CN102479149A - Aoi数据处理方法 - Google Patents

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李军
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Abstract

本发明提供了一种AOI数据处理方法，其主要适用于SMT AOI设备中，其中，该方法主要包括以下步骤：读取BOM数据以及CAD数据；从读取到的BOM数据中析取出SMT AOI设备需要测试的元件清单；根据析取出的需测试的元件清单从读取的CAD数据中取出对应元件的位置坐标、角度、板面、板底及封装的信息；将需测试的元件清单与取出对应元件的信息结合成SMT AOI设备直接读取的测试数据；以及将该测试数据以文件形式输出。本发明所述SMTAOI设备可以直接读取该测试数据，而无需再加以整理，测试数据产生时间视原始文件大小一般在数秒到1分钟内。

Description

AOI数据处理方法
技术领域
本发明涉及一种数据处理方法，尤其涉及一种针对AOI原始数据进行处理的方法。
背景技术
目前在SMT行业中，所使用的AOI(Automatic Optical Inspection)检测设备，即自动光学检验，其基本原理是通过光的反射来检查如BGA等元件贴装是否正确，焊接是否良好，是否有漏贴、反向或短路现象等不良。
测试程序所需要的测试数据都需要通过一套名为Fabmaster软件(即ICT测试治具选点软件)来生成转换，而Fabmaster软件价格比较昂贵，且需要专业人员操作。
在每次数据处理时，数据处理专员将测试所需要的原始数据(CAD与BOM文件)通过Fabmaster软件进行相关处理后，得到AOI测试程序开发的所需要的数据形式，并使用EXCEL进行格式化处理，如此，SMT AOI检测设备才能正确读取数据，以进行AOI测试程序的开发与调试，其中，所述BOM文件指的是产品零件明细表。
此外，在测试程序调试过程中，为了加快测试程序的开发，还需要导入每一种测试组件的数据库。
发明内容
鉴于上述问题，本发明提供了一种AOI数据处理方法。
为了达到上述目的，本发明提供了一种AOI数据处理方法，其主要适用于SMTAOI设备中，其中，该方法主要包括以下步骤：
读取BOM数据以及CAD数据；
从读取到的BOM数据中析取出SMT AOI设备需要测试的元件清单；
根据析取出的需测试的元件清单从读取的CAD数据中取出对应元件的位置坐标、角度、板面、板底及封装的信息；
将需测试的元件清单与取出对应元件的信息结合成SMT AOI设备直接读取的测试数据；以及
将该测试数据以文件形式输出。
较佳的，本发明提供了一种AOI数据处理方法，其中，所述BOM数据包括每一元件的信息。
相较于先前技术，本发明提供了一种AOI数据处理方法，其通过将读取的原始的CAD以及BOM数据结合，以形成AOI测试程序所需要的测试数据，如此，所述SMT AOI设备可以直接读取该测试数据，而无需再加以整理，数据产生时间视原始文件大小一般在数秒到1分钟内。
附图说明
图1为本发明所述方法的流程图
具体实施方式
请参照图1所示，为本发明所述方法的流程图。本发明提供了一种AOI数据处理方法，其主要适用于SMT AOI设备中。
其中，所述AOI数据处理方法主要包括以下步骤：一种AOI数据处理方法，其主要适用于SMT AOI设备中，以令原始的CAD以及BOM数据自动生成测试数据，供SMT AOI检测设备直接读取该测试数据，以进行AOI测试程序的开发与调试，而不需测试人员另行整理数据，该方法主要包括以下步骤：
步骤101：读取BOM数据以及CAD数据；
步骤102：从读取到的BOM数据中按BOM的规则析取出SMT AOI设备需要测试的元件清单；
步骤103：根据析取出的需测试的元件清单从读取的CAD数据中取出对应元件的相关信息；
步骤104：将需测试的元件清单与取出对应元件的信息结合成SMT AOI设备可以直接读取的测试数据；以及
步骤105：将该测试数据以文件形式输出。
其中，所述BOM数据包括每一元件的各种信息，包括元件的物料名称、材料类型、图号、重量、体积，物料生效日期等信息的汇总，所述CAD数据为对应元件的位置坐标、角度、板面、板底及封装等的图像信息。
上述AOI数据处理方法，其通过将读取的原始的CAD以及BOM数据结合，以形成AOI测试程序所需要的测试数据，如此，所述SMT AOI设备可以直接读取该测试数据，而无需再加以整理，根据原始的CAD数据以及BOM数据的大小，该测试数据的产生时间一般在数秒到1分钟内。

Claims (3)

1.一种AOI数据处理方法，其主要适用于SMT AOI设备中，其特征在于，该方法主要包括以下步骤：
读取BOM数据以及CAD数据；
从读取到的BOM数据中析取出SMT AOI设备需要测试的元件清单；
根据析取出的需测试的元件清单从读取的CAD数据中取出对应元件的信息；
将需测试的元件清单与取出对应元件的信息结合成SMT AOI设备直接读取的测试数据；以及
将该测试数据以文件形式输出。
2.根据权利要求1所述的AOI数据处理方法，其特征在于，所述BOM数据主要包括每一元件的信息。
3.根据权利要求1所述的AOI数据处理方法，其特征在于，所述CAD数据主要包括位置坐标、角度、板面、板底及封装信息。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106528665A (zh) * 2016-10-21 2017-03-22 广州视源电子科技股份有限公司 Aoi设备测试文件查找方法和系统
CN107315140A (zh) * 2017-06-21 2017-11-03 广州视源电子科技股份有限公司 一种aoi检测的方法、装置、设备及存储介质
CN107391373A (zh) * 2017-07-19 2017-11-24 西安精雕软件科技有限公司 基于AutoIT的性能自动化测试方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005518615A (ja) * 2002-02-22 2005-06-23 フレックストロニクス インターナショナル ユーエスエー，インコーポレーテッド 設計、調達及び製造の協働のためのシステム及び方法
CN1677404A (zh) * 2004-04-02 2005-10-05 上海广联电子有限公司 适合日本juki和西门子公司贴片机的贴片编程控制方法
CN1960624A (zh) * 2006-08-23 2007-05-09 上海广联电子有限公司 贴片机的贴片编程控制方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005518615A (ja) * 2002-02-22 2005-06-23 フレックストロニクス インターナショナル ユーエスエー，インコーポレーテッド 設計、調達及び製造の協働のためのシステム及び方法
CN1677404A (zh) * 2004-04-02 2005-10-05 上海广联电子有限公司 适合日本juki和西门子公司贴片机的贴片编程控制方法
CN1960624A (zh) * 2006-08-23 2007-05-09 上海广联电子有限公司 贴片机的贴片编程控制方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106528665A (zh) * 2016-10-21 2017-03-22 广州视源电子科技股份有限公司 Aoi设备测试文件查找方法和系统
CN106528665B (zh) * 2016-10-21 2019-09-03 广州视源电子科技股份有限公司 Aoi设备测试文件查找方法和系统
CN107315140A (zh) * 2017-06-21 2017-11-03 广州视源电子科技股份有限公司 一种aoi检测的方法、装置、设备及存储介质
CN107391373A (zh) * 2017-07-19 2017-11-24 西安精雕软件科技有限公司 基于AutoIT的性能自动化测试方法
CN107391373B (zh) * 2017-07-19 2020-08-14 西安精雕软件科技有限公司 基于AutoIT的性能自动化测试方法

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