CN102446128A - I2c接口器件测试系统及测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种I2C接口器件测试系统及测试方法，该I2C接口器件测试系统用于测试一待测板上的I2C接口器件的数量及类型。该I2C接口器件测试系统包括终端设备终端设备、通用串行总线及控制单元，该终端设备终端设备用于输入测试命令，该通用串行总线电性连接于终端设备终端设备和控制单元之间，该控制单元通过I2C总线电性连接至待测板，该控制单元解析终端设备终端设备发出的输入测试命令以向待测板发送I2C通信协议数据，并将测试结果按照通用串行总线协议编码后反馈至终端设备终端设备。该I2C接口器件测试系统测试效率高。
Description
技术领域
本发明涉及一种测试装置，尤其涉及一种I2C接口器件测试系统及测试方法。
背景技术
电子设备的主板上大都设置多个电子元件，如集成电路(Integrated Circuit，IC)、温度传感器等。该类电子元件大都通过I2C(Inter-Integrated Circuit)总线连接，以进行串行传输通信。当需要测试IC等I2C接口器的数量及类型时，通常使用一I2C转接卡与主板电连接以进行测试。然而由于现有的I2C转接卡一次只能测试一个或一类的电子元件，其测试效率低，难以满足系统调试的需求。
发明内容
鉴于以上情况，有必要提供一种测试效率高的I2C接口器件测试系统。
另，还有必要提供一种I2C接口器件测试方法。
一种I2C接口器件测试系统，其用于测试一待测板上的I2C接口器件的数量及类型，该I2C接口器件测试系统包括终端设备终端设备、通用串行总线及控制单元，该终端设备终端设备用于输入测试命令，该通用串行总线电性连接于终端设备和控制单元之间，该控制单元通过I2C总线电性连接至待测板，该控制单元解析终端设备发出的输入测试命令以向待测板发送I2C通信协议数据，并将测试结果按照通用串行总线协议编码后反馈至终端设备。
一种I2C接口器件测试方法，用于测试一待测板上的I2C接口器件的数量及类型，该I2C接口器件测试方法包括如下步骤：输入测试命令；解析测试命令，并向待测板发送I2C通信协议数据；接收待测板的反馈信息；分析判定I2C接口器件的数量及类型。
上述的I2C接口器件测试系统通过控制单元解析终端设备输入的测试命令，并通过I2C总线发送I2C通信协议数据以测试待测板，最后将测试的结果反馈至终端设备，进而同时获取待测板上不同类型的I2C接口器件的信息，有效地提高了测试效率。
附图说明
图1为本发明较佳实施方式的I2C接口器件测试系统的功能模块图；
图2为图1所示的I2C接口器件测试系统的电路图；
图3为本发明较佳实施方式的I2C接口器件测试方法的流程图。
主要元件符号说明
| I2C接口器件测试系统 | 100 |
| 终端设备 | 10 |
| 驱动电源 | 20 |
| 通用串行总线 | 30 |
| 电源端 | VCC |
| 接地端 | GND |
| 第一数据端 | DP |
| 第二数据端 | DN |
| 保护单元 | 40 |
| 保险丝 | FS |
| 第一电容 | C1 |
| 控制单元 | 50 |
| 控制芯片 | 52 |
| 第二电容 | C2 |
| 第三电容 | C3 |
| 第一电阻 | R1 |
| 第二电阻 | R2 |
| 第一电源引脚 | VDD-1 |
| 第二电源引脚 | VDD-2 |
| 第一数据引脚 | D+ |
| 第二数据引脚 | D- |
| 第一输入输出引脚 | P1-0 |
| 第二输入输出引脚 | P1-1 |
| 插座 | 60 |
| 端口 | 1-4 |
| 待测板 | 200 |
具体实施方式
请参阅图1，本发明提供一种I2C接口器件测试系统100，其通过与一待测板200进行双向通信，以检测该待测板200上的IC、电可擦可编程只读存储器(Electrically Erasable ProgrammableRead-Only Memory，EEPROM)、温度传感器、压力传感器等I2C接口器件，进而获得该待测板200上的I2C接口器件的数量及类型。
该I2C接口器件测试系统100包括终端设备10、驱动电源20、通用串行总线(Universal Serial Bus，USB)30、保护单元40、控制单元50及插座60。
该终端设备10可为电脑或控制机台，其用以输入相关的测试命令，并显示测试结果。在本实施例中，该测试命令包括读I2C接口器件地址(首地址)的命令、读I2C接口器件数量的命令及读I2C接口器件I/O口数据的命令等。
该驱动电源20用以为USB30、控制单元50及插座60提供工作电压，在本实施例中，该驱动电源20的电压为5V。
请结合参阅图2，该USB30通过USB接口插接于终端设备10上，以电性连接于终端设备10和控制单元50之间。该USB30包括电源端VCC、接地端GND、第一数据端DP及第二数据端DN。该电源端VCC电性连接于驱动电源20，该接地端GND接地，该第一数据端DP和第二数据端DN电性连接于控制单元50，以将终端设备10输入的测试命令传送至控制单元50，同时将控制单元50测试后处理的结果反馈至终端设备10。
该保护单元40包括保险丝FS及第一电容C1，该保险丝FS电性连接于驱动电源20与USB30的电源端VCC之间，以在电路发生短路或过压时保护USB30免受损坏。该第一电容C1为一滤波电容，其一端电性连接于电源端VCC和保险丝FS之间，另一端接地。
该控制单元50包括控制芯片52、第二电容C2、第三电容C3、第一电阻R1及第二电阻R2。在本实施例中，该控制芯片52为一单片机，其用于接收USB传送的测试命令，并解析该命令，进而对应地发送一组I2C通信协议数据至待测板200以访问待测板200上的各I2C接口器件。由于每一I2C接口器件对应一个物理地址，故该控制芯片52依据读取到的I2C接口器件的地址和数据信息分析判断I2C接口器件的数量及类型，并将分析判断的结果按照USB协议进行编码，最终通过USB30反馈至终端设备10。该控制芯片52包括第一电源引脚VDD-1、第二电源引脚VDD-2、第一数据引脚D+、第二数据引脚D-、第一输入输出引脚P1-0及第二输入输出引脚P1-1。该第一电源引脚VDD-1及第二电源引脚VDD-2均与驱动电源20电性连接。该第二电容C2一端与第一电源引脚VDD-1电性连接，另一端接地，该第一电阻R1电性连接于第一电源引脚VDD-1与第二输入输出引脚P1-1之间，以与第二电容C2共同起稳压滤波的作用。该第三电容C3一端与第二电源引脚VDD-2电性连接，另一端接地，该第二电阻R2电性连接于第二电源引脚VDD-2与第一输入输出引脚P1-0之间，以与第三电容C3共同起稳压滤波的作用。该第一数据引脚D+和第二数据引脚D-分别电性连接于USB30的第一数据端DP和第二数据端DN。该第一输入输出引脚P1-0及第二输入输出引脚P1-1分别通过I2C总线的串行数据信号线(Serial DataLine，SDA)和串行时钟信号线(Serial Clock Line，SCL)电性连接于插座60，以通过插座60传送I2C通信协议数据进而获取I2C接口器件的地址和数据信息。
该插座60用于插接于待测板200上，以使I2C接口器件测试系统100与待测板200建立电性连接。该插座60包括端口1-4，其中端口1与驱动电源20电性连接，端口2接地，端口3、4分别通过SCL和SDA电性连接至控制芯片52的第二输入输出引脚P1-1和第一输入输出引脚P1-0。
下面结合图3说明应用本发明的I2C接口器件测试系统100的测试方法。该I2C接口器件测试方法包括如下步骤：
步骤S1：通过终端设备10输入测试命令；
步骤S2：通过USB30将测试命令传送至控制单元50；
步骤S3：控制单元50解析测试命令，并向待测板200发送I2C通信协议数据，以访问待测板200；
步骤S4：待测板200向控制单元50反馈一组代表I2C接口器件的地址信息、数据信息(如温度传感器的温度数据)的数字信号；
步骤S5：控制单元50依据接收到的反馈信息分析判断I2C接口器件的数量及类型，并将分析判断的结果按照USB协议进行编码以通过USB30传送至终端设备10；
步骤S6：终端设备10显示待测板200上I2C接口器件的数量及类型。
本发明藉由控制单元50解析终端设备10输入的测试命令，并通过I2C总线发送测试数据至待测板200，以同时获取待测板200上不同类型的I2C接口器件的信息，测试效率较高。
Claims (10)
1.一种I2C接口器件测试系统，其用于测试一待测板上的I2C接口器件的数量及类型，其特征在于：该I2C接口器件测试系统包括终端设备、通用串行总线及控制单元，该终端设备用于输入测试命令，该通用串行总线电性连接于终端设备和控制单元之间，该控制单元通过I2C总线电性连接至待测板，该控制单元解析终端设备发出的输入测试命令以向待测板发送I2C通信协议数据，并将测试结果按照通用串行总线协议编码后反馈至终端设备。
2.如权利要求1所述的I2C接口器件测试系统，其特征在于：所述控制单元包括控制芯片，所述控制芯片为一单片机。
3.如权利要求2所述的I2C接口器件测试系统，其特征在于：所述控制芯片包括第一电源引脚、第二电源引脚、第一输入输出引脚及第二输入输出引脚，所述控制单元包括第二电容、第三电容、第一电阻及第二电阻，该第二电容一端与第一电源引脚电性连接，另一端接地，该第一电阻电性连接于第一电源引脚与第二输入输出引脚之间，该第三电容一端与第二电源引脚电性连接，另一端接地，该第二电阻电性连接于第二电源引脚与第一输入输出引脚之间。
4.如权利要求3所述的I2C接口器件测试系统，其特征在于：所述I2C接口器件测试系统包括插座，所述插座插接于待测板上，并通过串行数据信号线和串行时钟信号线分别电性连接于控制芯片的第一输入输出引脚和第二输入输出引脚。
5.如权利要求1所述的I2C接口器件测试系统，其特征在于：所述通用串行总线包括第一数据端及第二数据端，所述控制单元包括第一数据引脚和第二数据引脚，所述第一数据引脚和第二数据引脚分别电性连接于第一数据端和第二数据端。
6.如权利要求1所述的I2C接口器件测试系统，其特征在于：所述通用串行总线包括电源端，所述I2C接口器件测试系统包括驱动电源和保护单元，所述保护单元包括保险丝和第一电容，该保险丝电性连接于驱动电源与电源端之间，该第一电容一端电性连接于电源端和保险丝之间，另一端接地。
7.一种I2C接口器件测试方法，用于测试一待测板上的I2C接口器件的数量及类型，其特征在于：该I2C接口器件测试方法包括如下步骤：
输入测试命令；
解析测试命令，并向待测板发送I2C通信协议数据；
接收待测板的反馈信息；
分析判定I2C接口器件的数量及类型。
8.如权利要求7所述的I2C接口器件测试方法，其特征在于：所述输入测试命令的步骤后还包括传送测试命令的步骤。
9.如权利要求7所述的I2C接口器件测试方法，其特征在于：所述分析判定I2C接口器件的数量及类型的步骤后还包括将分析判断的结果按照USB协议进行编码的步骤。
10.如权利要求9所述的I2C接口器件测试方法，其特征在于：所述将分析判断的结果按照USB协议进行编码的步骤后还包括显示待测板上I2C接口器件的数量及类型的步骤。
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| CN2010105083074A CN102446128A (zh) | 2010-10-14 | 2010-10-14 | I2c接口器件测试系统及测试方法 |
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| CN115484227A (zh) * | 2022-08-31 | 2022-12-16 | 湖南锐思华创科技有限公司 | 一种hud自动适配方法、系统、装置及车辆 |
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| C02 | Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001) | ||
| WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
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