CN102375253A - 液晶显示模块的检验系统及检验方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种液晶显示模块的检验系统，包括：装载机构，从外部装载液晶显示模块；可旋转的多个输送单元，沿着输送方向输送所述液晶显示模块；可旋转的多个处理单元，分别对应配置在所述各个输送单元，由对应的输送单元接收所述液晶显示模块并对其进行检验，且将完成检验的液晶显示模块重新传送到对应输送单元；卸载机构，将所述液晶显示模块卸载到外部；控制单元，检索将接收所述液晶显示模块的处理单元，并控制所述输送单元。其中所述输送单元与所述处理单元通过旋转使得其传送所述液晶显示模块的路径对齐到一条直线。本发明提供了可提高最终检验效率的液晶显示模块的检验系统。

Description

液晶显示模块的检验系统及检验方法
技术领域
本发明涉及一种液晶显示模块的检验系统及应用该系统的液晶显示模块的检验方法，更为详细地涉及一种能够提高液晶显示模块最终检验工序的工作效率并缩短工时的液晶显示模块的检验系统及应用该系统的液晶显示模块的检验方法。
背景技术
液晶显示装置具有耗电量少、重量轻的优点，因此被认为是能够克服传统的显示装置中产生的各种问题的供选方案。最近，高清晰度及大屏幕液晶显示装置的应用面甚广。
液晶显示装置模块的制造工艺由多个分离的工序组合而成，其中，为了最大限度地减少次品率，最终检验(F/T：FinalTest)工序尤其重要。而为了最大限度地减少这种最终检验中产生的次品率，需要肉眼鉴别每一个被测液晶显示模块。
传统的最终检验方法在预定的输送带上放置液晶显示模块，每一位操作人员提取被输送的液晶显示模块并完成检查，但这种方法降低工作效率，延长工时。
发明内容
本发明是为了解决上述问题而提出的，其目的是提供一种能够实现液晶显示模块的最终检验工序自动化的液晶显示模块的检验系统。
本发明的另一目的是提供一种液晶显示模块的检验方法，其能够提高液晶显示模块最终检验的工作效率，并缩短工时。
本发明的上述目的通过以下技术方案实现。本发明的一种液晶显示模块的检验系统，其特征在于，包括：装载机构，用于从外部装载液晶显示模块；可旋转的多个输送单元，沿着输送方向输送所述液晶显示模块；可旋转的多个处理单元，分别对应于各个所述输送单元，由对应的输送单元接收所述液晶显示模块并对其进行检验，且将完成检验的液晶显示模块重新传送至对应输送单元；卸载机构，将所述液晶显示模块卸载至外部；控制单元，检索将接收所述液晶显示模块的处理单元，并控制所述输送单元。其中所述输送单元与所述处理单元通过旋转使得其传送所述液晶显示模块的路径对齐到一条直线。
此外，所述控制单元从检索出的处理单元中选择离所述装载机构最远的处理单元，并控制被选定处理单元的对应输送单元。
所述多个输送单元可分别包括：输送线，用于从处理单元输送完成检验的液晶显示模块；供应线，与所述输送线并列配置，用于把所述液晶显示模块供应到处理单元；及旋转机构，用于旋转所述输送线及所述供应线。
此外，所述多个处理单元可分别包括：处理线，朝宽度方向可移动地配置成选择性地与所述输送线或所述供应线构成一条直线，以便供应或输出所述液晶显示模块；旋转机构，用于旋转所述处理线。
此外，本发明的液晶显示模块的检验系统可进一步包括缓冲单元，配置在所述多个输送单元之间，用来调节所述液晶显示模块的供应量。
此外，所述多个输送单元可分别包括一双所述供应线与一双所述输送线；所述多个处理单元在其对应的输送单元的一侧和另一侧可分别配置一个。
本发明的另一目的通过以下方案实现。本发明的液晶显示模块的检验方法，其特征在于，包括：装载步骤，通过装载机构装载液晶显示模块；选择步骤，为了所述液晶显示模块的检验，选择将接收所述液晶显示模块的处理单元；供应步骤，将所述选择步骤中选定的处理单元和所述输送单元旋转而使其传送液晶显示模块的路径对齐到一条直线，并将所述液晶显示模块从所述输送单元传送至处理单元后使所述处理单元与所述输送单元恢复原位；检验步骤，检验被提供的所述液晶显示模块；输出步骤，从所述处理单元向所述输送单元输出完成检验的液晶显示模块；卸载步骤，通过卸载机构向外卸载所述液晶显示模块。
其中，所述选择步骤可以包括以下步骤：检索未被提供所述液晶显示模块的处理单元；从检索出的处理单元中选择离所述装载机构最远的处理单元，并将其作为将被提供所述液晶显示模块的处理单元。
此外，在所述供应步骤中，所述液晶显示模块从供应线提供到处理线，在所述输出步骤中可旋转所述输送线和所述处理线，并将所述处理线往宽度方向移动，从而使所述处理线与所述输送线的传送路径对齐到一条直线，并通过所述输送线输出所述液晶显示模块。
本发明提供了可自动完成液晶显示模块最终检验工序的液晶显示模块的检验系统。
本发明还可通过控制单元沿最能有效地进行操作的移动线路向每一位操作人员提供液晶显示模块。
此外，本发明分别设置输送线和供应线，以此分隔开完成最终检验之前的液晶显示模块与完成最终检验之后的液晶显示模块的移动路径，因此可以提高处理速度。
而且，本发明用旋转方式提供或接收液晶显示模块，优化操作人员的作业空间。
此外，本发明提供的液晶显示模块的检验方法，可以提高液晶显示模块的最终检验效率，并能缩短作业时间。
附图说明
图1是本发明的液晶显示模块的检验系统一实施例的结构示意图。
图2是图1所示液晶显示模块的检验系统中“A”部分的局部放大图。
图3是图1所示液晶显示模块的检验系统中“B”部分的局部放大图。
图4是图1所示液晶显示模块的检验系统中装载机构的结构示意图。
图5是图1所示液晶显示模块的检验系统中第一输送单元的结构示意图。
图6是图1所示液晶显示模块的检验系统中第二输送单元的结构示意图。
图7是图1所示液晶显示模块的检验系统中缓冲单元的结构示意图。
图8是图1所示液晶显示模块的检验系统中处理单元的结构示意图。
图9是本发明的液晶显示模块的检验方法一实施例的工艺流程图。
图10及图11是图9所示液晶显示模块的检验方法中装载步骤示意图。
图12是图9所示液晶显示模块的检验方法中第一输送单元和第一处理单元间的供应步骤示意图。
图13是图9所示液晶显示模块的检验方法中检验步骤示意图。
图14是图9所示液晶显示模块的检验方法中第一输送单元和第一处理单元间的输出步骤示意图。
图15是图9所示液晶显示模块的检验方法中液晶显示模块经由缓冲单元传送到第二输送单元的工序示意图。
图16是图9所示液晶显示模块的检验方法中第二输送单元和第二处理单元间的供应步骤示意图。
图17是图9所示液晶显示模块的检验方法中第二输送单元和第二处理单元间的输出步骤示意图。
图18是图9所示液晶显示模块的检验方法中卸载步骤示意图。
具体实施方式
下面参照附图详细说明本发明的液晶显示模块检验系统的一实施例。
图1是本发明的液晶显示模块的检验系统一实施例的结构示意图；图2是图1所示液晶显示模块的检验系统中“A”部分的局部放大图；图3是图1所示液晶显示模块的检验系统中“B”部分的局部放大图。
如图1到图3所示，本发明的液晶显示模块的检验系统100包括装载机构110、输送机构120、处理单元140、卸载机构150、控制单元160。
图4表示图1所示液晶显示模块检验系统的装载机构。
下面说明的图4到图8中分别显示了各结构的主视图(a)、侧视图(b)、俯视图(c)。
如图4所示，装载机构110是用来从外部装载液晶显示模块的结构，包括前板111、后板112、分离缸113、输送带114、导向辊115及装载传感器。
所述前板111和后板112是从地面垂直向上延伸的面板，二者相互对向且相互间具有可导入液晶显示模块的间隙。前板111和后板112起到装载液晶显示模块后限制其向外脱离的导向作用。
前板111可向上延长，当装载液晶显示模块后前板111被延长至与后板112相同的高度，以此限制液晶显示模块脱离。
所述分离缸113用于将前板111与后板112及其内部的液晶显示模块朝宽度方向移位预定间隔，由此将液晶显示模块有选择地传递到从装载机构110延伸的第一输送单元122a的一双供应线123a中任一个上。其中，作为分离缸113可使用但不限于液压缸、气缸等。
所述输送带114用来提供驱动力以此将装载的液晶显示模块传送到供应线123a，其配置在前板111和后板112的下方并与所收容的液晶显示模块的底面相接。输送带114的一端或两端配置有用来提供驱动力的马达等驱动部件。
所述导向辊115隔开设置在输送带114的上方并与液晶显示模块的顶面相接，将液晶显示模块输送到供应线123a时所述导向辊115起到导向作用。
所述输送机构120用来将所装载的液晶显示模块供应到将在后面叙述的处理单元140，并将完成检验的液晶显示模块输送到卸载机构150，其被划分为多个部分，包括多个输送单元121与缓冲单元130。
所述多个输送单元121参与液晶显示模块的供应及输送，划分为第一输送单元122a及第二输送单元122b。
图5表示图1中液晶显示模块的检验系统中的第一输送单元。如图5所示，在装载机构110与将在后面叙述的缓冲单元130间设置有多个所述第一输送单元122a，而每一个所述第一输送单元122a包括供应线123a、输送线126a及旋转机构127。特别是在多个第一输送单元122a中某一个与装载机构110相邻配置，以便接收液晶显示模块。
所述供应线123a的下方设置有与液晶显示模块的底面相接并提供移动动力，使得所述液晶显示模块移动的输送带125；上方设置有与液晶显示模块的顶面相接，引导液晶显示模块移动的导向辊124。由此，移动到供应线123a的液晶显示模块夹在上方导向辊124和下方输送带125之间移动。
第一输送单元122a的中央设置有一双所述供应线123a，由此将一双液晶显示模块分别提供到分别配置在两侧的处理单元140。
所述输送线126a的结构基本上与供应线123a相同，在上方设置有导向辊124，下方设置有输送带125。在供应线123a的两侧分别设置有一个所述输送线，即总共设置有一双所述输送线。
即所述第一输送单元122a由设置在其中央的一双供应线123a和以所述一双供应线123a为中心在两侧分别设置一个的输送线126a构成。
另一方面，与所述装载机构111相邻配置的第一输送单元122a的一双供应线123a中某一个的端部与装载机构111中液晶显示模块的排出端对齐，而装载机构111通过分离缸113朝宽度方向移位时，所述排出端与另一个供应线123a对齐。由此，装载机构111可以有选择地向所述一双供应线123a中某一个提供液晶显示模块。
所述旋转机构127包括有旋转台128与旋转马达129。
所述供应线123a与所述输送线126a设置在所述旋转台128的上侧，所述旋转马达129设置在旋转台128的下端，用于将旋转台128旋转预定角度。即通过旋转马达128的旋转，旋转台128及设置在其上的供应线123a与输送线126a一起旋转。
图6表示图1中液晶显示模块的检验系统的第二输送单元。
如图6所示，所述第二输送单元122b用于输送将在后面叙述的第一处理单元141a中完成检验的液晶显示模块，本实施例中具有多个所述第二输送单元，其中每一个分别与第一输送单元122a具有相同的结构。然而，与第一输送单元122a不同的是一双输送线126b设置在中央，而输送线126的两侧分别设置有供应线123b。
图7表示图1中液晶显示模块的检验系统的缓冲单元。
如图7所示，所述缓冲单元130连接第一输送单元122a与第二输送单元122b，当液晶显示模块的供应过剩而在第二处理单元141b上难以再进行液晶显示模块的检验时，所述缓冲单元130起到暂时保存液晶显示模块的作用。
缓冲单元130由一双缓冲线131构成，其两端分别邻接于第一输送单元122a在液晶显示模块输送方向上的终端及第二输送单元122b在液晶显示模块输送方向上的始端。
所述一双缓冲线131分别包括其上部的导向辊132与下部的输送带133，因此其形状基本上与前述供应线123a或输送线126a相同，且相互间隔开配置成其传送液晶显示模块的路径与第一输送单元122a的输送线123a及第二输送单元122b的供应线126b对齐到一条直线。
图8表示图1中液晶显示模块检验系统的处理单元。
所述处理单元140包括用于处理第一输送单元122a提供的液晶显示模块的第一处理单元141a及用于处理第二输送单元122b提供的液晶显示模块的第二处理单元141b。
所述第一处理单元141a与所述第二处理单元141b的结构相同，因此通过图8一并说明。即如图8所示，处理单元140被划分为第一处理单元141a及第二处理单元141b，包括处理线142、旋转机构145与分离部件148。在所述第一输送单元122a及第二输送单元122b的两侧分别配置有一个所述处理单元140。
所述处理线142包括导向辊143与输送带144，其从第一输送单元122a的供应线123a或第二输送单元122b的供应线123b接收液晶显示模块后对其进行检验，并将完成检验的液晶显示模块输出到第一输送单元122a的输送线126a或第二输送单元122b的输送线126b。
所述旋转机构145设置在处理线142的下方，用来将处理线142旋转预定角度，所述旋转机构145包括旋转台146及旋转马达147。所述旋转台146呈平整的面板状，其从下方支持处理线142，所述旋转马达147用于对旋转台146施加旋转力。
所述分离部件148设置在旋转机构145的下方，用于将处理线142移动预定间隔。构成所述装载机构110的液压缸或气缸可作为分离部件148来使用，并利用该结构将处理线142有选择地与所述第一输送单元122a的供应线123a或输送线126a构成一条直线，并从供应线123a接收液晶显示模块，或将完成检验的液晶显示模块供应到输送线126a。
所述卸载机构150是为了将最终完成检验的液晶显示模块向外输出而进行卸载的机构，包括前板、后板、分离缸、输送带、装载传感器。其具有与装载机构基本相同的结构，因此在此省略其重复说明。
所述控制单元160用于感测每一个第一处理单元141a或第二处理单元141b发出的液晶显示模块的供应等待信号，并控制与此对应的第一输送单元122a或第二输送单元122b，以把液晶显示模块供应到目标第一处理单元141a或第二处理单元141b。其中，液晶显示模块的等待信号可以是各处理单元140中正在操作当中的操作人员发出的，也可以是通过设置在各处理单元140上的传感器自动感测的信号。
下面说明应用上述液晶显示模块的检验系统100一实施例来检验液晶显示模块的方法S100。
以下液晶显示模块的检验方法S100的说明中采用了上述液晶显示模块的检验系统100的一实施例相同的附图标记。
图9是本发明的液晶显示模块的检验方法一实施例的工艺流程图。
如图9所示，本发明的液晶显示模块的检验方法S100一实施例包括选择步骤S110、装载步骤S120、供应步骤S130、输出步骤S140及卸载步骤S150。
在所述选择步骤S110中，先检索可接收液晶显示模块10并进行检测的处理单元140后，在检索到的处理单元140中选择将提供液晶显示模块10的对象。
为此，首先检索正在等待进行液晶显示模块的检验工作，或者由操作人员接到供应要求的处理单元140。即在第一处理单元141a和第二处理单元141b中检索出可由操作人员进行液晶显示模块10的检验的处理单元。
如果检索到多个处理单元140，控制单元160优先选择在液晶显示模块的移动路径上离装载机构110最远的处理单元140作为液晶显示模块10的供应对象，并向与被选处理单元140相应的输送单元121发出液晶显示模块10的供应信号。
图10及图11概略表示图9所示液晶显示模块的检验方法中装载步骤。
如图10所示，所述装载步骤S120是操作人员将液晶显示模块10装载到装载机构110上的步骤。操作人员将液晶显示模块10插入装载机构110的前板111和后板112由于相互间隔离而形成的空间内。插入后，装载传感器(图中未显示)感测液晶显示模块10，并向控制单元160提供信号告知是否已装载液晶显示模块10。
在此，为了避免液晶显示模块10的供应集中到一个供应线123a上，并引导液晶显示模块顺利的供应，已装载液晶显示模块10的装载机构110可通过分离缸113，选择性地对齐相邻一对供应线123a中任一个与液晶显示模块10的传送路径。
即通过分离缸113朝宽度方向移动所述装载机构110预定间隔，从而向两个供应线123a中与所述装载机构110相接的某一个供应线有选择地提供液晶显示模块10。被装载的液晶显示模块10沿着供应线123a移动。
图12是图9所示液晶显示模块的检验方法中第一输送单元与第一处理单元之间的供应步骤示意图。
所述供应步骤S130是向被选处理单元140提供液晶显示模块10的步骤。
控制单元160向与所述选择步骤S110中被选定为液晶显示模块10供应对象的第一处理单元141a相应的第一输送单元122a提供液晶显示模块10的供应信号。将向被选第一处理单元141a提供液晶显示模块10的第一输送单元122a通过旋转机构143顺时针旋转90度，同时第一处理单元141a逆时针旋转90度，从而将供应线123a和处理线142的路径对齐成一条直线。供应线123a通过输送带125将液晶显示模块10推向处理线142，而液晶显示模块10装载到处理线142上。
如果液晶显示模块10准确地装载到处理线142上，第一输送单元122a与第一处理单元141a通过与前述步骤相反的旋转动作恢复原位。
图13是图9所示液晶显示模块的检验方法中检验步骤示意图。
如图13所示，所述检验步骤S140是操作人员检验装载到处理线142上的液晶显示模块10的步骤。当完成液晶显示模块10的检验后，操作人员向控制单元160发出任何一种呼叫信号，从而使所述液晶显示模块10得以排出。
图14是图9所示液晶显示模块的检验方法中第一输送单元与第一处理单元之间的输出步骤示意图。
如图14所示，在所述输出步骤S150中，在处理线142上完成检验的液晶显示模块10输出到第一输送单元122a。
具体而言，当完成检验且由控制单元160接收任何一种液晶显示模块10排出信号时，装有液晶显示模块10的第一处理单元141a向前述供应步骤S130相同的方向旋转，而包含输送线126a的第一输送单元121a也随之旋转。此时，为了使处理线142的路径与输送线126a对齐到一条直线，朝宽度方向以预定间隔移动所述处理线142。
如果处理线142与输送线126a的路径对齐，处理线142将完成处理的液晶显示模块10推向输送线126a，而所述第一处理单元141a与第一输送单元122a经过反向动作恢复原位。
在第一处理单元141a中完成检验的液晶显示模块10沿着配置在第一输送单元122a中供应线123a两侧的输送线126a输送。
另外在本实施例中，不仅在第一处理单元141a，在第二处理单元141b中也要完成液晶显示模块10的检难操作，因此下面说明第二输送单元122b及第二处理单元141b中的供应步骤S130、检验步骤S140及输出步骤S150。
图15是图9所示液晶显示模块的检验方法中液晶显示模块通过缓冲单元传递到第二输送单元的工序示意图；图16是图9所示液晶显示模块的检验方法中第二输送单元与第二处理单元之间的供应步骤示意图。
如图15所示，第一处理单元141a中完成检验的液晶显示模块10从第一输送单元122a经由缓冲单元130输送到在所述选择步骤S110中被选定的第二输送单元122b，而后控制单元160向第二输送单元122b发出与之相应的液晶显示模块的供应信号。
在供应步骤S130中旋转第二输送单元122b和第二处理单元141b。然而，所述第二输送单元122b与第一输送单元122a不同的是输送线126b配置在其中央，而供应线123b配置在其外围上，因此为了将处理线142与供应线123b的路径构成一致，将处理线142向宽度方向移动预定间隔。
而后，从供应线123b向已对齐路径的处理线142提供液晶显示模块10，当于处理线142上搭载液晶显示模块10后，第二输送单元122b与第二处理单元142通过与前述步骤相反的动作恢复原位。
在所述检验步骤S140中，于第二处理单元141b检验液晶显示模块10，其工序与第一处理单元141a相同，因此不再赘述。
如图16所示，在第二处理单元141b的输出步骤S150中，将第二输送单元122b与第二处理单元141b旋转后，向输送线126b输出完成检验的液晶显示模块10。
图18是图9所示液晶显示模块的检验方法中卸载步骤的示意图。
如图18所示，在所述卸载步骤S160中将由第二处理单元141b的输送线126b输送的液晶显示模块10最终排出到外部。
本实施例中，为了使液晶显示模块10的供应及输出路径一致而进行的各输送单元121及处理单元140的旋转方向及角度并不局限于上述内容，而鉴于输送单元121与处理单元140的配置、大小等因素来可适当决定。
传统的液晶显示模块最终检验工序由于是非自动化方式，因此效率低、延长总体操作时间。然而，本发明的一实施例提供的液晶显示模块的检验系统及应用该系统的检验方法通过自动化方式按照有效顺序向操作人员提供液晶显示模块，因此可以缩短工时。
本发明的保护范围并不限于上述实施例，在本发明所要求保护范围内会有各种不同的实施方式。在不脱离本发明思想的范围内，本领域技术人员所能作的各种变更或修饰均属于本发明的保护范围。

Claims (9)

1.一种液晶显示模块的检验系统，其特征在于，包括：
装载机构，用于从外部装载液晶显示模块；
可旋转的多个输送单元，沿着输送方向输送所述液晶显示模块；
可旋转的多个处理单元，分别对应于各个输送单元，并由对应输送单元接收液晶显示模块并对其进行检验，且将完成检验的液晶显示模块重新传送到对应输送单元；
卸载机构，将所述液晶显示模块卸载到外部；
控制单元，检索将接收所述液晶显示模块的处理单元，并控制所述输送单元，
其中所述输送单元与所述处理单元通过旋转使得其传送所述液晶显示模块的路径对齐到一条直线。
2.根据权利要求1所述的液晶显示模块的检验系统，其特征在于，所述控制单元从检索出的处理单元中选择离所述装载机构最远的处理单元，并控制被选处理单元的对应输送单元。
3.根据权利要求1所述的液晶显示模块的检验系统，其特征在于，所述多个输送单元分别包括：
输送线，用于从处理单元输送完成检验的液晶显示模块；
供应线，与所述输送线并列配置，将所述液晶显示模块供应到处理单元；及
旋转机构，用于旋转所述输送线及所述供应线。
4.根据权利要求2所述的液晶显示模块的检验系统，其特征在于，所述多个处理单元分别包括：
处理线，朝宽度方向可移动地配置成选择性地与所述输送线或所述供应线构成一条直线，以便供应或输出所述液晶显示模块；
旋转机构，用于旋转所述处理线。
5.根据权利要求1所述的液晶显示模块的检验系统，其特征在于，进一步包括缓冲单元，配置在所述多个输送单元之间，以调节所述液晶显示模块的供应量。
6.根据权利要求2到5中任何一项所述的液晶显示模块的检验系统，其特征在于，所述多个输送单元分别包括一双所述供应线与一双所述输送线，所述多个处理单元在其对应的输送单元的一侧和另一侧分别配置一个。
7.一种液晶显示模块的检验方法，其特征在于，包括：
装载步骤，通过装载机构装载液晶显示模块；
选择步骤，为了检验所述液晶显示模块，选择将接收所述液晶显示模块的处理单元；
供应步骤，将所述选择步骤中选定的处理单元和所述输送单元旋转而使其传送液晶显示模块的路径对齐到一条直线，并将所述液晶显示模块从所述输送单元传送至处理单元后使所述处理单元与所述输送单元恢复原位；
检验步骤，检验被提供的所述液晶显示模块；
输出步骤，从所述处理单元向所述输送单元输出完成检验的所述液晶显示模块；
卸载步骤，通过卸载机构向外卸载所述液晶显示模块。
8.根据权利要求7所述的液晶显示模块的检验方法，其特征在于，所述选择步骤包括步骤：
检索未被提供所述液晶显示模块的处理单元；
从检索出的处理单元中选择离所述装载机构最远的处理单元，并将其作为将被提供所述液晶显示模块的处理单元。
9.根据权利要求7所述的液晶显示模块的检验方法，其特征在于，
在所述供应步骤中，所述液晶显示模块从供应线提供到处理线，
在所述输出步骤中旋转所述输送线和所述处理线，并将所述处理线往宽度方向移动，从而使所述处理线与所述输送线构成的传送路径对齐到一条直线，并通过所述输送线输出所述液晶显示模块。
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Cited By (1)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108423434A (zh) * 2018-03-16 2018-08-21 惠科股份有限公司 一种移载设备及移载方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101987826B1 (ko) * 2017-09-26 2019-06-12 (주)소닉스 Cog 공정의 디스플레이 패널 검사 시스템

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20040128023A1 (en) * 2002-12-31 2004-07-01 Lg.Philips Lcd Co., Ltd. Substrate transfer system
CN1967318A (zh) * 2005-11-18 2007-05-23 飞而康公司 显示面板检查系统
CN101165751A (zh) * 2006-10-18 2008-04-23 富士迈半导体精密工业（上海）有限公司 面板检测装置及面板检测方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20040128023A1 (en) * 2002-12-31 2004-07-01 Lg.Philips Lcd Co., Ltd. Substrate transfer system
CN1514273A (zh) * 2002-12-31 2004-07-21 Lg.������Lcd��ʽ���� 基板传送系统
CN1967318A (zh) * 2005-11-18 2007-05-23 飞而康公司 显示面板检查系统
CN101165751A (zh) * 2006-10-18 2008-04-23 富士迈半导体精密工业（上海）有限公司 面板检测装置及面板检测方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108423434A (zh) * 2018-03-16 2018-08-21 惠科股份有限公司 一种移载设备及移载方法
US11472636B2 (en) 2018-03-16 2022-10-18 HKC Corporation Limited Transfer device and transfer method

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