CN102760021B - 电阻式触摸屏的触摸轨迹检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种电阻式触摸屏触摸轨迹的检测方法，包括以下步骤：建立查询表，该查询表包括触摸屏的多个位置坐标，及与该多个位置坐标一一对应的校准方法f，该校准方法f使该多个位置坐标的基准接触面积触摸点的实际信号强度值(V0i)换算为统一的标准信号强度值(Vs)，即满足f(V0i)＝Vs；接收触摸轨迹，该触摸轨迹包括至少一个触摸点；判断该至少一个触摸点的位置坐标，并根据该至少一触摸点的实际接触面积读取该至少一个触摸点的实际信号强度值(Vi)；以及从查询表中查询与该位置坐标对应的校准方法f，通过该校准方法f对该实际信号强度值(Vi)进行校准得到校准后信号强度值(V’i)，即f(Vi)＝V’i，通过校准后信号强度值(V’i)体现该至少一触摸点的实际接触面积。
Description
技术领域
本发明涉及一种触摸轨迹检测方法，尤其涉及一种基于多点电阻式触摸屏的触摸轨迹检测方法。
背景技术
近年来，随着触摸式电子设备如带有触摸屏的手机、平板电脑等的使用越来越普及，触摸检测技术也不断发展，通过触摸屏进行输入极大的提高了使用者的体验感。然而目前的触控检测技术皆是检测何处被按压或碰触，接着执行动作，但是对于需要体现笔触的应用则无法通过现行的检测方式来表现，也无法对触摸的压力进行区别。
例如，传统的手写输入装置大多记录手写笔或触摸物在触摸屏的触摸轨迹，然后通过手写识别系统对触摸轨迹进行识别，并根据预先的设定显示对应字型的文字。这种文字的检测识别方式无法体现使用者的个人字迹风格。另外，现有技术中的手写方式为通过检测笔迹中触摸点的位置坐标，并根据位置坐标来对应显示该笔迹，然而，该种检测方式无法检测使用者笔触以及力度的大小，从而也无法实现传统书法中的“点、横、竖、钩、挑、长撇、短撇、捺”等笔法，在电子亲笔签名以及绘画等功能受到了限制。
发明内容
有鉴于此，确有必要提供一种可以体现笔触和压力的基于电阻式触摸屏的触摸轨迹检测方法。
一种电阻式触摸屏触摸轨迹的检测方法，包括以下步骤：建立查询表，该查询表包括触摸屏的多个位置坐标，及与该多个位置坐标一一对应的校准方法f，该校准方法f使该多个位置坐标的基准接触面积触摸点的实际信号强度值(V0i)换算为统一的标准信号强度值(Vs)，即满足f(V0i)＝Vs；接收触摸轨迹，该触摸轨迹包括至少一个触摸点；判断该至少一个触摸点的位置坐标，并根据该至少一触摸点的实际接触面积读取该至少一个触摸点的实际信号强度值(Vi)；以及从查询表中查询与该位置坐标对应的校准方法f，通过该校准方法f对该实际信号强度值(Vi)进行校准得到校准后信号强度值(V’i)，即f(Vi)＝V’i，通过校准后信号强度值(V’i)体现该至少一触摸点的实际接触面积。
相较于现有技术，本发明不仅检测触摸轨迹中触摸点的位置坐标，还同时检测触摸点的信号强度值，并建立该信号强度值与该触摸点触摸面积之间的关系，即用触摸点的信号强度值来表示触摸点的触摸面积，使相同面积的触摸点具有相同的信号强度值，不同面积的触摸点具有不同的信号强度值，从而实现了不同笔触以及压力的触摸检测。可广泛应用于电子签名以及电子绘画，提高了使用者的体验感。
附图说明
图1为本发明实施例提供的电阻式触摸屏触摸轨迹检测方法的流程图。
图2为本发明实施例提供的电阻式触摸屏触摸轨迹检测方法中所适用的电阻式触摸屏的俯视结构示意图。
图3为图2电阻式触摸屏主体单元的侧视结构示意图。
图4为图2电阻式触摸屏中第一导电层以及第二导电层空间示意图。
图5为本发明实施例碳纳米管膜的透射电镜照片。
图6为本发明实施例提供的电阻式触摸屏触摸轨迹检测方法中适用的电阻式触摸屏相同接触面积不同位置触摸点的信号强度值示意图。
图7为本发明实施例提供的电阻式触摸屏触摸轨迹检测方法中适用的电阻式触摸屏不同接触面积且相同触摸位置的触摸点的信号强度值示意图。
图8为本发明实施例提供的电阻式触摸屏触摸轨迹检测方法中基准接触面积A0触摸点的实际信号强度值(V0ix)校准为标准信号强度值(Vsx)的具体过程示意图。
图9为本发明实施例提供的电阻式触摸屏触摸轨迹检测方法中基准接触面积A0触摸点的实际信号强度值(V0iy)校准为标准信号强度值(Vsy)的具体过程示意图。
图10为本发明实施例提供的电阻式触摸屏触摸轨迹检测方法中的触摸轨迹示意图。
图11为图10中触摸轨迹中的某一触摸点B处的实际信号强度值校准过程示意图。
主要元件符号说明
电阻式触摸屏10
主体单元102
控制单元104
第一电极板12
第一基体120
第一导电层122
第一电极124
第二电极板14
第二基体140
第二导电层142
第二电极144
绝缘层18
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
以下将结合附图详细说明本发明实施例触摸轨迹的检测方法。
请参阅图1，本发明实施例提供一种电阻式触摸屏触摸轨迹检测方法，包括如下步骤：
S1，建立查询表，该查询表包括触摸屏的多个位置坐标，及与该多个位置坐标一一对应的校准方法f，该校准方法f使该多个位置坐标的基准接触面积触摸点的实际信号强度值(V0i)换算为统一的标准信号强度值(Vs)，即满足f(V0i)＝Vs；
S2，接收触摸轨迹，该触摸轨迹包括至少一个触摸点；
S3，判断该至少一个触摸点的位置坐标，并根据该至少一触摸点的实际接触面积读取该至少一个触摸点的实际信号强度值(Vi)；以及
S4，从查询表中查询与该位置坐标对应的校准方法f，通过该校准方法f对该实际信号强度值(Vi)进行校准得到校准后信号强度值(V’i)，即f(Vi)＝V’i，通过校准后信号强度值(V’i)体现该至少一触摸点的实际接触面积。
本发明所述触摸轨迹的检测方法可适用于电阻式触摸屏，该电阻式触摸屏可具有如下所述的结构。
请一并参阅图2、图3以及图4，该电阻式触摸屏10包括主体单元102以及控制单元104。其中，该主体单元102包括一第一电极板12，一第二电极板14以及设置在该第一电极板12以及与第二电极板之间的多个透明点状隔离物16。
该第一电极板12包括一第一基体120，一第一导电层122以及多个第一电极124。该第一基体120为平面结构，该第一导电层122与多个第一电极124均设置在第一基体120靠近所述点状隔离物16的表面。该多个第一电极124分别设置在第一导电层122沿第一方向的至少一端并分别与第一导电层122电连接。
该第二电极板14包括一第二基体140，一第二导电层142以及多个第二电极144。该第二基体140为平面结构，该第二导电层142与多个第二电极144均设置在第二基体140靠近所述点状隔离物16的表面。该多个第二电极144分别设置在第二导电层142沿第二方向的至少一端并分别与第二导电层142电连接。该第一方向垂直于该第二方向，即多个该第一电极124与多个该第二电极144正交设置。本发明实施例中定义该第一方向为x方向，第二方向为y方向。进一步地，在所述触摸屏10中，该第二电极板14靠近第一电极板12的表面外围可以设置有一绝缘层18，该绝缘层18可以使该第一导电层122以及该第二导电层142在无触摸时间隔而实现电绝缘。
所述第一导电层122以及第二导电层142可为一透明的导电异向性膜。具体地，该导电异向性膜在一个方向上的电导率远大于其他方向的电导率。当应用于该第一导电层122时，该最大电导率的方向为所述第一方向。当应用于该第二导电层142时，该最大电导率的方向为所述第二方向。该导电异向性膜可以一碳纳米管膜。该碳纳米管膜包括多个碳纳米管，该多个碳纳米管基本上沿相同方向定向延伸，从而使该碳纳米管膜在该多个碳纳米管的延伸方向上具有远大于其他方向的电导率。该碳纳米管膜可通过从一碳纳米管阵列中拉取形成。所述从碳纳米管阵列中拉取形成的碳纳米管膜中大多数碳纳米管的整体延伸方向基本朝同一方向且平行于该碳纳米管膜的表面。并且，所述从碳纳米管阵列中拉取获得的碳纳米管膜中，基本朝同一方向延伸的大多数碳纳米管中每一碳纳米管与在延伸方向上相邻的碳纳米管通过范德华力(vanderwaal’sforce)首尾相连，从而使该碳纳米管膜能够实现自支撑。所述自支撑指碳纳米管膜不需要大面积的载体支撑，而只要相对两边提供支撑力即能整体上悬空而保持自身膜状状态。所述自支撑主要通过碳纳米管膜中存在连续的通过范德华力首尾相连延伸排列的碳纳米管而实现。
该从碳纳米管阵列中拉取获得的碳纳米管膜的碳纳米管之间形成有均匀的间隙，该间隙的距离为1纳米至10微米。由于该碳纳米管膜中的碳纳米管沿同一方向延伸且间隙较小，将该碳纳米管膜作为该电阻式触摸屏10的第一导电层122或第二导电层142，当不同触摸面积的触摸物触摸该电阻式触摸屏10时，所述控制单元104检测到的信号强度值变化较明显，从而可较好地区分不同接触面积触摸点的信号强度值。
请参阅图5，本发明实施例中所述第一导电层122以及第二导电层142均采用单层由碳纳米管阵列中拉取获得的所述碳纳米管膜。该第一导电层122中的大多数碳纳米管沿所述第一方向延伸，从而使该第一导电层122在该第一方向的电导率远大于其他方向的电导率。该第二导电层142中的碳纳米管沿所述第二方向定向延伸，从而使该第二导电层142在该第二方向的电导率远大于其他方向的电导率。
所述电阻式触摸屏10的第一基体120与第二基体140均为透明的绝缘薄膜或薄板。该第一基体120以及第二基体140的材料可为玻璃、石英、金刚石、聚碳酸酯(PC)、聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)、聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)等聚酯材料，以及聚醚砜(PES)、纤维素酯、聚氯乙烯(PVC)、苯并环丁烯(BCB)及丙烯酸树脂等材料。该第一基体120和第二基体140的厚度为0.1毫米～1厘米。本实施例中，该第一基体120及第二基体140的材料均为PET，厚度均为2毫米。可以理解，形成所述第一基体120及第二基体140的材料并不限于上述列举的材料，只要能使第一基体120及第二基体140起到支撑的作用，并具有较好的透明度，且至少形成第一基体120的材料具有一定柔性，都在本发明保护的范围内。
该绝缘层18与点状隔离物16均可采用绝缘树脂或其他绝缘材料制成，并且，该点状隔离物16应为一透明材料制成。设置绝缘层18与点状隔离物16可使得第一电极板12与第二电极板14在无触摸时电绝缘。可以理解，当触摸屏10尺寸较小时，点状隔离物16为可选择的结构，只需确保第一电极板12与第二电极板14在无触摸时电绝缘即可。
该控制单元104通过导线分别与所述主体单元102中的第一电极124以及第二电极144电连接，该控制单元104可包括：1.具有驱动以及感测功能的驱动感测电路，给该触摸屏10的主体单元102提供驱动信号以及读取感测信号从而获得触摸点的信号强度值，本发明所述驱动信号以及感测信号可为电压或电流等信号，本发明实施例中该驱动信号以及感测信号均为电压信号，所述触摸点的信号强度值均为检测到的该点的电压变化值；2.对获得的信号进行处理的处理器，如可以根据读取的信号强度值计算出触摸点的位置坐标；3.模数转换器，将模拟信号转化为数字信号以供数据处理，本发明实施例中所述信号强度值均为数字信号值；4.数据存储器，可以存储触摸点的位置坐标以及信号强度值等数据。此外该控制单元104还可具有元件以实现其他功能。该电阻式触摸屏10还可以包括其它元件，以使该电阻式触摸屏10更好的工作。该电阻式触摸屏10可支持多点触摸。
在使用时，使用者触摸该触摸屏10的第一电极板12，使第一电极板12发生形变，从而使第一导电层122与第二导电层142在至少一个触摸点处接触导通，控制单元104的驱动感测电路通过驱动该多个第一电极124，并同时读取该多个第二电极144的感测信号强度的变化值较大或最大的值来判断该至少一个触摸点在x方向上的位置坐标；同样地，通过驱动该多个第二电极144，并同时读取该多个第一电极124的感测信号强度变化值较大或最大的值来判断该触摸点在y方向上的位置坐标。本发明实施例中将导通的触摸点的面积定义为接触面积，该接触面积随触摸物的大小以及压力的变化而变化，即接触面积的变化可以体现笔触和压力。
请参阅图6，实际应用时，在该电阻式触摸屏10的不同位置形成相同接触面积的触摸点时，所检测到的信号强度值不同。具体地，在x或y方向上越靠近电极的触摸点的信号强度值越大，在x或y方向上越远离电极的触摸点的信号强度值越小。如图6所示，在电阻式触摸屏10的四个不同位置形成相同接触面积的触摸点I、II、III以及IV，在x以及y方向上靠电极最近的触摸点I具有最大的信号强度值，而在x以及y方向上离电极最远的触摸点IV具有最小的信号强度值。同样地，不同接触面积的触摸点在相同位置所检测到的信号强度也不相同。请参阅图7，触摸点V与VI处于电阻式触摸屏的相同位置，但触摸点V的接触面积大于触摸点VI的接触面积，检测到的触摸点V的信号强度值大于触摸点VI的信号强度值。本发明基于该事实，建立所述查询表通过后续校准获得触摸点的校准信号强度值。用该校准后信号强度值的大小直接反映触摸点接触面积的大小，使该校准后的信号强度值仅与接触面积的大小有关，而与触摸点的位置无关。
需要说明的是，本发明所述相同位置是指检测到的触摸点的位置坐标相同，相反地，不同位置是指触摸点的位置坐标不同。
请一并参阅图8以及图9，上述步骤S1中所述查询表可通过如下步骤来建立：
S11，设定一基准接触面积A0；
S12，获取所述多个位置坐标下具有该基准接触面积A0的触摸点的信号强度值V0i，其中V0i＝(V0ix，V0iy)；
S13，设定所述统一的标准信号强度值Vs，其中Vs＝(Vsx，Vsy)；以及
S14，建立将该V0i换算为该Vs的运算方法f，使f(V0ix)＝Vsx，f(V0iy)＝Vsy。
上述符号i代表所述触摸轨迹中的某个触摸点。如可表示：按触摸轨迹中触摸点形成的次序中第i个触摸点，i＝1，2，3……(i≥0)。
在上述步骤S11中，该基准接触面积A0的大小不限，只要相对该触摸屏面积大小适中即可。
在上述步骤S12中，可逐一在所述电阻式触摸屏10的所有坐标位置形成所有接触面积为A0的触摸点，并利用控制单元104的驱动感测电路读取该每一个触摸点的信号强度值V0i，也可取样形成有限个接触面积为A0的触摸点，并读取该有限个触摸点的位置坐标以及信号强度值V0i，然后再根据触摸点之间的位置关系利用插值的方法获得其他位置触摸点的信号强度值V0i。本发明实施例中仅在检测该触摸面积A0下有限个触摸点的信号强度值V0i，并利用触摸点之间的位置关系，用插值计算的方式获得其他位置触摸点的信号强度值V0i。
在上述步骤S13中，该标准信号强度Vs选取方式不限，仅作为调整所述接触面积A0下触摸点的信号强度值V0i相等的标准，如该Vs可以设定为该接触面积A0下触摸点的信号强度值V0i中的最大值。后续当显示该触摸轨迹时，该标准信号强度Vs可作为接触面积A0下触摸点的显示直径或面积的标准。
在上述步骤S14中，利用该运算方法f使该每个接触面积A0下触摸点的信号强度值V0i都调整为等于Vs。该运算方法f建立的目的在于，定义该接触面积A0下触摸点的信号强度值为Vs，从而使触摸点的接触面积仅与该触摸点的运算后的信号强度值有关，即用该触摸点的运算后的信号强度值来反映该点的接触面积。
该运算方法f的建立可以有多种方式，只需满足f(V0i)＝Vs。本发明实施例中，该运算方法f为该标准信号强度值Vs与该信号强度值V0i的比值关系，即L0i×V0i＝Vs，其中L0i为将V0i换算为Vs需要乘的系数，且L0i＝(L0ix，L0iy)。具体地，本发明实施例中该运算方法f满足：L0ix×V0ix＝Vsx，且L0iy×V0iy＝Vsy。
在上述步骤S2中，该触摸轨迹可以是一个单独的点，也可以由一触摸物在该电阻式触摸屏10上的滑动的过程中形成多个触摸点。该触摸物在该电阻式触摸屏10上触摸时可使该触摸屏10的第一导电层122以及第二导电层142之间产生不同的接触面积。该触摸物可为硬质笔、手指或一具有柔性笔头的手写笔。当硬质笔或手指在触摸屏上滑动时，由于力度的不同会使该电阻式触摸屏第一导电层与第二导电层之间的接触面积不同，从而可产生不同触摸面积的触摸点。同样地，该具有柔性笔头的手写笔可类似于传统的毛笔，当用力不同时会使触摸屏第一导电层与第二导电层具有不同的接触面积。可以理解，该手写笔不要求导电或具有磁性，材料不限，可以完全由塑料、树脂、玻璃或纤维等绝缘材料制成。当然，该手写笔也可以由导电材料，如金属制成。总之，该手写笔能够对该触摸屏进行按压使第一导电层与第二导电层在触摸点相接触即可。请参阅图10，本发明实施例用一具有柔性笔头的手写笔在该多点电阻式触摸屏上的笔迹。
在上述步骤S3中，利用所述控制单元104检测该触摸轨迹中每个触摸点在其实际的接触面积下的实际信号强度值(Vi)以及位置坐标。该实际信号强度值Vi＝(Vix，Viy)。该实际信号强度值(Vi)可为该触摸点对应的一个或相邻的多个所述电极处检测到的信号强度值。通过读取多个相邻的电极检测到的信号强度值，后续通过校准，可以使得触摸点接触面积的变化随信号强度值的变化更明显，从而利于更好地体现不同接触面积触摸点形成的触摸轨迹。本发明实施例中该实际信号强度值为电压的变化值，即检测触摸点所对应电极附近电压变化值较大的多个电极的实际信号强度值，该触摸点的位置坐标可利用多种检测方法获得。本发明实施例中该触摸点的位置坐标可通过如下方法获得：
S31，驱动该多个第一电极124，同时读取该多个第二电极144感测的实际信号强度值Vix，模拟出由该多个实际信号强度值Vix构成的第一曲线，通过该第一曲线的最大值判断所述至少一个触摸点在x方向上的坐标；以及
S32，驱动该多个第二电极144，同时读取该多个第一电极124感测的实际信号强度值Viy，模拟出由该多个实际信号强度值Viy构成的第二曲线，通过该第二曲线的最大值判断所述至少一个触摸点在y方向上的坐标。
所述多个第二电极144以及第一电极124感测的实际信号强度值Vix和Viy均为信号强度的变化值，本发明实施例中为电压的变化值。由于有触摸事件发生，该触摸点处的信号强度值变化较大，因此通过该第一曲线寻找信号强度值变化最大处的一个或多个第二电极144，根据该第二电极144与该触摸屏在x方向上的距离关系计算出该至少一个触摸点在x方向上的坐标。同样地，用上述方法根据第二曲线以及第一电极124与触摸屏在y方向上的距离关系计算出该至少一个触摸点在y方向上的坐标。
在上述步骤S4中，该实际信号强度值(Vi)可为与该触摸点对应的一个或相邻的多个所述电极处检测到的信号强度值，因此，该校准可同时对相邻的多个所述电极处检测到的实际信号强度进行校准。
所述一个校准后信号强度值V’i＝(V’ix，V’iy)。本发明实施例中该一个或多个校准后信号强度V’i满足：V’ix＝L0ix×Vix且V’iy＝L0iy×Viy。
在上述步骤S4中，由于该V’i为一个二维值(包括V’ix以及V’iy)，为了更直观地反映所述触摸轨迹中触摸点的校准后信号强度值V’i的大小，可进一步定义一运算方法g来体现该校准后信号强度值，即定义g(V’ix，V’iy)＝V’i-total，其中V’i-total为一维值，其为该触摸点在x方向以及y方向综合的校准后强度值。运算方法g为V’ix与V’iy之间的运算关系。本发明实施例中该V’i-total为该触摸点校准后信号强度值V’i在x方向以及y方向的校准后信号强度值的和。即：V’i-total＝V’ix+V’iy。该运算方法g也可有其他方式，如V’i-total＝V’ix×V’iy等。
请参阅图11，本发明实施例就所述触摸轨迹中的一触摸点B进行说明。本发明实施例中首先判断触摸点B的位置坐标在x方向电极M9及y方向电极N8对应的位置，并读取该触摸点B所对应x方向电极M9，以及相邻电极M8和M10处的实际信号强度值，同样地，在y方向，读取电极N4，以及相邻电极N3和N5处的实际信号强度值，为了提高最后校准的准确度也可读取更多电极处的实际信号强度值一并校准。请参阅图10，该点B的实际信号强度值校准过程为：
B41，利用运算方法f分别校准该点B位置坐标对应电极以及相邻电极在x方向上的信号强度值为V’Bx＝L0Bx×VBx、V’(B-1)x＝L0(B-1)x×V(B-1)x、V’(B+1)x＝L0(B+1)x×V(B+1)x；
B42，利用运算方法f分别校准该点B位置坐标对应电极以及相邻电极在x方向上的信号强度值为V’By＝L0By×VBy、V’(B-1)y＝L0(B-1)y×V(B-1)y、V’(B+1)y＝L0(B+1)y×V(B+1)y；以及
B43，计算该点校准信号强度值为V’B-total＝V’Bx+V’By+V’(B-1)x+V’(B-1)y+V’(B+1)x+V’(B+1)y。
为了节省该触摸屏数据存储的空间，可对某一触摸点的校准后信号强度值V’i-total输出的值大小进一步进行限定，具体包括如下步骤：
B431，定义输出强度范围(Vdown，Vup)以及输出位数t，其中t为自然数；
B432，判断该校准信号强度值V’i-total是否在该在输出强度范围内，如果在，则输出该点的信号强度值为如果小于Vdown，则输出该点的信号强度值为Vi-output＝0；如果大于Vup，则输出该点的信号强度值为Vi-output＝2t-1。
在上述步骤B431中，该输出位数t限定了该触摸点的输出信号强度值Vi-output在(0～2t-1)范围内。本发明实施例中t＝8。
本发明实施例所述触摸轨迹的检测方法可进一步包括依据所述触摸轨迹中每个触摸点的位置坐标显示所述触摸轨迹的路径，依据每个触摸点的校准后信号强度值(V’i)显示所述触摸轨迹的粗细。
本发明实施例所述触摸轨迹的路径仅体现触摸点的位置，并不体现触摸点的接触面积大小。该触摸轨迹可为点或线。如果该触摸轨迹包括多个触摸点，则该路径表示该多个触摸点形成的线条，如果该触摸轨迹仅包括一个触摸点，则该路径表示单个点。当显示时，所述触摸轨迹的粗细即表示该触摸轨迹中触摸点的显示直径的大小(或显示的像素点数)，所述体现所述触摸点的显示直径大小的强度值可为该较准后信号强度值(V’i)本身，也可为V’i对应的所述一维化的值(V’i-total)或所述输出信号强度值(Vi-output)，只要建立所述校准后信号强度值与所述触摸点的显示大小的对应关系即可。本发明实施例采用该触摸点的校准后信号强度值进行换算后的输出信号强度值(Vi-output)以体现该触摸点显示直径的大小。
如，可预先定义所述标准信号强度值(Vs)对应所述基准接触面积A0触摸点的显示直径的大小为D0；然后比较获得该触摸轨迹中触摸点的输出信号强度值(Vi-output)与该标准信号强度值(Vs)的关系，从而确立该触摸点的显示直径Di的大小，使具有大输出信号强度值(Vi-output)的所述触摸点具有大的显示直径。如，可定义一对应关系k，使：Di＝k(Vi-output，Vs，D0)。本发明实施例中该对应关系k满足：Di＝k(Vi-output，Vs，D0)＝(Vi-output/Vs)×D0。通过计算该触摸轨迹中所有触摸点的显示直径Di来确定所述触摸轨迹的粗细。可以理解，也可有其它计算方法获得所述触摸轨迹中触摸点的显示直径的大小。
由于该触摸轨迹中的每个触摸点的信息中除了位置坐标外，还包括与该触摸点的接触面积对应的输出信号强度值，该输出信号强度值可作为该触摸点显示直径的标准，从而实现了笔触粗细不同的触摸轨迹，该触摸轨迹可通过图片的方式存储作为电子签名等。
相较于现有技术，本发明不仅检测触摸轨迹中触摸点的位置坐标，还同时检测触摸点的信号强度值，并建立该信号强度值与该触摸点面积之间的关系，即用触摸点的信号强度值来表示触摸点的触摸面积，使相同面积的触摸点具有相同的信号强度值，不同面积的触摸点具有不同的信号强度值，从而实现了用触摸点的信号强度值来体现不同笔触以及压力的触摸检测。可广泛应用于电子签名以及电子绘画，提高了使用者的体验感。
另外，本领域技术人员还可在本发明精神内做其它变化，当然，这些依据本发明精神所做的变化，都应包含在本发明所要求保护的范围之内。
Claims (17)
1.一种电阻式触摸屏的触摸轨迹检测方法，包括以下步骤：
建立查询表，该查询表包括触摸屏的多个位置坐标，及与该多个位置坐标一一对应的校准方法f，该校准方法f使该多个位置坐标的基准接触面积触摸点的实际信号强度值V0i换算为统一的标准信号强度值Vs，即满足f(V0i)＝Vs；
接收触摸轨迹，该触摸轨迹包括至少一个触摸点；
判断该至少一个触摸点的位置坐标，并根据该至少一触摸点的实际接触面积读取该至少一个触摸点的实际信号强度值Vi；以及
从查询表中查询与该位置坐标对应的校准方法f，通过该校准方法f对该实际信号强度值Vi进行校准得到校准后信号强度值V’i，即f(Vi)＝V’i，通过校准后信号强度值V’i体现该至少一触摸点的实际接触面积且依据所述至少一触摸点的位置坐标体现所述触摸轨迹的路径。
2.如权利要求1所述的电阻式触摸屏的触摸轨迹检测方法，其特征在于，所述建立查询表包括以下步骤：
设定一基准接触面积A0；
获取所述多个位置坐标下具有该基准接触面积A0的触摸点的信号强度值V0i，该信号强度值V0i包括x方向的信号强度值V0ix及y方向的信号强度值V0iy，即V0i＝(V0ix，V0iy)；
设定所述统一的标准信号强度值Vs，该标准信号强度值Vs包括x方向的标准信号强度值Vsx及y方向的标准信号强度值Vsy，即Vs＝(Vsx，Vsy)；以及
建立将该V0i换算为该Vs的校准方法f，使f(V0ix)＝Vsx，f(V0iy)＝Vsy。
3.如权利要求2所述的电阻式触摸屏的触摸轨迹检测方法，其特征在于，所述校准方法f满足：f(V0i)＝L0i×V0i＝Vs，其中L0i为将V0i换算为Vs需要乘的系数，且L0i＝(L0ix，L0iy)，即该L0i包括x方向的系数L0ix及y方向的系数L0iy。
4.如权利要求1所述的电阻式触摸屏的触摸轨迹检测方法，其特征在于，进一步包括对所述触摸点位置坐标对应的一个或相邻的多个电极处检测的实际信号强度值Vi分别进行校准。
5.如权利要求1所述的电阻式触摸屏的触摸轨迹检测方法，其特征在于，定义一运算方法g对所述校准后信号强度值V’i进行一维化校准，使g(V’ix，V’iy)＝V’i-total，其中所述V’i＝(V’ix，V’iy)，即该V’i包括在x方向的校准后信号强度值V’ix及y方向的校准后信号强度值V’iy。
6.如权利要求5所述的电阻式触摸屏的触摸轨迹检测方法，其特征在于，所述V’i -total＝V’ix+V’iy。
7.如权利要求6所述的电阻式触摸屏的触摸轨迹检测方法，其特征在于，对所述V’i-total大小进一步进行限定，具体包括以下步骤：
定义输出强度范围(Vdown，Vup)以及输出位数t，其中t为自然数；
判断该V’i-total是否在该输出强度范围内，如果在，则输出该点的信号强度值为如果小于Vdown，则输出该点的信号强度值为Vi-output＝0；如果大于Vup，则输出该点的信号强度值为Vi-output＝2t-1。
8.如权利要求1所述的电阻式触摸屏的触摸轨迹检测方法，其特征在于，进一步包括依据所述触摸轨迹中每个触摸点的位置坐标显示所述触摸轨迹的路径，依据每个触摸点的校准后信号强度值显示所述触摸轨迹的粗细。
9.如权利要求1所述的电阻式触摸屏的触摸轨迹检测方法，其特征在于，所述电阻式触摸屏包括至少一第一电极板，一第二电极板以及设置在该第一电极板以及与第二电极板之间的多个透明点状隔离物；该第一电极板包括一第一导电层及多个第一电极，该第二电极板包括一第二导电层及多个第二电极，该第一导电层以及第二导电层为透明导电异向性膜。
10.如权利要求9所述的电阻式触摸屏触摸轨迹的检测方法，其特征在于，所述透明导电异向性膜包括碳纳米管膜。
11.如权利要求10所述的电阻式触摸屏触摸轨迹的检测方法，其特征在于，所述碳纳米管膜通过从一碳纳米管阵列中拉取形成。
12.如权利要求11所述的电阻式触摸屏触摸轨迹的检测方法，其特征在于，所述碳纳米管膜中的大多数碳纳米管的整体延伸方向基本朝同一方向且平行于该碳纳米管膜的表面。
13.如权利要求12所述的电阻式触摸屏触摸轨迹的检测方法，其特征在于，所述大多数碳纳米管中每一碳纳米管与在延伸方向上相邻的碳纳米管通过范德华力首尾相连。
14.如权利要求12所述的电阻式触摸屏触摸轨迹的检测方法，其特征在于，所述碳纳米管之间形成有均匀的间隙，该间隙的距离为1纳米至10微米。
15.如权利要求12所述的电阻式触摸屏触摸轨迹的检测方法，其特征在于，所述多个第一电极分别设置在所述第一导电层沿第一方向的至少一端并分别与所述第一导电层电连接；所述多个第二电极分别设置在所述第二导电层沿第二方向的至少一端并分别与所述第二导电层电连接，所述第一方向与第二方向正交设置；用于所述第一导电层的碳纳米管膜中的大多数碳纳米管整体沿第一方向延伸，并分别与所述多个第一电极电连接；用于所述第二导电层的碳纳米管膜中的大多数碳纳米管整体沿第二方向延伸，并分别与所述多个第二电极电连接。
16.如权利要求7所述的电阻式触摸屏触摸轨迹的检测方法，其特征在于，利用所述输出信号强度值Vi-output体现所述触摸轨迹中触摸点的显示大小，包括：设定所述标准信号强度值Vs对应所述基准接触面积A0触摸点的显示直径的大小为D0；
比较所述触摸轨迹中触摸点的输出信号强度值Vi-output以及所述标准信号强度值Vs，从而建立该触摸点的显示直径Di与D0的对应关系k，使Di＝k(Vi-output，Vs，D0)，该对应关系k为所述输出信号强度值Vi-output、所述标准信号强度值Vs以及所述D0之间的换算关系。
17.如权利要求16所述的电阻式触摸屏触摸轨迹的检测方法，其特征在于，所述对应关系k满足：Di＝k(Vi-output，Vs，D0)＝(Vi-output/Vs)×D0。
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