CN102621365B - 具有时域数据共同呈现的测试和测量仪器 - Google Patents
具有时域数据共同呈现的测试和测量仪器 Download PDFInfo
- Publication number
- CN102621365B CN102621365B CN201210018582.7A CN201210018582A CN102621365B CN 102621365 B CN102621365 B CN 102621365B CN 201210018582 A CN201210018582 A CN 201210018582A CN 102621365 B CN102621365 B CN 102621365B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- time domain
- domain waveform
- waveform
- test
- presented
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/02—Arrangements for displaying electric variables or waveforms for displaying measured electric variables in digital form
- G01R13/029—Software therefor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/02—Arrangements for displaying electric variables or waveforms for displaying measured electric variables in digital form
- G01R13/0218—Circuits therefor
- G01R13/0236—Circuits therefor for presentation of more than one variable
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Digital Transmission Methods That Use Modulated Carrier Waves (AREA)
- Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
- Measurement And Recording Of Electrical Phenomena And Electrical Characteristics Of The Living Body (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
本发明涉及具有时域数据共同呈现的测试和测量仪器。用于生成基于IQ的时域波形信息并且通过用户接口在共同轴上呈现基于IQ的时域波形信息连同其他时域波形的测试和测量仪器与方法。测试和测量仪器可以包括例如用于接收受测电信号的一个或多个输入端子、用于数字化受测信号的模数转换器(ADC)、用于从数字化信号产生I(同相)和Q(正交)基带分量信息的数字下变频器、被配置为存储IQ基带分量信息的存储器、用户接口和控制器。控制器可以被配置为使用IQ基带分量信息生成基于IQ的时域波形,并且通过用户接口在共同轴上呈现基于IQ的时域波形和第二时域波形。
Description
技术领域
本公开涉及测试和测量仪器,并且更特别地涉及如下测试和测量仪器,其中可以在共同轴上与其他时域数据一起呈现从经下变频的IQ基带分量信息导出的时域数据。
背景技术
RF载波信号可以基于载波的幅度、频率或相位变化以各种方式传输信息。例如,很多现代传输系统使用跳频或相位调制以符合通信标准并且在不同的设备中提供改进的功能和互操作性。
电子设备可以利用多个频率范围中的信号操作。即,电子设备可以具有基带信号(诸如数字信号)、以及光、微波或射频(RF)信号(诸如调制的RF和/或光载波)。例如,基带数字数据可以用于调制RF载波。每个基带数字数据和调制的RF载波可以具有关联的时域数据。
由于基带数字数据和调制的RF载波可以占用不同的频率范围,所以对表示在调制中编码的数据的时域信号的分析可能是困难的。特别地,频域测试和测量仪器通常具有单通道并且否则在呈现和操纵下变频时域数据的领域中有缺陷。
因此,难以呈现、操纵和/或比较不同类型的时域信号。
发明内容
本发明的实施例提供用于生成基于IQ的时域波形信息并且通过用户接口在共同轴上呈现基于IQ的时域波形信息连同一个或多个其他时域波形的测试和测量仪器与方法。
测试和测量仪器可以包括例如用于接收受测电信号的一个或多个输入端子、用于数字化受测信号的模数转换器(ADC)、用于从数字化信号产生I(同相)和Q(正交)基带分量信息的数字下变频器、被配置为存储IQ基带分量信息的存储器、用户接口和控制器。控制器可以被配置为使用IQ基带分量信息生成基于IQ的时域波形,并且通过用户接口在共同轴上呈现基于IQ的时域波形和第二时域波形。
用户接口可以包括诸如水平位置的水平控制和/或标度控制。控制器可以响应于水平标度控制的单个调整在共同轴上调整基于IQ的时域波形的水平标度呈现并且调整附加时域波形的水平标度呈现。类似地,控制器可以响应于水平位置控制的单个调整在共同轴上调整基于IQ的时域波形的水平位置呈现并且调整附加时域波形的水平位置呈现。诸如水平缩放或平移(pan)的其他控制也可以用于调整波形。
用户接口还可以包括诸如针对每个通道的竖直位置和/或标度控制的多通道竖直控制。竖直控制可以基本上独立于任何其他时域波形控制例如基于IQ的时域波形或其他时域波形中任何独立一个的竖直位置和/或竖直标度。可以针对与相应通道相关联的独立波形来进行此类调整。
可以将基于IQ的时域波形调整为至少部分地与其他时域波形重叠或反之亦然,以便进行视觉比较。替代地,可以将基于IQ的时域波形调整为与其他时域波形间隔开以便进行视觉比较。
附图说明
图1示出了根据本发明一个示例实施例的测试和测量仪器的框图。
图2示出了图1的测试和测量仪器中数字下变频器的示例的框图。
图3示出了与其他时域数据一起在共同轴上呈现基于IQ的时域波形信息的测试和测量仪器的用户接口的示例。
图4示出了与其他时域数据一起在共同轴上呈现下变频时域波形信息的测试和测量仪器的用户接口的另一示例。
图5是根据本发明实施例的呈现基于IQ的时域数据连同其他时域数据的测试和测量仪器的用户接口的显示器的示例。
具体实施方式
图1示出了根据本发明一个示例实施例的测试和测量仪器100的框图。测试和测量仪器100可以是数字示波器、实时信号/谱分析器(RTSA)或其他合适的测量设备。出于简要和一致而不是限制的原因,测试和测量仪器通常在此将被称作示波器。示波器100根据本发明的一个示例实施例可以包括模数转换器(ADC)108、数字下变频器115、包括波形生成器145的控制器140以及用户接口150。
示波器100可以具有多通道或输入,诸如输入端子110,适于与在此描述的各种实施例一起使用。尽管示波器可以具有单个输入端子110,但是描述的本发明方面同样适用于具有两个输入、四个输入或任何数量的输入的示波器。虽然示出示波器100的部件直接彼此耦合,但是应该理解,示波器100可以包括各种不必示出但是布置在示波器100的所示部件之间或与之相关联的其他电路或软件部件、输入、输出和/或接口。
在输入端子110处接收受测电信号(诸如RF信号)。可以将该RF信号转换为在由ADC108数字化之前被滤波的模拟中频(IF)信号。然而,通常在此将参考“RF信号”或“多个RF信号”,并且应该理解,此类参考可以包括一个或多个RF信号或从RF信号导出的一个或多个IF信号。
构造ADC 108以数字化受测RF信号。数字下变频器115操作地耦合至ADC 108、接收数字化RF信号以及根据数字化RF信号产生I(同相)和Q(正交)基带分量数据或信号。更具体地,混频器120可以在数字上将正弦和余弦与数字化RF信号相乘,从而生成I和Q分量信息,其包含存在于原始RF信号中的所有信息。此后,可以使用抽取滤波器(decimation filter)125来抽取数字分量数据,抽取滤波器125数字滤波并且减少与信号相关联的采样的数量和噪声。
获取存储器130操作地耦合至数字下变频器115并且被配置为获取和存储与RF信号相关联的数字化I和Q基带分量信息。换言之,获取存储器130可以从数字下变频器115接收I和Q基带分量信息并且对其进行存储。在某些实施例中,ADC 108的数字化数据输出可以首先直接存储到诸如存储器130的存储器,并且继而由下变频器115访问以产生I和Q基带分量信息。通道可以与输入端子110相关联,输入端子110获取具有频域中编码的信息的数据。此类通道可以包括不同种类的衰减器和放大器(未示出),以及诸如下变频器115的下变频器以选择信号的频率内容的一部分以便获取。
在某些实施例中,数字化数据可以对应于原始数据,该原始数据被直接接收并在时域中被采样,并且直接存储到继而可以(例如,由控制器140)访问的存储器130。在时域中采样的原始数据可以与通常用于直接获取时域中信息的通道相关联。此类通道可以包括数字化器,诸如多比特模数转换器、抽取器、用于感测离散等级的比较器等等。此类通道可以包括其他电路,诸如放大器、输入保护、或其他调节电路(conditioning circuitry)(未示出)。因而,存储在存储器130中的信息可以包括在时域中采样的输入信号的数字化版本。
示波器的每个输入端子110可以具有与其相关联的获取存储器130的不同部分或分量信息存储于其中的不同记录。获取存储器130可以是任何种类的存储器。例如,除其他合适存储器类型之外,获取存储器130可以是易失性存储器、非易失性存储器、动态随机访问存储器、静态存储器。
控制器140操作地耦合至获取存储器130并且接收I和Q分量信息。控制器140还耦合至用户接口150、处理受测信号并且使用波形生成器145生成相应波形、轨迹(trace)和/或标记以便通过用户接口150显示。替代地或除了呈现波形之外,控制器140可以使此类信息无线地或经由导体传输到外部设备160,其中导体诸如附接到用户接口150的通信接口模块156的总线或导线。相反地,控制器可以通过通信接口模块156从外部设备160接收命令或其他信息。除其他可能性之外,外部设备160可以包括例如从测试和测量仪器分离的计算机或外部存储器设备。
控制器140可以包括波形生成器145。波形生成器145可以使用I和Q基带分量信息生成一个或多个基于IQ的时域轨迹。在此参考基于IQ的时域波形或轨迹,其指代从I和Q分量信息或数据导出的信号或轨迹,但是与频域相对的是其在时域内。
例如,在下变频之后,波形生成器145可以通过计算(Q除以I)的反正切,即ARCTAN(Q/I)来生成相位值。波形生成器145还可以通过计算关于相位的时间的导数,即d/dt(相位)来生成频率值。相位值和频率值分别用于绘制相位对时间和频率对时间轨迹。此外,波形生成器145可以生成幅度(即,功率对时间)轨迹,这可以例如通过针对每个IQ对采用与Q的平方相加的I的平方的平方根(例如,SQRT(I^2+Q^2))来生成。
控制器140可以在共同轴上呈现一个或多个基于IQ的时域波形连同一个或多个附加时域波形,如下面进一步描述的那样。在某些实施例中,附加波形可以是具有不同于第一基于IQ的时域波形的形式的第二基于IQ的时域波形,尽管是使用与受测信号相关联的相同的基于IQ的分量信息生成的。
例如,可以将频率对时间波形连同相位对时间波形一起呈现,每个都是使用存储在存储器130中并且与特定输入端子110相关联的I和Q基带分量信息生成的。在某些实施例中,附加波形可以从直接接收的并且在时域中被采样的原始数据产生以及利用一个或多个基于IQ的时域波形呈现在共同轴上。其他类型的基于IQ的时域可以呈现在共同轴上,例如包括I基带分量信息的单独轨迹或Q基带分量信息的单独轨迹。此外,可以通过用户接口150在共同轴上同时显示幅度或功率对时间、符号对时间或任何其他合适的基于IQ的时域波形连同其他时域信息。
而且,控制器140可以被配置为响应于通过用户接口150接收的输入来调整一个或多个通道的获取参数。控制器140可以是任何种类的电路。例如,控制器140可以包括模拟和/或数字电路。控制器140可以包括通用处理器、数字信号处理器、专用集成电路、可编程门阵列等。控制器140还可以包括与用户接口150、存储器130等对接的合适电路。在一个实施例中,个人计算机(PC)可以包括控制器140、存储器130、用户接口150或这些部件的任何组合等。
用户接口150可以包括各种不同的接口。示出的示例包括显示器152、按钮154、旋钮158以及通信接口156。可以使用任何种类的用户接口。例如,通信接口150可以是有线或无线接口、网络接口(诸如以太网端口)、红外接口、RF接口等。显示器152可以是CRT、LCD、投影仪等。此类接口可以被组合在一起。例如,显示器152可以是允许按钮154呈现在显示器152上的触摸屏。用户接口150可以使用触摸屏、鼠标、远程接口或其他合适的编程装置来驱动。
如上所述,示波器100可以获取基于IQ的时域信息或直接在时域中采样的其他数据并且在存储器130中存储此类信息。在某些实施例中,用户接口150可以被配置为与共同轴相关联地呈现此类时域数据。特别地,基于IQ的时域数据可以通过用户接口在共同轴上连同其他时域数据一起呈现。如下面更详细描述的那样,诸如每分度(division)时间的时间相关控制、位置控制、缩放控制等可以在分析此类基于IQ的时域数据和其他时域数据中使用。
显示器152适于在显示单元的相同窗口或方格图(graticule)内显示一个或多个基于IQ的时域波形连同(即,彼此间隔、靠近或重叠)附加时域波形。应该理解,显示器152可以包括多个时域方格图,并且在本发明的某些实施例中,用户可以移动任何时域波形到任何时域方格图。按钮154和/或旋钮158可以用于调整或操纵不同波形之间的获取、呈现和/或关系。用户也可以使用触摸屏、鼠标、远程接口或其他合适的编程装置来调整或操纵不同波形之间的获取、呈现和/或关系。
包括ADC 108、数字下变频器115、包括波形生成器的控制器140和用户接口150的示波器100的部件中的任何部件可以存在于硬件、软件、固件或它们的任何组合中或使用硬件、软件、固件或它们的任何组合来实现。
图2示出了图1的示波器100中数字下变频器115的示例的框图200。在该实施例中,数字化信号229输入到同相路径202和正交路径208。每个路径被配置为从本地振荡器206接收信号;然而,正交相位路径208被配置为接收与同相路径202接收的信号90度不同相的信号。
每个路径202和208被配置为将输入信号229与来自本地振荡器206的相应信号混合。因此,创建同相(I)信号214和正交相位(Q)信号216。可以按需将附加滤波和/或抽取应用于信号214和216。在一个实施例中,振荡器206可以是数字振荡器。在各个路径202和208中执行的混合可以是数字混合、乘法等。尽管仅分别示出了路径202和208的混合器204和210,但是路径202和208可以按需包括数字滤波器、定标器(scaler)、抽取器等。如关于图1描述的,这些信号可以存储在存储器130中,被进一步处理以生成其他时域信号等。应该理解,图2中所示的实施例是从数字化RF信号提取此类IQ基带分量时域信息的技术和电路的示例。
图3示出了在共同轴305上呈现基于IQ的时域波形信息350连同其他时域数据360的测试和测量仪器100的用户接口150的示例。在该实施例中,用户接口150可以包括显示器152、通信接口156和接口控制308,该接口控制308包括水平控制310、多通道竖直控制330和/或其他控制340和345。此类控制是用户接口150的可能控制的示例。
如上所述,可以在共同轴305上或与之关联地与其他时域信号一起呈现基于IQ的时域信号。例如,基于IQ的时域波形350可以与时域波形360同时显示。时域波形360可以是基于IQ的时域波形,该基于IQ的时域波形具有与基于IQ的时域波形350不同或相同的形式。替代地或此外,时域波形360可以是从直接接收的并且在时域中被采样的信号产生的时域波形。除其他合适的基于IQ的时域波形之外,一个或多个基于IQ的时域波形可以包括例如频率对时间波形、相位对时间波形、功率对时间波形和符号对时间波形。此外,控制器可以被配置为在共同轴305上或与之相关联地直接显示单独的I和Q基带分量信息。
接口控制308包括水平标度控制310。水平控制可以包括例如水平标度控制314、水平位置控制312、缩放控制316、平移控制318和/或其他合适的水平控制,诸如320或322。(图1的)控制器140可以响应于水平标度控制314的单个调整在共同轴305上调整基于IQ的时域波形350的水平标度呈现并且调整时域波形360的水平标度呈现。类似地,控制器可以响应于水平位置控制312的单个调整在共同轴上调整基于IQ的时域波形350的水平位置呈现并且调整时域波形360的水平位置呈现。
此外,控制器可以响应于缩放控制316的单个调整在共同轴305上调整基于IQ的时域波形350的缩放呈现并且调整时域波形360的缩放呈现。此外,控制器可以响应于平移控制318的单个调整在共同轴305上调整基于IQ的时域波形350的平移呈现并且调整时域波形360的平移呈现。其他控制(诸如320和322)可以用于同时操纵或调整波形350和360的水平呈现方面。
接口控制308还包括多通道竖直控制330。竖直控制330可以包括例如针对通道CH1、CH2到CHN中的每个的竖直位置控制322和/或竖直标度控制334。竖直控制330可以基本上独立于任何其他时域波形来控制例如基于IQ的时域波形350或时域波形360的任何单独一个的竖直位置和/或竖直标度。如图3所示,可以针对与诸如CH1、CH2到CHN的相应通道相关联的单独波形进行此类调整。
例如,如果基于IQ的时域波形350与CH2相关联,则CH2可以由示波器的用户选择,并且可以使用与CH2相关联的竖直位置控制332来调整基于IQ的时域波形350的竖直位置。类似地,如果时域波形360与CH1相关联,可以使用与CH1相关联的竖直位置控制332来调整波形360的竖直位置。
更具体地,(图1的)控制器140可以基本上独立于任何其他时域波形的竖直标度呈现来响应于竖直标度控制334在共同轴305上调整基于IQ的时域波形350和时域波形360中任何单独一个的竖直标度呈现。此外,控制可以基本上独立于任何其他时域波形的竖直位置呈现来响应于竖直位置控制332在共同轴305上调整基于IQ的时域波形350或时域波形360中任何单独一个的竖直位置呈现。可以将基于IQ的时域波形350调整为至少部分地与时域波形360重叠或反之亦然用于视觉比较。替代地,可以将基于IQ的时域波形350调整为与时域波形360间隔用于视觉比较。
在某些实施例中,控制器140可以同时地并且响应于竖直标度控制334的单个调整来调整基于IQ的时域波形350和时域波形360中一个或多个的竖直标度呈现。类似地,控制器140可以同时地并且响应于竖直位置控制332的单个调整来调整基于IQ的时域波形350和时域波形360中一个或多个的竖直位置呈现。换言之,单个动作可以控制不同轨迹或否则将不同轨迹链接和调整在一起。
基于IQ的时域波形350可以包括上述不同类型或形式的波形或轨迹。例如,可以同时显示具有表示时间的水平轴和表示频率的竖直轴的频率对时间波形与另一时域波形。类似于频率对时间,可以相对于另一时域波形来比较或调整功率对时间轨迹,其中水平轴是时间的表示,并且竖直轴是幅度或功率的表示,通常在对数标度上代替线性标度上的电压。此外,可以与另一时域波形一起或可视地与另一时域波形比较地呈现相位对时间波形,其中水平轴是时间的表示,并且竖直轴是相位值范围的表示。可以在显示器152上同时呈现并且使用接口控制308同时或单独地调整任何数量的不同的基于IQ的时域波形和/或其他时域波形。应该理解,接口控制308可以包括图1的按钮154和/或旋钮158,和/或任何合适的输入装置,诸如触摸屏、致动器、麦克风或传感器。
图4示出了在共同轴305上呈现下变频时域波形信息与其他时域数据的测试和测量仪器100的用户接口150的另一示例。在该示例中,用户接口150包括显示器152和多通道水平和竖直控制410和415,测量控制420以及频域控制430。此类控制是用户接口150的可能控制的示例。然而,时域接口408的此类控制可以按需包括其他控制、可以组合在一起等。
如上所述,可以在共同轴305上呈现基于IQ的时域信号与其他时域信号。例如,RF信号显示为轨迹435。轨迹445是与RF信号435相关联的信号,诸如用于利用开关调制来调制RF信号的数据流的一部分。轨迹460可以表示来自RF信号的时域信号,诸如RF信号435的幅度。尽管RF信号435和时域轨迹460已经示出在相同显示器152上,但是RF信号435不需要呈现给用户。然而,仍旧可以显示编码的时域波形。此外,根本不需要获取此类RF信号435;而是可以获取编码的时域信号。
由于已经在共同轴305上将基于IQ的时域数据呈现为其他时域信号,所以可以在类似的上下文中分析基于IQ的时域数据作为其他时域信号。例如,标记455和450已经定位在数据445的前缘和幅度460的前缘。用户可以通过用户接口150的测量控制420或其他类似接口来操纵标记455和450。因而,可以测量时间440。在该示例中,时间440可以表示数据455的改变与RF信号435的幅度的相应改变之间的延迟。此外,用户可以通过相应的水平和竖直控制410和415操纵竖直和水平标度、位置等。因此,在该示例中,可以将RF信号435的解码的属性用作任何其他时域信号。
在另一示例中,竖直控制415可以用于偏移、按比例缩放(scale)或否则操纵显示器152上的轨迹。例如,竖直控制415可以包括用于控制每个轨迹435、445和460的偏移和标度的输入。因此,用户可以操纵轨迹,使得如所示那样分离轨迹,重叠用于视觉比较等。
在另一示例中,水平控制410可以用于分析时域信号。可以改变每分度时间、位置或其他水平控制410。包括基于IQ的时域信号的时域信号的呈现可以因而改变。例如,可以在轨迹上标识感兴趣的信号。然而,时间跨度对于足够分辨率而言太大。可以改变每分度时间控制和位置控制以信号为中心并减少每分度时间以获得较精细分辨率。特别地,当调整这些控制时,可以改变共同轴305上时域信号的每个呈现。因此,用户可以在共同轴305上利用其他时域信号调查信号。尽管在共同轴305上呈现了各种时域信号,但是针对各种波形,获取参数不需要是相同的。
而且,尽管已经参考图4给出了水平控制410或基于时间的控制的特定示例,但是其他类似控制可以是水平控制410的部分。例如,缩放控制可以用于提供时域数据的呈现中的缩放。由于可以在共同轴305上呈现基于IQ的时域数据与其他时域数据,所以可以通过缩放控制更详细地分析此类信号中的每个。
尽管给出显示器152作为示例,但是可以通过用户接口150的其他接口按需呈现时域信号的呈现。例如,可以通过上述通信接口156来流化数据。在另一示例中,可以存储数据用于以后的分析。无论如何,可以在类似的上下文中执行时域信号的分析。
图5是根据本发明的实施例呈现基于IQ的时域数据连同其他时域数据的测试和测量仪器100的用户接口150的显示器152的示例。在某些实施例中,(图1的)控制器140可以被配置为使得(例如,图3的)用户接口150呈现基于IQ的时域数据连同其他时域数据。例如,调制的RF信号510可以是16正交幅度调制(16-QAM)信号。信号512可以表示调制信号相对于载波的相位。信号513可以表示调制信号的幅度包络。图5中示出的信号是此处讨论的波形的表示。应该理解,可以根据在此公开的本发明的任何实施例来实现对应于相位、幅度等的其他波形。
根据相位512和幅度513,可以呈现解调信号的各种形式。信号514、516、518和520可以表示由16-QAM信号的各种状态表示的四比特。信号522可以表示编码的四比特半位元组(nibble)。即,可以按需呈现解调数据,不论通过编码比特、编码符号等。
尽管已经描述了特定实施例,但是将理解,本发明的原理不限于那些实施例。在某些实施例中,包括具有关联指令的机器可访问非瞬态介质的制品,当指令在测试和测量仪器中执行时,产生执行如此处所公开的本发明的各种实施例的步骤的机器。可以进行其他变型和修改而不脱离如以下权利要求书中记载的本发明的原理。
Claims (22)
1.一种测试和测量仪器,包括:
一个或多个输入端子,用于接收受测电信号;
一个或多个模数转换器(ADC),用于数字化受测电信号;
数字下变频器,用于从数字化信号产生IQ基带分量信息;
存储器,被配置为存储IQ基带分量信息;
用户接口;以及
控制器,被配置为:
使用所述IQ基带分量信息生成第一基于IQ的时域波形;以及
通过所述用户接口在共同轴上呈现所述第一基于IQ的时域波形和与所述第一基于IQ的时域波形不同的形式的第二时域波形。
2.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中:
使用与所述受测电信号相关联的所述IQ基带分量信息来生成所述第二时域波形。
3.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中所述一个或多个输入端子直接接收所述受测电信号并且在时域中对所述受测电信号进行采样,其中:
所述第二时域波形基于直接接收并且在时域中被采样的信号;以及
所述控制器被配置为在所述共同轴上呈现所述第二时域波形与所述第一基于IQ的时域波形。
4.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中所述控制器被配置为将所述第一基于IQ的时域波形生成为频率对时间波形、相位对时间波形、功率对时间波形以及符号对时间波形中的至少一个。
5.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中:
所述用户接口包括水平标度控制;以及
所述控制器还被配置为响应于所述水平标度控制的单个调整在所述共同轴上调整所述第一基于IQ的时域波形的水平标度呈现并且调整所述第二时域波形的水平标度呈现。
6.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中:
所述用户接口包括水平位置控制;以及
所述控制器还被配置为响应于所述水平位置控制的单个调整在所述共同轴上调整所述第一基于IQ的时域波形的水平位置呈现并且调整所述第二时域波形的水平位置呈现。
7.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中:
所述用户接口包括缩放控制;以及
所述控制器还被配置为响应于所述缩放控制的单个调整在所述共同轴上调整所述第一基于IQ的时域波形的缩放呈现并且调整所述第二时域波形的缩放呈现。
8.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中:
所述用户接口包括平移控制;以及
所述控制器还被配置为响应于所述平移控制的单个调整在所述共同轴上调整所述第一基于IQ的时域波形的平移呈现并且调整所述第二时域波形的平移呈现。
9.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中:
所述用户接口包括竖直标度控制;以及
所述控制器还被配置为响应于所述竖直标度控制的单个调整在所述共同轴上调整所述第一基于IQ的时域波形的竖直标度呈现并且调整所述第二时域波形的竖直标度呈现。
10.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中:
所述用户接口包括竖直位置控制;以及
所述控制器还被配置为响应于所述竖直位置控制的单个调整在所述共同轴上调整所述第一基于IQ的时域波形的竖直位置呈现并且调整所述第二时域波形的竖直位置呈现。
11.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中:
所述用户接口包括竖直标度控制;以及
所述控制器还被配置为基本上独立于任何其他时域波形的竖直标度呈现来响应于所述竖直标度控制在所述共同轴上调整所述第一基于IQ的时域波形和所述第二时域波形中任何单独一个的竖直标度呈现。
12.根据权利要求1所述的测试和测量仪器,其中:
所述用户接口包括竖直位置控制;以及
所述控制器还被配置为基本上独立于任何其他时域波形的竖直位置呈现来响应于所述竖直位置控制在所述共同轴上调整所述第一基于IQ的时域波形和所述第二时域波形中任何单独一个的竖直位置呈现。
13.根据权利要求12所述的测试和测量仪器,其中所述第一基于IQ的时域波形至少部分地与所述第二时域波形重叠用于视觉比较。
14.根据权利要求12所述的测试和测量仪器,其中所述第一基于IQ的时域波形与所述第二时域波形间隔用于视觉比较。
15.一种用于在测试和测量仪器上呈现时域信息的方法,所述方法包括:
接收受测电信号;
数字化受测电信号;
对数字化信号进行下变频,其中下变频包括产生IQ基带分量信息;
存储IQ基带分量信息;
使用所述IQ基带分量信息生成第一基于IQ的时域波形;
通过用户接口在共同轴上呈现所述第一基于IQ的时域波形和与所述第一基于IQ的时域波形不同的形式的第二时域波形。
16.根据权利要求15所述的方法,其中生成包括将所述第一基于IQ的时域波形生成为频率对时间波形、相位对时间波形、功率对时间波形以及符号对时间波形中的至少一个。
17.根据权利要求15所述的方法,还包括:
响应于水平控制的单个调整在所述共同轴上调整所述第一基于IQ的时域波形的水平呈现并且调整所述第二时域波形的水平呈现。
18.根据权利要求15所述的方法,还包括:
基本上独立于任何其他时域波形的竖直标度呈现来响应于竖直标度控制在所述共同轴上调整所述第一基于IQ的时域波形和所述第二时域波形中任何单独一个的竖直标度呈现。
19.根据权利要求15所述的方法,还包括:
基本上独立于任何其他时域波形的竖直位置呈现来响应于竖直位置控制在所述共同轴上调整所述第一基于IQ的时域波形和所述第二时域波形中任何单独一个的竖直位置呈现。
20.根据权利要求15所述的方法,还包括:
响应于竖直位置控制的单个调整在所述共同轴上调整所述第一基于IQ的时域波形的竖直位置呈现并且调整所述第二时域波形的竖直位置呈现。
21.根据权利要求15所述的方法,还包括:
响应于竖直标度控制的单个调整在所述共同轴上调整所述第一基于IQ的时域波形的竖直标度呈现并且调整所述第二时域波形的竖直标度呈现。
22.根据权利要求15所述的方法,还包括:
调整所述第一基于IQ的时域波形或所述第二时域波形的位置,使得波形彼此间隔;或者
调整所述第一基于IQ的时域波形或所述第二时域波形的位置,使得波形彼此至少部分地重叠。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US13/015,084 US8615382B2 (en) | 2011-01-27 | 2011-01-27 | Test and measurement instrument with common presentation of time domain data |
US13/015084 | 2011-01-27 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN102621365A CN102621365A (zh) | 2012-08-01 |
CN102621365B true CN102621365B (zh) | 2017-04-19 |
Family
ID=45655237
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201210018582.7A Active CN102621365B (zh) | 2011-01-27 | 2012-01-20 | 具有时域数据共同呈现的测试和测量仪器 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8615382B2 (zh) |
EP (1) | EP2482084B1 (zh) |
JP (1) | JP5995450B2 (zh) |
CN (1) | CN102621365B (zh) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8793536B2 (en) * | 2012-08-22 | 2014-07-29 | Tektronix, Inc. | Test and measurement instrument with auto-sync for bit-error detection |
US9459290B2 (en) * | 2013-04-30 | 2016-10-04 | Keysight Technologies, Inc. | Oscilloscope system and method for simultaneously displaying zoomed-in and zoomed-out waveforms |
CN105372468B (zh) * | 2014-08-26 | 2019-03-05 | 苏州普源精电科技有限公司 | 在示波器上调整数据解码功能的系统和方法 |
US11018964B2 (en) * | 2016-01-19 | 2021-05-25 | Tektronix, Inc. | Selective extraction of network link training information |
US10962575B2 (en) * | 2017-08-25 | 2021-03-30 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Multi-domain measurement system as well as use of a multi-domain measurement system |
US10775417B2 (en) | 2017-09-27 | 2020-09-15 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Oscilloscope and method |
US10502764B2 (en) * | 2018-01-05 | 2019-12-10 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Signal analyzing circuit and method for auto setting an oscilloscope |
US10547490B1 (en) * | 2018-08-03 | 2020-01-28 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Digital triggering system as well as method for processing data |
KR102240440B1 (ko) * | 2019-05-28 | 2021-04-15 | 주식회사 이노와이어리스 | 스펙트럼 분석기 및 그 제어 방법 |
USD947693S1 (en) | 2019-09-20 | 2022-04-05 | Tektronix, Inc. | Measurement probe head assembly |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5524281A (en) * | 1988-03-31 | 1996-06-04 | Wiltron Company | Apparatus and method for measuring the phase and magnitude of microwave signals |
CN101231310A (zh) * | 2006-12-04 | 2008-07-30 | 弗卢克公司 | 具有改进的自动模式工作的电压测量仪器和方法 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4802098A (en) * | 1987-04-03 | 1989-01-31 | Tektronix, Inc. | Digital bandpass oscilloscope |
JP3605229B2 (ja) * | 1996-04-30 | 2004-12-22 | テクトロニクス・インターナショナル・セールス・ゲーエムベーハー | デジタル位相変調方式判定表示方法 |
JP3377391B2 (ja) * | 1997-02-12 | 2003-02-17 | 日本テクトロニクス株式会社 | リアルタイム信号アナライザ |
DE10114779A1 (de) * | 2001-03-26 | 2002-10-24 | Infineon Technologies Ag | Sende-und Empfangseinheit |
AU2002330846A1 (en) * | 2001-05-01 | 2003-03-03 | Binj Technologies, Inc. | Constant amplitude modulation for dsl |
DE10161602A1 (de) * | 2001-12-14 | 2003-06-18 | Rohde & Schwarz | Verfahren und Anordnung zum graphischen Darstellen der l- und/oder Q-Komponenten von digital modulierten Hochfrequenzsignalen |
JP4813774B2 (ja) * | 2004-05-18 | 2011-11-09 | テクトロニクス・インターナショナル・セールス・ゲーエムベーハー | 周波数分析装置の表示方法 |
US8461850B2 (en) * | 2010-08-13 | 2013-06-11 | Tektronix, Inc. | Time-domain measurements in a test and measurement instrument |
-
2011
- 2011-01-27 US US13/015,084 patent/US8615382B2/en active Active
-
2012
- 2012-01-20 CN CN201210018582.7A patent/CN102621365B/zh active Active
- 2012-01-25 JP JP2012013016A patent/JP5995450B2/ja active Active
- 2012-01-25 EP EP12152497.9A patent/EP2482084B1/en active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5524281A (en) * | 1988-03-31 | 1996-06-04 | Wiltron Company | Apparatus and method for measuring the phase and magnitude of microwave signals |
CN101231310A (zh) * | 2006-12-04 | 2008-07-30 | 弗卢克公司 | 具有改进的自动模式工作的电压测量仪器和方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8615382B2 (en) | 2013-12-24 |
EP2482084A2 (en) | 2012-08-01 |
CN102621365A (zh) | 2012-08-01 |
JP2012154927A (ja) | 2012-08-16 |
EP2482084A3 (en) | 2017-01-25 |
JP5995450B2 (ja) | 2016-09-21 |
US20120197598A1 (en) | 2012-08-02 |
EP2482084B1 (en) | 2018-09-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN102621365B (zh) | 具有时域数据共同呈现的测试和测量仪器 | |
US20200333378A1 (en) | Method and apparatus for processing oscilloscope signal and oscilloscope | |
CN102419389B (zh) | 测试和测量仪器中的时域测量 | |
CN202121588U (zh) | 一种无线电考试防作弊系统 | |
US8155165B2 (en) | Method of characterizing parameters and removing spectral components of a spread spectrum clock in a communications signal | |
EP1688751B1 (en) | Time correlation of signal power to distortion characteristics | |
CN107093357A (zh) | 多功能教学用综合信号分析系统 | |
EP2418496B1 (en) | Time-domain searching in a test and measurement instrument | |
Blair | Sine-fitting software for IEEE standards 1057 and 1241 | |
US11480597B2 (en) | Method and apparatus for analyzing a relationship between tone frequencies and spurious frequencies | |
US20220357237A1 (en) | Real-equivalent-time oscilloscope with time domain reflectometer | |
Simic et al. | Software oriented approach in providing and processing of signals with real power quality problems | |
Lee et al. | Time domain measurement system for conducted EMI and CM/DM noise signal separation | |
CN117269601A (zh) | 一种无线电信号测试仿真系统 | |
JP6862621B2 (ja) | 測定装置及び測定方法 | |
CN104014076B (zh) | 一种镇痛波形检测装置及其方法 | |
Arefin et al. | Low cost design of a pc based integrated system for signal measurement and generation using microcontroller | |
US9537690B1 (en) | Method and apparatus for extraction of baseband waveform from amplitude modulated signal via time domain sampling | |
US9443490B2 (en) | Selective display of waveforms governed by measured parameters | |
CN103033854B (zh) | 模拟地震信号发生器 | |
Braga et al. | Educational Platform for Physiological Signal Measurements | |
JP2015159494A (ja) | 信号処理装置および信号処理方法 | |
CN105629063A (zh) | 基于pxi的虚拟频谱分析仪 | |
de Souza Lima et al. | Automated test-bed for analog to digital converters | |
CN114255626A (zh) | 一种航空模拟通信仿真系统及其仿真方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |