CN102544256A - 垂直结构发光二极管及其制造方法 - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 17
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims abstract description 30
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 19
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 19
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 36
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims description 16
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 15
- 238000013459 approach Methods 0.000 claims description 13
- 229910002601 GaN Inorganic materials 0.000 claims description 9
- JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N Gallium nitride Chemical compound [Ga]#N JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 230000007480 spreading Effects 0.000 abstract description 5
- 238000003892 spreading Methods 0.000 abstract description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 18
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 15
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 15
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 12
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 239000004575 stone Substances 0.000 description 9
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 6
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 5
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 5
- 238000013517 stratification Methods 0.000 description 5
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 4
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000003486 chemical etching Methods 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000002309 gasification Methods 0.000 description 2
- 238000009616 inductively coupled plasma Methods 0.000 description 2
- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- AJGDITRVXRPLBY-UHFFFAOYSA-N aluminum indium Chemical compound [Al].[In] AJGDITRVXRPLBY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000012993 chemical processing Methods 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 210000002858 crystal cell Anatomy 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 1
- 238000005538 encapsulation Methods 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000002488 metal-organic chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 238000003801 milling Methods 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001020 plasma etching Methods 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 239000011265 semifinished product Substances 0.000 description 1
- 238000000992 sputter etching Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
- 238000001039 wet etching Methods 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/005—Processes
- H01L33/0093—Wafer bonding; Removal of the growth substrate
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2933/00—Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2933/0008—Processes
- H01L2933/0016—Processes relating to electrodes
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2933/00—Details relating to devices covered by the group H01L33/00 but not provided for in its subgroups
- H01L2933/0091—Scattering means in or on the semiconductor body or semiconductor body package
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- H—ELECTRICITY
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L33/00—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L33/44—Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the coatings, e.g. passivation layer or anti-reflective coating
- H01L33/46—Reflective coating, e.g. dielectric Bragg reflector
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Abstract
本发明揭示一种垂直结构发光二极管及其制造方法。垂直结构发光二极管包括做为电极的金属层、形成于金属层上的多个发光层以提供光束、形成于发光层上的扩散层、以及设于扩散层上的介质层,其具有穿透的开口以露出扩散层和粗化表面。扩散层促进产自电极的电流扩散。
Description
技术领域
本发明有关垂直结构发光二极管(LED),尤指一种在形成电极前形成阻挡层的垂直结构发光二极管制造方法,可抑制在基板上形成磊晶过程中所导致的线差排。
背景技术
散热管理是高电流驱动下的封装高功率LED发展的主要课题。由于磊晶于蓝宝石基板上的横向电流导通结构,导致电流推挤效应(current crowding effect)、高串联电阻(series resistance)和散热不佳的缺点。
利用短波长准分子源的激光剥离(LLO)制程的散热基板,可解决蓝宝石散热不佳的缺点。举例来说,美国第7,384,807号专利揭示一种制造垂直结构光电装置的方法,包含在晶体基板上制造数个垂直结构光电装置,接着使用LLO制程来移除基板。然而,LED的电性和光学特性取决于磊晶层的晶体品质,其品质受到额外的化学制程(例如蚀刻)、机械制程(如研磨)、以及LLO制程的影响。激光光束可能需要扫描磊晶晶圆一次以上,因而降低其产出,破坏LED磊晶层的机会亦大增。LLO的设备价值亦不斐。
为达成LLO制程的高良率,必须利用化学或物理蚀刻制程来分离磊晶GaN的岛(island),以形成排热结构,即所谓的“道径”(street path)。道径利于LLO制程期间氮气释放,因而提高良率。
然而,由于磊晶GaN岛的尺寸增加,必须放宽道径的宽度,以防止相邻的岛遭到因光引发分解而释放的氮气的压力破坏。
在LED的制作上,蓝宝石(Al2O3)为目前氮化铝铟镓基(AlInGaN-based)材料磊晶成长最常使用的基板。然蓝宝石基板的导热性不良,因而限制蓝光发光二极管必须采用正负金属电极同在基板一侧的横向导通结构。因此,此结构使得发光面积缩减外,更因电流推挤效应和横向路径,致使LED装置的顺向压降(Vf)及串联电阻增加。产生的大量热直接影响外部量子效率。
利用准分子激光剥离制程技术,以高散热基板来取代传统蓝宝石基板已行之多年。虽已商业化,其复杂的制程与低良率使得制作成本依旧高昂。短波长(<355nm)准分子激光光束可穿透具高能隙抛光的蓝宝石基板,而在磊晶缓冲层(u-GaN)和蓝宝石间的介面被吸收。吸收的能量在u-GaN的表面累积并转换成热能,致使u-GaN气化并释放氮气。随后,释出的氮气所产生的压力会对相邻隔绝的磊晶元件与散热基板产生破坏。因此,采用接合(bonding)或电镀(electroplating)技术所形成的脆弱介面的剥落会有可靠度的问题,如光输出功率快速降低、封装后的顺向压降(Vf)增加。
为解决上述问题以及提升准分子激光剥离制程的良率,发明人遂提出一种具有通道和多个间隙的垂直结构发光二极管,以利排热,如于西元2009年12月10日提出申请的美国专利申请号12/634,747所述。提供缓冲层,以在蓝宝石基板与缓冲层之间形成多个气隙(air gap)。基板可通过气隙来散热(电流推挤效应所导致)。再者,任二LED半成品之间的通道亦可促进排热。先前发明的关键在于将蓝宝石基板上的凸部容纳于缓冲层的凹部。缓冲层与蓝宝石基板需要花费更多成本来设计并取得较佳的组合。在蓝宝石基板上形成新磊晶层以提升准分子激光剥离制程的良率。一来可解决上述的设计成本问题,同时原本被视为LED缺点的线差排(threadingdislocation)也可获利用。
发明内容
本申请的主要目的为提供一种垂直结构发光二极管的制造方法,包括:a)在基板上依序形成化学阻挡层、介质层和扩散层;b)在扩散层上生成多个发光层;c)移除基板和化学阻挡层;d)翻转剩余的层,使介质层成为顶层;e)粗化介质层的表面;以及f)将金属层设于发光层之下做为电极。
本申请的另一目的为提供一种垂直结构发光二极管,包括:做为电极的金属层;形成于金属层上的多个发光层以提供光束;形成于发光层上的扩散层;以及设置于扩散层上的介质层,具有穿透的开口以露出扩散层和粗化表面,且开口设置有另一电极。
附图说明
图1至图8绘示本发明垂直结构发光二极管的制程。
【主要元件符号说明】
10垂直结构LED芯片
100基板
101牺牲层
102化学阻挡层
103介质层
104扩散层
105发光层
106电极
107黏着层
108金属层
110气隙
111开口
具体实施方式
为提升激光剥离(laser lift-off,LLO)的良率,故需要一种改良的垂直结构发光二极管(LED)。以下段落为本发明关于垂直结构发光二极管的制造方法实施例的具体叙述。
图1至图8绘示本发明的垂直结构LED的形成。在本实施例中,提供基板100,如蓝宝石基板、图案化的蓝宝石基板、或高密度图案化蓝宝石基板,用来形成磊晶生长的LED发光层。本实施例中,基板100为图案化蓝宝石基板,如图1所示。基板100图案的尺寸相似,并连续或紧密排列。
请参照图2,牺牲层(sacrificial layer)101先形成于基板100上,之后化学阻挡层102、介质层103和扩散层(spreading layer)104依序形成于基板100上。上述各层可通过金属有机化学气相沉积(metallic organic chemical vapor deposition,MOCVD)来施行。牺牲层101为轻度掺杂,扩散层104为重度掺杂。换言之,扩散层104的掺杂程度比牺牲层101高。数个气隙(air gap)110形成于基板100与牺牲层101之间,以利排热,如图2。此是线差排(threading dislocation)现象。磊晶分子差排形成气隙。气隙110形成的细节如于西元2009年12月10日申请的美国专利申请号12/634,747中所述。
化学阻挡层102可阻挡任何用来产生发光层的化学蚀刻制程,因此可保存介质层103。在本发明中,应注意的是牺牲层101、化学阻挡层102、介质层103、或扩散层104为n型氮化镓(n-GaN)。
之后,数个发光层105形成于介质层103上,如图3。发光层105可包含不同亮度和色彩要求的轻度掺杂n-GaN层、应力层(strained layer)、多量子井(multiplequantum well,MQW)、电子阻碍层(electron blocking layer,EBL)、p型氮化镓(p-GaN)层等。
请参照图4,蓝宝石基板100、牺牲层101、化学阻挡层102在电极形成前移除。移除上述各层的方法包含准分子激光剥离(excimer laser lift-off,LLO)、干蚀刻、物理蚀刻(physical etching)、以及化学蚀刻。LLO所产生的气化氮与热气会由形成于基板100与牺牲层101之间的气隙110散逸。其后,翻转剩余的层103、104和105,以使介质层103成为顶层,然后蚀刻穿透介质层103直到露出扩散层104的一部份,以形成有利排热的开口111,如图5。蚀刻方法可以是电感式耦合等离子(inductively coupled plasma,ICP)、干蚀刻、溅镀蚀刻(sputter etching)、离子束蚀刻(ion beam etching)或等离子蚀刻。
接下来,粗化介质层103的表面以提升垂直结构LED的取光(light extraction),如图6。本实施例中,介质层103的粗化表面可由干蚀刻或湿蚀刻来进行粗化。
电极106可置于扩散层104上的开口111,如图7。电极106的数量不限于1,可视需求增加数量。
化学阻挡层102可减少基板100的线差排延伸至发光层105的情况。扩散层104促进产自电极106的电流扩散。此外,牺牲层101和介质层103具有高线差排密度。化学阻挡层102和扩散层104具有低线差排密度。换言之,牺牲层101或介质层103的线差排密度高于化学阻挡层102或扩散层104。
最后,黏着层(agglutinate layer)107附加在发光层105下,以将金属层108黏附在发光层105之下,如图8。金属层108可作为电极。再者,反射层可置于金属层108与发光层105之间,以提升垂直结构LED芯片10的取光。另一方面,黏着层107可添加反射材料,因此黏着层107亦可作为反射层。
请参照图8。根据本发明垂直结构LED的制造方法,垂直结构LED芯片10最终包含数个发光层105来提供光束、形成于发光层105上的扩散层104来扩散电流、设于扩散层104上的介质层103具有开口111和粗化表面来提升垂直结构LED芯片10的取光、以及置于扩散层104上的开口111的电极106。此外,黏着层107添附于发光层105下,以将金属层108黏附于发光层105之下。
虽然本发明已以实施例揭露如上,然其并非用以限定本发明。反之,任何所属技术领域中具有通常知识者,在不脱离本发明的精神和范围内,当可作些许的更动与润饰,因此本发明的保护范围当以权利要求所界定的为准。
Claims (14)
1.一种垂直结构发光二极管的制造方法,包括:
a)在基板上依序形成化学阻挡层、介质层和扩散层;
b)在扩散层上生成多个发光层;
c)移除基板和化学阻挡层;
d)翻转剩余的层,使介质层成为顶层;
e)粗化介质层的表面;以及
f)将金属层设于发光层之下作为电极。
2.如权利要求1所述的制造方法,其特征在于,进一步包括在化学阻挡层形成前先在基板上形成牺牲层的步骤。
3.如权利要求1所述的制造方法,其特征在于,黏着层形成于金属层与发光层之间。
4.如权利要求1所述的制造方法,其特征在于,反射层形成于金属层与发光层之间。
5.如权利要求4所述的制造方法,其特征在于,黏着层为反射层。
6.如权利要求2所述的制造方法,其特征在于,牺牲层、化学阻挡层、介质层、或扩散层为n型氮化镓。
7.如权利要求2所述的制造方法,其特征在于,牺牲层或介质层的线差排密度高于化学阻挡层或扩散层。
8.如权利要求2所述的制造方法,其特征在于,扩散层的掺杂程度高于牺牲层。
9.一种垂直结构发光二极管,包括:
作为电极的一金属层;
形成于金属层上的多个发光层以提供光束;
形成于发光层上的扩散层;以及
设置于扩散层上的一介质层,具有穿透的开口以露出扩散层和粗化表面,该开口设置有另一电极。
10.如权利要求9所述的垂直结构发光二极管,其特征在于,进一步包括形成于金属层与发光层之间的黏着层。
11.如权利要求10所述的垂直结构发光二极管,其特征在于,黏着层为反射层。
12.如权利要求9所述的垂直结构发光二极管,其特征在于,进一步包括形成于金属层与发光层之间的反射层。
13.如权利要求9所述的垂直结构发光二极管,其特征在于,扩散层或介质层为n型氮化镓。
14.如权利要求9所述的垂直结构发光二极管,其中介质层的线差排密度高于扩散层。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US12/978,696 | 2010-12-27 | ||
US12/978,696 US20120161175A1 (en) | 2010-12-27 | 2010-12-27 | Vertical structure light emitting diode and method of manufacturing the same |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN102544256A true CN102544256A (zh) | 2012-07-04 |
Family
ID=46315569
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN2011103545571A Pending CN102544256A (zh) | 2010-12-27 | 2011-10-26 | 垂直结构发光二极管及其制造方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20120161175A1 (zh) |
CN (1) | CN102544256A (zh) |
TW (1) | TW201228021A (zh) |
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- 2010-12-27 US US12/978,696 patent/US20120161175A1/en not_active Abandoned
-
2011
- 2011-09-06 TW TW100132105A patent/TW201228021A/zh unknown
- 2011-10-26 CN CN2011103545571A patent/CN102544256A/zh active Pending
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---|---|
US20120161175A1 (en) | 2012-06-28 |
TW201228021A (en) | 2012-07-01 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20120704 |