CN102735929A - Apd测定器的检查装置及检查方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种APD测定器的检查装置及检查方法，其高精确度地检查APD测定器的动作状态。检查装置(40)具备：检查信号发生部(41)，为了检查APD测定器(1)的动作状态而发生与被测定信号的中心频率相应的检查信号；及控制部(42)，在APD测定器(1)的动态范围的范围内随机可变控制检查信号的振幅电平。若从检查装置(40)输入检查信号，则APD测定器(1)输出根据改变振幅电平时的检查信号的振幅峰值的计数制作的PDF直方图及根据基于检查信号的APD数据与基准APD数据之差计算的时间捕捉率，作为表示动作状态的检查结果。

Description

APD测定器的检查装置及检查方法

技术领域

本发明涉及一种检查APD测定器是否正常动作的检查装置及检查方法，该APD测定器：分析信号的频带成分，并测定各频带成分的大小在规定时间内超过规定阈值的概率(振幅概率分布或简称时间率。以下，称为“APD：Amplitude Probability Distribution”。)。

背景技术

APD测定是获取求出振幅超过一定电平的接收信号的时间概率的统计数据的方法之一，能够通过统计性观测接收信号来观测瞬间无法看到的信号特性。

作为以往的APD测定器有如下测定装置：用模数转换器(以下，简称“A/D转换器”。)将接收信号转换为数字数据，用滤波器组将其输出分配成多个频带成分，以所希望的量分别对各频带成分的振幅进行加权并合成，接收其输出并求出加权APD依赖于合成后的合成振幅的发生频率的概率，并使求出的概率以各种形态显示于显示部(例如，参考专利文献1。)。

在这种APD测定器设为测定对象的信号的频带较宽时，若要详细观察时间性的信号变动，则需以该频带中最高频率的2倍以上的速度采样信号来进行观测。并且，在进行频带的APD测定时，需进行10倍以上的采样来进行观测。例如，当测定频带为10MHz时，需以其频带的10倍，即10M×10＝100M/秒进行采样来观测数据。

当对该庞大数据的APD进行测定时，逐渐产生通过实时处理存储并累积数据的需要。为了减少该实时处理，以往的APD测定器以实用上不成问题的精确度对采样的数据进行量子化，储存每隔某一定时间(例如，一秒。)的出现频率，由此制作概率密度函数(PDF，Probability Density function)的数据。

由于该PDF数据在每隔一定时间(例如，每一秒。)发生，因此无需实时执行制作作为累积合计PDF数据来求出的分布函数的APD统计数据的处理，能够每隔一定时间内进行处理，并能够通过能够轻松处理在显示处理或信号处理等更加复杂的硬件中难以对应的处理的软件处理来执行。

在处理速度方面，软件处理较慢于硬件，但在制造成本方面或未来的技术继承性方面为非常良好的实现方法，能够进行如包括判断项的控制等之类的更加复杂的处理，包括软件处理的有用性，而成为有效地与硬件处理并存的实现手段。

这种以往的APD测定器通过实时处理和非实时处理这2种处理实现APD测定。在此，实时处理通过硬件进行处理，而非实时处理通过软件进行处理。

在硬件中，接收信号分离为同相(In-Phase，以下简称“I”。)成分和正交(Quadrature-Phase，以下简称“Q”。)成分并进行包络线检波而被对数转换。

在此，当按0.1dB对信号电平进行计数时，准备1000个计数器，由此动态范围为100dB内且能够累积每0.1dB的信号履历。同样，当按0.05dB对信号电平进行计数时，准备2000个计数器，由此动态范围为100dB且能够蓄积每0.05dB的信号履历。

由于这些计数器需要针对各频带成分准备，因此若例如将采样周期设为100M/s，计数器的量子化电平假设为1000阶段，则在一秒内最大100M个×1000个计数的内容值从硬件传输至软件处理侧。由于100M之前的整数值能够以28比特表示，因此在该例子中，相对各频带成分的计数值会以28×1000＝28kb/s传输。另一方面，当传输包络线检波后的时序列数据时，需要每秒成为100M/s×16比特(每1样品设为16bit)的1.6Gb/s的传输量。

专利文献1：日本专利公开2008-275401号公报

这样，由于APD测定是确保信号的时间捕捉率的测定方法，因此与用于确保时间轴上的信号捕捉率在99％以上的[规格：cispr16-1-13rded.“Specification for Radio Disturburnce and Immunity Measuring Apparatus andMethods”(2010)]多频道APD测定有关的检查方法一直是重要的课题。

但是，以往的检查方法是为了调查某一时刻范围的缺损而确定时间发生频率的振幅检查法，进行例如通过斜坡函数赋予连续性变化且检查其直线性的振幅直线性等，但均为调查单频道的简便方法，但作为调查动态APD电路的线性或信号捕捉率的方法缺乏可靠性，无法高精确度地检查APD测定器的动作状态。

另外，APD的行迹是掌握时间轴的随机变动的测定，是在以往的方法中不足以谋求该随机行迹的变动的方法。这是因为，即使是直流电平的低频的ON/OFF或同样给出斜坡函数的方法，也是该检查信号所具有的低频带成分对APD构成电路的响应，无法成为能够期待对随机行迹的动作的响应的检查方法。

发明内容

因此，本发明是鉴于上述问题点而完成的，其目的在于提供一种能够高精确度地检查APD测定器的动作状态的APD测定器的检查装置及检查方法。

为了实现上述目的，本发明的技术方案1所述的APD测定器1的检查装置40，所述APD测定器分析被测定信号的频带成分，分别对已分析的各频带成分的振幅进行检测，按所述每单位时间经过对检测出的各频带成分的振幅求出每单位时间的振幅概率，其特征在于，所述检查装置具备：

检查信号发生部41，为了检查所述APD测定器的动作状态而发生与所述被测定信号的中心频率相应的检查信号；及

控制部42，在所述APD测定器的动态范围的范围内随机可变控制所述检查信号的振幅电平，

所述APD测定器输出根据改变所述振幅电平时的所述检查信号的振幅峰值的计数制作的PDF直方图和根据基于所述检查信号的APD数据与基准APD数据之差计算的时间捕捉率，作为表示所述APD测定器的动作状态的检查结果。

如技术方案2所述的APD测定器的检查装置，即技术方案1的APD测定器的检查装置，其特征在于，

所述控制部42与所述APD测定器设为测定对象的所述被测定信号的中心频率相应地对所述检查信号的中心频率进行可变控制。

如技术方案3所述的APD测定器的检查装置，即技术方案1的APD测定器的检查装置，其特征在于，

所述控制部42以与PN序列的随机数对应的发生顺序排列一连检查信号并制作振幅峰值量的PDF直方图。

技术方案4所述的APD测定器的检查装置，即技术方案1～3中任一项的APD测定器的检查装置，其特征在于，

所述控制部42具备判定部42a，当所述PDF直方图显示均匀分布且所述时间捕捉率在预先设定的容许值范围内时，所述判定部判定为所述APD测定器1在振幅轴上及时间轴上均正常动作。

技术方案5所述的APD测定器1的检查方法，所述APD测定器分析被测定信号的频带成分，分别检测已分析的各频带成分的振幅，按所述每单位时间经过对检测出的各频带成分的振幅求出每单位时间的振幅概率，其特征在于，所述检查方法包括如下步骤：

在所述APD测定器的动态范围的范围内随机可变控制与所述被测定信号的中心频率相应的检查信号的振幅电平的步骤；

根据改变所述振幅电平时的所述检查信号的振幅峰值的计数制作PDF直方图的步骤；及

根据基于所述检查信号的APD数据与基准APD数据之差计算时间捕捉率的步骤。

如技术方案6所述的APD测定器的检查方法，即技术方案5的APD测定器的检查方法，其特征在于，

进一步包括按照所述被测定信号的中心频率对所述检查信号的中心频率进行可变控制的步骤。

根据本发明所涉及的检查装置及检查方法，能够通过极其简单的结构及方法高精确度地检查APD测定器的振幅轴方向及时间轴方向双方的动作状态。

若按照被测定信号的中心频率对所述检查信号的中心频率进行可变控制，则不仅能够对应于如以往的检查方法那样的单频道的频率，还能够对应于多频道的频率。

若以与PN序列的随机数对应的发生顺序排列检查信号来制作振幅峰值量的PDF分布，则可以获得基于检查性极其良好的方法的结果，能够准确地检查APD测定器的振幅轴方向及时间轴方向双方的动作状态。

若设为具备如下构件的结构，即当PDF直方图(APD数据的电平)显示均匀分布且时间捕捉率在预先设定的容许值范围内时，判定为APD测定器在振幅轴上及时间轴上均正常动作的构件，则能够自动进行从APD测定器的动作状态的检查至判定为止的一系列处理。

附图说明

图1是表示本发明所涉及的APD测定器的检查装置的实施方式的一例的块图。

图2是表示图1的APD测定器的软件处理部的结构的块图。

图3是表示本发明所涉及的检查装置中使用的高斯脉冲波形的图。

图4是通过本发明所涉及的检查装置检查APD测定器时所使用的高斯脉冲波形通过滤波器组进行高斯滤波处理后的时间响应图。

图5是表示通过本发明所涉及的检查装置检查APD测定器时的APD及直方图的一例的图。

图中：1-APD测定器(检查对象)，2-硬件部，3-软件处理部，4-接口，5-切换部，10-天线，11-RF接收部，12-D/C(降频转换器)，13-A/D转换部，14-限频滤波器，15-I/Q分离部，16-滤波器组，17-包络线检波部，18-对数转换部，19-计数器部，20-数据传输部，30-CPU(控制部)，31-RAM(第1存储部)，32-ROM(第2存储部)，33-硬盘装置(第3存储部)，34-输入装置，35-显示装置，40-检查装置，41-检查信号发生部，41a-基准脉冲发生部，41b-频率发生部，41c-调制部，42-控制部，42a-判定部。

具体实施方式

以下，参考附图对用于实施本发明的方式进行详细说明。另外，该发明并不限定于该实施方式，由本领域技术人员等根据该方式进行的可实施的其他方式、实施例及运用技术等均包括在本发明的范畴内。

图1是表示本发明所涉及的APD测定器的检查装置的实施方式的一例的块图，图2是表示图1的APD测定器的软件处理部的结构的块图，图3是表示在本发明所涉及的检查装置中使用的高斯脉冲波形的图，图4是通过本发明所涉及的检查装置检查APD测定器时所使用的高斯脉冲波形通过滤波器组进行高斯滤波处理后的时间响应图，图5是表示通过本发明所涉及的检查装置检查APD测定器时的APD及直方图的一例的图。

首先，参考图1及图2对成为检查对象的APD测定器的结构进行说明。

成为本发明所涉及的检查装置及检查方法的对象的APD测定器中，将例如在屋外等接收的外来电波(干扰电波)设为被测定信号，分析该被测定信号的频带成分，分别检测已分析的各频带成分的振幅，并按所述每单位时间经过对检测出的各频带成分的振幅求出每单位时间的振幅概率，进行APD的测定。

如图1所示，本例的APD测定器1具备有由各种硬件构成的硬件部2、执行软件处理的软件处理部3、用于进行从硬件部2向软件处理部3的数据传输或从软件处理部3向后述的检查装置40的数据传输的接口4及切换部5。

硬件部2具备有：RF接收部11，通过天线10接收RF(Radio Frequency)信号；降频转换器12(以下，简称“D/C”。)，将RF信号降频转换为基带信号；A/D转换部13，将基带信号转换为数字信号；限频滤波器14，在测定对象的频带内对数字信号进行频带限制；I/Q分离部15，将被频带限制的信号分离成I成分和Q成分；滤波器组16，提取作为测定对象预先规定的各频带成分；包络线检波部17，按每一频带成分进行包络线检波；及对数转换部18，对包络线检波的结果进行对数转换。

滤波器组16由分别与测定对象的各频带成分的I成分和Q成分对应的多个频道的带通滤波器构成。多个频道的带通滤波器中，邻接的滤波器之间的频带的一部分重复，中心频率以预定频率偏离。并且，包络线检波部17由分别与测定对象的各频带成分对应的多个包络线检波电路构成，各包络线检波电路根据相应的频带成分的I成分和Q成分进行平方律检波，由此计算各频带成分的信号电平。

对数转换部18由与各包络线检波电路对应的多个对数转换电路构成，将各频带成分的信号电平对数转换为dB单位。即，按照测定对象的频带成分和按每一规定电平对信号电平进行量子化时的分辨率进行分割(例如，动态范围为100dB，以0.1dB间隔分割成1000。)。

另外，本方式中的A/D转换部13、限频滤波器14、I/Q分离部15、滤波器组16、包络线检波部17及对数转换部18构成本发明中的信号电平获取部。

计数器部19由与测定对象的频带成分和对信号电平进行量子化时的分辨率相应的多个计数器构成，按每一频带成分累积被对数转换的信号电平的出现频率。例如，当将测定对象的频带成分的数设为N，将动态范围设为100dB，并蓄积每0.1dB的信号履历时，计数器部19由1000×N个计数器构成。

数据传输部20由通过接口4以恒定时间间隔T(例如，1秒间隔。)将构成计数器部19的各计数器的值传输至软件处理部3的缓冲存储器构成。另外，若结束以时间间隔T向数据传输部20传输计数值，则构成计数器部19的各计数器自动进行将计数值设为0的处理。

如图2所示，软件处理部3具备有分别连接于构成接口4的母线的作为控制部的CPU30、作为第1存储部的RAM31、作为第2存储部的ROM32、作为第3存储部的硬盘装置33、包括键盘装置或指示设备等的输入装置34及包括液晶显示器等的显示装置35。另外，硬盘装置33也可以是具有非易失性存储器功能的存储装置。

在RAM31或硬盘装置33中存储有进行后述的时间轴上的检查时参考的基准APD数据(基准APD曲线)。该基准APD数据是作为基于如下调制信号的理想的APD值而预先求出的数据，所述调制信号为以高斯脉冲波形调制构成滤波器组16的多个带通滤波器的每各个频道的中心频率的频率信号(正弦波)的信号。

在ROM32及硬盘装置33中存储有用于使软件处理部3发挥作用的程序。即，通过由CPU30将RAM31作为工作区域执行存储于ROM32及硬盘装置33中的程序，由此软件处理部3发挥作用。

CPU30根据从输入装置34选择输入的模式(测定模式、检查模式)对切换部5进行切换控制。即，若从输入装置34选择输入测定模式，则对切换部5进行切换控制，以便连接天线10与RF接收部11之间。并且，若从输入装置34选择输入检查模式，则对切换部5进行切换控制，以便连接检查装置40与RF接收部11之间。

另外，CPU30将从数据传输部20传输的计数器部19的各计数器的计数值储存于硬盘装置33中。并且，CPU30根据储存于硬盘装置33中的各计数器的计数值计算APD，将该计算出的APD显示于显示装置35。并且，显示装置35显示APD测定器1是否根据来自后述的检查装置40的检查信号正常动作的检查结果(振幅轴方向的检查结果、时间轴方向的检查结果)。

在基于上述结构的APD测定器1中，若为了进行被测定信号的测定而从输入装置34选择输入测定模式，则对切换部5进行切换控制，以便连接天线10与RF接收部11之间。并且，若按照来自输入装置34的输入指示开始APD测定，则通过天线10由RF接收部11接收被测定信号(RF信号)，通过D/C12、A/D转换部13、限频滤波器14、I/Q分离部15、滤波器组16、包络线检波部17及对数转换部18针对该被测定信号(RF信号)获取被测定信号的每一频带成分的信号电平。

这样获得的被测定信号的每一频带成分的信号电平值通过接口4从硬件部2传输至软件处理部3，按每一频带成分储存于硬盘装置33。

在软件处理部3中，通过CPU30计算APD，更新基于显示装置35的显示，APD计算结果按每一频带成分储存于硬盘装置33。

接着，对检查如上述构成的APD测定器1的检查装置40进行说明。

检查装置40相对于成为检查对象的APD测定器1，输出侧连接于切换部5，输入侧通过接口4连接于软件处理部3，如图1所示，具备检查信号发生部41和控制部42而概要地构成。

另外，若从输入装置34选择输入检查模式，则切换部5根据来自软件处理部3的CPU30的切换信号进行切换控制，以便连接RF接收部11与检查信号发生部41之间。

检查信号发生部41发生用于检查APD测定器1是否在振幅轴上及时间轴上正常动作的检查信号，具备有基准脉冲发生部41a、频率发生部41b及调制部41c。

基准脉冲发生部41a发生如图3所示的基带信号的高斯脉冲波形作为基准脉冲。

频率发生部41b发生与APD测定器1设为测定对象的接收信号(被测定信号)的中心频率(APD测定器1可接收的频率范围内的成为检查对象的频率)相应的频率信号(正弦波信号)。并且，若为了对应多频道APD测定而从滤波器组16选择一个频道的带通滤波器，则频率发生部41b通过控制部42的控制可变为该频道的中心频率而发生频率信号(正弦波)。

调制部41c以基准脉冲发生部41a发生的高斯脉冲波形对频率发生部41b发生的频率信号(正弦波)进行脉冲调制，将该脉冲调制的信号作为检查信号输出。该检查信号相应APD测定器1设为测定对象的接收信号(被测定信号)的中心频率而从滤波器组16选择一个频道的带通滤波器，可变为该选择的频道的中心频率。并且，在样本时间轴上，频率特性的形状会因其傅里叶转换性质并根据样本之间的时间间隔值放大缩小。

另外，在本例子中，也可以使用将基准脉冲发生部41a发生的高斯脉冲波形对频率发生部41b发生的频率信号(正弦波)进行脉冲调制并与检查对象的APD测定器1的脉冲形状相应的检查信号。一般来讲，优选利用时间形状和频率形状的脉冲中恒定的高斯脉冲波形，但将其他波形用作检查信号时，需要注意频率形状，并考虑时间信号的形状。其观点在于APD测定检测时间信号的变动，因此选择能够激发该滤波器(限频滤波器14、滤波器组16)的响应的时间信号。

在此，图3示出从转换部41c输入至APD测定器1的高斯脉冲波形的时间响应。并且，图5示出将高斯脉冲波形的频率时间响应输入至APD测定器1的计数器部19时的PDF直方图，在该图中，累积PDF直方图的结构成为APD。另外，此时的读入时间间隔利用滤波器组16的频带的10倍以上的采样时间。

控制部42在APD测定器1的动态范围的范围内以规定分辨率的步数在电平振幅轴方向上随机可变控制基准脉冲发生部41a发生的基准脉冲的振幅电平(与检查信号的振幅电平对应)。

另外，控制部42相应APD测定器1设为测定对象的接收信号(被测定信号)的中心频率而从滤波器组16选择一个频道的带通滤波器进行切换控制，并为了发生与选择的频道的中心频率相应的频率信号(正弦波)而对频率发生部41b进行控制。

并且，控制部42具有根据将检查信号输入至APD测定器1时的检查结果判定APD测定器1是否正常动作的判定部42a。在将检查信号输入至APD测定器1时，作为其结果判定部42a根据通过接口4从软件处理部3输入的检查结果判定APD测定器1是否正常动作。即，作为振幅电平轴上的检查结果，检查信号的振幅峰值和计数器部19的电平结果值全部一致，并且作为时间轴上的检查结果，各振幅电平中的各频道的每一中心频率的时间捕捉率限制在预先设定的容许值范围以内时，判定部42a判定为APD测定器1正常动作。

接着，对利用基于上述结构的检查装置40的APD测定器1的检查方法进行说明。当通过检查装置40检查APD测定器1时，从输入装置34选择输入检查模式。由此，软件处理部3的CPU30对切换部5进行切换控制，以便连接RF接收部11与检查信号发生部41之间。并且，从检查装置40的检查信号发生部41对APD测定器1的RF接收部11输入检查信号。检查信号是在调制部41c中以基准脉冲发生部41a发生的时间轴的高斯脉冲波形对频率发生部41b发生的频率信号(正弦波)进行脉冲调制的信号。

(振幅轴上的检查)

APD测定器1在振幅轴上的检查为APD电平的检查，激发APD测定中所需的滤波器的所有频带，同时在电平振幅轴方向上随机可变振幅。即，通过控制部42的控制，相应从滤波器组16选择的带通滤波器的一个频道的中心频率而改变频率发生部41b发生的频率信号(正弦波)的中心频率，并且在APD测定器1的动态范围的范围内随机改变基准脉冲发生部41a发生的高斯脉冲波形(基准脉冲)的振幅电平，将以高斯脉冲波形对频率信号进行脉冲调制的检查信号输入至APD测定器1。由此获得更加符合实际情况的响应，且以接近测定动作的模式获得振幅轴方向的测定结果，从而能够进行验证。

具体而言，以计数器部19计数将改变振幅电平及中心频率(1频道时固定)的上述检查信号输入至APD测定器1时的振幅峰值，并由软件处理部3制作图5所示的PDF直方图。该制作出的PDF直方图作为检查结果通过接口4发送至检查装置40。在检查装置40中的控制部42的判定部42a中，对基于从软件处理部3的PDF直方图的计数器部19的电平结果值与检查信号的振幅峰值进行比较，若两者完全一致且PDF直方图(APD数据的电平)均匀地分布，则判定为APD测定器1在振幅轴上正常动作。

(时间轴上的检查)

在时间轴上的高斯脉冲波形的APD测定后，滤波器组16的输出成为与其频带相应的高斯形状的时间信号的脉冲。图4为此时的高斯输出波形。并且，若相对于上述脉冲的时间轴方向通过振幅轴上的检查确定检查信号的振幅电平，则能够连贯起来确定以滤波器组16的频带的10倍以上的采样时间收集计算例如图4中的样本点的APD曲线的形状。利用该性质，能够根据APD曲线的形状全面检查时间捕捉率。

具体而言，对向APD测定器1输入改变振幅电平及中心频率(1频道时固定)的上述检查信号时由软件处理部3计算的APD数据(APD曲线)与预先存储的基准APD数据(基准APD曲线)进行比较，根据其差计算时间捕捉率。

在此，对时间捕捉率的计算方法进行说明。将测定出的APD数据的电平设为Lei，基准APD数据的电平设为Lsi。时间捕捉率的确保是指，在规定的时间内观测到规定的信号电平的状态。采样计量时间依赖于APD测定器的时间。用i表示此时的时刻。例如，图4的样本点表示Lei(基准数据时为Lsi)，当表示采样计量时间i的电平Lei的采样时间的定时与测定APD和基准APD相同时，能够由(Lei-Lsi)/Lsi[i＝1，....N]推算出比较之差。计算出的时间捕捉率的例子为下述(1)、(2)。

(1)考虑从规定电平的变动幅度，以预先确定的规格幅度值为基础，通过If|(Lei-Lsi)/Lsi|≥规格幅度值：NGi，Ifnot：Gi将时间捕捉率计算成下述数式1。

[数式1]

$\underset{i}{\mathrm{\Σ}}\mathrm{Gi\; G}*100/\underset{i}{\mathrm{\Σ}}(\mathrm{NGi}+\mathrm{Gi})[\%]$

(2)作为观测结果还能够进行从APD曲线(电平概率的曲线)的类似度观察的评价。对重要的电平L0之前的概率进行计算，并计算其概率值之差。

根据APD(LO)＝∫P(L)dL(+∞≤L≤LO)的概率，利用以基于[1-{APDe(LO)-APDs(LO)}/APDs(LO)]*100％的计算值设为时间捕捉率。

并且，如上述计算出的时间捕捉率作为检查结果通过接口4发送至检查装置40。在检查装置40中的控制部42的判定部42a中，若来自软件处理部3的时间捕捉率限制在预先设定的容许值范围内，且显示出已确定的分布的时间捕捉率，则判定为APD测定器1在时间轴上正常动作。

这样，本发明为基于频率和时间的脉冲生成的随机检查方法，使组成构成APD测定器1的电路功能的硬件部充分动作，作为其结果，若关于振幅轴方向上PDF直方图(APD数据的电平)显示出均匀分布，并且关于时间轴方向上显示出已确定的分布的时间捕捉率，则自动判定APD测定器1在振幅轴上及时间轴上均正常动作。由此能够通过极其简单的方法高精确度地检查APD测定器1在振幅轴方向及时间轴方向双方上的动作状态，并能够轻松地判定APD测定器1的动作状态。并且，关于APD测定器1的振幅轴方向及时间轴方向双方的动作状态，能够自动进行从检查到判定为止的一系列处理。并且，不仅能够对应于如以往的检查方法那样的单频道的频率，还能够对应于多频道的频率。

另外，上述检查方法为认识到多频道APD测定法的构成要件的检查方法，为能够以通用的APD曲线检查是否维持APD测定器1的测定内部的线性的方法。并且，若未维持线性，则不能获得准确的振幅概率分布，因此能够实施更加严密的APD测定器1的检查。

另外，在基于多频道的检查中，通过控制部42的控制，选择性地切换构成滤波器组16的带通滤波器，移动输入至APD测定器1的检查信号的中心频率，进行各频道的指定。并且，作为输入至APD测定器1的检查信号，可以以从基准脉冲发生部41a发生的高斯脉冲波形对从频率发生部41b发生的多个频道的频率信号(正弦波)进行脉冲调制。此时，能够对于APD测定器1输入同时合成多频道的检查信号，且能够同时检查多频道。

然而，在上述实施方式中，成为如下结构，即软件处理部3所获得的基于在振幅轴上的检查及时间轴上的检查的检查结果从软件处理部3通过接口4输出至检查装置40，但并不限定于此，也可以在显示装置35上显示检查结果。此时，测定人能够观察显示于显示装置35上的检查结果来判定APD测定器1是否正常动作。并且，也可以与上述检查结果一同将判定结果显示于显示装置35上。此时，测定人能够从显示装置35的显示内容立即知道APD测定器1是否正常动作。并且，动作异常时，能够从检查结果推测其原因。

另外，作为输入至成为检查对象的APD测定器1的检查信号，只需能够随机发生与最初的时间波形所具有的振幅值的分辨率的步数对应的电平即可，并不限定于以高斯脉冲波形对频率信号(正弦波)进行脉冲调制的信号。例如还能够利用可通过众所周知的脉冲模式发生器发生的作为伪随机模式的PN模式。

此时，与测定一次时的APD图(图5)的振幅峰值相同，使基于最初的时间波形所具有的振幅值的分辨率的步数的检查信号的发生顺序和PN序列的随机数对应，并以该发生顺序排列检查信号，制作振幅峰值量的PDF直方图。并且，若制作出的PDF直方图正常，则为直线。根据该结构，可以获得基于检查性极其良好的方法的结果，能够准确地检查APD测定器1的振幅轴方向及时间轴方向的动作状态。

另外，在上述实施方式中，对与APD测定器1分体地构成检查装置40的例子进行了说明，但并不限定于该结构。例如，也可以使APD测定器1的CPU30具有检查装置40的控制部42中的判定部42a的功能。并且，还能够设为将检查装置40单元化并组装于APD测定器1中的结构。此时，APD测定器1的CPU30能够兼有检查装置40的控制部42的功能。

Claims (15)

1.一种检查装置(40)，其检查APD：Amplitude Probability Distribution测定器(1)的动作状态，所述APD测定器：分析被测定信号中所含的频带成分，对已分析的所述频带成分的振幅进行检测，按所述每单位时间经过求出检测出的所述频带成分的所述振幅在单位时间内超过规定阈值的概率，即振幅概率，其中，所述检查装置具备：

检查信号发生部(41)，发生与所述被测定信号的中心频率附近相应的检查信号；

控制部(42)，在规定的电平范围内随机可变控制所述检查信号的振幅；

判定部(42a)，根据在代替所述被测定信号将所述检查信号输入至所述APD测定器时从所述APD测定器获得的表示所述振幅分布的PDF：Probability Density Function直方图和表示在单位时间内观测规定的所述振幅的时间捕捉率，判定所述APD测定器的动作状态的好坏。

2.如权利要求1所述的APD测定器的检查装置，其特征在于，

所述时间捕捉率根据在代替所述被测定信号将所述检查信号输入至所述APD测定器时从所述APD测定器获得的APD数据与基准APD数据之差计算，

所述基准APD数据是根据以高斯脉冲波形调制与所述被测定信号的所述中心频率附近相应的正弦波的调制信号获得的APD数据。

3.如权利要求1或2所述的APD测定器的检查装置，其特征在于，

当所述PDF直方图显示均匀分布且所述时间捕捉率在预先设定的容许值范围内时，所述判定部判定为所述APD测定器在振幅轴上及时间轴上均正常动作。

4.如权利要求1～3中任一项所述的APD测定器的检查装置，其特征在于，

所述APD测定器成为如下APD测定器：将所述被测定信号的所述频带成分分割成多个频带成分并进行分析，分别检测已分析的各频带成分的振幅，按所述每单位时间经过对检测出的各频带成分的振幅求出每单位时间的振幅概率，

所述检查信号发生部发生与所述被测定信号的所述中心频率附近相应的所述检查信号，

所述控制部对所述APD测定器设为测定对象的所述被测定信号的所述中心频率进行可变控制。

5.如权利要求1～4中任一项所述的APD测定器的检查装置，其特征在于，

所述控制部以与PN序列的随机数对应的发生顺序排列一连检查信号并生成所述振幅的峰值量的所述PDF直方图。

6.一种APD测定器，其包含：

RF：Radio Frequency接收部(11)，接收被测定信号；

A/D转换部(13)，将接收到的所述被测定信号转换为数字信号；

限带滤波器(14)，在测定对象的频带对所述数字信号进行频带限制；及包络线检波部(17)，对已进行频带限制的所述数字信号进行包络线检波，并且具备如下：

APD：Amplitude Probability Distribution测定部(1)，分析所述被测定信号中所含的频带成分，对已分析的所述频带成分的振幅进行检测，并按所述每单位时间经过求出检测出的所述频带成分的所述振幅在单位时间内超过规定阈值的概率，即振幅概率；

检查信号发生部(41)，发生与所述被测定信号的中心频率附近相应的检查信号；

控制部(42)，在规定的电平范围内随机可变控制所述检查信号的振幅；

切换部(5)，切换所述被测定信号和所述检查信号并输入至所述APD测定部；及

判定部(42a)，根据在代替所述被测定信号将所述检查信号输入至所述APD测定部时从所述APD测定部输出的表示所述振幅分布的PDF：Probability Density Function直方图和表示在单位时间内观测所述振幅的时间捕捉率，判定所述APD测定部的动作状态的好坏。

7.如权利要求6所述的APD测定器，其特征在于，

所述时间捕捉率根据在代替所述被测定信号将所述检查信号输入至所述APD测定部时从所述APD测定部获得的APD数据与基准APD数据之差计算，

所述基准APD数据是根据以高斯脉冲波形调制与所述被测定信号的所述中心频率附近相应的正弦波的调制信号获得的APD数据。

8.如权利要求6或7所述的APD测定器，其特征在于，

当所述PDF直方图显示均匀分布且所述时间捕捉率在预先设定的容许值范围内时，所述判定部判定为所述APD测定部在振幅轴上及时间轴上均正常动作。

9.如权利要求6～8中任一项所述的APD测定器，其特征在于，

所述APD测定部成为如下APD测定部：将所述被测定信号的所述频带成分分割成多个频带成分并进行分析，分别检测已分析的各频带成分的振幅，按所述每单位时间经过对检测出的各频带成分的振幅求出每单位时间的振幅概率。

10.如权利要求6～9中任一项所述的APD测定器，其特征在于，

所述控制部以与PN序列的随机数对应的发生顺序排列一连检查信号并生成所述振幅的峰值量的所述PDF直方图。

11.一种APD测定器的检查方法，其检查APD：Amplitude ProbabilityDistribution测定器(1)的动作状态，所述APD测定器：分析被测定信号中所含的频带成分，对已分析的所述频带成分的振幅进行检测，按所述每单位时间经过求出检测出的所述频带成分的所述振幅在单位时间内超过规定阈值的概率，即振幅概率，其特征在于，所述检查方法包括如下步骤：

在规定的电平范围内随机可变控制与所述被测定信号的中心频率附近相应的检查信号的振幅的步骤；

制作在代替所述被测定信号将所述检查信号输入至所述APD测定器时从所述APD测定器获得的表示所述振幅分布的PDF：Probability DensityFunction直方图的步骤；

计算表示在单位时间内观测规定的所述振幅的时间捕捉率的步骤；及

根据所述PDF直方图和所述时间捕捉率判定所述APD测定器的动作状态的好坏的步骤。

12.如权利要求11所述的APD测定器的检查方法，其特征在于，

所述时间捕捉率根据在代替所述被测定信号将所述检查信号输入至所述APD测定器时从所述APD测定器获得的APD数据与基准APD数据之差计算，

所述基准APD数据是根据以高斯脉冲波形调制与所述被测定信号的所述中心频率附近相应的正弦波的调制信号获得的APD数据。

13.如权利要求11或12所述的APD测定器的检查方法，其特征在于，

判定所述APD测定器的动作状态的好坏的步骤如下进行：当所述PDF直方图显示均匀分布且所述时间捕捉率在预先设定的容许值范围内时，判定为所述APD测定器在振幅轴上及时间轴上均正常动作。

14.如权利要求11～13中任一项所述的APD测定器的检查方法，其特征在于，

所述APD测定器成为如下APD测定器：将所述被测定信号的所述频带成分分割成多个频带成分并进行分析，分别检测已分析的各频带成分的振幅，按所述每单位时间经过对检测出的各频带成分的振幅求出每单位时间的振幅概率，

发生与所述被测定信号的所述中心频率附近相应的所述检查信号，对所述APD测定器设为测定对象的所述被测定信号的所述中心频率进行可变控制。

15.如权利要求11～14中任一项所述的APD测定器的检查方法，其特征在于，

以与PN序列的随机数对应的发生顺序排列一连检查信号并生成所述振幅的峰值量的所述PDF直方图。

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