CN102636272B - 基于瞬态光栅效应的飞秒激光脉冲测量的方法与装置 - Google Patents
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- 230000001052 transient effect Effects 0.000 title claims abstract description 53
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 40
- 230000000694 effects Effects 0.000 title claims abstract description 31
- 238000009532 heart rate measurement Methods 0.000 title claims abstract description 8
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims abstract description 74
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims abstract description 57
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims abstract description 40
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 21
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 15
- 238000007747 plating Methods 0.000 claims description 14
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 13
- 230000011514 reflex Effects 0.000 claims description 8
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 6
- 230000009021 linear effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 claims 1
- 238000005305 interferometry Methods 0.000 abstract description 7
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 abstract description 6
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 abstract description 5
- 230000010287 polarization Effects 0.000 abstract description 5
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 24
- 238000011160 research Methods 0.000 description 7
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 6
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 6
- 230000008569 process Effects 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 241000239290 Araneae Species 0.000 description 4
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 4
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 4
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 4
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 3
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 238000011161 development Methods 0.000 description 3
- 230000009022 nonlinear effect Effects 0.000 description 3
- 241000931526 Acer campestre Species 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 229910004261 CaF 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 230000004308 accommodation Effects 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004411 aluminium Substances 0.000 description 1
- 239000012620 biological material Substances 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 1
- 238000005388 cross polarization Methods 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 1
- 239000005350 fused silica glass Substances 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 238000005459 micromachining Methods 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 1
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 1
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 238000011282 treatment Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/45—Interferometric spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J11/00—Measuring the characteristics of individual optical pulses or of optical pulse trains
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J3/18—Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B19/00—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics
- G02B19/0033—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the use
- G02B19/0095—Condensers, e.g. light collectors or similar non-imaging optics characterised by the use for use with ultraviolet radiation
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- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/09—Beam shaping, e.g. changing the cross-sectional area, not otherwise provided for
- G02B27/0938—Using specific optical elements
- G02B27/0988—Diaphragms, spatial filters, masks for removing or filtering a part of the beam
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J3/18—Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
- G01J2003/1842—Types of grating
- G01J2003/1861—Transmission gratings
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/45—Interferometric spectrometry
- G01J2003/451—Dispersive interferometric spectrometry
Abstract
一种基于瞬态光栅效应的飞秒激光脉冲测量方法和装置,本发明的实质是采用飞秒激光脉冲经三阶非线性效应介质产生的所述的瞬态光栅信号光波作参考光束对飞秒激光脉冲进行自参考光谱干涉测量。通过测量干涉光谱,利用自参考光谱相干方法来反演计算获得激光光谱和光谱相位,从而可以测量激光脉冲宽度与脉冲形状。本发明具有结构简单,计算速度快的特点,不需要偏振光学元件,减少了入射激光色散,可以测量10-300fs范围内不同波长的激光脉冲;本发明可进行单次脉冲测量,可用于飞秒激光脉冲的实时监测,获得的光谱相位反馈到相关的相位补偿装置,可优化飞秒激光脉冲输出。
Description
技术领域
本发明涉及飞秒激光,特别是一种基于瞬态光栅效应的飞秒激光脉冲测量方法和装置,更确切地说,是一种基于透明介质的瞬态光栅效应的飞秒激光脉冲的自参考光谱干涉测量方法和装置,可适用于200-3000nm光谱范围内,脉冲宽度在10-300fs的飞秒光学系统。另外,本发明不仅可以适用于重复频率为兆赫兹的飞秒激光脉冲的测量,同时也适用于单发飞秒激光脉冲的脉冲宽度与脉冲形状的测量。
背景技术
随着飞秒激光脉冲在科研、生物、医疗、加工、通信、国防等社会各个领域的应用的拓展与深入。飞秒激光器与相应飞秒激光技术的研究也迅速发展。目前,飞秒化学、飞秒非线性光学显微成像等化学与生物材料领域的重点与热点研究领域需要用到飞秒激光器与飞秒激光技术。阿秒激光脉冲产生、X射线激光、实验室天体物理、激光电子和质子加速等强场激光物理众多重要前沿科学基础研究与应用基础研究也都利用飞秒强激光脉冲作为研究工具。对比于纳秒和皮秒激光器,飞秒激光加工能够获得更加精细和光滑的表面形状,所以在飞秒激光微加工领域获得广泛应用。飞秒激光脉冲最近也被用来进行眼科晶状体的切割手术,大大地提高了手术的质量与安全性。
在以上这些重要基础科学研究与应用中,飞秒激光的脉冲形状与脉冲宽度是一个重要的光学参量,对它的测量或实时监测在很多实验中十分必要。因此,一种简单方便有效的激光脉冲宽度测量与实时监测的方法与装置对于推动飞秒激光技术领域的发展与应用非常重要。
飞秒激光脉冲宽度测量伴随飞秒激光技术的发展也在不断发展。目前最为常用的方法包括自相关法[参见文献1:R.Trebino,Frequency-Resolved Optical Grating:The Measurement of Ultrashort Laser Pulses,(Kluwer Academic Publishers)(2000)],频率分辨光栅(frequency-resolved optical gating,简称FROG)法[参见文献2:R.Trebino,K.W.DeLong,D.N.Fittinghoff,J.N.Sweetser,M.A.Krumbugel,B.A.Richman,andD.J.Kane,“Measuring ultrashort laser pulses in the time-frequency domain usingfrequency-resolved optical gating,”Rev.Sci.Instrum.68(9),3277-3295(1997)]和光谱相位相干直接电场重建(spectral phase interferometry for direct electric-fieldreconstruction,简称SPIDER)法[参见文献3:C.Iaconis and I.A.Walmsley,“Spectralphase interferometry for direct electric-field reconstruction of ultrashort optical pulses,”Opt.Lett.23(10),792-794(1998).]。自相关方法的原理和结构简单却不能获得飞秒激光脉冲的相位信息。FROG和SPIDER方法可以获得脉冲相位。但是,FROG与SPIDER方法通常需要较长时间重建脉冲。在SPIDER方法中,通常需要非线性光学晶体来转换产生测量信号。由于非线性光学晶体的相位匹配条件,这使得每台测量仪器只能适应于特定的光谱范围,从而限制了这些方法在宽频谱范围内的应用。并且这些系统与测量过程都复杂。
最近,一种基于交叉偏振波(cross-polarized wave,简称XPW)[参见文献4:A.Jullien,L.Canova,O.Albert,D.Boschetto,L.Antonucci,Y.H.Cha,J.P.Rousseau,P.Chaudet,G.Cheriaux,J.Etchepare,S.Kourev,N.Minkovski,and S.M.Saltiel,“Spectral broadening and pulse duration reduction during cross-polarized wavegeneration:influence of the quadratic spectral phase,”Appl.Phys.B 87(4),595-601(2007)]用作参考光的自参考光谱干涉方法(self-referenced spectral interferometry,简称SRSI)[参见文献5:T.Oksenhendler,S.Coudreau,N.Forget,V.Crozatier,S.Grabielle,R.Herzog,O.Gobert,and D.Kaplan,“Self-referenced spectralinterferometry,”Appl.Phys.B 99(1),7-12(2010).]被用来测量激光脉冲。在此方法中,仅仅需要3次简单迭代计算就可以很快获得测量激光的光谱和光谱相位。这是目前为止最为简单方便,并可以进行脉冲宽度单发测量的方法。然而,此方法需要光学偏振元件。由于偏振光学元件也只对特定激光波长有效,并且有一定的光谱带宽,这样也就限制了这一方法和仪器只能在特定光谱范围内应用。偏振光学元件的色散也使其对10fs以下短脉冲测量的有限制。我们最近也提出一种基于自衍射效应的SRSI方法,这种方法不受色散限制,但是目前此方法结构有些复杂[参见文献6:J.Liu,Y.L.Jiang,T.Kobayashi,R.X.Li,and Z.Z.Xu,“Self-referenced spectral interferometrybased on self-diffraction effect,”J.Opt.Soc.Am.B 29(1):29-34(2012)]。
发明内容
本发明提出一种基于透明介质的瞬态光栅效应[参见文献7:J.Liu,K.Okamura,Y.Kida,and T.Kobayashi,“Femtosecond pulses cleaning by transient-gratingprocess in Kerr-optical media,”Chin.Opt.Lett.9(5):051903(2011)]的自参考光谱干涉飞秒激光脉冲的测量方法,一种非常实用的飞秒激光脉冲形状的实时测量装置。本发明装置简单,调节方便,数据采集与数据处理迅速,并且可以适应不同脉冲宽度和不同波长的飞秒激光脉冲宽度与脉冲形状的测量与实时监测。
本发明的技术解决方案如下:
一种基于瞬态光栅效应的飞秒激光脉冲的自参考光谱干涉测量方法,特点在于该方法包括下列步骤:
①采用飞秒激光脉冲通过三阶非线性介质产生的瞬态光栅,获得飞秒激光脉冲的自参考光;
②通过高光谱精度的光谱仪对飞秒激光脉冲及其自参考光的进行自参考光谱干涉测量获得光谱干涉条纹D(ω,τ);
③对所述的光谱干涉条纹D(ω,τ)利用自参考光谱相干方法反演计算获得激光光谱和光谱相位,从而可以测量激光脉冲宽度与脉冲形状。
第一种基于瞬态光栅效应的飞秒激光脉冲测量装置,特点在于其构成包括:四小孔光阑板、延时片、平面反射镜、第一凹面反射镜、三阶非线性光学介质、小孔光阑、第二凹面高反射镜和高光谱精度的光谱仪,所述的元部件的位置关系如下:所述的四小孔光阑板具有呈正方形分布的四个小孔,所述的平面反射镜的第一、第二、第三象限区域镀高反膜,第四象限未镀膜,所述的待测飞秒激光光束经所述的四小孔光阑板后分为四束光束并分别称为第一、第二、第三和第四光束,所述的第一、第二、第三光束直接达到所述的平面反射镜第一、第二、第三象限区域,第四光束经所述的延时片延时后达到所述的平面反射镜的第四象限区域,所述的平面反射镜与入射光束成一定角度设置,在所述的平面反射镜的反射光束方向设置第一凹面反射镜,在第一凹面反射镜的焦点位置设置所述的三阶非线性光学介质,所述的第一、第二、第三光束在所述的三阶非线性光学介质产生瞬态光栅效应形成瞬态光栅信号光波,所述的第四光束经所述的三阶非线性光学介质与所述的瞬态光栅信号光波在空间重合并且依次经所述的小孔光阑、所述的第二凹面高反射镜反射后进入所述的高光谱精度的光谱仪进行光谱测量获得待测飞秒激光的自参考干涉光谱。
所述的延时片为透明玻璃介质,所述的平面反射镜为四分之三区域部分镀高反射膜的反射镜。
第二种基于瞬态光栅效应的飞秒激光脉冲测量装置,特点在于其构成包括:四小孔光阑板、延时片、平面反射镜、三阶非线性光学介质、小孔光阑、第二凹面高反射镜和高光谱精度的光谱仪和薄透镜,上述元部件的位置关系如下:
所述的四小孔光阑板具有呈正方形分布的四个小孔,所述的平面反射镜的第一、第二、第三象限区域镀高反膜,第四象限未镀膜,该平面反射镜与入射光束成一定角度设置,在所述的四小孔光阑板和所述的平面反射镜之间设置所述的薄透镜,待测飞秒激光光束经所述的四小孔光阑板后分为四束光束并分别称为第一、第二、第三和第四光束,所述的第一、第二、第三光束经所述的薄透镜和所述的平面反射镜的第一、第二、第三象限区域反射后汇集在位于所述的薄透镜的焦平面的三阶非线性光学介质中,所述的第一、第二、第三光束在所述的三阶非线性光学介质中产生瞬态光栅效应形成瞬态光栅信号光波,第四光束经所述的延时片延时后再经所述的薄透镜和所述的平面反射镜的第四象限区域反射,经所述的三阶非线性光学介质后与所述的瞬态光栅信号光波在空间重合。两束重合的激光一起再依次经所述的小孔光阑、所述的第二凹面高反射镜反射进入所述的高光谱精度的光谱仪进行测量获得待测飞秒激光的自参考干涉光谱。
第三种基于瞬态光栅效应的飞秒激光脉冲测量装置,特征在于其构成包括:四小孔光阑板、延时片、凹面反射镜、三阶非线性光学介质、小孔光阑、第二凹面高反射镜和高光谱精度的光谱仪,所述的元部件的位置关系如下:
所述的四小孔光阑板具有呈正方形分布的四个小孔,所述的凹面反射镜的第一、第二、第三象限区域镀高反膜,第四象限未镀膜,所述的待测飞秒激光光束经所述的四小孔光阑板后分为四束光束并分别称为第一、第二、第三和第四光束,所述的第一、第二、第三光束直接经所述的凹面反射镜第一、第二、第三象限区域反射,第四光束经所述的延时片延时后达到所述的凹面反射镜的第四象限区域,所述的凹面反射镜与入射光束成一定角度设置,在所述的凹面反射镜的焦平面位置设置所述的三阶非线性光学介质,所述的第一、第二、第三光束在所述的三阶非线性光学介质中产生瞬态光栅效应形成瞬态光栅信号光波,经延时的所述的第四光束依次经所述的三阶非线性光学介质后与所述的瞬态光栅信号光波在空间重合,两束重合的激光脉冲一起再依次经过所述的小孔光阑和所述的第二凹面高反射镜反射后进入所述的高光谱精度的光谱仪进行测量获得待测飞秒激光的自参考干涉光谱。
所述的四小孔光阑板的四个通光孔可以为任意形状。
本发明具有以下显著的特点:
(a)本发明采用了瞬态光栅效应产生的瞬态光栅光波作为参考光,因此可以运行在200-3000nm宽带范围和10-300fs脉冲宽度范围。并且可以对纳焦耳量级的振荡器进行测量。
(b)本发明装置结构非常简单,仅仅利用了几个反射镜,两块玻璃片就可以获得信号光与待测激光的干涉光谱。
(c)本发明采用自参考光谱方法(SRSI)来测量激光脉冲,经过计算机编写的程序软件线性计算,只需经过约三次的迭代计算就可以获得待测激光脉冲的激光光谱、光谱相位、脉冲形状和脉冲时域相位的信息,响应速度快。
(d)与在先技术相比,本发明显著地提高了飞秒激光脉冲测量的光谱和脉冲宽度的适应范围、并且同时提高了计算速度,可以实时监测激光脉冲形状。可以用作飞秒激光脉冲脉冲宽度的单发测量和实时监测。
附图说明
图1,图2,图3分别为本发明的三个典型实例装置光路结构图。
图4(a)为装置图1中小孔板2的结构示意图,白色部分为透光小孔。L为小孔中心间距,d为小孔大小。
图4(b)为装置图1中部分区域镀膜的平面反射镜4的结构示意图。白色区域为不镀膜区域,灰色区域为镀膜区域。
图5是自参考光谱相干方法计算飞秒激光脉冲形状,激光光谱和光谱相位的流程图。
图6是利用本发明实例装置图1测量800nm中心波长40fs激光脉冲实验结果图。
具体实施方式
下面结合实施例和附图对本发明作进一步说明,但不应以此限制本发明的保护范围。
本发明的实质是采用飞秒激光脉冲经三阶非线性效应介质产生的所述的瞬态光栅信号光波作参考光束对飞秒激光脉冲进行自参考光谱干涉(SRSI)测量。
首先,是利用透明介质材料中的瞬态光栅效应产生参考信号光波。本发明飞秒激光脉冲测量装置的一个实施例装置光路图如图1所示。光路主要包括:1为入射激光束;2为小孔板;3为玻璃片,用来引入时间延迟;4为第一、第二、第三象限区域镀高反膜的平面反射镜,用于调整光路;5为镀高反膜的第一凹面反射镜;6为产生瞬态光栅效应的介质玻璃片;7为小孔光阑,用来透过信号光和挡住杂散光;8为镀高反膜的第二凹面反射镜;9为高光谱精度的光谱仪,用来测量激光光谱与干涉光谱。
在光路图中,所述的小孔板2有四个成正方形排列的口径相等的小孔,用来选取入射激光光斑上四个部分激光形成相等口径的四束激光,如图4(a)所示。所述的平面反射镜4的第四象限未镀膜,其它第一、第二、第三象限镀高反膜的反射镜,如图4(b)所示。
图1测量装置的光路走势如下,一束光斑足够大(直径大于5mm)的入射激光束1经过所述的小孔板2后,小孔板上的四个小孔通过相等口径的四束激光,该四束激光位于正方形四个角,也叫“盒子形状(box)”。其中一束激光透过一块合适厚度的玻璃片3,而其它三束激光在空气自由传播,透过所述的玻璃片3的激光束与其它三束激光之间具有一定的时间延迟。然后,该四束激光经所述的平面反射镜4,其中延迟的那束激光经过未镀膜的四分之一区域反射,其它三束激光则经过镀有高反膜的四分之三区域反射。经过平面反射镜4的光以很小的角度入射到第一凹面反射镜5上,并被该第一凹面反射镜5聚焦到所述的介质玻璃片6上。三束经平面反射镜4高反射的激光在介质玻璃片6上产生瞬态光栅效应并产生瞬态光栅信号光波,所产生的信号光波正好跟经延迟的那一束待测光波在一个方向上,并且在空间上重合。利用小孔光阑7选取信号光波和延迟的待测光波,经过第二凹面反射镜8聚焦到高精度光谱仪9中,测得光谱信号。
在装置结构中,小孔板2上的四个小孔大小和间距根据入射光斑大小来选取,以四个光斑互不影响,并且通过能量最大为原则。玻璃片3材料的选取根据入射激光波长来确定,以在激光波长带宽范围透明,色散小为原则。材料的厚度则跟入射激光带宽宽和中心波长有关,入射激光带宽宽,脉冲宽度短,则玻璃片3要薄,具体根据后面测得的干涉光谱条纹是否分辩和精度为原则。平面反射镜4和第一凹面反射镜5的膜根据入射激光中心波长不同可以镀银膜、金膜、铝膜和介质高反膜。介质玻璃片6材料选择需要对入射激光透明,并且三阶非线性系数要高,并且厚度通常选取100-500um。9为高光谱精度的光谱仪,可以提高测量精度。
在原理上,瞬态光栅效应可以用表达式(1)来描述[参见参考文献7]:
其中:ωTG、ω1和ω2分别为一阶自衍射光,两束入射激光的角频率。Δkz(ωTG,ω1,ω2)为自衍射过程中的相位失配,L为非线性介质材料厚度。
根据表达式(1),由于光学三阶非线性效应产生的瞬态光栅信号光波,比入射的待测激光脉冲,具有更加光滑和更宽的激光光谱[参见参考文献7],因此我们采用飞秒激光脉冲经三阶非线性效应介质产生的所述的瞬态光栅信号光波作参考光束进行对飞秒激光脉冲自参考光谱干涉(SRSI)测量[参见专利,申请号:201110198352.9]。
在SRSI测量中,我们首先将空间自动重合的那一束延迟的待测激光和产生的瞬态光栅信号光波(之后叫参考光)聚焦进入一个高光谱精度的光谱仪。
我们首先挡住待测激光利用高精度光谱仪测得参考光的单独光谱,接着我们放开待测激光并挡住其它三束入射激光的任何一束,利用高精度光谱仪测得待测激光的单独光谱,并且保存数据文件。
通过调节入射激光小孔大小或入射光能量,调节参考光和待测激光的强度比(通常是强3倍左右),测得干涉光谱,并保存数据。
通过改变插入的延时玻璃片3的厚度,调节参考光与待测激光脉冲之间的延时,当时间延时τ合适时,在光谱仪上可以明显看见两束光的光谱干涉条纹。增大延时可以提高光谱干涉条纹密度,从而提高光谱和光谱相位的测量精度,但是这样需要更高精度的光谱仪。这里,通常我们调节延时τ使得光谱干涉条纹间隔在2nm左右。同时我们优化两束激光空间重合获得最大调制深度的光谱干涉条纹D(ω,τ),并且保存数据文件。测得的光谱干涉条纹D(ω,τ)可以表示为[参见文献5]:
D(ω,τ)=|Eref(ω)+E(ω)eiωτ|2
=|Eref(ω)|2+|E(ω)|2+f(ω)eiωτ+f*(ω)e-iωτ (2)
其中,ω为激光角频率,S0(ω)=|Eref(ω)|2+|E(ω)|2是待测激光与一阶自衍射光信号的光谱之和;是两束激光的光谱干涉项。
其次,利用自参考光谱相干方法反演计算获得激光光谱和光谱相位,从而可以测量激光脉冲宽度与脉冲形状。
自参考光谱相干方法(SRSI)的反演计算步骤与过程如下[参见文献6]:
由于设定初始光谱相位为0,因此待测激光光谱和光谱相位可以通过如图5的傅里叶变换和迭代计算程序获得。其中,S0(τ),f(τ)分别为S0(ω),f(ω)傅里叶变换在时域的值。由图5可见,激光光谱和光谱相位的获得需要以下几个步骤:
1、将测得的干涉光谱信号D(ω,τ)利用傅里叶变换成时域信号;
2、采用窗函数(如超高斯函数),从所述的时域信号中分别提取S0(τ),f(τ)出来;
3、对所述的的S0(τ),f(τ)分别反傅里叶变换到频域,分别得到S0(ω),f(ω);
4、利用所述的S0(ω),f(ω),采用下面公式将待测激光光谱振幅|E(ω)|与参考光光谱振幅|Eref(ω)|直接线性表示出来[参见文献5]:
和
从而可以初步得到待测激光的光谱|E(ω)|2和参考光的光谱|Eref(ω)|2;
5、通过对所述的f(ω)进行解相运算argf(ω)),待测激光的初步的光谱相位,用下面公式迭代计算出来:
6、将初步得到的激光光谱和光谱相位进行傅里叶变换,得到待测激光脉冲的脉冲形状|E(t)|2和脉冲宽度,E(t)为E(ω)的傅里叶变换的值;
7、由于参考光相位并不一定绝对等于0,因此需要根据下面的迭代方法进一步对以上步骤进行迭代计算,优化激光光谱和光谱相位输出:迭代方法如下:
(iii)重复步骤(i)和(ii),即得到校准的待测激光光谱与光谱相位,进而得到校准的激光光谱,激光脉冲形状和脉冲宽度。
采用如图1所示的装置,对相干公司的商用飞秒激光脉冲进行了脉冲宽度测量。在具体实施光路中,待测的入射激光光束1的重复频率为1kHz,中心波长为800nm,光斑大小为15mm,脉冲能量为10uJ。光束1通过小孔板2后分成四束激光,其中右下角的那一束经过一片0.5mm厚的熔石英玻璃片3并入射到部分区域反射镜4上的未镀膜区域反射,其它三束则直接经过镀银膜区域反射。四束反射激光经过曲率半径R=600mm的镀银膜的凹面反射镜5聚焦在一片150um厚的CaF2材料上。三束较强激光在CaF2晶体片上由于瞬时光栅效应在另外一束衰减和延时的光束的方向上产生了瞬时光栅光波。两束重合激光经过小孔光阑7和凹面反射镜8聚焦进入高精度光谱仪9测量激光光谱和干涉激光光谱。
图6(a)干涉光谱(细实线)为待测激光与参考激光时间延时为0.8ps时测得的光谱,中间的粗实线为瞬态光栅光(参考光)的激光光谱,下面的点线为待测激光的光谱。利用测得的干涉光谱数据,采用发明内容中图5所示的计算方法与流程,可以计算得到待测脉冲的激光光谱与光谱相位。图6(b)实线为光谱仪测得的待测激光光谱,点画线为此方法得到的激光光谱相位。
实验表明,本发明装置结构简单,不需要偏振光学元件,减少了入射激光色散,可以测量10-300fs范围内不同波长的激光脉冲。本发明经过约三次的迭代计算就可以获得待测激光脉冲的激光光谱、光谱相位、脉冲形状和脉冲时域相位的信息,响应速度快。本发明可进行单次脉冲测量,可用于飞秒激光脉冲的实时监测,获得的光谱相位反馈到相关的相位补偿装置,可优化飞秒激光脉冲输出。
Claims (8)
1.一种基于瞬态光栅效应的飞秒激光脉冲测量装置,特征在于其构成包括:四小孔光阑板(2)、延时片(3)、平面反射镜(4)、第一凹面反射镜(5)、三阶非线性光学介质(6)、小孔光阑(7)、第二凹面高反射镜(8)和高光谱精度的光谱仪(9),上述元部件的位置关系如下:所述的四小孔光阑板(2)具有呈正方形分布的四个小孔,所述的平面反射镜(4)的第一、第二、第三象限区域镀高反膜,第四象限未镀膜,待测飞秒激光光束(1)经所述的四小孔光阑板(2)后分为四束光束并分别称为第一、第二、第三和第四光束,所述的第一、第二、第三光束直接到达所述的平面反射镜(4)第一、第二、第三象限区域,第四光束经所述的延时片(3)延时后到达所述的平面反射镜(4)的第四象限区域,所述的平面反射镜(4)与入射光束成一定角度设置,在所述的平面反射镜(4)的反射光束方向设置第一凹面反射镜(5),在第一凹面反射镜(5)的焦点位置设置所述的三阶非线性光学介质(6),所述的第一、第二、第三光束在所述的三阶非线性光学介质(6)产生瞬态光栅效应形成瞬态光栅信号光波,所述的第四光束经所述的三阶非线性光学介质(6)后与所述的瞬态光栅信号光波空间重合并且一起依次经所述的小孔光阑(7)、所述的第二凹面高反射镜(8)反射后进入所述的高光谱精度的光谱仪(9)进行光谱测量获得待测飞秒激光的自参考干涉光谱。
2.根据权利要求1所述的基于瞬态光栅效应的飞秒激光脉冲测量装置,其特征在于所述的延时片(3)为透明玻璃介质,所述的平面反射镜(4)为四分之三区域部分镀高反射膜的反射镜。
3.一种基于瞬态光栅效应的飞秒激光脉冲测量装置,特征在于其构成包括:四小孔光阑板(2)、延时片(3)、平面反射镜(4)、三阶非线性光学介质(6)、小孔光阑(7)、凹面高反射镜(8)和高光谱精度的光谱仪(9)和薄透镜(10),上述元部件的位置关系如下:
所述的四小孔光阑板(2)具有呈正方形分布的四个小孔,所述的平面反射镜(4)的第一、第二、第三象限区域镀高反膜,第四象限未镀膜,该平面反射镜(4)与入射光束成一定角度设置,在所述的四小孔光阑板(2)和所述的平面反射镜(4)之间设置所述的薄透镜(10),待测飞秒激光光束(1)经所述的四小孔光阑板(2)后分为四束光束并分别称为第一、第二、第三和第四光束,所述的第一、第二、第三光束经所述的薄透镜(10)和所述的平面反射镜(4)的第一、第二、第三象限区域反射后汇集在位于所述的薄透镜(10)的焦平面的三阶非线性光学介质(6)中,所述的第一、第二、第三光束在所述的三阶非线性光学介质(6)中产生瞬态光栅效应形成瞬态光栅信号光波,第四光束经所述的延时片(3)延时后再经所述的薄透镜(10)和所述的平面反射镜(4)的第四象限区域反射,经所述的三阶非线性光学介质(6)与产生的瞬态光栅信号光波空间重合再一起依次经所述的小孔光阑(7)、所述的凹面高反射镜(8)反射进入所述的高光谱精度的光谱仪(9)进行测量获得待测飞秒激光的自参考干涉光谱。
4.一种基于瞬态光栅效应的飞秒激光脉冲测量装置,特征在于其构成包括:四小孔光阑板(2)、延时片(3)、凹面反射镜(11)、三阶非线性光学介质(6)、小孔光阑(7)、第二凹面高反射镜(8)和高光谱精度的光谱仪(9),上述元部件的位置关系如下:
所述的四小孔光阑板(2)具有呈正方形分布的四个小孔,所述的凹面反射镜(11)的第一、第二、第三象限区域镀高反膜,第四象限未镀膜,待测飞秒激光光束(1)经所述的四小孔光阑板(2)后分为四束光束并分别称为第一、第二、第三和第四光束,所述的第一、第二、第三光束直接经所述的凹面反射镜(11)第一、第二、第三象限区域反射,第四光束经所述的延时片(3)延时后达到所述的凹面反射镜(11)的第四象限区域,所述的凹面反射镜(11)与入射光束成一定角度设置,在所述的凹面反射镜(11)的焦平面位置设置所述的三阶非线性光学介质(6),所述的第一、第二、第三光束在所述的三阶非线性光学介质(6)中产生瞬态光栅效应形成瞬态光栅信号光波,经延时的所述的第四光束经所述的三阶非线性光学介质(6)与产生的瞬态光栅信号光波空间重合,所述的第四光束和瞬态光栅信号光一起依次经过所述的小孔光阑(7)和所述的第二凹面高反射镜(8)反射后进入所述的高光谱精度的光谱仪(9)进行测量获得待测飞秒激光的自参考干涉光谱。
5.根据权利要求1至4任一项所述的基于瞬态光栅效应的飞秒激光脉冲测量装置,其特征在于所述的四小孔光阑板(2)的四个通光孔的形状不限。
6.根据权利要求4所述的基于瞬态光栅效应的飞秒激光脉冲测量装置,其特征在于所述的延时片(3)为透明玻璃介质,所述的凹面反射镜(11)为四分之三区域部分镀高反射膜的反射镜。
7.根据权利要求4所述的基于瞬态光栅效应的飞秒激光脉冲测量装置,其特征在于所述的延时片(3)为镀中性衰减膜的光学窗口片。
8.基于权利要求1至7任一项所述的飞秒激光脉冲测量装置的自参考光谱干涉测量方法,特征在于该方法包括下列步骤:
①采用飞秒激光脉冲通过三阶非线性介质产生的瞬态光栅,获得飞秒激光脉冲的自参考光;
②通过高光谱精度的光谱仪(9)对飞秒激光脉冲及其自参考光进行自参考光谱干涉测量获得光谱干涉条纹D(ω,τ);
③对所述的光谱干涉条纹D(ω,τ)利用自参考光谱相干反演方法计算获得激光光谱和光谱相位,从而可以测量激光脉冲宽度与脉冲形状。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201210079324XA CN102636272B (zh) | 2012-03-22 | 2012-03-22 | 基于瞬态光栅效应的飞秒激光脉冲测量的方法与装置 |
PCT/CN2012/000873 WO2013138960A1 (zh) | 2012-03-22 | 2012-06-25 | 基于瞬态光栅效应的飞秒激光脉冲测量方法与装置 |
US14/466,861 US9488525B2 (en) | 2012-03-22 | 2014-08-22 | Method and apparatus for femtosecond laser pulse measurement based on transient-grating effect |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201210079324XA CN102636272B (zh) | 2012-03-22 | 2012-03-22 | 基于瞬态光栅效应的飞秒激光脉冲测量的方法与装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN102636272A CN102636272A (zh) | 2012-08-15 |
CN102636272B true CN102636272B (zh) | 2013-11-20 |
Family
ID=46620754
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201210079324XA Active CN102636272B (zh) | 2012-03-22 | 2012-03-22 | 基于瞬态光栅效应的飞秒激光脉冲测量的方法与装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9488525B2 (zh) |
CN (1) | CN102636272B (zh) |
WO (1) | WO2013138960A1 (zh) |
Families Citing this family (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN102853913B (zh) * | 2012-08-30 | 2014-07-16 | 中国科学技术大学 | 一种光纤光栅实时光谱分析装置及方法 |
CN102944313A (zh) * | 2012-11-12 | 2013-02-27 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 多功能飞秒激光脉冲测量装置 |
CN102998006A (zh) * | 2012-11-12 | 2013-03-27 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 飞秒激光脉冲形状的测量装置 |
CN103389163A (zh) * | 2013-07-19 | 2013-11-13 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 空间分辨二维单次自相关仪 |
CN104121994A (zh) * | 2014-07-10 | 2014-10-29 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 基于瞬态光栅效应的飞秒激光脉冲测量装置 |
US9964449B2 (en) | 2014-10-17 | 2018-05-08 | Colorado School Of Mines | Interferometer for spatial chirp characterization |
JP6549448B2 (ja) * | 2015-08-26 | 2019-07-24 | 浜松ホトニクス株式会社 | 自己相関測定装置 |
CN105157858A (zh) * | 2015-10-09 | 2015-12-16 | 中国原子能科学研究院 | 一种瞬态光栅衍射法紫外单次自相关仪 |
US10168225B2 (en) * | 2016-03-24 | 2019-01-01 | Seti Institute | System and method for detecting extrasolar laser pulses |
CN105784332B (zh) * | 2016-03-25 | 2018-10-02 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 真空压缩室光栅失调的监控调节装置及方法 |
CN106052751B (zh) * | 2016-05-13 | 2019-10-25 | 中国科学院物理研究所 | 一种基于瞬态光栅的频率分辨光学开关激光测量装置 |
CN106855437B (zh) * | 2016-12-12 | 2019-04-30 | 西北大学 | 一种单发紫外超短脉冲脉宽测量装置及方法 |
CN106918395B (zh) * | 2017-03-28 | 2019-01-22 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 一种诊断超短脉冲聚焦场时空分布特性的方法 |
CN107727249B (zh) * | 2017-09-04 | 2019-05-17 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 超强超短激光脉冲远场脉宽的单发测量装置和测量方法 |
CN107917759B (zh) * | 2017-12-20 | 2019-11-19 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 基于阶梯相位反射镜的偏振干涉成像光谱仪及制作方法 |
CN108061605B (zh) * | 2018-01-15 | 2019-12-03 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 小型化全反射式飞秒激光脉冲形状测量装置 |
CN110231098B (zh) * | 2019-05-30 | 2021-01-01 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 超短激光脉冲多路延时同步测试方法 |
JP7136854B2 (ja) * | 2020-08-17 | 2022-09-13 | アンリツ株式会社 | パルス変調光計測方法、パルス変調光計測プログラム、及び光スペクトラムアナライザ |
CN112180537B (zh) * | 2020-09-28 | 2021-08-10 | 北京大学 | 用于测量超快光学信号的阵列镜架 |
WO2022187439A1 (en) * | 2021-03-04 | 2022-09-09 | Board Of Trustees Of Michigan State University | Self-referencing ultrafast laser system with pulse shaping |
CN114001823B (zh) * | 2021-10-14 | 2023-01-06 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 一种双色超短激光脉冲特性测量方法及测量装置 |
CN114361925B (zh) * | 2021-12-22 | 2023-12-08 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 一种基于荧光调制采样的激光脉冲特性测量装置及方法 |
CN114942228B (zh) * | 2022-07-21 | 2022-10-21 | 中国人民解放军国防科技大学 | 材料瞬态特性的精准测量装置及方法 |
CN116448243B (zh) * | 2023-06-19 | 2023-09-22 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 一种基于交叉偏振波的三维光场自参考测量装置及方法 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5344236A (en) * | 1992-01-23 | 1994-09-06 | Fishman Iiya M | Method for evaluation of quality of the interface between layer and substrate |
JPH07234171A (ja) * | 1994-02-24 | 1995-09-05 | Fuji Photo Optical Co Ltd | 反射効率測定装置および回折効率測定装置 |
JP3581369B2 (ja) * | 1995-01-24 | 2004-10-27 | マサチューセッツ・インスティチュート・オブ・テクノロジー | 時分解光学測定用装置及び方法 |
JP3334470B2 (ja) * | 1996-01-17 | 2002-10-15 | 松下電器産業株式会社 | 回折効率測定方法及び回折効率測定装置 |
US6075235A (en) * | 1997-01-02 | 2000-06-13 | Chun; Cornell Seu Lun | High-resolution polarization-sensitive imaging sensors |
US6008899A (en) * | 1997-06-18 | 1999-12-28 | Sandia Corporation | Apparatus and method for optical pulse measurement |
US6327068B1 (en) * | 1998-05-27 | 2001-12-04 | Yeda Research And Development Co. Ltd. | Adaptive pulse compressor |
JP3578144B2 (ja) * | 2002-01-16 | 2004-10-20 | 住友電気工業株式会社 | 回折型光学部品の光学特性測定装置及び測定方法 |
US6734976B2 (en) * | 2002-03-14 | 2004-05-11 | National Taiwan University | Method and system for measuring an ultrashort optical pulse |
US9074936B2 (en) * | 2007-07-31 | 2015-07-07 | Massachusetts Institute Of Technology | Multidimensional pulse shaper and spectrometer |
US8823848B2 (en) * | 2009-06-11 | 2014-09-02 | The Arizona Board Of Regents On Behalf Of The University Of Arizona | Microgrid imaging polarimeters with frequency domain reconstruction |
CN102243137B (zh) * | 2011-06-21 | 2013-04-10 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 光束整形元件光学性能的检测装置和检测方法 |
CN102313605B (zh) * | 2011-07-15 | 2013-08-14 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 自参考光谱干涉飞秒激光脉冲的实时测量方法和装置 |
EP2854624A4 (en) * | 2012-06-05 | 2016-06-15 | Alan J Leszinske | AUTOMATED METHOD FOR MEASURING CHIRAL ANALYTIC CONCENTRATION |
-
2012
- 2012-03-22 CN CN201210079324XA patent/CN102636272B/zh active Active
- 2012-06-25 WO PCT/CN2012/000873 patent/WO2013138960A1/zh active Application Filing
-
2014
- 2014-08-22 US US14/466,861 patent/US9488525B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US9488525B2 (en) | 2016-11-08 |
CN102636272A (zh) | 2012-08-15 |
WO2013138960A1 (zh) | 2013-09-26 |
US20140362376A1 (en) | 2014-12-11 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant |