CN101826353B - 盘片层数判别方法 - Google Patents
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Abstract
一种盘片层数判别方法,首先依序调整至两数据层的标准SA值;使焦点穿越盘片进行聚焦行程;记录该聚焦行程中最大振幅的聚焦误差信号;检查各聚焦行程所记录最大振幅的聚焦误差信号相等,则判别为双数据层盘片,不相等则判别为单数据层盘片。
Description
技术领域
本发明涉及一种盘片层数判别方法,尤其是关于光驱用以判别盘片数据层数的方法。
背景技术
由于光驱读取头中物镜等光学组件相当小,小光学组件的材质、成形、曲面及平滑度,在制造过程中均难以掌控,导致投射光束的亮度不均,容易造成像差(Spherical Aberration,简称SA),让光束聚焦点质量不佳,影响记号正确的判读。
如图1所示,为美国第6756574号专利案的先前技术像差校正系统。光驱的读取头1以激光装置2发出一激光束,经过多个光学组件3、像差校正单元4至物镜5,将光束聚焦投射至盘片6的数据层7。光束经数据层7反射回读取头1,再由光学组件3折射,照射在检光装置8的A、B、C、D受光面。由信号处理装置9以受光面(A+C)-(B+D)信号,形成聚焦误差信号(Focusing Error,简称FE),传输至微处理装置10,控制致动器11驱动物镜5移动,将光束锁定聚焦在数据层7。
此外,光驱根据盘片6的规格,数据层7相邻盘片基板(Substrate)12具有标准厚度d,并设定该盘片6对应最佳的SA值。由微处理装置10发出控制信号至SA调整装置13,调整像差校正单元4的透镜分开距离,改变光束投射路径,以改善光束聚焦点的质量。使经数据层7反射回读取头1的光束,形成最佳信号。
如图2所示,为先前技术判别蓝光盘片数据层数的示意过程。一般蓝光光驱将最佳SA值设在蓝光盘片接近表面的第一数据层。先前技术判别蓝光盘片数据层数时,在点亮读取头后,向上移动物镜,进行聚焦行程P,使聚焦点穿越盘片,形成聚焦误差信号。同时观察聚焦误差信号的大小,并设定一门限值T。当聚焦误差信号大小超过门限值T时,则在计数器加1。
因此,对单数据层的蓝光盘片而言,聚焦点首先穿越蓝光盘片表面时,会产生较门限值T小的S曲线聚焦误差信号。聚焦点接着穿越数据层,会产生较门限值T大的S曲线聚焦误差信号,因上下各产生一次较大的聚焦误差信号,以计数器计数为2。对双数据层的蓝光盘片而言,聚焦点首先穿越蓝光盘片表面时,也会产生较门限值T小的S曲线聚焦误差信号。聚焦点接着穿越第一数据层,将产生较门限值T大的S曲线聚焦误差信号,因上下各产生一次较大的聚焦误差信号,计数器计数为2。聚焦点再穿越第二数据层时,因最佳SA值设在蓝光盘片第一数据层,虽产生的S曲线聚焦误差信号较第一数据层稍小,但信号仍较门限值T大,因上下各产生一次较大的聚焦误差信号,计数器累计为4。因此,先前技术藉由计数器的计数,即可判别蓝光盘片的层数。
然而,蓝光光驱因读取头运作上非常贴近光盘片表面,蓝光盘片表面镀有硬质薄膜,以防止读取头刮伤盘片,但此薄膜会造成反射率上升。而且蓝光盘片的最佳的SA值设在相当接近薄膜表面的第一数据层。导致蓝光盘片表面所形成的聚焦误差信号,明显大许多,甚至比CD及DVD的聚焦误差信号大。且光驱均具有各自的电路及增益差异。在选定门限值时,常低于蓝光盘片的表面聚焦误差信号,造成判别层数错误,读写盘片失败,而影响光驱的效能。因此,习知光驱在判别数据层数上,仍有问题亟待解决。
发明内容
本发明的目的在提供一种盘片层数判别方法,藉由将最佳SA值设于每一数据层,分别进行聚焦行程,获得每一行程中最大聚焦误差信号,由各聚焦行程最大的聚焦误差信号是否相等,以判别单或双数据层盘片。
本发明另一目的在提供一种盘片层数判别方法,利用光驱同一电路及增益,所获得的聚焦误差信号,进行大小比较,降低光驱各别差异特性对信号比对的影响,以避免设定门限值。
本发明再一目的在提供一种盘片层数判别方法,以预设差值范围,作为比较各聚焦行程最大的聚焦误差信号相等的弹性范围,以提高判别的准确性。
为了达到前述发明的目的,本发明的盘片层数判别方法,首先依序调整至两数据层的标准SA值;使焦点穿越盘片进行聚焦行程;记录该聚焦行程中最大振幅的聚焦误差信号;检查各聚焦行程所记录最大振幅的聚焦误差信号相等,则判别为双数据层盘片,不相等则判别为单数据层盘片。
本发明另一实施例盘片层数判别方法,先依序调整至两数据层的标准SA值;使焦点穿越盘片进行聚焦行程;记录该聚焦行程中最大振幅的聚焦误差信号;检查各聚焦行程所记录最大振幅的聚焦误差信号相差在预设范围内,则判别为双数据层盘片,否则判别为单数据层盘片。
附图说明
图1为先前技术光驱像差校正系统的功能方块图。
图2为先前技术判别盘片层数的过程示意图。
图3为本发明单层盘片聚焦行程的过程示意图。
图4为本发明双层盘片聚焦行程的过程示意图。
图5为本发明双层盘片多次聚焦行程的过程示意图。
图6为本发明第一实施例判别盘片层数方法的流程图。
图7为本发明第二实施例判别盘片层数方法的流程图。
【主要组件符号说明】
1 读取头
2 激光装置
3 光学组件
4 像差校正单元
5 物镜
6 盘片
7 数据层
8 检光装置
9 信号处理装置
10 微处理装置
11 致动器
12 基板
13 SA调整装置
具体实施方式
有关本发明为达成上述目的,所采用的技术手段及其功效,兹举较佳实施例,并配合附图加以说明如下。
本发明盘片层数判别方法,主要利用一般光驱针对各种盘片规格所定的数据层标准位置,测试储存有相对应设定的标准SA值。当光驱决定读写数据所在的数据层,即利用储存相对应的标准SA值,将像差最佳补偿的位置调整至该数据所在的数据层,以维持最佳的信号质量,使所获得的信号最大。假如SA值非设定在所读写数据所在的数据层上,则会降低信号的大小。因此,本发明盘片层数判别方法依序将SA值调整至第一数据层及第二数据层的标准位置,并分别进行聚焦行程,向上或向下移动物镜,使焦点穿越盘片,将在盘片表面、第一数据层或第二数据层等反射位置,获得聚焦误差信号。
如图3所示,为单数据层盘片聚焦行程的过程。就单数据层盘片,当SA值调整至第一数据层的SA1标准位置,进行聚焦行程P1时,以向上移动物镜为例,焦点穿越盘片表面的聚焦误差信号,因盘片表面的反射率较小,信号振幅较小。焦点接着穿越第一数据层,因像差最佳补偿的位置调整至数据层,将获得最大的聚焦误差信号振幅M1。焦点再穿越第二数据层标准位置时,因第二数据层标准位置并无数据层存在,无法产生聚焦误差信号。因此,SA值调整至第一数据层的单数据层盘片,比较下第一数据层的聚焦误差信号振幅M1最大。
然后,向下移回物镜至起点,将SA值调整至第二数据层的SA2标准位置,进行聚焦行程P2时,再向上移动物镜,焦点穿越盘片表面的聚焦误差信号,因盘片表面的反射率较小,信号振幅较小。焦点接着穿越第一数据层,因像差最佳补偿的位置未调整至该数据层,将获得一般的聚焦误差信号振幅M2。焦点再穿越第二数据层标准位置时,因第二数据层标准位置无数据层存在,即使像差最佳补偿的位置调整至该位置,并无法产生聚焦误差信号。因此,SA值调整至第二数据层的单数据层盘片,比较下第一数据层的聚焦误差信号振幅M2最大。
由单数据层盘片的聚焦行程P1及聚焦行程P2,各别所获得最大聚焦误差信号比较。聚焦行程P1因像差最佳补偿的位置调整的第一数据层,获得的最大聚焦误差信号振幅M1,明显大于,聚焦行程P2无像差最佳补偿的位置调整的第一数据层,获得的最大聚焦误差信号振幅M2。单数据层盘片的聚焦误差信号振幅M1不等于聚焦误差信号振幅M2。
如图4所示,为双数据层盘片聚焦行程的过程。就双数据层盘片,当SA值调整至第一数据层的SA1标准位置,进行聚焦行程P1时,焦点穿越盘片表面的聚焦误差信号,因盘片表面的反射率较小,信号振幅较小。焦点接着穿越第一数据层,因像差最佳补偿的位置调整至该数据层,将获得最大的聚焦误差信号振幅M1。焦点再穿越第二数据层时,因像差最佳补偿的位置未调整至该数据层,所获得的聚焦误差信号振幅小于聚焦误差信号振幅M1。因此,SA值调整至第一数据层的双数据层盘片,比较下第一数据层的聚焦误差信号振幅M1最大。
然后,将SA值调整至第二数据层的SA2标准位置,进行聚焦行程P2时,焦点穿越盘片表面的聚焦误差信号,因盘片表面的反射率较小,信号振幅较小。焦点接着穿越第一数据层,因像差最佳补偿的位置未调整至该数据层,将获得一般的聚焦误差信号振幅。焦点再穿越第二数据层时,因像差最佳补偿的位置调整至该数据层,将获得最大的聚焦误差信号振幅M2。因此,SA值调整至第二数据层的单数据层盘片,比较下第二数据层的聚焦误差信号振幅M2最大。
由双数据层盘片的聚焦行程P1及聚焦行程P2,各别所获得最大聚焦误差信号比较。聚焦行程P1因像差最佳补偿的位置调整的第一数据层,获得的最大聚焦误差信号振幅M1。比较聚焦行程P2因像差最佳补偿的位置调整的第二数据层,获得的最大聚焦误差信号振幅M2。两者因均有像差最佳补偿的位置,聚焦误差信号振幅M1等于聚焦误差信号振幅M2。
由前述单、双数据层盘片聚焦行程所获得的结果,可知单数据层盘片,在改变SA值的两次聚焦行程中,有一次像差最佳补偿的位置必落在无数据层的位置,而无法两次聚焦行程均获得最大聚焦误差信号振幅,因而造成两次聚焦行程的最大聚焦误差信号振幅不相等。反观,双数据层盘片,在改变SA值的两次聚焦行程,每一次像差最佳补偿的位置,均会有一数据层在其调整的位置,因而两次聚焦行程均可获得相等的最大聚焦误差信号振幅。因此,利用聚焦行程的最大聚焦误差信号振幅,相等为双数据层盘片,不相等为单数据层盘片,即可轻易判别盘片的层数。
如图5所示,本发明双层盘片多次聚焦行程的过程。前述实施例虽已调整一次SA值,进行一次聚焦行程,但为避免单次聚焦行程的失误,造成层数误判。调整一次SA值可进行至少一次的聚焦行程。以双数据层盘片的二次聚焦行程作为说明。其过程基本上与前述双数据层盘片的一次聚焦行程相似,不同处仅是在向上移动物镜分别进行聚焦行程P1及聚焦行程P2之后,在不改变SA值的情况下,紧接着向下移动物镜,再分别进行聚焦行程P1a及聚焦行程P2a。因经过数据层顺序相反,所获得的信号大小相同但顺序恰相反。因而可利用移回物镜时,增加再次信号取得的机会,避免单次聚焦行程因干扰产生的失误。
如图6所示,为本发明第一实施例盘片层数判别方法的流程。本发明利用调整两数据层的SA值,依序进行聚焦行程,根据最大聚焦误差信号是否相等,判别盘片层数的详细步骤说明如下:步骤R1点亮读取头,开始进行判别盘片层数;进入步骤R2,由两数据层的标准SA值其中之一,依序调整SA值。再进入步骤R3,移动物镜进行聚焦行程,以获得聚焦误差信号。在步骤R4记录所获得的聚焦误差信号中最大振幅的聚焦误差信号。接着在步骤R5,检查是否完成调整每一数据层的标准SA值?假如未完成,回至步骤R2,调整下一数据层的标准SA值继续测试,假如已完成调整每一数据层的标准SA值,则进入步骤R6,由步骤R4比较所记录最大振幅的聚焦误差信号。然后进入步骤R7,检查比较的最大振幅聚焦误差信号是否相等?假如最大振幅聚焦误差信号相等,进入步骤R8可判别为双数据层盘片,否则最大振幅聚焦误差信号不相等,进入步骤R9判别为单数据层盘片。
如图7所示,为本发明第二实施例盘片层数判别方法的流程。本实施例过程步骤S1至S9,基本上与第一实施例步骤R1至R9相同。不同处仅是针对前述实施例以各聚焦行程中所获得的最大聚焦误差信号振幅是否相等,作为判别单双数据层盘片。但为避免机器误差及信号噪声干扰,对于相差不大的最大聚焦误差信号振幅,亦应视为相同。因此,本实施例在步骤S7给予一预设差值范围,作为最大聚焦误差信号振幅相等的认定的弹性范围,以适应实际信号状况。本实施例重新设定步骤S7检查比较的最大振幅聚焦误差信号相差是否在预设差值范围内?假如相差在预设差值范围内,进入步骤S8判别为双数据层盘片,否则进入步骤S9判别为单数据层盘片。
因此,本发明盘片层数判别方法,即可藉由调整最佳SA值至每一数据层,分别进行聚焦行程,取得每一行程中最大振幅聚焦误差信号,由各行程最大振幅的聚焦误差信号相等或相差在预设差值范围内,判别为双数据层盘片,而不相等或相差不在预设差值范围内时,则判别为单数据层盘片,轻易判别出盘片层数。此外,本发明盘片层数判别方法,利用光驱同一电路及增益,所获得的聚焦误差信号,进行大小比较,可避免设定门限值,防止光驱各别差异特性对信号比对的影响,以提高判别的正确性。
以上所述者,仅用以方便说明本发明的较佳实施例,本发明的范围不限于该等较佳实施例,凡依本发明所做的任何变更,于不脱离本发明的精神下,皆属本发明权利要求的范围。
Claims (7)
1.一种盘片层数判别方法,使用于光驱,其步骤包含:
(1)调整至两数据层之一的标准像差值;
(2)进行聚焦行程;
(3)记录该聚焦行程中最大振幅的聚焦误差信号;
(4)检查是否完成调整每一数据层的标准像差值,假如未完成,回至步骤(1),假如已完成,则进入步骤(5);
(5)检查各聚焦行程所记录最大振幅的聚焦误差信号是否相等,假如相等,判别为双数据层盘片,假如不相等,则判别为单数据层盘片,
其中该标准像差值是光驱针对各种盘片规格所定的数据层标准位置,测试储存有相对应设定的标准像差值。
2.依据权利要求1所述的盘片层数判别方法,其中该聚焦行程是向上或向下移动光驱的物镜,使焦点穿越盘片。
3.依据权利要求2所述的盘片层数判别方法,其中该聚焦行程包含向上移动光驱的物镜,使焦点穿越盘片,再向下移动光驱的物镜,使焦点穿越盘片。
4.依据权利要求2所述的盘片层数判别方法,其中该步骤(4)检查未完成调整每一数据层的标准像差值,回至步骤(1)前,先移回光驱的物镜至起点。
5.一种盘片层数判别方法,使用于光驱,其步骤包含:
(1)调整至两数据层之一的标准像差值;
(2)进行聚焦行程;
(3)记录该聚焦行程中最大振幅的聚焦误差信号;
(4)检查是否完成调整每一数据层的标准像差值,假如未完成,回至步骤(1),假如已完成,则进入步骤(5);
(5)检查各聚焦行程所记录最大振幅的聚焦误差信号相差是否在预设范围内,假如在预设范围内,判别为双数据层盘片,假如不在预设范围内,则判别为单数据层盘片,
其中该标准像差值是光驱针对各种盘片规格所定的数据层标准位置,测试储存有相对应设定的标准像差值。
6.依据权利要求5所述的盘片层数判别方法,其中该聚焦行程是向上或向下移动光驱的物镜,使焦点穿越盘片。
7.依据权利要求6所述的盘片层数判别方法,其中该聚焦行程包含向上移动光驱的物镜,使焦点穿越盘片,再向下移动光驱的物镜,使焦点穿越盘片。
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