CN101494063A - 像差校正方法 - Google Patents
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Abstract
一种像差校正方法，首先点亮激光装置，在读取头锁定数据层前，开始设定系统的SA值，由下往上推升物镜行经测试行程，使物镜投射光点穿越数据层，以测试预设数个SA值，并记录各SA值测试行程所产生信号及强度，比较出最强信号所属的SA值，以最强信号的SA值，设定为系统的SA值，以免影响回路增益配置。
Description
技术领域
本发明有关一种光盘机，尤其是关于光盘机中读取头光学元件所产生像差，用以设定调整像差值的像差校正方法。
背景技术
由于光盘片上的记号细微，光盘机读取头中的光学元件必需相当小，才能投射足够小的光点，涵盖光盘片上微小记号，并接收记号的反射光，由反射光量的差异判读记号。而短小光学元件的材质、成形、曲面及平滑度，在制造过程中均难以掌控，导致投射光点的亮度不均，容易造成像差(SphericalAberration，简称SA)，影响记号判读的正确性。
如图1所示，为传统光盘机像差校正系统。其中，光盘机的读取头1以激光装置2发出一激光光束，经过多个光学元件3至物镜4，将光束聚焦成光点投射至光盘片5的数据层6，光点经数据层6反射回读取头1，再由光学元件3折射，照射在检光装置7所划分的受光面A、B、C、D，分别形成电信号传输至信号处理装置8计算处理，以受光面(A+B+C+D)总合信号传输至微处理装置9，解码后形成数据信号输出，信号处理装置8另计算处理受光面(A+C)-(B+D)信号，传输至微处理装置9，形成聚焦误差信号(FocusingError，简称FE信号)的控制信号，输出至致动器10，控制致动器10驱动物镜4移动，将光点聚焦在数据层6。
另外，为了校正像差，在光学元件3至物镜4的光路径上，装设一像差校正单元11，由微处理装置9发出控制信号至SA调整装置12，调整像差校正单元11的分开距离，以改变光束投射路径。校正像差时，传统光盘机像差校正系统，先将光点聚焦锁定在数据层6，微处理装置9再选取数个不同的SA值，依次发出控制信号至SA调整装置12，控制SA调整装置12驱动像差校正单元11调整相对的分开距离，改变光束投射路径，经过物镜4将聚焦光点投射至数据层6，经数据层6反射，由检光装置7经信号处理装置8，传输至微处理装置9形成多个数据信号，比较各数据信号强度或纠错校正值，找出其中最佳的SA值，设定为系统的SA值。
然而，传统光盘机像差校正系统必需在读取头将投射的光点锁定光盘片的数据层，在聚焦伺服的闭回路中，才能进行像差校正作业。像差校正作业前的聚焦伺服的闭回路中，读取头仍存在像差，其所产生的光信号误差，会影响回路中信号增益(Gain)的配置，导致光盘机信号处理及传输失误。因此，传统光盘机在像差校正方法上，仍有问题亟待解决。
发明内容
本发明的目的在提供一种像差校正方法，借由读取头在聚焦锁定数据层前，完成像差校正，以免影响信号增益配置。
本发明另一目的在提供一种像差校正方法，在读取头在聚焦锁定数据层前，选定数个不同SA值，上下移动光点通过数据层，利用FE信号强度变化，筛选最强的FE信号，以其SA值作为设定。
为了达到前述发明的目的，本发明的像差校正方法，首先点亮激光装置，在读取头锁定数据层前，开始设定系统的SA值，由下往上推升物镜行经测试行程，使物镜投射光点穿越数据层，以测试预设数个测试SA值，并记录各SA值测试行程所产生信号及强度，比较出最强信号所属的SA值，以最强信号的SA值，设定为系统的SA值。
本发明在测试预设数个测试SA值时，先选择一预设SA值以调整系统的SA值，计次每一SA值测试，移动物镜行经预设的测试行程，记录该测试行程所产生信号及强度，检查计次是否到达预定值？假如未到达，则回继续测试另一预设SA值，假如已到达，则比较出最强信号所属的SA值，作为设定。
附图说明
图1为传统光盘机像差校正系统的功能方块图。
图2为本发明像差校正产生信号过程的示意图。
图3为本发明像差校正方法的流程图。
主要元件符号说明
1 读取头
2 激光装置
3 光学元件
4 物镜
5 光盘片
6 数据层
7 检光装置7
8 信号处理装置
9 微处理装置
10 致动器
11 像差校正单元
12 SA调整装置
R1 点亮激光装置步骤
R2 开始设定SA值步骤
R3 调整一SA值步骤
R4 计次步骤
R5 移动物镜使光点穿过数据层经过测试行程步骤
R6 记录信号强度步骤
R7 检查计次到达预定值步骤
R8 比较出最强信号强度步骤
R9 以最强信号强度所属SA值设定系统SA值步骤
R10 结束设定步骤
具体实施方式
有关本发明为达成上述目的，所采用的技术手段及其功效，举优选实施例，并配合附图加以说明如下。
请参考图2，为本发明像差校正产生信号过程。本发明是在激光装置点亮后，读取头尚未将聚焦光点锁定数据层前，进行像差校正。首先选取设定数个SA值，例如SA1、SA2、SA3、SA4、SA5。由微处理装置采取设定SA1值，发出控制信号至SA调整装置，将像差校正单元分开至该SA1值，接着由微处理装置控制致动器，移动物镜接近光盘片，例如图中SA1物镜高度实线箭头所示，以预定速度由下往上推升物镜，使物镜投射的光点穿越数据层。
物镜投射的光点开始移动时，光点位于较低位置，未接触数据层，检光装置所接收的数据层反射光量有限，由检光装置所形成的光信号，例如光总合信号或FE信号等，以受光面(A+C)-(B+D)所产生的FE信号为例，信号强度接近于零，随着光点接近数据层，检光装置所接收的数据层反射光量逐渐增加，FE信号跟着逐渐增强至最大，然后逐渐减少，当FE信号等于零，此时表示光点形成对称圆形，聚焦光点正在数据层上，光点一通过光点，FE信号由正转负，并随着光点穿越数据层而逐渐往负加大，然后再逐渐减少至零，构成一S形的信号曲线。推升物镜到达设定终点后，再如SA1值物镜高度虚线箭头所示，将物镜推回至起始位置，完成SA1值的测试。
接着，由微处理装置依次采取SA2、SA3、SA4、SA5等设定值，完成各校正值S形信号曲线的测试。由在每一校正SA值，改变投射光束路径不同，能使检光装置获得最大反射光量的，将使FE信号强度相对增强，并增大S形信号曲线的幅度。因此，由测试出各SA1、SA2、SA3、SA4、SA5值S形信号曲线的大小，找出最大者，如SA4值的S形信号曲线，即可决定最佳的SA值。而寻找SA值最大的S形信号曲线，可借由比较各SA值S形信号曲线中最大的信号强度，在读取头锁定数据层前，快速完成设定系统的最佳的SA值。
如图3所示，为本发明像差校正方法的流程。本发明在读取头锁定数据层前，快速设定系统SA值的详细步骤如下：首先在步骤R1，起动光盘机，点亮激光装置，进入步骤R2，在读取头锁定数据层前，开始设定系统的SA值，预设数个测试SA值，再进入步骤R3，由预设数个测试SA值，选择一SA值，并调整好系统该SA值进行测试，至步骤R4，对每一测试SA值进行累计计次，接着至步骤R5，移动物镜行经整个预设的测试行程，使投射光束的光点穿越数据层，至测试行程再推回测试起点，以产生信号。进入步骤R6记录测试行程所产生信号及强度。
接着进入步骤R7，检查计次是否到达预定值？该预定值可等于或小于测试SA值的预设个数，以从预设数个测试SA值采样或整个测试，本实施例以检视所有测试SA值是否均测试完成为例，假如未测试完成，则回至步骤R3，选择另一SA值，完成调整再继续测试，假如预设的SA值已测试完成，则进入步骤R8，由步骤R6所记录各SA值的信号及强度，比较信号强度，找出最强信号所属的SA值，然后至步骤R9，以该信号最强的SA值，设定为系统的SA值，最后结束设定的步骤R10。
因此，本发明像差校正方法，即可借由在读取头在聚焦锁定数据层前，选定数个不同SA值，上下移动光点通过数据层，利用FE信号强度变化，筛选最强的FE信号，以其SA值作为设定，完成像差校正，达到避免影响到聚焦锁定数据层后，聚焦回路信号增益配置，以提高光盘机的精确度。
以上所述者，仅用以方便说明本发明的优选实施例，本发明的范围不限于该等优选实施例，凡依本发明所做的任何变更，在不脱离本发明的精神下，均属本发明的范围。
Claims (9)
1.一种像差校正方法，其步骤包括：
(1)点亮激光装置；
(2)在读取头锁定数据层前，开始设定系统的SA值；
(3)测试预设数个测试SA值，并记录各SA值测试行程所产生信号及强度；
(4)比较出最强信号所属的SA值；以及
(5)以最强信号的SA值，设定为系统的SA值。
2.根据权利要求1所述的像差校正方法，其中该步骤(3)测试预设数个测试SA值及记录信号强度，包括步骤：
(3-1)选择一预设SA值以调整系统的SA值；
(3-2)计次每一SA值测试；
(3-3)移动物镜行经预设的测试行程；
(3-4)记录该测试行程所产生信号及强度；
(3-5)检查计次是否到达预定值？假如未到达，则回至步骤(3-1)继续测试另一预设SA值，假如已到达，则进入步骤(4)。
3.根据权利要求2所述的像差校正方法，其中该预定值等于预设测试SA值的个数。
4.根据权利要求2所述的像差校正方法，其中该预定值小于预设测试SA值的个数。
5.根据权利要求2所述的像差校正方法，其中该预设测试行程使物镜投射光点穿越数据层。
6.根据权利要求2所述的像差校正方法，其中该移动物镜是以预定速度由下往上推升物镜。
7.根据权利要求2所述的像差校正方法，其中该测试行程开始时，位于光点未接触数据层，信号强度为零位置。
8.根据权利要求1所述的像差校正方法，其中该记录测试行程所产生的信号为聚焦误差信号。
9.根据权利要求1所述的像差校正方法，其中该记录测试行程所产生的信号为光总合信号。
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| CNA2008100046387A CN101494063A (zh) | 2008-01-21 | 2008-01-21 | 像差校正方法 |
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106814452A (zh) * | 2017-01-17 | 2017-06-09 | 中国科学院光电研究院 | 一种离轴光束的像差校正方法 |
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2008
- 2008-01-21 CN CNA2008100046387A patent/CN101494063A/zh active Pending
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