校正,增加聚焦电压的增益值,再回到步骤(2);及(7)结束校正。
附图说明
图1为已知光驱控制聚焦的功能方块图。
图2为已知光驱调整聚焦的示意图。
图3为聚焦电压的变化示意图。
图4为本发明校正聚焦电压的示意图。
图5为本发明光驱聚焦电压校正方法的流程图。
[主要元件标号说明]
10 已知光驱 11 光学读取头
12 物镜 13 光盘片
14 致动器 15 光能转换器
16 放大器 17 聚焦伺服单元
具体实施方式
有关本发明为达成上述目的,所采用的技术手段及其功效,兹举较佳实施例,并配合图式加以说明如下。
请参考图3,为聚焦电压FOO的变化示意图。由于光学读取头的物镜的升降移动速度,由聚焦电压FOO所控制,聚焦电压FOO越大,物镜的移动速度越快。反之,聚焦电压FOO越小,物镜的移动速度越慢。因此聚焦电压FOO与物镜的移动速度存在一定关系。本发明根据聚焦电压FOO与物镜的移动速度的关系,由控制聚焦电压FOO间接控制物镜的移动速度,使物镜以适当的速度进行聚焦,减少系统延迟对聚焦偏移的影响。
光驱升降物镜进行聚焦,以上升物镜为例,光驱移动物镜时,在某一固定的聚焦电压区间,例如从聚焦电压FOO1的时间t0开始计时,测量到达聚焦电压FOO2的时间,不同斜率SL的聚焦电压曲线L1、L2、L3,因Δt=(FOO2-FOO1)/SL,具有不同的变压时间(t1-t0)、(t2-t0)及(t3-t0)。由于测量的聚焦电压区间固定,比较所需变压时间的长短,就可判断聚焦电压增加快慢的变化。变压时间越短,聚焦电压增加越快,相对驱动物镜的移动速度就越快。反之,变压时间越长,聚焦电压增加越慢,相对驱动物镜的移动速度越慢。因此本发明在一固定的预设聚焦电压区间,利用实测不同斜率SL的聚焦电压,比较光驱读写信号质量及其相对变压时间,可决定一标准变压时间,以获的较佳的读写信号质量及其较有效率的相对变压时间。
请参考图4,为本发明校正聚焦电压的示意图。本发明首先预设一固定的聚焦电压区间,从起点聚焦电压FOOA至终点聚焦电压FOOB。由前述选定的标准变压时间,例如标准聚焦电压曲线Fs,也就是当聚焦电压增压至预设聚焦电压区间的起点聚焦电压FOOA,开始计时t0,到达预设聚焦电压区间终点聚焦电压FOOB的时间ts,将所需的变压时间(ts-t0)设定为标准变压时间Ts。并在维持读写质量及聚焦效率下,扩大适用的误差标准变压时间Δt,以其下限(Ts-Δt)至上限(Ts+Δt)为变压时间范围,例如介于聚焦电压曲线Fa与Fb误差范围,以节省调整聚焦电压的时间。
当光驱聚焦时,对移动物镜的聚焦电压的升压变化,在预设的聚焦电压区间FOOA至FOOB,检测所需的变压时间Tn,再与标准变压时间Ts比较,假如变压时间在变压时间范围(Ts-Δt)至(Ts+Δt)内,则接受聚焦电压的升压变化可以正确的速度驱动物镜,减少系统延迟影响。假如变压时间在变压时间范围(Ts-Δt)至(Ts+Δt)外,则判断聚焦电压的升压变化无法以正确的速度驱动物镜,为提高效能,必需对聚焦电压进行校正。例如当测得聚焦电压曲线Fc所需的变压时间Tn1,变压时间Tn1小于变压时间范围(Ts-Δt)至(Ts+Δt)时,表示物镜的移动速度太快,需对聚焦电压曲线Fc进行校正,使聚焦电压依次减少增益K,直到检测其变压时间Tn1移至变压时间范围(Ts-Δt)至(Ts+Δt)内,才停止校正。反之,当测得聚焦电压曲线Fd所需的变压时间Tn2,变压时间Tn2大于变压时间范围(Ts-Δt)至(Ts+Δt)时,表示物镜的移动速度太慢,需对聚焦电压曲线Fd进行校正,使聚焦电压依次加上增益K,直到检测其变压时间Tn2移至变压时间范围(Ts-Δt)至(Ts+Δt)内,再停止校正。藉控制聚焦电压,使物镜以适当的速度进行聚焦。前述的增益K可以预设为固定值或变动值。
请参考图5,为本发明光驱聚焦电压校正方法的流程图。本发明校正聚焦电压的详细步骤说明如下:首先由步骤S1启动光驱开始进行聚焦,再进入步骤S2预设一聚焦电压区间作为固定测量聚焦电压的定点,以及预设一变压时间范围以控制移动物镜的速度。接着进入步骤S3,在聚焦电压区间计时检测聚焦所需的变压时间,在步骤S4,检查检测的变压时间是否小于预设的变压时间范围?假如检测的变压时间小于预设的变压时间范围,则进入步骤S5,否则检测的变压时间不小于预设的变压时间范围时,则进入步骤S6。在步骤S5,对聚焦电压进行校正,减少聚焦电压的增益值,降低物镜移动的速度,再回到步骤S3继续检测所需的变压时间;在步骤S6,检查检测的变压时间是否大于预设的变压时间范围?假如检测的变压时间大于预设的变压时间范围,则进入步骤S7,否则检测的变压时间不大于预设的变压时间范围时,则进入步骤S8,在步骤S7,对聚焦电压进行校正,增加聚焦电压的增益值,增加物镜移动的速度,再回到步骤S3继续检测所需的变压时间;在步骤S8,当检查检测的变压时间在预设的变压时间范围内时,则不需校正聚焦电压,而可结束校正程序。
本发明前述实施例的步骤3在预设的聚焦电压区间,检测所需的变压时间,虽然该聚焦电压区间可依需要预设长或短,但为了避免过慢的物镜移动速度,增加校正的时间,步骤3亦可在预设的聚焦电压区间的起点聚焦电压开始计时,在计时超过变压时间的上限时,虽未到达终点聚焦电压,就可停止计时并将变压时间视为大于变压时间范围,不需检测完整过慢速度移动物镜的变压时间,以提升校正效率。
因此,由前述本发明光驱聚焦电压的校正方法,即可通过预设聚焦电压区间及选择适当的变压时间范围,在聚焦电压区间检测聚焦电压的变压时间,对不在允许变压时间范围的聚焦电压进行增益校正,让物镜以允许的速度移动,达到降低系统延迟的影响,以提升光驱的整体效率。
以上所述者,仅用以方便说明本发明的较佳实施例,本发明的范围不限于该等较佳实施例,凡依本发明所做的任何变更,于不脱离本发明的精神下,皆属本发明权利要求的范围。
Claims (8)
1.一种光驱聚焦电压校正方法,其步骤包含:
(1)预设一聚焦电压区间及一变压时间范围;
(2)在预设聚焦电压区间检测聚焦所需的变压时间;
(3)检查检测的变压时间是否小于预设变压时间范围?假如小于预设变压时间范围,则进入步骤(4),否则不小于预设变压时间范围时进入步骤(5);
(4)对聚焦电压进行校正,减少聚焦电压的增益值,再回到步骤(2);
(5)检查检测的变压时间差是否大于预设变压时间范围?假如大于预设变压时间范围,则进入步骤(6),假如不大于预设变压时间范围,则进入步骤(7);
(6)对聚焦电压进行校正,增加聚焦电压的增益值,再回到步骤(2);及
(7)结束校正。
2.根据权利要求1所述的光驱聚焦电压校正方法,其中该预设聚焦电压区间为固定测量聚焦电压的定点。
3.根据权利要求1所述的光驱聚焦电压校正方法,其中该变压时间范围是由一选定的标准变压时间,再扩大上下限的误差标准变压时间所形成的时间范围。
4.根据权利要求1所述的光驱聚焦电压校正方法,其中该步骤(2)检测聚焦所需的变压时间时,在预设的聚焦电压区间的起点聚焦电压开始计时,至到达终点聚焦电压开始为止。
5.根据权利要求1所述的光驱聚焦电压校正方法,其中该步骤(2)检测聚焦所需的变压时间时,当计时超过变压时间范围的上限时,且未到达终点聚焦电压,就可停止计时。
6.根据权利要求5所述的光驱聚焦电压校正方法,其中该变压时间视为大于变压时间范围。
7.根据权利要求1所述的光驱聚焦电压校正方法,其中该增益值为一固定值。
8.根据权利要求1所述的光驱聚焦电压校正方法,其中该增益值为一变动值。
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