CN102375769B - 测试完整性控制系统及方法 - Google Patents
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Abstract
一种测试完整性控制系统，运行于具有主板管理控制器的数据处理设备中，所述主板管理控制器包括FRU存储区，该系统包括：构建模块，用于构建电子设备的测试控制数据并写入所述FRU存储区中，所述测试控制数据包括测试位与标志位；测试模块，用于根据测试控制数据逐一选择电子设备的测试项进行测试，若选择的测试项测试成功，则将测试控制数据中该选择的测试项对应的测试位取反；比较模块，用于在所有的测试项测试完毕后将测试后发生改变的测试控制数据与初始构建的测试控制数据相比较；及输出模块，用于根据比较结果输出电子设备测试的测试结果。本发明还提供一种测试完整性控制方法。本发明能够加强测试流程的完整性。
Description
技术领域
本发明涉及一种控制测试流程的系统及方法，特别是关于一种测试完整性控制系统及方法。
背景技术
电子设备(例如主板)的测试经常包含众多的测试项(例如内存测试、CPU测试、南桥测试、北桥测试等)。在测试电子设备时，测试员容易改变测试流程而少测一些测试项，因而存在测试结果不可靠的风险。例如，在DOS系统下测试电子设备时，由于DOS系统对文件保护较弱，测试员很容易修改控制测试流程的批处理文件来少测一些测试项。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种测试完整性控制系统，能够加强测试流程的完整性。
此外，还有必要提供一种测试完整性控制方法，能够加强测试流程的完整性。
一种测试完整性控制系统，运行于具有主板管理控制器的数据处理设备中，用于对电子设备的测试流程进行控制，所述主板管理控制器包括FRU存储区，该系统包括：构建模块，用于构建电子设备的测试控制数据并将构建的测试控制数据写入所述FRU存储区中，所述测试控制数据包括测试位与标志位，每个测试位对应于电子设备的一个测试项；测试模块，用于从FRU存储区读取测试控制数据并根据测试控制数据逐一选择电子设备的测试项进行测试，对于每一个选择的测试项，判断该选择的测试项是否测试成功，若该选择的测试项测试成功，则将测试控制数据中该选择的测试项对应的测试位取反；比较模块，用于在所有的测试项测试完毕后将测试后发生改变的测试控制数据与初始构建的测试控制数据相比较，判断测试后发生改变的测试控制数据中每个标志位是否与初始构建的测试控制数据中对应标志位相同，以及判断测试后发生改变的测试控制数据中每个测试位是否与初始构建的测试控制数据中对应测试位不同；及输出模块，用于在测试后发生改变的测试控制数据中每个标志位与初始构建的测试控制数据中对应标志位相同，并且测试后发生改变的测试控制数据中每个测试位与初始构建的测试控制数据中对应测试位不同时，输出电子设备测试通过的测试结果，在测试后发生改变的测试控制数据中有标志位与初始构建的测试控制数据中对应标志位不同，或者测试后发生改变的测试控制数据中有测试位与初始构建的测试控制数据中对应测试位相同，或者选择的测试项测试失败时，输出电子设备测试未通过的测试结果。
一种测试完整性控制方法，执行于具有主板管理控制器的数据处理设备中，用于对电子设备的测试流程进行控制，所述主板管理控制器包括FRU存储区，该方法包括步骤：构建电子设备的测试控制数据并将构建的测试控制数据写入FRU存储区中，所述测试控制数据包括测试位与标志位，每个测试位对应于电子设备的一个测试项；从FRU存储区读取测试控制数据，并根据测试控制数据选择电子设备的一个测试项进行测试；判断该选择的测试项是否测试成功；若该选择的测试项测试失败，则输出电子设备测试未通过的测试结果，否则，若该选择的测试项测试成功，则将测试控制数据中该选择的测试项对应的测试位取反；判断是否有其他的测试项，若有其他的测试项，返回选择电子设备的一个测试项进行测试的步骤；若所有的测试项测试完毕，将测试后发生改变的测试控制数据与初始构建的测试控制数据相比较，判断测试后发生改变的测试控制数据中每个标志位是否与初始构建的测试控制数据中对应标志位相同，以及判断测试后发生改变的测试控制数据中每个测试位是否与初始构建的测试控制数据中对应测试位不同；若测试后发生改变的测试控制数据中每个标志位与初始构建的测试控制数据中对应标志位相同，并且测试后发生改变的测试控制数据中每个测试位与初始构建的测试控制数据中对应测试位不同，输出电子设备测试通过的测试结果；及若测试后发生改变的测试控制数据中有标志位与初始构建的测试控制数据中对应标志位不同，或者测试后发生改变的测试控制数据中有测试位与初始构建的测试控制数据中对应测试位相同，则输出电子设备测试未通过的测试结果。
本发明构建测试控制数据并将测试控制数据写入主板管理控制器的FRU存储区中，测试员难以获得与修改该测试控制数据，加强了测试流程的完整性。
附图说明
图1为本发明测试完整性控制系统较佳实施例的应用环境示意图。
图2为图1中测试完整性控制系统的功能模块图。
图3为本发明测试完整性控制方法较佳实施例的流程图。
图4为构建的用于主板测试的测试控制数据的示意图。
主要元件符号说明
| 测试完整性控制系统 | 10 |
| 数据处理设备 | 11 |
| 主板管理控制器 | 12 |
| 电子设备 | 13 |
| FRU存储区 | 14 |
| 构建模块 | 200 |
| 测试模块 | 210 |
| 比较模块 | 220 |
| 输出模块 | 230 |
具体实施方式
参阅图1所示，是本发明测试完整性控制系统较佳实施例的应用环境示意图。所述测试完整性控制系统10运行于具有主板管理控制器12的数据处理设备11(例如服务器)中，用于对电子设备13的测试流程进行控制。所述主板管理控制器12包括FRU(Field ReplacementUnit，现场可更换单元)存储区14。该FRU存储区14有1024字节以上的存储空间，FRU存储区14中的数据具有较高的安全性，测试员读写其中的数据存在困难(需要专门的技能与工具)，并且在不知道数据的具体存储地址的情况下，测试员难以获得该数据。
参阅图2所示，是图1中测试完整性控制系统10的功能模块图。所述测试完整性控制系统10包括构建模块200、测试模块210、比较模块220及输出模块230。
所述构建模块200用于构建电子设备13的测试控制数据并将构建的测试控制数据写入FRU存储区14中。所述测试控制数据包括测试位与标志位。每个测试位对应于电子设备13的一个测试项。例如，主板的测试包括8个测试项，按照测试先后顺序分别为第一测试项、第二测试项、...、第八测试项，8个测试项对应的测试位分别为第一测试位、第二测试位、...、第八测试位。在本实施例中，电子设备13的各个测试项有预先确定的测试顺序，各个测试位按照相应测试项的测试顺序排列在测试控制数据中。标志位位于测试位之间，用于防止测试控制数据被非法修改。每一个测试位或标志位可以置为1，也可以置为0，但测试位不全为1也不全为0(标志位可以全为1或全为0)。图4是构建的用于主板测试的测试控制数据的示意图，该测试控制数据包括10个数据位(bit0-bit9)，其中bit0、bit1、bit3、bit4、bit5、bit7、bit8与bit9是第一至第八测试位，对应于主板的第一至第八测试项，bit2与bit6是第一与第二标志位。第一标志位位于第二测试位与第三测试位之间，第二标志位位于第五测试位与第六测试位之间。根据测试项个数的不同，标志位的个数可以相应改变，例如，若有20个测试项，标志位的个数为4，若有40个测试项，标志位的个数为8。
所述测试模块210用于从FRU存储区14读取测试控制数据，并根据测试控制数据逐一选择测试项进行测试。在本实施例中，测试模块210按照测试项的测试顺序逐一选择测试项进行测试。对于每一个选择的测试项，测试模块210判断该选择的测试项是否测试成功，若该选择的测试项测试成功，则将测试控制数据中该选择的测试项对应的测试位取反。也就是说，若一个测试项对应的测试位原为1，测试成功后该测试位取反变为0；若该测试项对应的测试位原为0，测试成功后该测试位取反变为1。标志位的值一直保持不变，如果标志位的值有变化，则说明测试员修改测试控制数据，判定测试不能通过。
所述比较模块220用于在所有的测试项测试结束后将测试后发生改变的测试控制数据与初始构建的测试控制数据相比较，判断测试后发生改变的测试控制数据中每个标志位是否与初始构建的测试控制数据中对应标志位相同，以及判断测试后发生改变的测试控制数据中每个测试位是否与初始构建的测试控制数据中对应测试位不同。
所述输出模块230用于输出测试结果。具体地，若测试后发生改变的测试控制数据中每个标志位与初始构建的测试控制数据中对应标志位相同，并且测试后发生改变的测试控制数据中每个测试位与初始构建的测试控制数据中对应测试位不同，则输出模块230输出电子设备13测试通过的测试结果；若测试后发生改变的测试控制数据中有标志位与初始构建的测试控制数据中对应标志位不同，或者测试后发生改变的测试控制数据中有测试位与初始构建的测试控制数据中对应测试位相同，或者选择的测试项测试失败，则输出模块230输出电子设备13测试未通过的测试结果。对于图4所示构建的测试控制数据(1001001010)，若测试后得到的发生改变的测试控制数据为010011101，则输出模块230输出电子设备13测试通过的测试结果。
在上述实施例中，由于标记位对测试员是保密的，测试员无法知道标志位的位置，所以很难通过修改测试控制数据来少测一些测试项。
参阅图3所示，是本发明测试完整性控制方法较佳实施例的流程图。
步骤S301，构建模块200构建电子设备13的测试控制数据并将构建的测试控制数据写入FRU存储区14中。所述测试控制数据包括测试位与标志位。每个测试位对应于电子设备13的一个测试项。例如，主板的测试包括8个测试项，按照测试先后顺序分别为第一测试项、第二测试项、...、第八测试项，8个测试项对应的测试位分别为第一测试位、第二测试位、...、第八测试位。在本实施例中，电子设备13的各个测试项有预先确定的测试顺序，各个测试位按照相应测试项的测试顺序排列在测试控制数据中。标志位位于测试位之间，用于防止测试控制数据被非法修改。每一个测试位或标志位可以置为1，也可以置为0，但测试位不全为1也不全为0(标志位可以全为1或全为0)。图4是构建的用于主板测试的测试控制数据的示意图，该测试控制数据包括10个数据位(bit0-bit9)，其中bit0、bit1、bit3、bit4、bit5、bit7、bit8与bit9是第一至第八测试位，对应于第一至第八测试项，bit2与bit6是第一与第二标志位。第一标志位位于第二测试位与第三测试位之间，第二标志位位于第五测试位与第六测试位之间。根据测试项个数的不同，标志位的个数可以相应改变，例如，若有20个测试项，标志位的个数为4，若有40个测试项，标志位的个数为8。
步骤S302，测试模块210从FRU存储区14读取测试控制数据，并根据测试控制数据选择电子设备13的一个测试项进行测试。在本实施例中，测试模块210按照测试项的测试顺序选择一个测试项进行测试。例如，选择第一测试项进行测试。
步骤S303，测试模块210判断该选择的测试项是否测试成功，若该选择的测试项测试失败，则执行步骤S308。
若该选择的测试项测试成功，步骤S304，测试模块210将测试控制数据中该选择的测试项对应的测试位取反，标志位的值保持不变。也就是说，若一个测试项对应的测试位原为1，测试成功后该测试位取反变为0；若该测试项对应的测试位原为0，测试成功后该测试位取反变为1。
步骤S305，测试模块210判断是否有其他的测试项，若有其他的测试项，返回步骤S302，按照测试项的测试顺序选择下一个测试项。
若所有的测试项测试完毕，步骤S306，比较模块220将测试后发生改变的测试控制数据与初始构建的测试控制数据相比较，判断测试后发生改变的测试控制数据中每个标志位是否与初始构建的测试控制数据中对应标志位相同，以及判断测试后发生改变的测试控制数据中每个测试位是否与初始构建的测试控制数据中对应测试位不同。
若测试后发生改变的测试控制数据中每个标志位与初始构建的测试控制数据中对应标志位相同，并且测试后发生改变的测试控制数据中每个测试位与初始构建的测试控制数据中对应测试位不同，步骤S307，输出模块230输出电子设备13测试通过的测试结果。对于图4所示构建的测试控制数据(1001001010)，若测试后得到的发生改变的测试控制数据为010011101，则输出模块230输出电子设备13测试通过的测试结果。
若测试后发生改变的测试控制数据中有标志位与初始构建的测试控制数据中对应标志位不同，或者测试后发生改变的测试控制数据中有测试位与初始构建的测试控制数据中对应测试位相同，或者步骤S303中选择的测试项测试失败，则步骤S308，输出模块230输出电子设备13测试未通过的测试结果。
FRU存储区14的数据具有较高的安全性，测试员不知道测试控制数据在FRU存储区14的具体地址，因而测试员难以获得测试控制数据。此外由于测试员不知道测试控制数据中哪些是测试位哪些是标志位，难以通过修改测试控制数据来少测一些测试项，从而加强了测试流程的完整性。
应当能够理解，如果电子设备13具备主板管理控制器12(例如电子设备13为服务器主板)，则上述测试完整性控制方法可以执行于电子设备13中(不需要额外的数据处理设备11来控制测试流程)。此时，所述测试控制数据写入电子设备13的FRU存储区14中，并且，在输出电子设备13测试通过的测试结果后，清除电子设备13的FRU存储区14中的测试控制数据。
Claims (4)
1.一种测试完整性控制系统，运行于具有主板管理控制器的数据处理设备中，用于对电子设备的测试流程进行控制，所述主板管理控制器包括现场可更换单元FRU存储区，其特征在于，该系统包括：
构建模块，用于构建电子设备的测试控制数据并将构建的测试控制数据写入所述现场可更换单元FRU存储区中，所述测试控制数据包括测试位与标志位，每个测试位对应于电子设备的一个测试项；
测试模块，用于从现场可更换单元FRU存储区读取测试控制数据并根据测试控制数据逐一选择电子设备的测试项进行测试，对于每一个选择的测试项，判断该选择的测试项是否测试成功，若该选择的测试项测试成功，则将测试控制数据中该选择的测试项对应的测试位取反；
比较模块，用于在所有的测试项测试完毕后将测试后发生改变的测试控制数据与初始构建的测试控制数据相比较，判断测试后发生改变的测试控制数据中每个标志位是否与初始构建的测试控制数据中对应标志位相同，以及判断测试后发生改变的测试控制数据中每个测试位是否与初始构建的测试控制数据中对应测试位不同；及
输出模块，用于在测试后发生改变的测试控制数据中每个标志位与初始构建的测试控制数据中对应标志位相同，并且测试后发生改变的测试控制数据中每个测试位与初始构建的测试控制数据中对应测试位不同时，输出电子设备测试通过的测试结果；
所述输出模块，还用于在测试后发生改变的测试控制数据中有标志位与初始构建的测试控制数据中对应标志位不同，或者测试后发生改变的测试控制数据中有测试位与初始构建的测试控制数据中对应测试位相同，或者选择的测试项测试失败时，输出电子设备测试未通过的测试结果。
2.如权利要求1所述的测试完整性控制系统，其特征在于，所述测试位不全为1也不全为0。
3.一种测试完整性控制方法，执行于具有主板管理控制器的数据处理设备中，用于对电子设备的测试流程进行控制，所述主板管理控制器包括现场可更换单元FRU存储区，其特征在于，该方法包括步骤：
构建电子设备的测试控制数据并将构建的测试控制数据写入现场可更换单元FRU存储区中，所述测试控制数据包括测试位与标志位，每个测试位对应于电子设备的一个测试项；
从现场可更换单元FRU存储区读取测试控制数据，并根据测试控制数据选择电子设备的一个测试项进行测试；
判断该选择的测试项是否测试成功；
若该选择的测试项测试失败，则输出电子设备测试未通过的测试结果，否则，若该选择的测试项测试成功，则将测试控制数据中该选择的测试项对应的测试位取反；
判断是否有其他的测试项，若有其他的测试项，返回选择电子设备的一个测试项进行测试的步骤；
若所有的测试项测试完毕，将测试后发生改变的测试控制数据与初始构建的测试控制数据相比较，判断测试后发生改变的测试控制数据中每个标志位是否与初始构建的测试控制数据中对应标志位相同，以及判断测试后发生改变的测试控制数据中每个测试位是否与初始构建的测试控制数据中对应测试位不同；
若测试后发生改变的测试控制数据中每个标志位与初始构建的测试控制数据中对应标志位相同，并且测试后发生改变的测试控制数据中每个测试位与初始构建的测试控制数据中对应测试位不同，输出电子设备测试通过的测试结果；及
若测试后发生改变的测试控制数据中有标志位与初始构建的测试控制数据中对应标志位不同，或者测试后发生改变的测试控制数据中有测试位与初始构建的测试控制数据中对应测试位相同，则输出电子设备测试未通过的测试结果。
4.如权利要求3所述的测试完整性控制方法，其特征在于，所述测试位不全为1也不全为0。
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| C41 | Transfer of patent application or patent right or utility model | ||
| TA01 | Transfer of patent application right |
Effective date of registration: 20160613 Address after: 100086 Beijing city Haidian District North Sanhuan Road 43, Tsing Wun contemporary building 12A11 Applicant after: BEIJING ZHITAO SCIENCE & TECHNOLOGY CO., LTD. Address before: 518109 Guangdong city of Shenzhen province Baoan District Longhua Town Industrial Zone tabulaeformis tenth East Ring Road No. 2 two Applicant before: Hongfujin Precise Industry (Shenzhen) Co., Ltd. Applicant before: Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. |
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| C41 | Transfer of patent application or patent right or utility model | ||
| CB03 | Change of inventor or designer information |
Inventor after: Chen Yanxing Inventor after: Chen Yanyi Inventor before: Tang Xinqiao Inventor before: Zhong Yang |
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| COR | Change of bibliographic data | ||
| TA01 | Transfer of patent application right |
Effective date of registration: 20160831 Address after: 361008 Fujian City, Xiamen Software Park, No. three Cheng Yi Avenue, unit 366, 0006 Applicant after: Ropt (Xiamen) Technology Group Co., Ltd. Address before: 100086 Beijing city Haidian District North Sanhuan Road 43, Tsing Wun contemporary building 12A11 Applicant before: BEIJING ZHITAO SCIENCE & TECHNOLOGY CO., LTD. |
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| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| CP01 | Change in the name or title of a patent holder |
Address after: 361008, Xiamen Software Park, Fujian Province, three, 0006, Yi Cheng street, unit 366 Patentee after: ROPT TECHNOLOGY GROUP Co.,Ltd. Address before: 361008, Xiamen Software Park, Fujian Province, three, 0006, Yi Cheng street, unit 366 Patentee before: Roput (Xiamen) Technology Group Co.,Ltd. |
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| CP01 | Change in the name or title of a patent holder |