CN102520272B - 智能卡掉电保护功能的测试系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了智能卡掉电保护功能的测试系统及方法，其中系统除了包括进行数据通信的读卡器和智能卡外，还包括一兆赫兹级的高速电子开关和一控制装置；其中，高速电子开关连接在读卡器和智能卡之间，并与控制装置连接，在控制装置的控制下接通或断开读卡器和智能卡；控制装置与读卡器连接，在控制高速电子开关接通时，跟踪读卡器与智能卡的数据通信；以及在控制高速电子开关断开时，测试智能卡的数据保护状况。本发明能够精确地模拟智能卡的在任意时刻的掉电过程，从而有效地测试智能卡突然掉电情况下的数据保护功能，且硬件结构简单小巧及携带方便及生产成本低廉。

Description

智能卡掉电保护功能的测试系统及方法

技术领域

本发明涉及智能卡性能测试技术，尤其涉及智能卡掉电保护功能的测试系统及方法。

背景技术

智能卡又称为IC卡(Integrated Circuit Card/SMART card)。根据卡中使用的集成电路的不同可以分为存储器卡、逻辑加密卡、CPU卡和射频卡。由于CPU卡中集成了微处理器、存储单元以及芯片操作系统COS(ChipOperating System)，从而构成一个完整的计算机系统。

随着我国信息化的发展，智能卡越来越广泛地应用于金融、交通、电子商务、电子政务、通信、医疗保险和社会保险等行业，实现网络支付、身份验证、保密存贮和通信等功能。智能卡的掉电保护功能是智能卡的一项很重要的性能指标，它代表一个智能卡在突然掉电的情况下对正在进行业务的数据保护能力的强弱。因此，开发研制与之配套的智能卡掉电保护功能的测试装置及方法就变得非常迫切。

现有的智能卡掉电保护功能测试装置通过多采用人工插拔智能卡、突拔手机电池以及采用继电器通断操作等方式模拟智能卡突然掉电，从而实现对智能卡掉电保护功能的测试。这样的操作方式会导致出现以下一些问题：

(1)不能精确地模拟智能卡的在任意时刻的掉电过程，因此不能有效地测试智能卡突然掉电情况下的数据保护情况；

(2)模拟的掉电过程可能会产生抖动而导致出现其它问题，从而无法保证智能卡掉电保护功能的正确测试；

(3)采用人工或用继电器实现断电操作有很大的随机性，为了尽可能覆盖测试点，就得进行数万次操作，这样会导致完成测试的时间周期很长，且人力成本较高。

综上所述可知，需要提供一种智能卡掉电保护功能测试系统及方法，能够有效地测试智能卡在任意时刻突然掉电情况下的数据保护功能。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种智能卡掉电保护功能测试系统及方法，能够精确、有效地测试智能卡突然掉电情况下的数据保护功能。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种智能卡掉电保护功能测试系统，除了包括进行数据通信的读卡器和智能卡外，还包括一兆赫兹级的高速电子开关和一控制装置，其中：

高速电子开关，连接在读卡器和智能卡之间，并与控制装置连接，用于在控制装置的控制下接通或断开读卡器和智能卡；

控制装置，与读卡器连接，用于在控制高速电子开关接通时，跟踪读卡器与智能卡的数据通信；在控制高速电子开关断开时，测试智能卡的数据保护状况。

进一步地

高速电子开关是高速模拟开关、数字开关或数字-模拟开关中的任意一种；

所述控制装置是32位CPU芯片，具有7816接口；在进行测试之前还设置测试参数，包括测试点、高速电子开关的通断频率以及测试模式中的一种或多种参数；根据设置的测试参数并通过控制通用输入输出接口定时控制高速电子开关的接通或断开；当控制高速电子开关接通且监测到读卡器通过高速电子开关与智能卡进行无损通信时，跟踪读卡器与智能卡的数据通信；当控制高速电子开关断开时，根据提供的测试脚本对智能卡的数据保护状况进行测试。

进一步地，在测试参数中：

测试点包括在智能卡的卡内文件更新阶段、安全数据更改阶段的测试；

高速电子开关的通断频率依据测试精度的要求确定；

测试模式包括本装置测试脚本语言或高级测试脚本语言。

进一步地，该系统还包括与读卡器连接的上位测试终端，其中：

控制装置根据上位测试终端设置的测试参数及提供的测试脚本对智能卡掉电的数据保护状况进行测试，和/或将测试结果返回给上位测试终端；

上位测试终端，用于通过读卡器设置控制装置的测试参数，将测试脚本提供给控制装置，对下发到智能卡的测试指令以界面的形式显示并记录，根据控制装置返回的测试结果显示测试报告，供测试人员分析。

进一步地，

上位测试终端包括PC机、平板电脑、手机或掌上电脑中的任意一种终端。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种智能卡掉电保护功能测试方法，除了涉及进行数据通信的读卡器和智能卡外，还涉及兆赫兹的高速电子开关和控制装置，该方法包括：

将高速电子开关连接在读卡器和智能卡之间；

控制装置在控制高速电子开关接通时，跟踪读卡器与智能卡的数据通信，并在控制高速电子开关断开时，测试智能卡的数据保护状况。

进一步地，在进行测试之前还包括：

设置测试参数，包括测试点、高速电子开关的通断频率以及测试模式中的一种或多种参数；其中，测试点包括在智能卡的卡内文件更新阶段、安全数据更改阶段的测试；高速电子开关的通断频率依据测试精度的要求确定；测试模式包括本装置测试脚本语言或高级测试脚本语言。

进一步地，通过一控制装置在控制高速电子开关接通时，跟踪读卡器与智能卡的数据通信，具体包括：

根据设置的测试参数并通过控制通用输入输出接口定时控制高速电子开关的接通或断开；

当控制高速电子开关接通且监测到读卡器通过高速电子开关与智能卡进行无损通信时，跟踪读卡器与智能卡的数据通信。

进一步地，通过控制装置在控制高速电子开关断开时，测试智能卡的数据保护状况，具体包括：

当控制高速电子开关断开时，根据提供的测试脚本对智能卡的数据保护状况进行测试。

进一步地，该测试方法还涉及上位测试终端，控制装置通过上位测试终端设置测试参数及提供测试脚本，该方法还包括：

控制装置向上位测试终端返回测试结果，由上位测试终端对测试结果进行分析，并显示由此生成的测试报告。

本发明提供的智能卡掉电保护功能测试系统及方法，能够精确地模拟智能卡的在任意时刻的掉电过程，从而有效地测试智能卡突然掉电情况下的数据保护功能，且硬件结构简单小巧及携带方便，生产成本低廉，适用于大批量制造。

附图说明

图1为本发明的智能卡掉电保护功能的测试系统实施例的结构框图；

图2为本发明的智能卡掉电保护功能的测试方法统实施例的流程图。

具体实施方式

以下结合附图和优选实施例对本发明的技术方案进行详细地阐述。应该理解，以下例举的实施例仅用于说明和解释本发明，而不构成对本发明技术方案的限制。

如图1所示，表示了本发明的智能卡掉电保护功能的测试系统实施例的结构，包括进行数据通信的读卡器和智能卡，还包括一MHz级的高速电子开关和一控制装置，其中：

高速电子开关，连接读卡器和智能卡之间，并与控制装置连接，用于在控制装置的控制下接通或断开读卡器和智能卡，模拟智能卡的掉电操作；

控制装置，与读卡器连接，用于在控制高速电子开关接通时，跟踪读卡器与智能卡的数据通信；在控制高速电子开关断开时，测试智能卡的数据保护状况。

在上述系统实施例中，

高速电子开关是高速模拟开关、数字开关或数字-模拟开关中的任意一种；

控制装置采用32位CPU芯片，具有7816接口，内部时钟为32M(实际上内部时钟为10M以上都是可以的)，定时器内2个时钟周期计数1次，故测试的最高精度达到兆Hz级；在进行测试之前还设置测试参数，包括测试点、高速电子开关的通断频率以及测试模式中的一种或多种参数；根据设置的测试参数并通过控制通用IO接口(GPIO)定时控制高速电子开关的接通或断开；当高速电子开关接通且监测到读卡器通过高速电子开关与智能卡进行无损通信时，跟踪读卡器与智能卡的数据通信。

在上述测试参数中：测试点包括智能卡的卡内文件更新阶段、安全数据更改阶段的测试；高速电子开关的通断频率依据测试精度的要求确定，测试精度要求高则将高速电子开关的通断频率设置为高(譬如为几十～几百MHz频率)，测试精度要求不高则将高速电子开关的通断频率设置为低(譬如为几MHz频率)；测试模式包括本装置测试脚本语言或高级测试脚本语言。

上述系统实施例还包括与读卡器连接的上位测试终端，其中：

控制装置根据上位测试终端设置的测试参数及提供的测试脚本对智能卡掉电的数据保护状况进行测试，和/或将测试结果返回给上位测试终端；

上位测试终端，用于通过读卡器设置控制装置的测试参数，将测试脚本提供给控制装置，对下发到智能卡的测试指令以界面的形式显示并记录，根据控制装置返回的测试结果显示测试报告，供测试人员分析。

上述上位测试终端集成现今常用智能卡的掉电测试指令脚本，并可向测试智能卡的用户提供进行二次开发的接口，即允许该用户根据智能卡掉电保护性能测试需要自定义掉电测试指令脚本，为其提供相应的接口。

在上述系统实施例中，上位测试终端包括PC机、平板电脑、手机或掌上电脑中的任意一种终端。

本发明针对上述系统实施例，相应地还提供了智能卡掉电保护功能测试方法实施例，其流程如图2所示，包括如下步骤：

110：将MHz级高速电子开关连接在读卡器和智能卡之间；

上述高速电子开关是模拟开关、数字开关或数字-模拟开关中的任意一种。

120：设置测试参数；

设置的测试参数包括测试点、数字-模拟开关的通断频率以及测试模式中的一种或多种参数，其中，测试点包括在智能卡的卡内文件更新阶段、安全数据更改阶段的测试；高速电子开关的通断频率依据测试精度的要求确定；测试模式包括本装置测试脚本语言或高级测试脚本语言。

130：判断是否自定义测试指令脚本，是则执行步骤180，否则执行下一步骤；

140：选择载入本装置测试指令脚本；

150：按设置的测试参数和选择的测试指令脚本控制高速电子开关通断；

160：在高速电子开关接通时，跟踪读卡器与智能卡的数据通信；在高速电子开关断开时，测试智能卡的数据保护状况；

在高速电子开关接通，且监测到读卡器通过高速电子开关与智能卡进行无损通信时跟踪读卡器与智能卡的数据通信；

在高速电子开关断开时，根据上位测试终端设置的测试参数及提供的测试脚本对智能卡掉电的数据保护状况进行测试。

170：向上位测试终端返回测试结果，上位测试终端显示测试结果及生成的报告，结束流程；

180：选择载入自定义测试指令脚本，转步骤160执行。

对于本领域的专业人员来说，在了解了本发明内容和原理后，能够在不背离本发明的原理和范围的情况下，根据本发明的方法进行形式和细节上的各种修正和改变，但是这些基于本发明的修正和改变仍在本发明的权利要求保护范围之内。

Claims (10)

1.一种智能卡掉电保护功能测试系统，包括进行数据通信的读卡器和智能卡，其特征在于还包括一兆赫兹级的高速电子开关和一控制装置，其中：

高速电子开关，连接在读卡器和智能卡之间，并与控制装置连接，用于在控制装置的控制下接通或断开读卡器和智能卡；

控制装置，与读卡器连接，用于在控制高速电子开关接通时，跟踪读卡器与智能卡的数据通信；在控制高速电子开关断开时，测试智能卡的数据保护状况；

所述控制装置，是用于根据设置的测试参数并通过控制通用输入输出接口定时控制所述高速电子开关的接通或断开。

2.按照权利要求1所述的测试系统，其特征在于，

所述高速电子开关是高速模拟开关、数字开关或数字-模拟开关中的任意一种；

所述控制装置是32位CPU芯片，具有7816接口；在进行所述测试之前还设置所述测试参数，包括测试点、高速电子开关的通断频率以及测试模式中的一种或多种参数；当控制所述高速电子开关接通且监测到所述读卡器通过所述高速电子开关与所述智能卡进行无损通信时，跟踪所述读卡器与智能卡的数据通信；当控制所述高速电子开关断开时，根据提供的测试脚本对所述智能卡的数据保护状况进行测试。

3.按照权利要求2所述的测试系统，其特征在于，在所述测试参数中：

所述测试点包括所述智能卡的卡内文件更新阶段、安全数据更改阶段；

所述高速电子开关的通断频率依据测试精度的要求确定；

所述测试模式包括所述控制装置测试脚本语言或自定义测试脚本语言。

4.按照权利要求3所述的测试系统，其特征在于，还包括与读卡器连接的上位测试终端，其中：

所述控制装置根据上位测试终端设置的测试参数及提供的测试脚本对智能卡掉电的数据保护状况进行测试，和/或将测试结果返回给上位测试终端；

上位测试终端，用于通过所述读卡器设置所述控制装置的测试参数，将所述测试脚本提供给控制装置，对下发到所述智能卡的测试指令以界面的形式显示并记录，根据所述控制装置返回的测试结果显示测试报告，供测试人员分析。

5.按照权利要求4所述的测试系统，其特征在于，

所述上位测试终端包括PC机、手机的任意一种终端。

6.一种智能卡掉电保护功能测试方法，涉及进行数据通信的读卡器和智能卡，其特征在于还涉及兆赫兹的高速电子开关和控制装置，该方法包括：

将所述高速电子开关连接在读卡器和智能卡之间；

所述控制装置在控制高速电子开关接通时，跟踪读卡器与智能卡的数据通信，并在控制高速电子开关断开时，测试智能卡的数据保护状况；

所述控制装置根据设置的测试参数并通过控制通用输入输出接口定时控制所述高速电子开关的接通或断开。

7.按照权利要求6所述的测试方法，其特征在于，在进行所述测试之前还包括：

设置所述测试参数，包括测试点、高速电子开关的通断频率以及测试模式中的一种或多种参数；其中，所述测试点包括所述智能卡的卡内文件更新阶段、安全数据更改阶段；所述高速电子开关的通断频率依据测试精度的要求确定；所述测试模式包括所述控制装置测试脚本语言或自定义测试脚本语言。

8.按照权利要求7所述的测试方法，其特征在于，通过一控制装置在控制高速电子开关接通时，跟踪读卡器与智能卡的数据通信，具体包括：

当控制所述高速电子开关接通且监测到所述读卡器通过所述高速电子开关与所述智能卡进行无损通信时，跟踪所述读卡器与智能卡的数据通信。

9.按照权利要求7或8所述的测试方法，其特征在于，通过所述控制装置在控制高速电子开关断开时，测试智能卡的数据保护状况，具体包括：

当控制所述高速电子开关断开时，根据提供的测试脚本对所述智能卡的数据保护状况进行测试。

10.按照权利要求9所述的测试方法，其特征在于还涉及上位测试终端，所述控制装置通过所述上位测试终端设置所述测试参数及提供所述测试脚本，该方法还包括：

所述控制装置向所述上位测试终端返回测试结果，由所述上位测试终端对测试结果进行分析，并显示由此生成的测试报告。