CN102402311B - 光学式检测系统、电子设备以及程序 - Google Patents

光学式检测系统、电子设备以及程序 Download PDF

Info

Publication number
CN102402311B
CN102402311B CN201110260386.6A CN201110260386A CN102402311B CN 102402311 B CN102402311 B CN 102402311B CN 201110260386 A CN201110260386 A CN 201110260386A CN 102402311 B CN102402311 B CN 102402311B
Authority
CN
China
Prior art keywords
mentioned
light
coordinate
calibration
coordinate information
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN201110260386.6A
Other languages
English (en)
Other versions
CN102402311A (zh
Inventor
清濑摄内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Publication of CN102402311A publication Critical patent/CN102402311A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102402311B publication Critical patent/CN102402311B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/042—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by opto-electronic means
    • G06F3/0428—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by opto-electronic means by sensing at the edges of the touch surface the interruption of optical paths, e.g. an illumination plane, parallel to the touch surface which may be virtual
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/0304—Detection arrangements using opto-electronic means
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0416—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers
    • G06F3/0418—Control or interface arrangements specially adapted for digitisers for error correction or compensation, e.g. based on parallax, calibration or alignment
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2203/00—Indexing scheme relating to G06F3/00 - G06F3/048
    • G06F2203/041—Indexing scheme relating to G06F3/041 - G06F3/045
    • G06F2203/04101—2.5D-digitiser, i.e. digitiser detecting the X/Y position of the input means, finger or stylus, also when it does not touch, but is proximate to the digitiser's interaction surface and also measures the distance of the input means within a short range in the Z direction, possibly with a separate measurement setup

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Position Input By Displaying (AREA)
  • User Interface Of Digital Computer (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

本发明涉及光学式检测系统、电子设备以及程序。光学式检测系统具备：根据照射光被对象物反射而得到的反射光的受光结果来检测对象物的坐标信息的坐标信息检测部；和进行对坐标信息的检测的校准处理的校准部。在对象物被检测的区域、即检测区域被设定在沿着X-Y平面的对象面的情况下，坐标信息检测部至少检测Z方向上的坐标信息、即Z坐标信息。校准部进行对Z坐标信息的校准处理。

Description

光学式检测系统、电子设备以及程序
技术领域
本发明涉及光学式检测系统、电子设备以及程序。
背景技术
在手机、个人计算机、车载导航装置、售票机、银行终端等电子设备中，近年正在使用在显示部的正面配置有触摸屏的、具有位置检测功能的显示装置。根据该显示装置，用户能够一边参照显示部上显示的图像，一边对显示图像的图标等进行指示，或者输入信息。作为基于这种触摸屏的位置检测方式，例如已知有电阻膜方式和静电电容方式等。
但是，对于这种触摸屏，由于需要用手指接触画面，所以存在画面可能会变脏、或者可能会损伤画面之类的问题。并且，还存在无法进行在使手指接近画面的状态下给予指示的悬停操作等问题。
另一方面，在投影式显示装置(投影仪)或用于数字标牌的显示装置中，与手机或个人计算机的显示装置相比，由于其显示区域较大，所以难以利用上述的电阻膜方式或静电电容方式的触摸屏来实现位置检测。作为用于投影式显示装置的位置检测装置的现有技术，例如已知有专利文献1、2所公开的技术，但是存在系统变得大型化，而且难以检测出显示面(屏幕)和对象物之间的距离等问题，并难以通过悬停操作来给予指示。
[专利文献1]日本特开平11-345085号公报
[专利文献2]日本特开2001-142643号公报
发明内容
根据本发明的几种方式，能够提供一种光学式检测系统、电子设备以及程序等，可以检测出对象物的坐标信息，并进行校准处理来给予与坐标信息相对应的指令或数据的输入等操作指示。
本发明的一种方式涉及的光学式检测系统具备：坐标信息检测部，其根据照射光被对象物反射而得到的反射光的受光结果，检测上述对象物的坐标信息；和校准部，其进行针对上述坐标信息的检测的校准处理，在上述对象物被检测的区域、即检测区域被设定在沿着X-Y平面的对象面的情况下，上述坐标信息检测部至少检测Z方向上的上述坐标信息、即Z坐标信息，上述校准部进行针对上述Z坐标信息的上述校准处理。
根据本发明的一种方式，能够根据来自对象物的反射光的受光结果来检测对象物的至少Z坐标信息。由此，能够对对象物的Z坐标信息和指令或数据的输入等操作指示建立对应。并且，由于能够进行针对Z坐标信息的校准处理，所以能够根据使用状况等校正被建立对应的Z坐标的范围。
另外，在本发明的一种方式中，也可以是，上述校准部在进行校准时，根据上述对象物位于校准用Z坐标范围内的情况下的上述受光结果，进行上述Z坐标信息的上述校准处理。
由此，通过对位于校准用Z坐标位置处的对象物进行检测，能够进行校准处理。
另外，在本发明的一种方式中，也可以是，当在上述对象物存在于规定的Z坐标范围中的期间内进行规定的操作指示时，上述校准部进行针对与上述规定的操作指示相对应的上述规定的Z坐标范围的上述校准处理。
由此，能够检测对象物的Z坐标信息并对该Z坐标信息和操作指示信息建立对应。其结果，能够通过对象物的Z坐标位置给予操作指示。
另外，在本发明的一种方式中，也可以是，上述校准部进行与悬停操作中的Z坐标的阈值有关的上述校准处理。
由此，能够通过校准处理，合理地设定悬停操作中的Z坐标的阈值，因此用户能够设定适于本身的自身操作的Z坐标的阈值。
另外，在本发明的一种方式中，也可以是，在当上述对象物的Z坐标位置在Z1(Z1为实数)以下时被判断为是确定操作，当上述对象物的上述Z坐标位置大于上述Z1且在Z2(Z2为大于Z1的实数)以下时被判断为是上述悬停操作的情况下，上述校准部进行与上述Z坐标位置Z1和上述Z坐标位置Z2有关的上述校准处理。
由此，能够通过对象物的Z坐标位置，给予例如悬停操作或确定操作等操作指示。并且，由于能够针对用于判断是悬停操作还是确定操作的Z坐标的阈值进行校准处理，因此用户能够进行设定适于本身的自身操作的Z坐标的阈值等。
另外，在本发明的一种方式中，也可以是，具备停止指示部，该停止指示部在上述校准时，进行使上述对象物停止在上述校准用Z坐标位置处的指示，在上述停止指示部进行了停止指示后，上述校准部进行上述校准处理。
由此，能够在使对象物停止在校准用Z坐标位置后进行校准处理。
另外，在本发明的一种方式中，也可以是，上述停止指示部进行第1停止指示和第2停止指示，其中，该第1停止指示用于与上述Z坐标位置Z1有关的上述校准处理，该第2停止指示用于与上述Z坐标位置Z2有关的上述校准处理，在上述第1停止指示后，上述校准部进行与上述Z坐标位置Z1有关的上述校准处理，并在上述第2停止指示后，进行与上述Z坐标位置Z2有关的上述校准处理。
由此，能够在使对象物停止在与Z1对应的Z坐标位置后进行与Z1有关的校准处理，能够在使对象物停止在与Z2对应的Z坐标位置后进行与Z2有关的校准处理。
另外，在本发明的一种方式中，也可以是，具备用于安装于信息处理装置的安装部，上述校准部由上述信息处理装置供电来进行上述校准处理。
由此，由于能够安装于信息处理装置来进行校准处理，所以能够通过对象物的Z坐标位置，对信息处理装置给予例如悬停操作或确定操作等操作指示。其结果，通过安装于例如不具备触摸屏等输入装置的信息处理装置，能够进行利用指尖或笔等给予操作指示的处理等。
另外，在本发明的一种方式中，也可以是，上述检测区域沿着上述信息处理装置的显示部而设定。
由此，能够根据对象物和显示部之间的距离来给予例如悬停操作或确定操作等操作指示。
另外，在本发明的一种方式中，也可以是，具备显示指示部，该显示指示部进行在上述显示部上显示校准用画面的指示。
由此，能够按照显示部上显示的校准用画面来进行校准处理。
另外，在本发明的一种方式中，也可以是，具备：照射部，其向上述检测区域射出上述照射光；和受光部，其接收上述反射光。
由此，能够由受光部接收从照射部射出的照射光被对象物反射而得到的反射光，并根据受光结果来检测对象物的坐标信息。
另外，在本发明的一种方式中，也可以是，上述受光部具备多个受光单元，上述多个受光单元被配置于在Z方向上高度不同的位置，上述坐标信息检测部根据上述多个受光单元各自的受光结果，检测上述Z坐标信息。
由此，由于受光单元能够接收来自分别存在于不同的Z坐标位置处的对象物的反射光，因此能够检测对象物的Z坐标信息。
本发明的其他方式涉及包含上述任意一项所述的光学式检测系统的电子设备。
本发明的其他方式涉及程序，该程序使计算机作为如下单元而发挥作用：坐标信息检测部，其根据照射光被对象物反射而得到的反射光的受光结果，检测上述对象物的坐标信息；校准部，其进行针对上述坐标信息的检测的校准处理；和停止指示部，其在校准时进行使上述对象物停止在校准用Z坐标位置处的指示，在上述对象物被检测的区域、即检测区域被设定在沿着X-Y平面的对象面的情况下，上述坐标信息检测部至少检测Z方向上的上述坐标信息、即Z坐标信息，在上述停止指示部进行了停止指示后，上述校准部进行针对上述Z坐标信息的上述校准处理。
附图说明
图1(A)和图1(B)是光学式检测系统的基本的构成例。
图2是受光部的具体的构成例。
图3是受光部的变形例。
图4(A)和图4(B)是受光单元的构成例。
图5是照射部的详细的构成例。
图6(A)和图6(B)是说明坐标信息检测的方法的图。
图7(A)和图7(B)是发光控制信号的信号波形例。
图8是照射部的变形例。
图9(A)和图9(B)是具备安装部的光学式检测系统的构成例。
图10是校准处理的流程图的一例。
图11(A)和图11(B)是第1、第2停止指示的一例。
图中附图标记说明：
EU...照射部；RU...受光部；LT...照射光；LR...反射光；PD1～PD3...受光单元；PHD...受光元件；ED1～ED2...照射单元；RDET、RDET1～RDET3...检测区域；MTU...安装部；SLT...狭缝；LG、LG1、LG2...导光件；LS1、LS2...光源部；RS...反射片；PS...棱镜片；LF...百叶窗膜；LE...照射方向设定部；LID1...第1照射光强度分布；LID2...第2照射光强度分布；10...图像投影装置；20...显示部；100...光学式检测装置；110...坐标信息检测部；120...校准部；130...显示指示部；140...停止指示部；200...信息处理装置
具体实施方式
下面，对本发明的最佳实施方式进行详细说明。另外，下面说明的本实施方式并不对权利要求书所记载的本发明的内容进行不合理的限定，本实施方式中说明的构成的全部并不是必须作为本发明的解决手段。
1.光学式检测系统
在图1(A)中表示了本实施方式的光学式检测系统的基本的构成例。本实施方式的光学式检测系统包含光学式检测装置100和信息处理装置200。光学式检测装置100包含坐标信息检测部110、校准部120、显示指示部130、停止指示部140、照射部EU和受光部RU。图1(B)是说明基于本实施方式的光学式检测系统的Z坐标信息的检测的图。另外，本实施方式的光学式检测系统并不限于图1(A)和图1(B)的构成，也可以实施各种变形，例如省略其构成要素的一部分，或者置换成其他构成要素，或者追加其他构成要素等。另外，本实施方式的光学式检测系统可以仅通过光学式检测装置100来实现，也可以通过光学式检测装置100和信息处理装置200双方来实现。例如还可以通过信息处理装置200来实现校准部120、显示指示部130、停止指示部140等各构成要素的一部分的功能。
坐标信息检测部110根据照射光LT被对象物OB反射而得到的反射光LR的受光结果，检测对象物OB的坐标信息。具体来讲，例如如图1(B)所示，在对象物OB被检测的区域、即检测区域RDET被设定在沿着X-Y平面的对象面上的情况下，坐标信息检测部110至少检测Z方向上的坐标信息、即Z坐标信息。坐标信息检测部110还可以进一步检测检测区域RDET中存在的对象物OB的X坐标信息以及Y坐标信息。另外，关于坐标信息检测部110进行的坐标信息检测的方法，会在后面进行说明。
这里，X-Y平面指的是例如沿着由显示部20规定的对象面(显示面)的平面。对象面指的是成为检测区域RDET的设定对象的面，例如是信息处理装置的显示器的显示面，或者是投影式显示装置的投影面，或者是数字标牌中的显示器面等。
检测区域RDET指的是对象物OB被检测的区域(范围)，具体来讲，例如是能够由受光部RU接收到照射光LT被对象物OB反射而得到的反射光LR来检测对象物OB的区域。更具体来讲，是能够由受光部RU接收反射光LR来检测对象物OB、且能够确保其检测精度在可允许的范围内的区域。
校准部120进行针对坐标信息的检测的校准处理。具体来讲，进行对Z坐标信息的校准处理。更具体来讲，校准部120在进行校准时，根据对象物OB位于校准用Z坐标范围(例如由图1(B)的Z1和Z2规定的范围)内的情况下的受光结果，进行Z坐标信息的校准处理。
并且，当在对象物OB存在于规定的Z坐标范围内的期间内，进行规定的操作指示时，校准部120进行针对与规定的操作指示相对应的规定的Z坐标范围的校准处理。具体来讲，例如进行与悬停操作中的Z坐标的阈值相关的校准处理。更具体来讲，如图1(B)所示，在对象物OB的Z坐标位置在Z1以下的情况下判断为是确定操作、且在对象物OB的Z坐标位置大于Z1且在Z2(Z1＜Z2)以下的情况下判断为是悬停操作时，进行与Z1和Z2有关的校准处理。
另外，校准处理也可以不由校准部120进行，而是由信息处理装置200来进行校准处理。
这里，操作指示信息指的是例如与用于操作图1(A)的信息处理装置200(个人计算机PC等)的指示有关的信息，其相当于基于鼠标的光标移动和按钮的点击等。具体来讲，例如在对象物OB(指尖、笔等)的Z坐标位置大于Z1且在Z2以下的情况下，基于该指尖等的操作指示被识别为悬停操作。通过该悬停操作，例如能够使显示部20(显示器)上显示的光标等移动(图1(A)的A1)。另外，例如在对象物OB的Z坐标位置在Z1以下的情况下，基于该指尖等的操作指示被识别为确定操作。通过该确定操作，例如能够指定画面上的按钮来执行规定的指令，或者进行手写文字的输入和画面的滚动等(图1(A)的A2)。
这里，校准处理指的是对从坐标信息检测部110输出的坐标信息进行校正的处理，具体来讲，是用于校正判断基于对象物OB(指尖等)的操作是悬停操作还是确定操作用的Z坐标的阈值(例如Z1、Z2)的处理。
显示指示部130进行将校准用画面显示在显示部20上的指示。
停止指示部140在校准时指示使对象物OB停止在校准用Z坐标位置(例如图1(B)的Z1、Z2)。在停止指示部140进行了停止指示后，校准部120进行校准处理。更具体来讲，停止指示部140进行用于与Z1有关的校准处理的第1停止指示和用于与Z2有关的校准处理的第2停止指示。并且，校准部120在第1停止指示后进行与Z1有关的校准处理，在第2停止指示后进行与Z2有关的校准处理。关于第1、第2停止指示以及校准处理的流程，会在后面进行详细说明。
照射部EU对检测区域RDET射出照射光LT。如后面说明的那样，照射部EU包含由LED(发光二极管)等发光元件构成的光源部，通过光源部发光来射出例如红外光(与可见光区域接近的近红外线)。
受光部RU接收照射光LT被对象物OB反射而得到的反射光LR。受光部RU可以包含多个受光单元PD。受光单元PD例如能够使用光电二极管或光电晶体管等。
信息处理装置200例如是个人计算机(PC)，根据显示指示部130的指示，在显示部(显示器等)20上显示校准用画面。另外，根据坐标信息检测部110的检测结果，在显示部20上显示光标等。并且，在根据Z坐标信息进行操作指示的情况下，能够根据对象物OB的Z坐标位置，进行针对信息处理装置200的悬停操作以及确定操作。另外，信息处理装置200也可以进行校准处理。
根据本实施方式的光学式检测系统，能够检测对象物OB的Z坐标信息，并对该Z坐标信息和操作指示信息建立对应。通过这样的处理，用户通过移动指尖等，能够对信息处理装置200给予进行悬停操作或确定操作等的指示。并且，由于能够进行用于校正判断是悬停操作还是确定操作用的Z坐标的阈值(例如Z1、Z2)的校准处理，所以用户能够设定Z坐标的阈值以便自身易操作。另外，由于能够如触摸屏那样不使指尖等接触画面就给予操作指示，所以能够防止画面变脏或损伤画面的情况等。
图2表示了本实施方式的受光部RU的具体的构成例。在图2的构成例中，受光部RU包含3个受光单元PD1～PD3，受光单元PD1～PD3被配置于在Z方向上高度不同的位置。3个受光单元PD1～PD3设置有用于限制入射光入射的角度(Y-Z平面上的角度)的狭缝等(入射光限制部)，分别接收来自存在于检测区域RDET1～RDET3的对象物OB的反射光LR。例如，受光单元PD1接收来自存在于检测区域RDET1的对象物OB的反射光LR，而不接收来自存在于其他检测区域RDET2、RDET3的对象物OB的反射光LR。坐标信息检测部110根据多个受光单元PD1～PD3各自的受光结果来检测Z坐标信息。另外，照射部EU向3个检测区域RDET1～RDET3射出照射光LT。另外，各检测区域RDET1～RDET3是被设定在沿着X-Y平面的对象面的区域。
通过这样的处理，能够检测出对象物OB存在于3个检测区域RDET1～RDET3中的哪个检测区域中，因此能够检测出对象物OB的Z坐标信息。并且，如上述那样，能够进行用于对Z坐标信息和操作指示信息建立对应的校准处理。
另外，图2的构成例是由3个受光单元构成，但是也可以构成为包含4个以上的受光单元。另外，如后述那样，照射部EU射出照射光LT，各受光单元PD1～PD3接收来自对象物OB的反射光LR，由此能够检测出对象物OB的X坐标信息和Y坐标信息。
图3表示了本实施方式的受光部RU的变形例。在图3的变形例中，照射部EU包含3个照射单元ED1～ED3。照射单元ED1～ED3分别向对应的检测区域RDET1～RDET3射出照射光LT。例如，在对象物OB存在于检测区域RDET1的情况下，来自照射单元ED1的照射光被对象物OB反射，该反射光被受光单元PD1接收。
通过这样的处理，能够检测出对象物OB存在于3个检测区域RDET1～RDET3中的哪个检测区域中，因此能够检测出对象物OB的Z坐标信息，并进行校准处理。另外，通过对1个检测区域设置1个照射单元，能够提高Z坐标信息的检测精度，因此能够进行高精度的校准处理。
在图4(A)、图4(B)中，表示了具有狭缝SLT(入射光限制部)的受光单元PD1～PD3的构成例。如图4(A)所示，在受光元件PHD的正面设置狭缝SLT来限制入射的入射光。狭缝SLT沿着X-Y平面而被设置，能够限制入射光入射的Z方向的角度。即，受光单元PD1～PD3能够以由狭缝SLT的狭缝宽度规定的规定角度来接收入射的入射光。
图4(B)是从具有狭缝SLT的受光单元的上面观察的俯视图。例如在铝等的框体(壳)内设置线路板PWB，在该线路板PWB上安装受光元件PHD。
图5表示了本实施方式的照射部EU的详细的构成例。图5的构成例的照射部EU包含光源部LS1、LS2、导光件LG和照射方向设定部LE。另外还包含反射片RS。并且，照射方向设定部LE包含光学片PS和百叶窗膜LF。另外，本实施方式的照射部EU并不限于图5的构成，也可以进行各种变形实施，例如省略其构成要素的一部分，或者置换成其他构成要素，或者追加其他构成要素等。
光源部LS1、LS2用于射出光源光，具有LED(发光二极管)等发光元件。该光源部LS1、LS2例如放出红外光(与可见光区域接近的近红外线)的光源光。即，光源部LS1、LS2发出的光源光优选是，被用户的指尖或手写笔等对象物有效反射的波段的光、或基本不被成为干扰光的环境光包含的波段的光。具体来讲，是在人体表面的反射率较高的波段的光、即850nm附近的波长的红外光、或基本不被环境光包含的波段的光、即950nm附近的红外光等。
光源部LS1如图5的F1所示那样，被设置在导光件LG的一端侧。另外，第2光源部LS2如F2所示那样被设置在导光件LG的另一端侧。并且，光源部LS1向导光件LG的一端侧(F1)的光入射面射出光源光，由此射出照射光LT1，并在对象物的检测区域形成(设定)第1照射光强度分布LID1。另一方面，光源部LS2向导光件LG的另一端侧(F2)的光入射面射出第2光源光，由此射出第2照射光LT2，并在检测区域形成强度分布与第1照射光强度分布LID1不同的第2照射光强度分布LID2。这样，照射部EU能够根据检测区域RDET中的位置来射出强度分布不同的照射光。
导光件LG(导光部件)用于对光源部LS1、LS2发出的光源光进行导光。例如，导光件LG沿着曲线状的导光路径对来自光源部LS1、LS2的光源光进行导光，其形状呈曲线形状。具体来讲，在图5中导光件LG呈圆弧形状。另外，在图5中，导光件LG呈其中心角为180度的圆弧形状，但是也可以呈中心角小于180度的圆弧形状。导光件LG例如由丙烯树脂或聚碳酸酯等透明的树脂部件等形成。
对导光件LG的外周侧以及内周侧的至少一侧，实施用于调整来自导光件LG的光源光的出光效率的加工。作为加工方法，例如可以采用印刷反光点的丝印方式、通过压模或注塑来制造凹凸的模制方式、或开槽方式等各种方法。
通过棱镜片PS和百叶窗膜LF实现的照射方向设定部LE被设置在导光件LG的外周侧，接收被从导光件LG的外周侧(外周面)射出的光源光。并且在从曲线形状(圆弧形状)的导光件LG的内周侧朝着外周侧的方向上射出照射方向被设定的照射光LT1、LT2。即，将从导光件LG的外周侧射出的光源光的方向设定(限制)在沿着导光件LG的例如法线方向(半径方向)的照射方向上。由此，在从导光件LG的内周侧朝着外周侧的方向上，照射光LT1、LT2呈放射状射出。
这样的照射光LT1、LT2的照射方向的设定，是通过照射方向设定部LE的棱镜片PS和百叶窗膜LF等来实现的。例如，棱镜片PS将从导光件LG的外周侧以低视角射出的光源光的方向设定为在法线方向侧上升，出光特性的波峰为法线方向。另外，百叶窗膜LF对除法线方向以外的方向的光(低视角光)进行遮光(遮断)。
由此，根据本实施方式的照射部EU，在导光件LG的两端设置光源部LS1、LS2，通过使这些光源部LS1、LS2交替亮灯，能够形成2个照射光强度分布。即，能够交替形成导光件LG的一端侧的强度变高的照射光强度分布LID1和、导光件LG的另一端侧的强度变高的照射光强度分布LID2。
通过形成这样的照射光强度分布LID1、LID2，并接收基于这些强度分布的照射光的对象物的反射光，而能够进行将环境光等干扰光的影响控制在最小范围内的、精度更高的对象物的检测。即，能够抵消干扰光所包含的红外光成分，能够将该红外光成分对对象物的检测造成的不良影响控制在最小范围内。
2.坐标信息检测的方法
图6(A)、图6(B)是说明基于本实施方式的光学式系统的坐标信息检测的方法的图。
图6(A)的E1是表示在图5的照射光强度分布LID1下，照射光LT1的照射方向的角度和该角度处的照射光LT1的强度之间的关系的图。在图6(A)的E1中，在照射方向是图6(B)的DD1的方向(左方向)的情况下强度变得最高。另一方面，在是DD3的方向(右方向)的情况下强度变得最低，在DD2的方向上成为其中间的强度。具体来讲，针对从方向DD1向方向DD3的角度变化，照射光的强度单调递减，例如呈线性(直线)变化。另外，在图6(B)中，导光件LG的圆弧形状的中心位置成为照射部EU的配置位置PE。
另外，图6(A)的E2是表示在图5的照射光强度分布LID2下，照射光LT2的照射方向的角度和该角度处的照射光LT2的强度之间的关系的图。在图6(A)的E2中，在照射方向是图6(B)的DD3的方向的情况下强度变得最高。另一方面，在是DD1的方向的情况下强度变得最低，在DD2的方向上成为其中间的强度。具体来讲，针对从方向DD3向方向DD1的角度变化，照射光的强度单调递减，例如呈线性变化。另外，在图6(A)中，照射方向的角度和强度的关系呈线性关系，但是本实施方式并不被其限定，例如也可以是双曲线的关系等。
并且，如图6(B)所示，在角度θ的方向DDB上存在对象物OB。由此，在光源部LS1发光从而形成照射光强度分布LID1的情况下(E1的情况)，如图6(A)所示，DDB(角度θ)的方向上存在的对象物OB的位置处的强度成为INTa。另一方面，在光源部LS2发光从而形成照射光强度分布LID2的情况下(E2的情况)，DDB的方向上存在的对象物OB的位置处的强度成为INTb。
因此，通过求出这些强度INTa、INTb的关系，能够确定对象物OB所位于的方向DDB(角度θ)。并且，例如如果通过后述的图7(A)、图7(B)的方法来求出对象物OB与光学式检测装置的配置位置PE之间的距离，则能够根据求出的距离和方向DDB来确定对象物OB的位置。或者，如后述的图8所示那样，设置2个照射单元EU1、EU2作为照射部EU，如果求出对象物OB相对于EU1、EU2的各照射单元的方向DDB1(θ1)、DDB2(θ2)，则根据这些方向DDB1、DDB2和照射单元EU1、EU2之间的距离DS，而能够确定对象物OB的位置。
为了求出这样的强度INTa、INTb的关系，在本实施方式中，受光部RU接收在形成了照射光强度分布LID1时的对象物OB的反射光(第1反射光)。在将此时的反射光的检测受光量设为Ga的情况下，该Ga对应于强度INTa。另外，受光部RU接收在形成了照射光强度分布LID2时的对象物OB的反射光(第2反射光)。在将此时的反射光的检测受光量设为Gb的情况下，该Gb对应于强度INTb。因此，如果求出检测受光量Ga和Gb的关系，则强度INTa、INTb的关系被求出，从而能够求出对象物OB所位于的方向DDB。
例如将光源部LS1的控制量(例如电流量)、变换系数、放出光量分别设为Ia、k、Ea。另外，将光源部LS2的控制量(电流量)、变换系数、放出光量分别设为Ib、k、Eb。由此，下式(1)、(2)成立。
Ea＝k·Ia(1)
Eb＝k·Ib(2)
另外，将来自光源部LS1的光源光(第1光源光)的衰减系数设为fa，将与该光源光相对应的反射光(第1反射光)的检测受光量设为Ga。另外，将来自光源部LS2的光源光(第2光源光)的衰减系数设为fb，将与该光源光相对应的反射光(第2反射光)的检测受光量设为Gb。由此，下式(3)、(4)成立。
Ga＝fa·Ea＝fa·k·Ia(3)
Gb＝fb·Eb＝fb·k·Ib(4)
因此，检测受光量Ga、Gb之比如下式(5)所示。
Ga/Gb＝(fa/fb)·(Ia/Ib)(5)
这里，Ga/Gb能够根据受光部RU中的受光结果来确定，Ia/Ib能够根据照射部EU的控制量来确定。并且，图6(A)的强度INTa、INTb和衰减系数fa、fb具有唯一关系。例如在衰减系数fa、fb为较小的值而衰减量较大的情况下，表明强度INTa、INTb较小。另一方面，在衰减系数fa、fb为较大的值而衰减量较小的情况下，表明强度INTa、INTb较大。因此，根据由上式(5)求出衰减率之比fa/fb，而能够求出对象物的方向、位置等。
更具体来讲，将一方的控制量Ia固定为Im，并对另一方的控制量Ib进行控制，以使得检测受光量之比Ga/Gb为1。例如进行使光源部LS1、LS2反相交替亮灯的控制，分析检测受光量的波形，并对另一方的控制量Ib进行控制，以使得检测波形变得无法被观测到(以使得Ga/Gb＝1)。并且，根据此时的另一方的控制量Ib＝Im·(fa/fb)来求出衰减系数之比fa/fb，并求出对象物的方向、位置等。
另外，也可以如下式(6)、(7)所示那样，控制成Ga/Gb＝1、并且控制量Ia和Ib之和不变。
Ga/Gb＝1(6)
Im＝Ia+Ib(7)
若将上式(6)、(7)代入上式(5)，则下式(8)成立。
Ga/Gb＝1＝(fa/fb)·(Ia/Ib)
＝(fa/fb)·{(Im-Ib)/Ib}(8)
根据上式(8)，Ib如下式(9)所示。
Ib＝{fa/(fa+fb)}·Im(9)
这里，若设定α＝fa/(fa+fb)，则上式(9)被表示成下式(10)，衰减系数之比fa/fb利用α被表示成下式(11)那样。
Ib＝α·Im(10)
fa/fb＝α/(1-α)(11)
因此，如果控制成Ga/Gb＝1、并且Ia和Ib之和为固定值Im，则根据此时的Ib、Im通过下式(10)求出α，通过将求出的α代入上式(11)，而能够求出衰减系数之比fa/fb。由此，能够求出对象物的方向、位置等。并且，通过控制成Ga/Gb＝1、并且Ia和Ib之和不变，能够抵消干扰光的影响等，从而实现了检测精度的提高。
接着，对利用本实施方式的光学式检测系统来检测对象物的坐标信息的方法的一个例子进行说明。图7(A)是针对光源部LS1、LS2的发光控制的信号波形例。信号SLS1是光源部LS1的发光控制信号，信号SLS2是光源部LS2的发光控制信号，这些信号SLS1、SLS2是反相的信号。另外，信号SRC是受光信号。
例如，光源部LS1在信号SLS1为高电平的情况下亮灯(发光)，在为低电平的情况下灭灯。另外，光源部LS2在信号SLS2为高电平的情况下亮灯(发光)，在为低电平的情况下灭灯。因此在图7(A)的第1期间T1内，光源部LS1和光源部LS2交替亮灯。即，在光源部LS1亮灯的期间，光源部LS2灭灯。由此，如图5所示那样的照射光强度分布LID1被形成。另一方面，在光源部LS2亮灯的期间，光源部LS1灭灯。由此，如图5所示那样的照射光强度分布LID2被形成。
由此，坐标信息检测部110在第1期间T1内进行使光源部LS1和光源部LS2交替发光(亮灯)的控制。并且，在该第1期间T1内检测从光学式检测装置(照射部)观察到的对象物所位于的方向。具体来讲，例如如上述的式(6)、(7)那样，在第1期间T1内进行如下的发光控制，即使得Ga/Gb＝1、且控制量Ia和Ib之和不变。并且，如图6(B)所示那样，求出对象物OB所位于的方向DDB。例如根据上式(10)、(11)求出衰减系数之比fa/fb，通过图6(A)、图6(B)中说明的方法来求出对象物OB所位于的方向DDB。
并且，在接着第1期间T1的第2期间T2内，根据受光部RU中的受光结果，检测出到对象物OB为止的距离(在沿着方向DDB的方向上的距离)。然后，根据检测出的距离和对象物OB的方向DDB来检测对象物的位置。即在图6(B)中，如果求出从光学式检测装置的配置位置PE到对象物OB的距离、和对象物OB所位于的方向DDB，则能够确定对象物OB的X、Y坐标位置。由此，根据光源的亮灯时机和受光时机的时间偏差求出距离，通过将其与角度结果联合而能够确定对象物OB的位置。
具体来讲，在图7(A)中，检测出从基于发光控制信号SLS1、SLS2的光源部LS1、LS2的发光时机开始、到受光信号SRC被激活的时机(接收到反射光的时机)为止的时间Δt。即，检测出到来自光源部LS1、LS2的光被对象物OB反射而被受光部RU接收为止的时间Δt。通过检测出该时间Δt，由于光速已知，因此能够检测出到对象物OB为止的距离。即，测量光的到达时间的偏差量(时间)，根据光速求出距离。
另外，由于光速非常快，所以也存在以下这样问题，即难以仅通过电信号求出单纯的差值来检测出时间Δt。为了解决这种问题，理想的是如图7(B)所示那样，进行发光控制信号的调制。这里，图7(B)是示意性的信号波形例，该例子通过控制信号SLS1、SLS2的振幅示意性地表示了光的强度(电流量)。
具体来讲，在图7(B)中，例如通过已知的连续波调制的TOF(TimeOfFlight：飞行时间)方式来检测距离。在该连续波调制TOF方式中，利用以固定周期的连续波进行了强度调制的连续光。并且，通过照射强度调制后的光、且以短于调制周期的时间间隔来多次接收反射光，而解调反射光的波形，求出照射光和反射光的相位差，由此检测出距离。另外，在图7(B)中，也可以仅对与控制信号SLS1、SLS2的任意一方相对应的光进行强度调制。另外，也可以不是图7(B)那样的时钟波形，而是利用连续的三角波或Sin波进行了调制的波形。另外，在利用脉冲光作为进行了连续调制的光的脉冲调制的TOF方式中，也可以检测出距离。关于距离检测方法的具体内容，例如公开在日本特开2009-8537号公报等中。
图8表示了本实施方式的照射部EU的变形例。在图8中，作为照射部EU设置有第1、第2照射单元EU1、EU2。这些第1、第2照射单元EU1、EU2在沿着对象物OB的检测区域RDET的面的方向上，相距规定的距离DS地配置。即，沿着图1(A)、图1(B)的X轴方向相距距离DS地配置。
第1照射单元EU1以放射状射出强度根据照射方向而不同的第1照射光。第2照射单元EU2以放射状射出强度根据照射方向而不同的第2照射光。受光部RU接收第1反射光和第2反射光，该第1反射光是通过来自第1照射单元EU1的第1照射光被对象物OB反射而得到的，该第2反射光是通过来自第2照射单元EU2的第2照射光被对象物OB反射而得到的。并且，坐标信息检测部110根据受光部RU中的受光结果来检测对象物OB的位置POB。
具体来讲，坐标信息检测部110根据第1反射光的受光结果，将对象物OB相对于第1照射单元EU1的方向检测为第1方向DDB1(角度θ1)。另外，根据第2反射光的受光结果，将对象物OB相对于第2照射单元EU2的方向检测为第2方向DDB2(角度θ2)。并且，根据检测出的第1方向DDB1(θ1)以及第2方向DDB2(θ2)、和第1、第2照射单元EU1、EU2之间的距离DS来求出对象物OB的位置POB。
根据图8的变形例，如图7(A)、图7(B)那样即使不求出光学式检测装置和对象物OB之间的距离，也能够检测对象物OB的位置POB。
3.包含安装部的光学式检测系统
图9(A)、图9(B)表示了能够安装于信息处理装置200的本实施方式的光学式检测系统的构成例。图9(A)所示的光学式检测系统包含安装部MTU，该光学式检测系统通过该安装部MTU被安装于个人计算机(广义上是信息处理装置)200的显示器(广义上是显示部)20上。并且，光学式检测装置100和个人计算机200经由USB电缆USBC被电连接。
从个人计算机200经由该USB电缆USBC向光学式检测装置100供电。另外，经由USB电缆USBC，显示指示部130进行将校准用画面显示在显示部20上的指示。另外，能够经由USB电缆USBC，向信息处理装置200发送光学式检测装置100中存储的用于校准处理的程序。另外，能够经由USB电缆USBC，向信息处理装置200发送由光学式检测装置100检测出的Z坐标信息。
图9(B)所示的光学式检测系统包含安装部MTU，该光学式检测系统通过该安装部MTU被安装在屏幕(广义上是显示部)20上。在屏幕20上，通过与信息处理装置200连接的图像投影装置10，图像被显示。并且，经由USB电缆USBC，光学式检测装置100和信息处理装置200被电连接。由此，即使对于更大的显示区域，也能够利用共同的光学式检测装置来进行校准处理。
图10是图9(A)、图9(B)的构成例中的校准处理的流程图的一个例子。图10所示的流程是信息处理装置200(PC)进行校准处理的情况，但是也可以由设置于光学式检测装置100的校准部120(图1(A))来进行校准处理。
首先，将光学式检测装置100通过安装部MTU安装在显示部20上，并通过USB电缆连接信息处理装置200(PC)和光学式检测装置100。并且，经由USB，从PC200向光学式检测装置100供电(步骤S1)。
接着，经由USB，从光学式检测装置100向PC200发送校准用程序(步骤S2)。然后，在PC200中，校准用程序被安装(步骤S3)。另外，校准用程序被存储在CD-ROM等光盘、硬盘、EEPROM等非易失性存储装置之类的存储介质中。
若在PC200中执行校准用程序，则校准开始选择画面被显示在显示器(或屏幕)20上(步骤S4)。然后，在用户选择了开始校准处理的情况下(步骤S5：是)，根据来自停止指示部140的指示，在显示器(或屏幕)20上显示第1停止指示(步骤S6)。另外，在用户没有选择开始校准处理的情况下(步骤S5：否)，继续维持等待选择的状态。
步骤S6的第1停止指示是，为了进行与Z1有关的校准处理，而用户指示对象物(指尖、笔等)停止在所期望的Z坐标位置处的指示。具体来讲，例如如图11(A)所示，在显示器20上显示“请将手指停止在Z1的位置”等指示。
接着，光学式检测装置100检测出用户用指尖等指示的位置，PC200根据检测出的Z坐标信息，执行与Z1有关的校准处理(步骤S7)。例如如图11(A)所示，检测出指尖的Z坐标信息，并进行与Z1有关的校准处理。
接着，根据来自停止指示部140的指示，在显示器(或屏幕)20上显示第2停止指示(步骤S8)。第2停止指示是，为了进行与Z2有关的校准处理，而指示用户将对象物(指尖、笔等)停止在所期望的Z坐标位置处的指示。具体来讲，例如如图11(B)所示那样，在显示器20上显示“请将手指停止在Z2的位置”等的指示。
接着，光学式检测装置100检测出用户用指尖等进行了指示的位置，PC200根据检测出的Z坐标信息，执行与Z2有关的校准处理(步骤S9)。例如如图11(B)所示那样，检测出指尖的Z坐标信息，并进行与Z2有关的校准处理。
然后，在校准处理已完成的情况下(步骤S10：是)、结束处理，但没有完成的情况下(步骤S10：否)，返回步骤S6，再次执行校准处理。
如上所述，根据本实施方式的光学式检测系统，能够检测出对象物的Z坐标信息并对该Z坐标信息和操作指示信息建立对应。由此，用户通过移动指尖等，能够对信息处理装置给予悬停操作或确定操作等指示。并且，由于能够进行用于校正判断是悬停操作还是确定操作用的Z坐标的阈值(例如Z1、Z2)的校准处理，所以用户能够设定Z坐标的阈值以便自身易操作。
另外，由于能够安装于信息处理装置等的显示部(显示器、屏幕等)来进行使用，所以通过将本实施方式的光学式检测系统安装在不具有触摸屏功能的显示部上，而能够用指尖或笔等来给予操作指示。并且，由于如触摸屏那样，即使不使指尖等接触画面也能够给予操作指示，所以能够避免画面变脏或损伤画面的情况等。
并且，在显示区域较大的情况下(屏幕等)、或在显示区域较窄的情况下(笔记本PC的显示器等)，都能够通过校准处理来设定Z坐标的阈值，所以通过1个光学式检测系统就能够进行对应。
另外，虽然如上述那样对本实施方式进行了详细说明，但是本领域技术人员应该能够容易理解，可以进行很多在实质上不脱离本发明的新事项和效果的变形。因此，这样的变形例全部被包含在本发明的范围内。例如，对于在说明书或附图中，至少有一次被和更广义或者意义相同的不同用语一起记载的用语，在说明书或附图的任何地方都能够被置换成该不同的用语。另外，光学式检测系统、电子设备以及程序的构成、动作并不被本实施方式中说明的内容所限定，可以进行各种变形实施。

Claims (11)

1.一种光学式检测系统，其特征在于，
该光学式检测系统具备：
照射部，其向检测区域射出照射光，上述检测区域是对象物被检测的区域，被设定在沿着X-Y平面的对象面，上述X-Y平面是沿着由显示图像的显示部规定的显示面的平面；
受光部，其接收上述照射光被上述对象物反射而得到的反射光；
坐标信息检测部，其根据上述受光部的上述反射光的受光结果，检测上述对象物的坐标信息；和
校准部，其进行针对上述坐标信息的检测的校准处理，
上述照射部射出与上述检测区域中的沿上述X-Y平面的位置对应的强度分布不同的照射光，
上述受光部具备多个受光单元，上述多个受光单元被配置于在Z方向上高度不同的位置，
上述坐标信息检测部根据在上述照射部射出强度分布不同的上述照射光的情况下产生的各个所述反射光的受光量，检测出上述对象物的XY方向的上述坐标信息亦即XY坐标信息，并根据上述多个受光单元各自的受光结果，检测出上述对象物的Z方向上的上述坐标信息、即Z坐标信息，
上述校准部进行针对上述Z坐标信息的上述校准处理。
2.根据权利要求1所述的光学式检测系统，其特征在于，
上述校准部在进行校准时，根据上述对象物位于校准用Z坐标范围内的情况下的上述受光结果，进行上述Z坐标信息的上述校准处理。
3.根据权利要求2所述的光学式检测系统，其特征在于，
当在上述对象物存在于规定的Z坐标范围中的期间内进行规定的操作指示时，上述校准部进行针对与上述规定的操作指示相对应的上述规定的Z坐标范围的上述校准处理。
4.根据权利要求3所述的光学式检测系统，其特征在于，
上述校准部进行与悬停操作中的Z坐标的阈值有关的上述校准处理。
5.根据权利要求4所述的光学式检测系统，其特征在于，
在当上述对象物的Z坐标位置在Z1以下时被判断为是确定操作、当上述对象物的上述Z坐标位置大于上述Z1且在Z2以下时被判断为是上述悬停操作的情况下，上述校准部进行与上述Z坐标位置Z1和上述Z坐标位置Z2有关的上述校准处理，其中，Z1为实数，Z2为大于Z1的实数。
6.根据权利要求5所述的光学式检测系统，其特征在于，
具备停止指示部，该停止指示部在上述校准时，进行使上述对象物停止在上述校准用Z坐标位置处的指示，
在上述停止指示部进行了停止指示后，上述校准部进行上述校准处理。
7.根据权利要求6所述的光学式检测系统，其特征在于，
上述停止指示部进行第1停止指示和第2停止指示，其中，该第1停止指示用于与上述Z坐标位置Z1有关的上述校准处理，该第2停止指示用于与上述Z坐标位置Z2有关的上述校准处理，
在上述第1停止指示后，上述校准部进行与上述Z坐标位置Z1有关的上述校准处理，并在上述第2停止指示后，进行与上述Z坐标位置Z2有关的上述校准处理。
8.根据权利要求1～7中的任意一项所述的光学式检测系统，其特征在于，
具备用于安装于信息处理装置的安装部，
上述校准部由上述信息处理装置供电来进行上述校准处理。
9.根据权利要求8所述的光学式检测系统，其特征在于，
上述检测区域沿着上述信息处理装置的显示部而设定。
10.根据权利要求9所述的光学式检测系统，其特征在于，
具备显示指示部，该显示指示部进行在上述显示部上显示校准用画面的指示。
11.一种电子设备，其特征在于，包含权利要求1～10中的任意一项所述的光学式检测系统。
CN201110260386.6A 2010-09-13 2011-08-31 光学式检测系统、电子设备以及程序 Expired - Fee Related CN102402311B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010204018A JP5703644B2 (ja) 2010-09-13 2010-09-13 光学式検出システム、電子機器
JP2010-204018 2010-09-13

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102402311A CN102402311A (zh) 2012-04-04
CN102402311B true CN102402311B (zh) 2016-06-08

Family

ID=45807535

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201110260386.6A Expired - Fee Related CN102402311B (zh) 2010-09-13 2011-08-31 光学式检测系统、电子设备以及程序

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20120065914A1 (zh)
JP (1) JP5703644B2 (zh)
CN (1) CN102402311B (zh)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5494423B2 (ja) * 2010-11-02 2014-05-14 ソニー株式会社 表示装置、位置補正方法およびプログラム
JP5668416B2 (ja) 2010-11-05 2015-02-12 セイコーエプソン株式会社 光学式検出装置、電子機器及び光学式検出方法
JP2012173029A (ja) * 2011-02-18 2012-09-10 Seiko Epson Corp 光学式位置検出装置および入力機能付き表示システム
WO2014024366A1 (ja) * 2012-08-09 2014-02-13 パナソニック株式会社 携帯電子機器
KR102091710B1 (ko) * 2012-08-28 2020-04-14 삼성전자주식회사 좌표 측정 장치 및 그 제어 방법
CN103984465A (zh) * 2013-02-07 2014-08-13 华为终端有限公司 用户界面上日历内容的显示方法与移动终端
US9658717B2 (en) 2013-05-14 2017-05-23 Otter Products, Llc Virtual writing surface
US9229583B2 (en) 2013-05-29 2016-01-05 Otter Products, Llc Object location determination including writing pressure information of a stylus
US9170685B2 (en) * 2013-06-20 2015-10-27 Otter Products, Llc Object location determination
US9335866B2 (en) 2013-11-20 2016-05-10 Otter Products, Llc Retractable touchscreen adapter
JP6349838B2 (ja) * 2014-01-21 2018-07-04 セイコーエプソン株式会社 位置検出装置、位置検出システム、及び、位置検出装置の制御方法
KR20170101769A (ko) * 2014-12-26 2017-09-06 가부시키가이샤 니콘 검출 장치 및 프로그램
KR101809678B1 (ko) * 2016-04-28 2017-12-15 주식회사 알엔디플러스 터치스크린 장치 및 그 제어방법 그리고 디스플레이 장치
CN107609968A (zh) * 2017-09-15 2018-01-19 吴祥荣 一种基于excel增值税数据分析的方法及装置
CN108205395B (zh) * 2018-01-16 2021-03-23 安徽慧视金瞳科技有限公司 一种标定点中心坐标精准定位方法
DE112019000857T5 (de) * 2018-02-19 2020-11-26 Murakami Corporation Referenzpositionseinstellverfahren und Vorrichtung zur Anzeige eines virtuellen Bilds
CN113592975B (zh) * 2021-06-30 2022-02-11 浙江城建规划设计院有限公司 一种基于遥感的鸟瞰图快速成图系统

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101727247A (zh) * 2008-10-23 2010-06-09 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 具有红外触摸功能的电子装置及其控制方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000105671A (ja) * 1998-05-11 2000-04-11 Ricoh Co Ltd 座標入力／検出装置および電子黒板システム
JP2006235859A (ja) * 2005-02-23 2006-09-07 Yamaha Corp 座標入力装置
JP5098994B2 (ja) * 2008-12-19 2012-12-12 富士通モバイルコミュニケーションズ株式会社 入力装置
JP5806799B2 (ja) * 2009-01-26 2015-11-10 任天堂株式会社 情報処理装置、情報処理プログラム、情報処理システムおよび情報処理方法
JP2010204994A (ja) * 2009-03-04 2010-09-16 Epson Imaging Devices Corp 光学式位置検出装置、位置検出機能付き表示装置、および電子機器

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101727247A (zh) * 2008-10-23 2010-06-09 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 具有红外触摸功能的电子装置及其控制方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2012059171A (ja) 2012-03-22
JP5703644B2 (ja) 2015-04-22
US20120065914A1 (en) 2012-03-15
CN102402311A (zh) 2012-04-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102402311B (zh) 光学式检测系统、电子设备以及程序
US10324566B2 (en) Enhanced interaction touch system
CN103003778B (zh) 交互式输入系统和用于其的笔工具
CN102150117B (zh) 确定触摸表面上的一个或多个对象的位置
KR101399142B1 (ko) 내부전반사를 이용한 광학 터치 스크린
JP5366789B2 (ja) 入力指示具及びその制御方法、並びに座標入力装置
US20100201637A1 (en) Touch screen display system
CN102270066B (zh) 光学式检测装置、显示装置及电子设备
CN101208738A (zh) 自动投影校准
JP2011521331A (ja) 光学ベゼル付き対話型入力装置
JP2012150636A (ja) 投写型表示装置及び情報処理システム
CN102016772A (zh) 交互输入系统和用于交互输入系统的照明组件
CN102467300B (zh) 光学式检测装置、电子设备及光学式检测方法
US9041688B2 (en) Optical detection system and program
CN102750016A (zh) 输入系统以及笔式输入设备
CN101763198B (zh) 一种基于SoC的背投影式多点触摸的定位方法
CN201421600Y (zh) 光学触控模块
US20130009914A1 (en) Coordinate input device, and program
CN105278761A (zh) 感测2d触摸和3d触摸的电子装置及其控制方法
JP5672018B2 (ja) 位置検出システム、表示システム及び情報処理システム
JP2012149987A (ja) 位置検出システム、表示システム及び情報処理システム
JP5655450B2 (ja) 光学式検出装置及び情報処理システム
JP2005128693A (ja) 座標入力装置及びその制御方法、プログラム
JP2016024712A (ja) 電子ペン判定装置、座標入力装置、電子ペン判定方法、座標入力方法、及びプログラム
JP6476626B2 (ja) 指示体判定装置、座標入力装置、指示体判定方法、座標入力方法、及びプログラム

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20160608

Termination date: 20210831

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee