CN102354199A - 一种可编程的测试数据自动采集分析系统及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明属于自动化领域,公开了一种可编程的测试数据自动采集分析系统及方法,包括检测仪器,主控制器、存储器,主控制器连接测试仪器,测试仪器与被测设备连接。由使用者可自行可开发主控制器建立与被测设备参数相应的测量流程图,并执行该测量流程,自动得到的测试数据,生成统计分析图。本测试数据自动分析方法,测试流程一经设定后,即可全自动的完成测试过程,节省劳动时间与劳动力,提高工作效率,另外,本方法所生成的统计分析图,可供操作者动态的监测检测仪器的受控状态,有助于测量过程持续有效的保持下去,为后续的数据分析做准备。
Description
技术领域
本发明属于自动化领域,具体涉及一种可编程的测试数据自动采集分析系统及方法。
背景技术
在产品开发或是生产过程中,需要采用测试仪器仪表对产品进行质量的检测分析,以保证对产品的质量或对产品的数据分析要求。
目前所采用的数据测量,一般由人工进行数据的采集,然后根据采集的数据进行记录分析,或将数据输入至电脑中由电脑分析软件得出所需要的分析结果。这种方式不仅需要大量的测试工作,而且将数据输入电脑进行分析也需要耗费大量的工作时间,其正确性也得不到保障。
在中国专利申请号为:200810089542.5的中国专利申请中公开了一种自动采集数据的方法、系统和装置,通过建立数据调度任务,根据预置的数据导入条件和数据调度任务将数据导入数据库,通过该方法可以将文件、手工收集的数据和源系统中无数据通道的数据自动采集到经营分析系统数据库,方便的进行数据的汇总分析等操作。但其并未涉及对于产品数据的自动采集过程,对于产品数据的检测采集仍需要耗费大量的工作,测试效率不高,并且所测试的数据可能因工作人员疏忽,正确性不一定可靠。
发明内容
本发明的目的在于提供一种耗费测试时间少、节约劳动力、检测正确率高的可编程的测试数据自动采集分析系统及方法,以提高数据检测的工作效率。
本发明公开了一种可编程的测试数据自动采集分析系统,包括与被测设备相连的、用于读取被测设备的检测状态或结果的检测仪器,还包括: 主控制器:与检测仪器连接,用于设置检测仪器的参数,并设定、执行检测流程,读取由检测仪表上传的检测数据,并将检测数据制成相应的显示图表; 存储器:接收并存储由主控制器传送的检测数据和显示图表,并存储有检测仪器的测试命令数据。
本发明还公开了一种可编程的测试数据自动采集分析方法,包括如下步骤: 1)、主控制器连接测试仪器,测试仪器与被测设备连接,主控制器查找与其相连的测试仪器,并返回测试仪器的地址; 2)、用户编程可用主控制器为被测设备建立新测试,输入该设备的相关信息并选择所需要的检测仪器的测试命令集; 3)、主控制器根据待测量设备所需要测量的参数,建立与其相应的测量流程图,并执行该测量流程,主控制器接收测试仪器上传的测试数据,将其存储至存储器; 4)、主控制器根据测试仪器上传的测试数据生成统计分析图。
优选的,所述主控制器与测试仪器通过GPIB总线连接,在步骤1)中如果返回的测试仪器GPIB地址重复,则更改测试仪器的GPIB地址。
优选的,所述步骤2)中,设备的相关信息包括设备名称,测试指标。
优选的,所述步骤2)中还包括判断存储器中是否存在检测仪器对应的测试命令集步骤,若不存在则重新导入该命令集。
优选的,所述步骤3)中,测量流程图包括:设置提示信息、建立自定义变量、设置延时、数值运算、条件判断、设置参数、读取参数。
优选的,所述测量流程图建立后还包括用于检验流程图是否完整、测试仪器的测试命令是否正确的验证步骤。
优选的,所述步骤4)中,所生成的统计分析图包括产品合格率对比分析、指标均值对比分析、指标裕量对比分析、指标极差对比分析、指标方差对比分析、指标偏差对比分析、机器某指标对比分析、某指标频率点对比分析、各循环对比分析。
采用本发明所述可编程的测试数据自动分析系统,在现有的没测设备与检测仪器连接的基础上,增加有与检测仪器相连的主控制器,通过主控制器对检测仪器设定相应的检测参数,根据检测设备制定相应的检测流程,执行流程向测试仪器发送测试命令,取得所需要的测试数据,将该测试数据存储于存储器或由主控制器分析统计。和现有技术相比,本发明在一次性设定完检测参数与流程后,即可自动的完成对测试数据的采集分析工作,大大节省了测试时间,也减少了按劳动力,有利于工作效率的提高,另外,在建立测试流程后,测试过程由系统自动完成,不会导致人为原因输入数据出现的差错,有利于保证测试结果的准确性。另外,由主控制器生成的统计分析图,可以供操作者判断受控过程状态,使测试过程在质量上和成本上能持续地、可预见的保持下去。
采用本发明所述可编程的测试数据自动分析方法,将主控制器、测试仪器、被测设备依次连接,主控制器发送相应的查询命令,查找与主控制器连接的测试仪器,返回各测试仪器地址,然后根据各测试设备的具体情况,建立新的测试,输入测试设备的相关信息并选择存储设备中存储的检测仪器的测试命令,设定测试设备相关参数的测试流程图,执行该流程并获得所需要的测试数据,由主控制器对数据进行统计分析。和现有技术相比,本测试数据自动分析方法,根据测试仪器的种类,可以在存储器中预先存储相应的测试命令,使本方法能适应不同的测试设备的测试要求,具有较大的灵活性;而且本方法测试流程一经设定后,即可全自动的完成测试过程,节省劳动时间与劳动力,提高工作效率,另外,本方法所生成的统计分析图,可供操作者动态的监测检测仪器的受控状态,有助于测量过程持续有效的保持下去,为后续的数据分析做准备。
附图说明
图1为本发明可编程的测试数据自动采集分析系统框图。
图2为本发明可编程的测试数据自动采集分析方法流程结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图,对本发明作进一步的说明。
如图1,为本发明可编程的测试数据自动分析系统框图。作为实施本发明的具体方式,主机选用CPU为Intel双核2.6G作为主控制器,配置2G的RAM以保证可靠快速运行,配置500G硬盘用于存储测试数据,另外配置带刻录光驱以方便数据的输出保存。在主板上安装GPIB数据采集卡,最多能够连接14台仪器同时工作,通过GPIB数据线与测试仪器相连。
下面以具体操作为例,结合图2具体说明本发明可编程的测试数据自动采集分析方法。
首先根据测试目的,选用HP8920B作为本实施例的测试仪器。将被测产品、测试仪器与主机连接好,主机扫描到与其相连的测试仪器和相应的地址,若测试仪器地址出现重复,则由操作者手动将地址重复的测试仪器地址进行修改,直到没有重复地址出现,以保证测试数据正常有序的采集。
在主机中选择相应的测试仪器,并通过主机对其作相应的测试前的功能进行设置,以保证测试结果不会出现偏差。
然后在主机中建立该新测试,输入该测试的相关信息,包括设备名称、测试指标等。接着选择与HP8920对应的测试命令集,若事先在主机硬盘中没有存入该测试命令集,需要将该测试命令集进行导入。然后进入建立测试流程。
根据具体被测参数的规范要求,可以在流程建立过程中灵活的选择设置提示信息、建立自定义变量、设置延时、数值运算、条件判断、设置参数、读取参数等操作步骤,通过将其进行有效组合,完成流程图的建立,此流程图可由电脑及时的进行保存备份。
在流程图建立后,可以对其进行完整性的验证,以使流程图能可靠的进行工作。同时,还可以对测试命令集进行有效的测试,以使测试工作正常有效进行。
在完成了流程图的建立后,由主控制器,即电脑调试执行该测试流程,得到测试设备的测试数据,电脑接收该测试数据并生成统计分析图。统计分析图应分析的需要,包括产品合格率对比分析、指标均值对比分析、指标裕量对比分析、指标极差对比分析、指标方差对比分析、指标偏差对比分析、机器某指标对比分析、某指标频率点对比分析、各循环对比分析。由于其为动态的统计分析图,实时的数据显示可以用来判断测试过程是否一直受统计控制,用来帮助过程保持受控状态。不同的统计分析图,可以为以后的分析工作带来很大的方便。
因此,采用本发明所述的测试数据自动分析方法,将主控制器、测试仪器、被测设备依次连接,主控制器发送相应的查询命令,查找与主控制器连接的测试仪器,返回各测试仪器地址,然后根据各测试设备的具体情况,建立新的测试,输入测试设备的相关信息并选择存储设备中存储的检测仪器的测试命令,设定测试设备相关参数的测试流程图,执行该流程并获得所需要的测试数据,由主控制器对数据进行统计分析。和现有技术相比,本测试数据自动分析方法,根据测试仪器的种类,可以在存储器中预先存储相应的测试命令,使本方法能适应不同的测试设备的测试要求,具有较大的灵活性;而且本方法测试流程一经设定后,即可全自动的完成测试过程,节省劳动时间与劳动力,提高工作效率。
Claims (8)
1.一种可编程的测试数据自动采集分析系统,包括与被测设备相连的、用于读取被测设备的检测状态或结果的检测仪器,其特征在于包括: 主控制器:与检测仪器连接,用于设置检测仪器的参数,并设定、执行检测流程,读取由检测仪表上传的检测数据,并将检测数据制成相应的显示图表; 存储器:接收并存储由主控制器传送的检测数据和显示图表,并存储有检测仪器的测试命令数据。
2.一种可编程的测试数据自动采集分析方法,其特征在于,包括如下步骤: 1)、主控制器连接测试仪器,测试仪器与被测设备连接,主控制器查找与其相连的测试仪器,并返回测试仪器的地址; 2)、用户编程可用主控制器为被测设备建立新测试,输入该设备的相关信息并选择所需要的检测仪器的测试命令集; 3)、主控制器根据待测量设备所需要测量的参数,建立与其相应的测量流程图,并执行该测量流程,主控制器接收测试仪器上传的测试数据,将其存储至存储器; 4)、主控制器根据测试仪器上传的测试数据生成统计分析图。
3.根据权利要求2所述的可编程的测试数据自动采集分析方法,其特征在于,所述主控制器与测试仪器通过GPIB总线连接,在步骤1)中如果返回的测试仪器GPIB地址重复,则更改测试仪器的GPIB地址。
4.根据权利要求2所述的可编程的测试数据自动采集分析方法,其特征在于,所述步骤2)中,设备的相关信息包括设备名称,测试指标。
5.根据权利要求2所述的可编程的测试数据自动采集分析方法,其特征在于,所述步骤2)中还包括判断存储器中是否存在检测仪器对应的测试命令集步骤,若不存在则重新导入该命令集。
6.根据权利要求2所述的可编程的测试数据自动采集分析方法,其特征在于,所述步骤3)中,测量流程图包括:设置提示信息、建立自定义变量、设置延时、数值运算、条件判断、设置参数、读取参数。
7.根据权利要求2或6所述的可编程的测试数据自动采集分析方法,其特征在于,所述测量流程图建立后还包括用于检验流程图是否完整、测试仪器的测试命令是否正确的验证步骤。
8.根据权利要求2所述的可编程的测试数据自动采集分析方法,其特征在于,所述步骤4)中,所生成的统计分析图包括产品合格率对比分析、指标均值对比分析、指标裕量对比分析、指标极差对比分析、指标方差对比分析、指标偏差对比分析、机器某指标对比分析、某指标频率点对比分析、各循环对比分析。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN102354199A true CN102354199A (zh) | 2012-02-15 |
Family
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Country Status (1)
Country | Link |
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