CN102496388A - 印刷电路板的存储器代码检验方法 - Google Patents

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林柏伸
廖良展
吴宇
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Abstract

本发明公开一种印刷电路板的存储器代码检验方法，先在代码的数据末尾附加检查码，在写入存储器后，通过时序控制器计算主码部份的数据的校验和，进而以计算得来的校验和与检查码进行比较，再通过测试引脚输出到探针来显示比较结果，以达到检验写入代码是否正确的目的。本发明可提升检验存储器内写入代码的工作效率。

Description

印刷电路板的存储器代码检验方法
【技术领域】
本发明是有关于一种印刷电路板的检验方法，特别是有关于一种印刷电路板的存储器代码检验方法。
【背景技术】
在现有技术中，液晶显示器的驱动系统是以时序控制器(Timing controller)读取只读存储器内所写入的代码(code)，来对液晶面板进行时序(Timing)、调光(Dimming)、过驱动(Over Drive)及伽玛校正(Gamma correction)等控制技术。为了提升实现所述驱动系统的硬件的制作效率，业者通常事先将代码写入于前述的只读存储器，再与其他元件一起通过SMT、DIP技术装设于印刷电路板的表面，最后再于印刷电路板进行电性测试时进行代码的确认。
然而，在前述的印刷电路板装配过程中，可能因为环境干扰、机械性能或人为疏失等因素而导致装配完成后的印刷电路板的时序控制器读取数据有误，显示器因而显示异常，甚至无法显示。因此，在印刷电路板装配后进行代码确认的步骤至关重要。
请参考图1所示，为现有印刷电路板的只读存储器的代码写入与检验的流程图。首先写入代码(code)于电子抹除式可复写只读存储器(EEPROM，Electrically-Erasable Programmable Read-Only Memory)中(步骤S90)；接着读取写入的代码的校验和(checksum)(步骤S91)；确认校验和是否正确(步骤S92)；若正确则结束检验(步骤S93)；若不正确则重新写入代码(步骤S94)。现有检验方法需结合治具和电脑，通过治具的探针接触印刷电路板的数个辅助写入点，配合电脑进行软件操作来读取被写入的代码，进行校验和的计算，进而确认被写入的代码的校验和是否与原始代码的校验和一致。若不一致，则必须再通过所述写入点重新写入代码。
由于传统的检验方法必须结合电脑和治具，逐个用探针进行操作，再读取软件结果，不仅会增加作业时间，而且治具和软件的稳定性也会影响测量结果。
故，有必要提供一种印刷电路板的存储器代码检验方法，以解决现有技术所存在的问题。
【发明内容】
本发明的主要目的在于提供一种印刷电路板的存储器代码检验方法，将解决现有印刷电路板的存储器代码检验方法必须结合电脑和治具而增加作业时间的问题。
为达成本发明的前述目的，本发明提供一种印刷电路板的存储器代码检验方法，包含下列步骤：
S10：读取存储器写入的代码数据，其中所述代码数据包含主码数据与附加于主码数据末尾的检查码；
S11：计算主码数据的校验和；
S12：比较主码数据的校验和与检查码是否一致；
S13：根据比较结果输出测试讯号至一测试引脚；以及
S14：通过探针接触所述测试引脚来获取测试结果。
在本发明的一实施例中，所述步骤S10至S13是通过时序控制器来执行，所述时序控制器内置有加权比较模块。
在本发明的一实施例中，所述检查码是16进制的数值，在步骤S11中，时序控制器是对主码数据进行加权求和，而将所得的16进制数值的末四位数值做为校验和。
在本发明的一实施例中，所述存储器为电子抹除式可复写只读存储器。
在本发明的一实施例中，在步骤S14中，所述探针具有显示功能，可显示测试结果。
在本发明的一实施例中，所述探针具有一发光二极管；若主码数据的校验和与检查码一致，所输出的测试讯号为高电平讯号而通过所述测试引脚点亮所述发光二极管。
本发明主要是先在代码的数据末尾附加检查码，在写入存储器后，通过时序控制器计算主码部份的数据的校验和，进而以计算得来的校验和与检查码进行比较，再通过测试引脚输出到探针来显示比较结果，以达到检验写入代码是否正确的目的，由于测试过程不需结合电脑软件操作，有助于节省作业时间与人力成本。
【附图说明】
图1是一现有印刷电路板的只读存储器的代码写入与检验的流程图。
图2是本发明印刷电路板的存储器代码检验方法一较佳实施例的流程图。
【具体实施方式】
为让本发明上述目的、特征及优点更明显易懂，下文特举本发明较佳实施例，并配合附图，作详细说明如下。再者，本发明所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本发明，而非用以限制本发明。
请参考图2所示，图2为本发明印刷电路板的存储器代码检验方法一较佳实施例的流程图。如图2所示，本发明印刷电路板的存储器代码检验方法包含下列步骤：
S10：读取存储器写入的代码数据，其中所述代码数据包含主码数据与附加于主码数据末尾的检查码；
S11：计算主码数据的校验和；
S12：比较主码数据的校验和与检查码是否一致；
S13：根据比较结果输出测试讯号至一测试引脚；以及
S14：通过探针接触所述测试引脚来获取测试结果。
在步骤S10中，所述存储器为电子抹除式可复写只读存储器(EEPROM，Electrically-Erasable Programmable Read-Only Memory)，但不在此限。
所述代码数据主要是以原始代码做为主码，并附加于原始代码的数据末尾附加上所述原始代码的校验和码做为一检查码，以形成一新的代码数据块提供写入于存储器中。所述检查码优选是16进制的数值。
在本实施例中，所述步骤S10至S13是通过时序控制器来执行，所述时序控制器内置有加权比较模块，因而可计算主码数据的校验和并进行主码数据的校验和与检查码的比较。再者，在步骤S11中，时序控制器对主码数据进行加权求和，而将所得的16进制数值的末四位数值做为校验和，来跟检查码进行比较。
在本实施例中，步骤S14中所述的探针优选是具有显示功能，而可显示测试结果。更详细地，所述探针可具有一发光二极管；若主码数据的校验和与检查码一致，时序控制器可输出高电平的测试讯号至所述测试引脚，所述探针接触所述测试引脚后即可点亮其所述发光二极管。因此，可通过发光二极管的亮暗来得知写入的代码是否正确。
由上述说明可知，本发明是先在欲写入的代码的数据末尾附加检查码，此检查码即为代码的校验和码。在代码被写入印刷电路板的存储器后，当印刷电路板上电测试时，具有加权比较功能的时序控制器随即计算主码部份的数据的校验和，进而将计算得来的校验和与检查码进行比较，再通过测试引脚输出高电平或低电平的测试讯号，再利用探针接收测试讯号来显示比较结果给测试人员，达到检验写入代码是否正确的目的
由于前述测试过程不需结合电脑软件操作，有助于节省作业时间与人力成本，相较于现有印刷电路板的只读存储器的代码检验流程，本发明相对提升了检验存储器内写入代码的工作效率，也节省了治具的经费。
本发明已由上述相关实施例加以描述，然而上述实施例仅为实施本发明的范例。必需指出的是，已公开的实施例并未限制本发明的范围。相反地，包含于权利要求书的精神及范围的修改及均等设置均包括于本发明的范围内。

Claims (6)

1.一种印刷电路板的存储器代码检验方法，其特征在于：所述检验方法包含：
S10：读取存储器写入的代码数据，其中所述代码数据包含主码数据与附加于主码数据末尾的检查码；
S11：计算主码数据的校验和；
S12：比较主码数据的校验和与检查码是否一致；
S13：根据比较结果输出测试讯号至一测试引脚；以及
S14：通过探针接触所述测试引脚来获取测试结果。
2.如权利要求1所述的印刷电路板的存储器代码检验方法，其特征在于：所述步骤S10至S13是通过时序控制器来执行，所述时序控制器内置有加权比较模块。
3.如权利要求2所述的印刷电路板的存储器代码检验方法，其特征在于：所述检查码是16进制的数值；在步骤S11中，时序控制器是对主码数据进行加权求和，而将所得的16进制数值的末四位数值做为校验和。
4.如权利要求1所述的印刷电路板的存储器代码检验方法，其特征在于：所述存储器为电子抹除式可复写只读存储器。
5.如权利要求1所述的印刷电路板的存储器代码检验方法，其特征在于：在步骤S14中，所述探针具有显示功能，可显示测试结果。
6.如权利要求5所述的印刷电路板的存储器代码检验方法，其特征在于：所述探针具有一发光二极管；若主码数据的校验和与检查码一致，所输出的测试讯号为高电平讯号而通过所述测试引脚点亮所述发光二极管。
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