CN102460955A - 电容器切换电路 - Google Patents

电容器切换电路 Download PDF

Info

Publication number
CN102460955A
CN102460955A CN2010800259590A CN201080025959A CN102460955A CN 102460955 A CN102460955 A CN 102460955A CN 2010800259590 A CN2010800259590 A CN 2010800259590A CN 201080025959 A CN201080025959 A CN 201080025959A CN 102460955 A CN102460955 A CN 102460955A
Authority
CN
China
Prior art keywords
capacitor
control signal
transistor
grid
source electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN2010800259590A
Other languages
English (en)
Other versions
CN102460955B (zh
Inventor
拉贾戈帕兰·兰加拉詹
钦玛雅·米什拉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Qualcomm Inc
Original Assignee
Qualcomm Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Qualcomm Inc filed Critical Qualcomm Inc
Publication of CN102460955A publication Critical patent/CN102460955A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102460955B publication Critical patent/CN102460955B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03BGENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING, BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN A NON-SWITCHING MANNER; GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS
    • H03B5/00Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input
    • H03B5/08Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance
    • H03B5/12Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device
    • H03B5/1206Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device using multiple transistors for amplification
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03BGENERATION OF OSCILLATIONS, DIRECTLY OR BY FREQUENCY-CHANGING, BY CIRCUITS EMPLOYING ACTIVE ELEMENTS WHICH OPERATE IN A NON-SWITCHING MANNER; GENERATION OF NOISE BY SUCH CIRCUITS
    • H03B5/00Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input
    • H03B5/08Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance
    • H03B5/12Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device
    • H03B5/1237Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device comprising means for varying the frequency of the generator
    • H03B5/1262Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device comprising means for varying the frequency of the generator the means comprising switched elements
    • H03B5/1265Generation of oscillations using amplifier with regenerative feedback from output to input with frequency-determining element comprising lumped inductance and capacitance active element in amplifier being semiconductor device comprising means for varying the frequency of the generator the means comprising switched elements switched capacitors
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03JTUNING RESONANT CIRCUITS; SELECTING RESONANT CIRCUITS
    • H03J2200/00Indexing scheme relating to tuning resonant circuits and selecting resonant circuits
    • H03J2200/10Tuning of a resonator by means of digitally controlled capacitor bank

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Inductance-Capacitance Distribution Constants And Capacitance-Resistance Oscillators (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)

Abstract

一种电容切换元件(200)包括由晶体管(205、210)串联连接的第一电容器(240)及第二电容器(245)。所述晶体管的栅极由通过一组电阻器(220、230)的第一信号(b0/)加偏压,且源极及漏极由通过第二组电阻器(215、225、235)的第二信号(b0)加偏压。所述信号经电平移位且可为互补的。为了接通所述元件,可将所述第一信号(b0/)设定为VDD,且可将所述第二信号(b0)设定为零。为了断开所述元件,可将所述第一信号(b0/)设定为VDD/2的倍数,且可将所述第二信号(b0)设定为VDD/2的所述倍数加1倍。当所述元件用于振荡器调谐电路中时,所述晶体管上的电压应力降低,且所述晶体管可用薄氧化物制造。所述振荡器可用于蜂窝式接入终端的收发器中。

Description

电容器切换电路
技术领域
本文献中描述的设备及方法涉及切换电路,且更明确地说,涉及用于调谐通信设备中的振荡器频率的电容器切换电路。
背景技术
可调谐频率产生器用于许多不同电子装置中。举例来说,无线通信装置使用频率产生器将所发射的信号上变频转换为中间频率及RF频率,且将接收到的信号下变频转换为中间频率及基带频率。因为操作频率变化,所以产生器的频率需要为可调谐的。
多种通信标准及多个频带所需的频率覆盖通常需要宽调谐范围振荡器,例如压控振荡器(VCO)及数控振荡器(DCO)。振荡器的调谐范围的广度是一项重要性能参数。常常需要增加调谐范围以(例如)覆盖多个频带。
可调谐振荡器的其它性能准则包括相位噪声性能、功率消耗,及大小。不同性能准则有时相互竞争。
常规可调谐振荡器可由(例如)切换电容器调谐到振荡器电感-电容(LC)谐振电路中或从振荡器电感-电容(LC)谐振电路调谐出。所述可调谐振荡器的调谐的最高频率及准确度两者均可能受到电容切换电路中的寄生电容限制。因此,需要降低与调谐电路相关联的寄生电容。
集成电路技术的进步已使得能够缩减装置的大小或规模,且藉此使得能够降低供电电压电平。然而,跨这些装置的不同端子的电压摆动需求可能并不随装置大小而成比例地调整。用于无线应用的高性能振荡器中的严格相位噪声需求可能需要跨LC谐振电路的相对较大的电压摆动。举例来说,振荡器谐振电压摆动可能需要大到三伏的峰间值,以满足适用于CDMA 1X模式中的个人通信服务(PCS)频带的相位噪声规格要求。
大电压摆动可能对晶体管装置造成过度压力,且降低装置的预期使用寿命或引起装置彻底损坏。因此,可靠性及耐久性问题在推动纳米互补金属氧化物半导体(CMOS)工艺中的设计决策中往往起重要作用。
可调谐振荡器的重要块之一可为频率粗调块,其具有二进制加权电容器阵列或二进制加权电容器组,所述二进制加权电容器具有开关。图1说明电容器组的一个示范性元件100的选定部分。所述部分包括晶体管开关105、电容器130及135,以及电阻器110、115及120。所述元件经配置以使得晶体管105的状态由互补控制信号电压b0及
Figure BPA00001480488800021
控制。当b0为低,且
Figure BPA00001480488800022
为高时,晶体管105处于传导(低阻抗)状态,从而将电容器130/135的串联组合有效地置于可调谐振荡器的谐振电路中。当b0为高且
Figure BPA00001480488800023
为低时,晶体管105处于非传导(高阻抗)状态,从而从可调谐振荡器的谐振电路有效移除电容器130/135的串联组合。假定晶体管105的漏极与源极之间的寄生电容与电容器130/135的电容相比较小,那么是寄生电容支配由元件100贡献给谐振电路的总电容。因此,需要使寄生电容保持较低,使得元件100对谐振电路的影响在非传导状态下降低。
在晶体管105的断开状态中,源极与漏极之间的最高电位差(VSD)、源极与栅极之间的最高电位差(VSG)及漏极与栅极之间的最高电位差(VDG)取决于控制电压b0及
Figure BPA00001480488800024
以及跨可调谐振荡器的谐振电路的电压。假定(1)跨振荡器的谐振电路的电压在接地与2×VDD电位之间变化,且(2)控制信号电压b0及
Figure BPA00001480488800025
也在接地与VDD电位之间变化,那么电位差VSD、VSG及VDG的量值达到(2×VDD)。如上文所指出,这可能对晶体管105造成过度压力,在小规模纳米设计中尤其如此,且因此引起晶体管105的可靠性及耐久性性能量度降低。击穿问题可能存在于65纳米规模设计中,且可能随着技术发展到45纳米规模、32纳米规模而加剧,且在亚微米领域中更加严重。
改进晶体管开关的可靠性及耐久性的一种方式是在电容器组晶体管开关(例如晶体管105)中使用厚氧化物装置。顾名思义,厚氧化物晶体管在其栅极中具有较厚的氧化物(与薄氧化物晶体管相比),且因此可在击穿前维持较高的栅极到源极与栅极到漏极电压。尽管厚氧化物方法中跨晶体管节点的电位差仍然与薄氧化物方法相同,但可靠性及耐久性得到改进,因为较厚的氧化物在较高电压下击穿。然而,此优点需要付出代价:厚氧化物晶体管在断开(高阻抗)状态下还具有较大的寄生电容,其直接影响调谐范围。如上文所论述,这是不合需要的,在宽调谐范围振荡器中尤其如此。
因此,在此项技术中需要改进可调谐电容器组的可靠性及耐久性,且尤其需要改进所述可调谐电容器组的晶体管开关的可靠性及耐久性。此项技术中进一步需要降低可调谐振荡器的电容器组中的个别晶体管开关上的电压应力。此项技术中还进一步需要在不过度增加晶体管的寄生电容的情况下,降低可调谐振荡器的电容器组中的个别晶体管开关上的电压应力。
发明内容
本文中揭示的实施例可通过在晶体管的控制电压的电平偏移的情况下堆叠多个晶体管以切换调谐电容器组的个别元件来解决一个或一个以上上述需要。每一晶体管可能需要承受跨振荡器的LC谐振电路的电压摆动的仅一部分,且可制造为具有相关联的低断开状态电容的薄氧化物晶体管。
在一实施例中,电容切换元件包括第一电容器、第二电容器、第一晶体管、第二晶体管及第一到第五电阻器。第一晶体管与第二晶体管串联耦合在第一电容器与第二电容器之间。第一电阻器将第一晶体管的栅极连接到第一控制信号。第二电阻器将第二晶体管的栅极连接到第一控制信号。第三电阻器将第二晶体管的漏极连接到第二控制信号。第四电阻器将第一晶体管的源极连接到第二控制信号。第五电阻器将第二晶体管的源极及第一晶体管的漏极连接到第二控制信号。第二控制信号为第一控制信号的经电平移位的互补信号。
在一实施例中,电容切换元件包括第一电容器、第二电容器、第一晶体管、第二晶体管、第三晶体管及第一到第七电阻器。第一晶体管、第二晶体管及第三晶体管串联耦合在第一电容器与第二电容器之间。第一电阻器将第一晶体管的栅极连接到第一控制信号。第二电阻器将第二晶体管的栅极连接到第一控制信号。第三电阻器将第三晶体管的栅极连接到第一控制信号。第四电阻器将第三晶体管的漏极连接到第二控制信号。第五电阻器将第三晶体管的源极及第二晶体管的漏极连接到第二控制信号。第六电阻器将第二晶体管的源极及第一晶体管的漏极连接到第二控制信号。第七电阻器将第一晶体管的源极连接到第二控制信号。电容切换元件经配置以依靠经配置以递送供电电压电位(VDD)及接地电位的电源来操作。第一控制信号被上拉到大体VDD。第二控制信号在以下两者间切换:(1)大体接地电位,以将第一电容器连接到第二电容器,及(2)大体一又二分之一倍VDD电位,以使第一电容器从第二电容器断开。
在一实施例中,电容切换元件包括第一电容器、第二电容器及多个(n个)晶体管(n≥3)。所述晶体管串联耦合在第一电容器与第二电容器之间。所述电容切换元件还包括将所述晶体管的栅极连接到第一控制信号的第一多个电阻器,及将所述晶体管的漏极及源极连接到第二控制信号的第二多个电阻器。所述电容切换元件经配置以依靠递送供电电压电位(VDD)及接地电位的电源来操作。所述第一控制信号在大体VDD与大体((n-1)/2)倍VDD之间切换。所述第二控制信号在大体接地电位与大体(n/2)倍VDD电位之间切换。
在一实施例中,电容切换元件包括第一电容器、第二电容器及用于选择性地串联耦合第一电容器及第二电容器且降低晶体管电压应力的装置。
在一实施例中,一种切换电容的方法包括提供第一电容器及第二电容器。所述方法还包括提供串联耦合在第一电容器与第二电容器之间的第一晶体管及第二晶体管。所述方法额外包括对第一晶体管及第二晶体管的栅极以大体供电电压VDD加偏压,及对第一晶体管及第二晶体管的源极及漏极以大体接地电位加偏压,藉此将第一电容器连接到第二电容器。所述方法进一步包括对第一晶体管及第二晶体管的栅极以大体一半的VDD加偏压,及对第一晶体管及第二晶体管的源极及漏极以大体VDD加偏压,藉此将第一电容器从第二电容器断开。
在一实施例中,一种切换电容的方法包括提供第一电容器、第二电容器及多个(n个)(三个或三个以上)晶体管。所述晶体管串联耦合在第一电容器与第二电容器之间。所述方法还包括对每一晶体管的栅极以大体供电电压VDD加偏压,及对每一晶体管的源极及漏极以大体接地电位加偏压,藉此将第一电容器连接到第二电容器。所述方法额外包括对栅极以大体((n-1)/2)倍VDD加偏压,及对源极及漏极以大体(n/2)倍VDD加偏压,藉此将第一电容器从第二电容器断开。
将参考以下描述、图式及所附权利要求书更佳地理解本发明的这些及其它实施例及方面。
附图说明
图1说明可用于可调谐振荡器组的电容切换元件的选定组件;
图2说明可用于可调谐振荡器组中的双晶体管电容切换元件的选定组件;
图3说明用于产生用于切换例如图2中的元件等元件中的电容的控制信号的电路的选定组件;
图4说明可用于可调谐振荡器组中的三晶体管电容切换元件的选定组件;
图5说明具有电容切换元件的可调谐振荡器的选定组件;及
图6说明可使用具有电容切换元件的一个或一个以上振荡器的无线电收发器的选定组件。
具体实施方式
在此文献中,词“实施例”、“变体”及类似表述用于指代特定设备、工艺或制品,但未必指代同一设备、工艺或制品。因此,在一处或在上下文中使用的“一个实施例”(或类似表述)可指代特定设备、工艺或制品;在不同地方的相同或类似表述可指代不同设备、工艺或制品。表述“替代性实施例”及类似词组用于指示许多不同的可能实施例中的一者。可能实施例的数目不必限于两个或任何其它数量。
词“示范性”在本文中用以表示“充当实例、例子或说明”。本文中描述为“示范性”的任何实施例或变体不必理解为比其它实施例或变体优选或有利。此描述中描述的所有实施例及变体均为示范性实施例及变体,其经提供以使所属领域的技术人员能够制作并使用本发明,且未必限制给予本发明的合法保护范围。
描述中“VCO”与“DCO”名称可互换使用,其各自指代可调谐振荡器,尤其可经由振荡器的LC谐振电路中的切换电容器调谐的振荡器。
“薄氧化物”指代上面制造有特定薄氧化物晶体管的芯片(集成电路)的标准氧化物厚度。芯片上的大部分晶体管为薄氧化物晶体管。“厚氧化物”晶体管为具有相对于同一芯片上的大多数晶体管的氧化物厚度增加的氧化物厚度的晶体管。通常,增加氧化物厚度是为了增强厚氧化物晶体管的击穿电压,且因此改进厚氧化物晶体管的可靠性及耐久性。
图2说明可调谐振荡器中的电容器组的示范性元件200的选定部分。如图所示,元件200包括串联配置于电容器240与245之间的两个切换晶体管205及210,以降低寄生电容且同时减少电位可靠性及耐久性问题。电容器240及245可经设计以具有相同标称电容值。
晶体管205与210的切换由通过电阻器215、220、225、230及235的控制信号b0及
Figure BPA00001480488800051
控制。控制信号b0与
Figure BPA00001480488800052
彼此互补,使得当
Figure BPA00001480488800053
处于不作用低时,b0处于作用高,且反之亦然。与图1的元件100不同,此处控制信号b0与
Figure BPA00001480488800054
相对于彼此经电平移位。举例来说,当元件200接通时(晶体管205/210两者均传导),
Figure BPA00001480488800055
处于VDD电位,且b0处于零或接地电位;且当元件200断开时(晶体管205/210不传导),
Figure BPA00001480488800056
处于约VDD/2电位,且b0处于VDD电位。如果断开状态下
Figure BPA00001480488800057
低于VDD/2,那么栅极到源极电压可变得大于-VDD,此可引起达不到最佳的设计。另一方面,如果
Figure BPA00001480488800058
高于VDD/2,那么栅极到漏极电压可能变得高于接地电位,因为中间节点为虚拟接地,从而保持约处于VDD
在一些实施例中,对于可在此情况下实现的精度,选择断开状态下的
Figure BPA00001480488800059
电压为约VDD/2。举例来说,精度可由组件的容差定义及限制。在一些实施例中,断开状态下的
Figure BPA000014804888000510
电压在VDD/2的确切值的2%、5%、10%或20%内。在一些实施例中,接通状态下的
Figure BPA000014804888000511
电压在VDD的确切值的2%、5%、10%或20%内。在一些实施例中,断开状态下的b0电压在VDD的2%、5%、10%或20%内。在一些实施例中,接通状态下的b0电压在接地电位的100毫伏内。
当元件200(或100,在此方面)处于接通状态时,电压应力通常不是大问题,因为源极到漏极晶体管电压较低。在断开状态下,谐振电路的两个端子(V谐振+及V谐振-)之间的电容在两个晶体管205/210的栅极处不形成虚拟接地(如在元件100中在晶体管105的栅极处的情况),藉此允许晶体管205/210的栅极跟随相应210的漏极或205的源极上的电压。这有效地将晶体管205/210的任两个节点(源极、漏极、栅极)之间的最大电位差限于VDD的电平。注意,源极或漏极节点与晶体管主体之间的电位差可能超过VDD,例如将达到两倍VDD。但这在相对较低电压下可能并不是可靠性或耐久性问题,因为源极或漏极对主体接口本质上为二极管结。
归因于较低电压及偏压电阻器的值的可能增加,与图1的相当(相同频率、相同电容器大小)元件100相比,实际上元件200的质量因子(Q)可得到改进。
图3说明用于从单个控制位0信号产生用于元件200的信号b0及
Figure BPA00001480488800061
的示范性电路300的选定部分。电路300本质上为双反相器设计,其中第一反相器由晶体管305及310组成,且第二反相器由晶体管315及320组成。第一反相器在接地与VDD之间操作,而第二反相器在VDD/2与VDD之间操作,从而提供信号
Figure BPA00001480488800062
的电平移位。注意,图中使用“0”记号是示范性的,且发明性概念不仅可应用于控制“0”位,而且还可用于控制位中的任一者,或可调谐振荡器的控制位的任何组合(包括所有控制位)。
可在多个晶体管的控制电压的适当电平移位下串联堆叠两个以上晶体管,以进一步降低跨个别晶体管的电压应力,并扩大对较高谐振电路摆动电压的可靠性/耐久性益处。图4说明可调谐振荡器中的电容器组的示范性三晶体管元件400的选定部分,其可有利地在较高电压(例如,在-3VDD到+3VDD的电压摆动下)下操作。
如图所示,元件400包括串联配置(堆叠)的三个切换晶体管405、410及415,从而降低寄生电容,且同时减小因过量电压应力而导致的电位可靠性及耐久性问题。三个晶体管405/410/415的切换由控制信号b0及
Figure BPA00001480488800063
控制,所述控制信号b0及
Figure BPA00001480488800064
经由电阻器420、425、430、435、440、445及450施加。此处,控制信号
Figure BPA00001480488800065
可仅为对VDD的上拉,且控制信号b0可具有为接地电位的低电压电平,及为(3/2)VDD电位的高电压电平。举例来说,当元件400接通时(所有三个晶体管405/410/415均传导),
Figure BPA00001480488800066
可以VDD加偏压,且b0可以零或接地电位加偏压;且当元件400断开时(晶体管405/410/415/420均不传导),
Figure BPA00001480488800067
可继续以约VDD加偏压,且b0可以(3/2)VDD电位加偏压。
如在图2的实施例中,b0及
Figure BPA00001480488800071
的电压的精度可受到组件的容差限制。在一些实施例中,精度可为上文所示的确切值的2%、5%、10%或20%;且在接地电位的情况下,精度可为VDD的2%、5%、10%或20%或为100毫伏。
更一般来说,对于为nVDD(n≥3)的振荡器谐振电压摆动及元件中待断开的所有n个晶体管,对晶体管栅极以约((n-1)/2)VDD加偏压,且b0对晶体管的源极及漏极以约(n/2)VDD加偏压;对于待传导的所有n个晶体管,b0对栅极以约零或接地电位加偏压,且
Figure BPA00001480488800073
对源极及漏极以约VDD加偏压。
对于电压摆动不超过2VDD的设计,可使用元件200以保持电压应力为约VDD或更低。对于谐振电路中预期电压摆动为v≤nVDD(n为整数)的设计,可使用具有n个堆叠晶体管的结构以保持电压应力为约VDD或以下。
图5说明具有电容切换元件525-1、525-2、......、525-m的可调谐振荡器500的选定组件。电容切换元件525中的每一者可实施为上述元件200或元件400。元件525组成振荡器500的粗调块。电感器515、元件525的电容器及微调块510的电容器组成由负跨导(Gm)块505驱动的LC谐振电路。应注意,微调块还可包括与元件200及400类似的元件。
尽管元件525的电容器展示为电容器的二进制阵列(每一元件中的电容器对的电容值形成实质上二进制级数),但这不是必要条件。
图6说明无线电收发器600(其可为蜂窝式收发器)的选定组件。收发器600包括用于控制Rx振荡器625的接收(Rx)锁相回路(PLL)电路630(即,将振荡器625锁相到参考),及其它Rx电路615及620。Rx电路615/620经配置以从振荡器625接收(经由天线605及双工器610)射频(RF)信号及Rx本机振荡器频率,且从所接收到的RF信号产生经解码的数据。收发器600还包括用于控制Tx振荡器645的发射(Tx)PLL电路650,及其它发射电路635及640。Tx电路635/640经配置以接收用于发射的数据及Tx振荡器645的输出,且产生运载数据的RF信号。接着,来自电路635/640的RF信号经由双工器610及天线605发射。振荡器625及645中的每一者或两者可实施为振荡器500,其使用例如元件200及400等电容器切换元件。
可使用P信道及N信道场效晶体管(FET)两者。
在实施例中,图中展示的FET可由双极结型晶体管(BJT)或其它类似切换装置代替。举例来说,BJT的基极节点可由相同位置中的FET的栅极节点替代;BJT的发射极节点可由FET的源极节点替代;且BJT的集极节点可由FET的漏极节点替代。
此文献中所描述的设备及方法可用于各种电子装置中,包括(但不限于)在蜂窝式无线电网络内操作的接入终端,所述蜂窝式无线电网络在所述网络的多个接入终端之间或在接入终端与连接到接入网络外的额外网络的装置之间传输话音及/或数据包。如图6所示,所述设备及方法可用于接入终端的本机振荡器频率源中。
尽管在本发明中可能已连续地描述了各种方法的步骤及决策,但可通过独立元件联合或并行、异步或同步地以管线方式或其它方式来执行这些步骤及决策中的一些。不存在以此描述列出步骤及决策的相同次序来执行步骤及决策的特定要求,除非明确这样指示,或在上下文中清楚地表明,或固有地要求如此。然而,应注意,在选定变体中,按在附图中描述及/或展示的特定序列来执行步骤及决策。此外,并非在每一实施例或变体中均需要每一所说明的步骤及决策,同时在一些实施例/变体中可能需要一些未特定说明的步骤及决策。
所属领域的技术人员将理解,可使用多种不同技术及技法中的任一者来表示信息及信号。举例来说,可由电压、电流、电磁波、磁场或磁粒子、光场或光粒子,或其任何组合来表示可遍及以上描述所引用的数据、指令、命令、信息、信号、位、符号及码片。
所属领域的技术人员将进一步了解,可将结合本文中所揭示的实施例而描述的各种说明性逻辑块、模块、电路及算法步骤实施为电子硬件、计算机软件或两者的组合。为了清楚地展示硬件与软件的这种可互换性,在上文中大体上根据其功能性来描述各种说明性组件、块、模块、电路及步骤。将所述功能性实施为硬件、软件还是硬件与软件的组合取决于特定应用及强加于整个系统上的设计约束。所属领域的技术人员可针对每一特定应用以不同方式实施所描述的功能性,但不应将所述实施决策解释为导致偏离本发明的范围。
结合本文中所揭示的实施例而描述的各种说明性逻辑块、模块及电路可用经设计以执行本文中所描述的功能的通用处理器、数字信号处理器(DSP)、专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)或其它可编程逻辑装置、离散门或晶体管逻辑、离散硬件组件,或其任何组合来实施或执行。通用处理器可为微处理器,但在替代方案中,处理器可为任何常规的处理器、控制器、微控制器或状态机。处理器还可实施为计算装置的组合,例如,DSP与微处理器的组合、多个微处理器的组合、结合DSP核心的一个或一个以上微处理器,或任何其它此类配置。
结合本文中所揭示的实施例而描述的方法或算法的步骤可直接体现于硬件中、由处理器执行的软件模块中或两者的组合中。软件模块可驻留于RAM存储器、快闪存储器、ROM存储器、EPROM存储器、EEPROM存储器、寄存器、硬盘、可装卸磁盘、CD-ROM或此项技术中已知的任何其它形式的存储媒体中。示范性存储媒体耦合到处理器,使得处理器可从存储媒体读取信息及将信息写入到存储媒体。在替代方案中,存储媒体可与处理器成一体式。处理器及存储媒体可驻留于ASIC中。ASIC可驻留于接入终端中。或者,处理器与存储媒体可作为离散组件驻留于接入终端中。
提供所揭示的实施例的先前描述是为了使所属领域的技术人员能够制作及使用本发明。所属领域的技术人员将容易明白对这些实施例的多种修改,且在不偏离本发明的精神或范围的情况下,可将本文中界定的一般原理应用于其它实施例。因此,本发明无意限于本文中所展示的实施例,而是应被赋予与本文中所揭示的原理及新颖特征一致的最广范围。

Claims (26)

1.一种电容切换元件,其包含:
第一电容器;
第二电容器;
第一晶体管,其包含第一栅极、第一源极及第一漏极;
第二晶体管,其包含第二栅极、第二源极及第二漏极,其中所述第一晶体管与所述第二晶体管串联耦合在所述第一电容器与所述第二电容器之间;
第一电阻器,其将所述第一栅极连接到第一控制信号;
第二电阻器,其将所述第二栅极连接到所述第一控制信号;
第三电阻器,其将所述第二漏极连接到第二控制信号;
第四电阻器,其将所述第一源极连接到所述第二控制信号;及
第五电阻器,其将所述第二源极及所述第一漏极连接到所述第二控制信号;
其中所述第二控制信号为所述第一控制信号的经电平移位的互补信号。
2.根据权利要求1所述的电容切换元件,其中:
所述电容切换元件经配置以依靠经配置以递送供电电压电位(VDD)及接地电位的电源来操作;
所述第一控制信号在大体所述VDD与大体所述VDD的一半之间切换;
所述第二控制信号在大体所述接地电位与大体所述VDD之间切换。
3.根据权利要求2所述的电容切换元件,其中所述第一晶体管为薄氧化物晶体管,且所述第二晶体管为薄氧化物晶体管。
4.根据权利要求2所述的电容切换元件,其进一步包含经配置以接收位控制信号且响应于所述位控制信号而产生所述第一控制信号及所述第二控制信号的电平移位电路。
5.根据权利要求4所述的电容切换元件,其中所述电平移位电路包含串联耦合的第一反相器及第二反相器。
6.根据权利要求2所述的电容切换元件,其进一步包含用于接收位控制信号且基于所述位控制信号产生所述第一控制信号及所述第二控制信号的装置。
7.一种振荡器调谐块,其包含根据权利要求2所述的电容切换元件。
8.一种振荡器,其包含负跨导块、电感器及根据权利要求7所述的调谐块。
9.一种收发器,其包含接收器及发射器,其中所述接收器及所述发射器中的至少一者包含根据权利要求8所述的振荡器。
10.一种接入终端,其包含根据权利要求9所述的收发器。
11.一种电容切换元件,其包含:
第一电容器;
第二电容器;
第一晶体管,其包含第一栅极、第一源极及第一漏极;
第二晶体管,其包含第二栅极、第二源极及第二漏极;
第三晶体管,其包含第三栅极、第三源极及第三栅极,其中所述第一晶体管、所述第二晶体管及所述第三晶体管串联耦合在所述第一电容器与所述第二电容器之间;
第一电阻器,其将所述第一栅极连接到第一控制信号;
第二电阻器,其将所述第二栅极连接到所述第一控制信号;
第三电阻器,其将所述第三栅极连接到所述第一控制信号;
第四电阻器,其将所述第三漏极连接到第二控制信号;
第五电阻器,其将所述第三源极及所述第二漏极连接到所述第二控制信号;
第六电阻器,其将所述第二源极及所述第一漏极连接到所述第二控制信号;及
第七电阻器,其将所述第一源极连接到所述第二控制信号;
其中:
所述电容切换元件经配置以依靠经配置以递送供电电压电位(VDD)及接地电位的电源来操作;
所述第一控制信号被上拉到大体所述VDD;且
所述第二控制信号在以下两者间切换:(1)大体所述接地电位,以将所述第一电容器连接到所述第二电容器,及(2)大体一又二分之一倍所述VDD电位,以使所述第一电容器从所述第二电容器断开。
12.根据权利要求11所述的电容切换元件,其中所述第一晶体管为薄氧化物晶体管,所述第二晶体管为薄氧化物晶体管且所述第三晶体管为薄氧化物晶体管。
13.根据权利要求11所述的电容切换元件,其进一步包含经配置以接收位控制信号且响应于所述位控制信号而产生所述第二控制信号的电平移位电路。
14.一种振荡器调谐块,其包含根据权利要求11所述的切换元件。
15.一种振荡器,其包含负跨导块及谐振电路,其中所述谐振电路包含电感器及根据权利要求14所述的调谐块。
16.一种收发器,其包含接收器及发射器,其中所述接收器及所述发射器中的至少一者包含根据权利要求15所述的振荡器。
17.一种接入终端,其包含根据权利要求16所述的收发器。
18.一种电容切换元件,其包含:
第一电容器;
第二电容器;
多个n个晶体管,n至少为3,所述多个晶体管中的每一晶体管包含栅极、源极及漏极,其中所述晶体管串联耦合在所述第一电容器与所述第二电容器之间;
第一多个电阻器,其将所述晶体管的所述栅极连接到第一控制信号;
第二多个电阻器,其将所述晶体管的所述漏极及源极连接到第二控制信号;
其中:
所述电容切换元件经配置以依靠经配置以递送供电电压电位(VDD)及接地电位的电源来操作;
所述第一控制信号在大体所述VDD与大体((n-1)/2)倍所述VDD之间切换;且所述第二控制信号在大体所述接地电位与大体(n/2)倍所述VDD电位之间切换。
19.根据权利要求18所述的电容切换元件,其进一步包含经配置以接收位控制信号且响应于所述位控制信号而产生所述第一控制信号及所述第二控制信号的电平移位电路。
20.一种电容切换元件,其包含:
第一电容器;
第二电容器;及
用于选择性地串联耦合所述第一电容器与所述第二电容器且降低晶体管电压应力的装置。
21.一种切换电容的方法,所述方法包含:
提供第一电容器及第二电容器;
提供串联耦合在所述第一电容器与所述第二电容器之间的第一晶体管及第二晶体管;
对所述第一及第二晶体管的栅极以大体供应电压VDD加偏压,且对所述第一及第二晶体管的源极及漏极以大体接地电位加偏压,以将所述第一电容器连接到所述第二电容器;及
对所述第一及第二晶体管的所述栅极以大体所述VDD的一半加偏压,且对所述第一及第二晶体管的所述源极及漏极以大体所述VDD加偏压,以使所述第一电容器从所述第二电容器断开。
22.根据权利要求21所述的切换电容的方法,其进一步包含:
操作电平移位电路以从位控制信号产生用于对所述栅极加偏压的第一控制信号及用于对所述源极及漏极加偏压的第二控制信号。
23.根据权利要求22所述的切换电容的方法,其中所述第一及第二晶体管为薄氧化物晶体管。
24.一种切换电容的方法,所述方法包含:
提供第一电容器及第二电容器;
提供多个n个晶体管,n至少为3,其中所述多个晶体管中的所述晶体管串联耦合在所述第一电容器与所述第二电容器之间;
对所述多个晶体管中的每一晶体管的栅极以大体供应电压VDD加偏压,且对所述每一晶体管的源极及漏极以大体接地电位加偏压,以将所述第一电容器连接到所述第二电容器;及
对所述栅极以大体((n-1)/2)倍VDD加偏压,且对所述源极及漏极以大体(n/2)倍VDD加偏压,以使所述第一电容器从所述第二电容器断开。
25.根据权利要求24所述的切换电容的方法,其进一步包含:
操作电平移位电路以从位控制信号产生以下各项中的至少一者:(1)用于对所述栅极加偏压的第一控制信号,及(2)用于对所述源极及漏极加偏压的第二控制信号。
26.根据权利要求25所述的切换电容的方法,其中所述每一晶体管为薄氧化物晶体管。
CN201080025959.0A 2009-06-09 2010-06-09 电容器切换电路 Active CN102460955B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US12/480,966 US8044739B2 (en) 2009-06-09 2009-06-09 Capacitor switching circuit
US12/480,966 2009-06-09
PCT/US2010/038038 WO2010144621A1 (en) 2009-06-09 2010-06-09 Capacitor switching circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102460955A true CN102460955A (zh) 2012-05-16
CN102460955B CN102460955B (zh) 2015-05-20

Family

ID=42556965

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201080025959.0A Active CN102460955B (zh) 2009-06-09 2010-06-09 电容器切换电路

Country Status (5)

Country Link
US (1) US8044739B2 (zh)
EP (1) EP2441168B1 (zh)
JP (1) JP5639162B2 (zh)
CN (1) CN102460955B (zh)
WO (1) WO2010144621A1 (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103401531A (zh) * 2013-08-14 2013-11-20 锐迪科创微电子(北京)有限公司 多模射频天线开关
CN107113255A (zh) * 2014-10-28 2017-08-29 ams有限公司 收发器电路以及用于对通信系统进行调谐和用于在收发器之间的通信的方法
CN110113038A (zh) * 2018-01-30 2019-08-09 恩智浦有限公司 Rf开关
CN110336262B (zh) * 2019-07-10 2021-11-12 上海艾为电子技术股份有限公司 一种浪涌保护电路

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5417346B2 (ja) 2008-02-28 2014-02-12 ペレグリン セミコンダクター コーポレーション 集積回路素子内でキャパシタをデジタル処理で同調するときに用いられる方法及び装置
US10056895B2 (en) 2010-04-27 2018-08-21 Qorvo Us, Inc. High power FET switch
US9209784B2 (en) * 2010-04-27 2015-12-08 Rf Micro Devices, Inc. Switchable capacitive elements for programmable capacitor arrays
US8198918B1 (en) * 2010-12-28 2012-06-12 Texas Instruments Incorporated Capacitor cell supporting circuit operation at higher-voltages while employing capacitors designed for lower voltages
US9350321B2 (en) * 2011-08-18 2016-05-24 Analog Devices, Inc. Low distortion impedance selection and tunable impedance circuits
TWI482434B (zh) * 2012-04-17 2015-04-21 Realtek Semiconductor Corp 切換式電容電路以及控制切換式電容電路的方法
CN103378805B (zh) * 2012-04-25 2017-02-08 瑞昱半导体股份有限公司 切换式电容电路以及控制切换式电容电路的方法
US9019029B2 (en) * 2013-01-16 2015-04-28 Broadcom Corporation Systems and methods for impedance switching
TWI621337B (zh) * 2013-05-14 2018-04-11 半導體能源研究所股份有限公司 信號處理裝置
JP2016144128A (ja) * 2015-02-04 2016-08-08 セイコーエプソン株式会社 発振器、電子機器及び移動体
US10250130B2 (en) 2015-03-27 2019-04-02 President And Fellows Of Harvard College Capacitor reconfiguration of a single-input, multi-output, switched-capacitor converter
US9831830B2 (en) * 2015-08-21 2017-11-28 International Business Machines Corporation Bipolar junction transistor based switched capacitors
JP6691287B2 (ja) * 2015-11-18 2020-04-28 株式会社ソシオネクスト 電圧制御発振回路及びpll回路
US9729127B1 (en) * 2016-08-30 2017-08-08 International Business Machines Corporation Analog controlled signal attenuation
US9780761B1 (en) 2016-08-30 2017-10-03 International Business Machines Corporation Analog controlled signal attenuation
US9948281B2 (en) * 2016-09-02 2018-04-17 Peregrine Semiconductor Corporation Positive logic digitally tunable capacitor
US11196159B2 (en) * 2016-10-19 2021-12-07 Skyworks Solutions, Inc. Switch linearization by compensation of a field-effect transistor
US10505530B2 (en) 2018-03-28 2019-12-10 Psemi Corporation Positive logic switch with selectable DC blocking circuit
US10886911B2 (en) 2018-03-28 2021-01-05 Psemi Corporation Stacked FET switch bias ladders
US10236872B1 (en) 2018-03-28 2019-03-19 Psemi Corporation AC coupling modules for bias ladders
US10523195B1 (en) 2018-08-02 2019-12-31 Psemi Corporation Mixed style bias network for RF switch FET stacks
EP3716481A1 (en) * 2019-03-29 2020-09-30 INTEL Corporation Tuning cell for capacitively tuning digitally-controlled oscillator core
US11476849B2 (en) 2020-01-06 2022-10-18 Psemi Corporation High power positive logic switch
US11742799B2 (en) 2021-05-27 2023-08-29 Stmicroelectronics International N.V. Voltage controlled oscillator with high Q factor tuning banks

Citations (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1447300A (zh) * 2002-03-26 2003-10-08 富士通日立等离子显示器股份有限公司 电容负载驱动电路和等离子体显示装置
CN1450717A (zh) * 2002-04-10 2003-10-22 络达科技股份有限公司 具有低相位噪声的压控振荡器
US6734713B1 (en) * 2001-03-30 2004-05-11 Skyworks Solutions, Inc. System for improving the parasitic resistance and capacitance effect of a transistor-based switch
CN1497861A (zh) * 2002-10-03 2004-05-19 ���µ�����ҵ��ʽ���� 电压控制振荡器、无线电通信设备和电压控制振荡的方法
US6815996B1 (en) * 2003-06-03 2004-11-09 Mediatek Incorporation Switched capacitor circuit capable of minimizing clock feedthrough effect in a voltage controlled oscillator circuit
US20050073371A1 (en) * 2003-10-07 2005-04-07 Brett Stephen Jonathan Voltage controlled oscillator having improved phase noise
CN1639961A (zh) * 2002-03-04 2005-07-13 因芬尼昂技术股份公司 可调谐电容性组件及备有该组件之lc震荡器
US20060028283A1 (en) * 2004-08-04 2006-02-09 Via Technologies, Inc. Symmetrical linear voltage controlled oscillator
US7193484B2 (en) * 2004-04-14 2007-03-20 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Voltage controlled oscillator apparatus
CN1938938A (zh) * 2004-02-05 2007-03-28 高通股份有限公司 温度补偿的压控振荡器
US20080129398A1 (en) * 2006-11-30 2008-06-05 Bo Sun High resolution digitally controlled oscillator

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005042789B4 (de) * 2005-09-08 2008-04-03 Infineon Technologies Ag Schwingkreis und Oszillator mit Schwingkreis

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6734713B1 (en) * 2001-03-30 2004-05-11 Skyworks Solutions, Inc. System for improving the parasitic resistance and capacitance effect of a transistor-based switch
CN1639961A (zh) * 2002-03-04 2005-07-13 因芬尼昂技术股份公司 可调谐电容性组件及备有该组件之lc震荡器
CN1447300A (zh) * 2002-03-26 2003-10-08 富士通日立等离子显示器股份有限公司 电容负载驱动电路和等离子体显示装置
CN1450717A (zh) * 2002-04-10 2003-10-22 络达科技股份有限公司 具有低相位噪声的压控振荡器
CN1497861A (zh) * 2002-10-03 2004-05-19 ���µ�����ҵ��ʽ���� 电压控制振荡器、无线电通信设备和电压控制振荡的方法
CN1972117A (zh) * 2002-10-03 2007-05-30 松下电器产业株式会社 电压控制振荡器、无线电通信设备和电压控制振荡的方法
US6815996B1 (en) * 2003-06-03 2004-11-09 Mediatek Incorporation Switched capacitor circuit capable of minimizing clock feedthrough effect in a voltage controlled oscillator circuit
US20050073371A1 (en) * 2003-10-07 2005-04-07 Brett Stephen Jonathan Voltage controlled oscillator having improved phase noise
CN1938938A (zh) * 2004-02-05 2007-03-28 高通股份有限公司 温度补偿的压控振荡器
US7193484B2 (en) * 2004-04-14 2007-03-20 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Voltage controlled oscillator apparatus
US20060028283A1 (en) * 2004-08-04 2006-02-09 Via Technologies, Inc. Symmetrical linear voltage controlled oscillator
US20080129398A1 (en) * 2006-11-30 2008-06-05 Bo Sun High resolution digitally controlled oscillator

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103401531A (zh) * 2013-08-14 2013-11-20 锐迪科创微电子(北京)有限公司 多模射频天线开关
CN103401531B (zh) * 2013-08-14 2016-04-13 锐迪科创微电子(北京)有限公司 多模射频天线开关
CN107113255A (zh) * 2014-10-28 2017-08-29 ams有限公司 收发器电路以及用于对通信系统进行调谐和用于在收发器之间的通信的方法
CN107113255B (zh) * 2014-10-28 2020-11-03 ams有限公司 收发器电路以及用于对通信系统进行调谐和用于在收发器之间的通信的方法
CN110113038A (zh) * 2018-01-30 2019-08-09 恩智浦有限公司 Rf开关
CN110336262B (zh) * 2019-07-10 2021-11-12 上海艾为电子技术股份有限公司 一种浪涌保护电路

Also Published As

Publication number Publication date
EP2441168A1 (en) 2012-04-18
EP2441168B1 (en) 2018-07-18
JP5639162B2 (ja) 2014-12-10
WO2010144621A1 (en) 2010-12-16
US20100308932A1 (en) 2010-12-09
CN102460955B (zh) 2015-05-20
US8044739B2 (en) 2011-10-25
JP2012529872A (ja) 2012-11-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102460955B (zh) 电容器切换电路
JP6533251B2 (ja) 集積回路素子内でキャパシタをデジタル処理で同調するときに用いられる方法及び装置
US8803616B2 (en) Temperature compensation and coarse tune bank switches in a low phase noise VCO
KR101435550B1 (ko) 동적 바이어싱을 이용하는 rf 버퍼 회로
US10461695B2 (en) Planar differential inductor with fixed differential and common mode inductance
US9344100B2 (en) Reconfigurable local oscillator for optimal noise performance in a multi-standard transceiver
US20090184771A1 (en) Systems and Methods for Reducing Flicker Noise in an Oscillator
EP3158640B1 (en) A radio frequency oscillator
WO2013136766A1 (ja) 電圧制御発振器、信号発生装置、及び、電子機器
US20090108947A1 (en) Voltage Controlled Oscillator
US7271673B2 (en) Voltage controlled oscillator (VCO) tuning
US7091784B1 (en) Tunable circuit including a switchable inductor
US7227425B2 (en) Dual-band voltage controlled oscillator utilizing switched feedback technology
US9281826B2 (en) Circuit, voltage control oscillator, and oscillation frequency control system
US20040263272A1 (en) Enhanced single-supply low-voltage circuits and methods thereof
Rachedine et al. Performance review of integrated CMOS VCO circuits for wireless communications
US9503017B1 (en) Infrastructure-grade integrated voltage controlled oscillator (VCO) with linear tuning characteristics and low phase noise
Chiou et al. Design formula for band-switching capacitor array in wide tuning range low-phase-noise LC-VCO
EP4156506A1 (en) Oscillator circuit
Kim et al. A Design of the Frequency Synthesizer for UWB Application in 0.13 µm RF CMOS Process
Zhong et al. An 11/19-GHz VCO using Switchable transformer in 0.18-µm CMOS
Ito et al. A Tunable Wideband Frequency Synthesizer Using LC‐VCO and Mixer for Reconfigurable Radio Transceivers
US20040263260A1 (en) Device and method of wide-range tuning of oscillators
Pittorino et al. A first dual-mode RF fully digitally controlled oscillator in 0.13 μm CMOS
Wernehag et al. A 90 nm CMOS 10 GHz beam forming transmitter

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant