CN102778205A - 一种研磨棒直径检测方法以及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种研磨棒直径检测方法以及装置，通过测量信号发生器发射测量光束在垂直方向长度为L，信号接收器接收到研磨棒上部分未被遮挡的光束投影长度L1，测量接收到研磨棒下部分未被遮挡的光束投影长度L2,根据公式计算研磨棒的直径数值，还提供实施研磨棒直径检测方法的一种研磨棒直径检测装置，由带有数据线缆的对射测头组成。本发明在对研磨棒测量过程中，对研磨棒自身无任何损伤，可为后续用该研磨棒加工精密轴类零件提供精度保证，通过电脑监控更快速、准确地测量出研磨棒的直径公差，为严格控制研磨棒生产质量指标提供科学检测方法。
Description
技术领域
本发明属于精密轴类零件加工技术领域，尤其涉及一种研磨棒直径检测方法以及装置。
背景技术
随着精密轴类零件加工精度要求越来越高，对作为精密轴类零件毛坯料的研磨棒自身精度提出更高的要求。一般毛坯料的研磨棒长度均超过2m，采用无心磨床对外表面进行磨削加工，以使得加工后的研磨棒具有所需要的表面粗糙度、圆度及直径等技术要求。由于棒料长度较长，加工过程必然会存在同一根棒料不同段加工质量不完全相同，这就要求对加工后的研磨棒进行精确检测。直径作为研磨棒精度的核心指标，在研磨棒加工过程中需要被严格进行监控。传统研磨棒加工过程中的直径检测，一般是采用螺旋测微仪或是游标卡尺通过人工抽检的方式来进行测量，这种方法存在如下缺点：1、测量效率低，一般研磨棒长度均超过1米，检测人员往往需要在同一根研磨棒上的不同位置检测多次，才更能反映出该根研磨棒的实际直径值；2、无论采用螺旋测微仪还是游标卡尺，均需要在测量过程中与研磨棒实际接触才能测量出实际直径，即为传统的接触式测量方法，这种方法会在测量过程中对研磨棒表面造成与测量工具的摩损损伤，从而影响研磨棒自身品质；3、测量操作给检测人员带来较大的重复性劳动，不符合现代工业技术发展需求。
发明内容
为解决上述问题，本发明的目的在于提供对研磨棒直径进行非接触式测量的一种研磨棒直径检测方法。
为实现上述目的，本发明的技术方案为：
一种研磨棒直径检测方法，包括以下步骤：
A、通过信号发生器发射测量光束，测量光束处于垂直截面内，足够覆盖研磨棒直径，测量信号发生器发射的测量光束在垂直方向长度为L；
B、将研磨棒放入光束中，测量光束的一部分光被研磨棒挡住无法进入到对面的信号接收器内；
C、信号发生器对面的信号接收器接收到研磨棒上部分未被遮挡的光束，以及收到研磨棒下部分未被遮挡的光束；
D、测量对面的信号接收器接收到研磨棒上部分未被遮挡的光束投影长度L1，测量接收到研磨棒下部分未被遮挡的光束投影长度L2；
E、根据实际研磨棒直径计算公式为：D=L-L1-L2，计算研磨棒的直径数值。
本发明还提供实施研磨棒直径检测方法的一种研磨棒直径检测装置，由带有数据线缆的对射测头组成。
进一步，还包含放置对射测头的底座。
本发明的有益效果是：本发明在对研磨棒测量过程中，对研磨棒自身无任何损伤，可为后续用该研磨棒加工精密轴类零件提供精度保证，通过连接电脑的数据线缆即时传输测量监控数据，更方便监控研磨棒直径是否超差，杜绝人工采用传统测量方法带来影响，更快速、准确地测量出研磨棒的直径公差，并可根据不同批次、型号研磨棒设置相对应的直径公差监控范围，一旦检测超差，则立即通过报警提醒将不合格产品剔除，提高了检测精度、检测效率和质量控制的可靠性，从而便于实现对研磨棒直径进行全自动测量，显著提高研磨棒直径检测效率，为严格控制研磨棒生产质量指标提供科学检测方法。
附图说明
图1是本发明装置的结构示意图；
图2是本发明装置的原理示意图。
其中：1.测头附带电缆；2.对射测头；3.研磨棒；4.信号接收器；5.测量光束；6.信号发生器；7.研磨棒；8.底座。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
根据图2所示：本发明的测量原理为：通过信号发生器6发射测量光束5，测量光束处于垂直截面内，足够覆盖研磨棒直径，将研磨棒7放入光束中，测量光束的一部分光被研磨棒挡住无法进入到对面的信号接收器4内，假定从信号发生器发射的测量光束在垂直方向长度为L，而对面的信号接收器接收到研磨棒上部分未被遮挡的光束投影长度为L1，接收到研磨棒下部分未被遮挡的光束投影长度为L2，则实际研磨棒直径D=L-L1-L2。由于测量光束是以光幕方式由信号发生器对射到正对面的信号接收器的，中间只会被研磨棒遮挡住部分，故可以非常精确的测量出研磨棒自身的直径。
根据以上的测量原理，本发明提供一种研磨棒直径检测方法，包括以下步骤：
A、通过信号发生器发射测量光束，测量光束处于垂直截面内，足够覆盖研磨棒直径，测量信号发生器发射的测量光束在垂直方向长度为L；
B、将研磨棒放入光束中，测量光束的一部分光被研磨棒挡住无法进入到对面的信号接收器内；
C、信号发生器对面的信号接收器接收到研磨棒上部分未被遮挡的光束，以及收到研磨棒下部分未被遮挡的光束；
D、测量对面的信号接收器接收到研磨棒上部分未被遮挡的光束投影长度L1，测量接收到研磨棒下部分未被遮挡的光束投影长度L2；
E、根据实际研磨棒直径计算公式为：D=L-L1-L2，计算研磨棒的直径数值。
根据图1、图2所示：根据以上的一种研磨棒直径检测方法，本发明还提供实施研磨棒直径检测方法的一种研磨棒直径检测装置，由带有数据线缆1的对射测头2组成。其中对射测头2由信号发生器6与信号接收器4组成，信号发生器6发射测量光束5，当研磨棒7放入光束中，测量光束5的一部分光被研磨棒挡住无法进入到对面的信号接收器4内，通过测量信号发生器4发射的测量光束在垂直方向长度为L、信号接收器4接收到研磨棒上部分未被遮挡的光束投影长度为L1，接收到研磨棒下部分未被遮挡的光束投影长度为L2，并将该三个数据L、L1、L2通过与对射测头2连接的数据线缆1即时传输到计算机监控处理系统，则可以动态的根据监控处理系统预置的计算公式对研磨棒的直径进行计算，并自动根据事先设置的对应研磨棒直径公差来实时判断所检测研磨棒直径是否超过误差，一旦系统检测到数据超过误差，则立即通过报警提醒生产人员将不合格产品剔除。
底座8放置对射测头2，数据线缆1从底座8下部穿出。
当然，可根据本发明提供的一种研磨棒直径检测方法以及一种研磨棒直径检测装置，本领域技术人员能开发出便携式研磨棒直径检测仪，或仅是在此基础上增加研磨棒自动传送系统，继而开发全自动研磨棒检测系统，本发明提供的技术方案为高精密研磨棒大批量生产和产品全程质量控制提供了技术基础。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种研磨棒直径检测方法，包括以下步骤：
A、通过信号发生器发射测量光束，测量光束处于垂直截面内，足够覆盖研磨棒直径，测量信号发生器发射的测量光束在垂直方向长度为L；
B、将研磨棒放入光束中，测量光束的一部分光被研磨棒挡住无法进入到对面的信号接收器内；
C、信号发生器对面的信号接收器接收到研磨棒上部分未被遮挡的光束，以及收到研磨棒下部分未被遮挡的光束；
D、测量对面的信号接收器接收到研磨棒上部分未被遮挡的光束投影长度L1，测量接收到研磨棒下部分未被遮挡的光束投影长度L2；
E、根据实际研磨棒直径计算公式为：D=L-L1-L2，计算研磨棒的直径数值。
2.一种实施权利要求1所述方法的一种研磨棒直径检测装置，其特征在于：由带有数据线缆的对射测头组成。
3.根据权利要求2所述的一种研磨棒直径检测装置，其特征在于：还包含放置对射测头的底座。
4.根据权利要求3所述的一种研磨棒直径检测装置，其特征在于：所述数据线缆从底座下部穿出。
5.根据权利要求2至4任一所述的一种研磨棒直径检测装置，其特征在于：所述对射测头由信号发生器与信号接收器组成。
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| Date | Code | Title | Description |
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| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
| WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20121114 |