CN102313744A - 一种pcb板失效分析方法 - Google Patents

一种pcb板失效分析方法 Download PDF

Info

Publication number
CN102313744A
CN102313744A CN201110077633A CN201110077633A CN102313744A CN 102313744 A CN102313744 A CN 102313744A CN 201110077633 A CN201110077633 A CN 201110077633A CN 201110077633 A CN201110077633 A CN 201110077633A CN 102313744 A CN102313744 A CN 102313744A
Authority
CN
China
Prior art keywords
pcb
pcb board
analysis method
failure analysis
welding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201110077633A
Other languages
English (en)
Inventor
刘学森
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SHANGHAI FAILURE ANALYSIS LABORATORY Co Ltd
Original Assignee
SHANGHAI FAILURE ANALYSIS LABORATORY Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SHANGHAI FAILURE ANALYSIS LABORATORY Co Ltd filed Critical SHANGHAI FAILURE ANALYSIS LABORATORY Co Ltd
Priority to CN201110077633A priority Critical patent/CN102313744A/zh
Publication of CN102313744A publication Critical patent/CN102313744A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

本发明涉及一种PCB板失效分析方法,其包括以下步骤:1)、对PCB板进行外观光学检查,判断其是否有污染或开裂现象;2)、对步骤1)中判断有污染或开裂现象的PCB板进行电性能检测,判断其是否有电性异常;3)、对步骤2)中判断有电性异常的PCB板进行X-RAY射线检测,判断其上的焊接是否良好;4)、对步骤3)中判断有焊接异常的PCB板进行电子扫描显微镜观察;5)、对经过步骤4)处理的PCB板进行能谱分析。本发明所述的PCB板失效分析方法,其通过对PCB板进行外观光学检查、电性能检测、X-RAY射线检测以及电子扫描显微镜观察,可以有效、快速地检测出PCB板产生的失效现象。

Description

一种PCB板失效分析方法
技术领域
本发明涉及一种分析方法,具体来说为一种失效分析方法,特别是一种对PCB板失效分析的方法。
背景技术
PCB板常由于其排阻的相邻引脚间阻抗异常或电阻产生裂痕,常会产生失效现象,现有的对PCB板失效分析常采用外观光学显微观察,这中方法只能初步检测出发生失效的电脑主板,精度较低,误差也较大。
发明内容
本发明要解决的技术问题是:提供一种PCB板失效分析方法,改方法能准确、有效地检测出PCB板产生的失效现象。
为了解决上述技术问题,本发明提供一种PCB板失效分析方法,其包括以下步骤:
1)、对PCB板进行外观光学检查,判断其是否有污染或开裂现象;
2)、对步骤1)中判断有污染或开裂现象的PCB板进行电性能检测,判断其是否有电性异常;
3)、对步骤2)中判断有电性异常的PCB板进行X-RAY射线检测,判断其上的焊接是否良好;
4)、对步骤3)中判断有焊接异常的PCB板进行电子扫描显微镜观察;
5)、对经过步骤4)处理的PCB板进行能谱分析。
根据本发明所述的PCB板失效分析方法,较好的是,所述PCB板失效产生的原因有热应力、机械应力和潮胀应力。
本发明所述的PCB板失效分析方法,其通过对PCB板进行外观光学检查、电性能检测、X-RAY射线检测以及电子扫描显微镜观察,可以有效、快速地检测出PCB板产生的失效现象。
具体实施方式
以下用实施例对本发明作更详细的描述。本实施例仅仅是对本发明最佳实施方式的描述,并不对本发明的范围有任何限制。
实施例
一种PCB板失效分析方法,其包括以下步骤:
1)、对PCB板进行外观光学检查,判断其是否有污染或开裂现象;
2)、对步骤1)中判断有污染或开裂现象的PCB板进行电性能检测,判断其是否有电性异常;
3)、对步骤2)中判断有电性异常的PCB板进行X-RAY射线检测,判断其上的焊接是否良好;
4)、对步骤3)中判断有焊接异常的PCB板进行电子扫描显微镜观察;
5)、对经过步骤4)处理的PCB板进行能谱分析。
其中,所述PCB板失效产生的原因有热应力、机械应力和潮胀应力等。
本发明所述的PCB板失效分析方法,其通过对PCB板进行外观光学检查、电性能检测、X-RAY射线检测以及电子扫描显微镜观察,可以有效、快速地检测出PCB板产生的失效现象。

Claims (2)

1.一种PCB板失效分析方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)、对PCB板进行外观光学检查,判断其是否有污染或开裂现象;
2)、对步骤1)中判断有污染或开裂现象的PCB板进行电性能检测,判断其是否有电性异常;
3)、对步骤2)甲判断有电性异常的PCB板进行X-RAY射线检测,判断其上的焊接是否良好;
4)、对步骤3)中判断有焊接异常的PCB板进行电子扫描显微镜观察;
5)、对经过步骤4)处理的PCB板进行能谱分析。
2.根据权利要求1所述的PCB板失效分析方法,其特征在于,所述PCB板失效产生的原因有热应力、机械应力和潮胀应力。
CN201110077633A 2011-03-29 2011-03-29 一种pcb板失效分析方法 Pending CN102313744A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201110077633A CN102313744A (zh) 2011-03-29 2011-03-29 一种pcb板失效分析方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201110077633A CN102313744A (zh) 2011-03-29 2011-03-29 一种pcb板失效分析方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN102313744A true CN102313744A (zh) 2012-01-11

Family

ID=45427095

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201110077633A Pending CN102313744A (zh) 2011-03-29 2011-03-29 一种pcb板失效分析方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN102313744A (zh)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105116105A (zh) * 2015-07-17 2015-12-02 深圳崇达多层线路板有限公司 一种微型印制电路板外观检查辅助装置
CN105510523A (zh) * 2014-09-25 2016-04-20 黄武 一种晶体三极管的失效分析方法
CN105629124A (zh) * 2016-01-01 2016-06-01 广州兴森快捷电路科技有限公司 一种pcb网络导通不良的分析方法
CN105652107A (zh) * 2014-12-04 2016-06-08 国家电网公司 一种直流输电换流阀触发监测单元的可靠性检测方法
CN106226310A (zh) * 2016-07-28 2016-12-14 广州兴森快捷电路科技有限公司 一种线路板通孔受热膨胀的失效分析试验方法
CN107592910A (zh) * 2015-04-15 2018-01-16 依科视朗国际有限公司 用于检查电子器件的方法
CN108318804A (zh) * 2018-02-01 2018-07-24 江西景旺精密电路有限公司 一种pcb自动检测方法及系统
CN110196256A (zh) * 2019-06-06 2019-09-03 上海机器人产业技术研究院有限公司 一种半导体器件的机械力失效分析方法
CN111913022A (zh) * 2020-07-30 2020-11-10 青岛歌尔微电子研究院有限公司 系统封装产品的电流失效分析方法
CN113009314A (zh) * 2021-02-07 2021-06-22 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) 一种印制线路板烧板失效的根因分析方法及装置
CN113495122A (zh) * 2020-04-07 2021-10-12 海太半导体(无锡)有限公司 一种倒装产品开路分析方法
CN113514670A (zh) * 2021-04-21 2021-10-19 芜湖雅葆轩电子科技股份有限公司 Pcb热应力试验方法
CN114252402A (zh) * 2021-12-21 2022-03-29 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) 一种印制电路板阻焊膜变色的分析处理方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
莫芸绮: "LCD用COF挠性印制板制作工艺研究及PCB失效分析", 《中国优秀硕士学位论文全文数据库》 *

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105510523A (zh) * 2014-09-25 2016-04-20 黄武 一种晶体三极管的失效分析方法
CN105652107A (zh) * 2014-12-04 2016-06-08 国家电网公司 一种直流输电换流阀触发监测单元的可靠性检测方法
CN105652107B (zh) * 2014-12-04 2019-04-05 国家电网公司 一种直流输电换流阀触发监测单元的可靠性检测方法
CN107592910A (zh) * 2015-04-15 2018-01-16 依科视朗国际有限公司 用于检查电子器件的方法
CN105116105A (zh) * 2015-07-17 2015-12-02 深圳崇达多层线路板有限公司 一种微型印制电路板外观检查辅助装置
CN105629124A (zh) * 2016-01-01 2016-06-01 广州兴森快捷电路科技有限公司 一种pcb网络导通不良的分析方法
CN106226310A (zh) * 2016-07-28 2016-12-14 广州兴森快捷电路科技有限公司 一种线路板通孔受热膨胀的失效分析试验方法
CN108318804A (zh) * 2018-02-01 2018-07-24 江西景旺精密电路有限公司 一种pcb自动检测方法及系统
CN110196256A (zh) * 2019-06-06 2019-09-03 上海机器人产业技术研究院有限公司 一种半导体器件的机械力失效分析方法
CN110196256B (zh) * 2019-06-06 2021-12-14 上海机器人产业技术研究院有限公司 一种半导体器件的机械力失效分析方法
CN113495122A (zh) * 2020-04-07 2021-10-12 海太半导体(无锡)有限公司 一种倒装产品开路分析方法
CN111913022A (zh) * 2020-07-30 2020-11-10 青岛歌尔微电子研究院有限公司 系统封装产品的电流失效分析方法
CN113009314A (zh) * 2021-02-07 2021-06-22 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) 一种印制线路板烧板失效的根因分析方法及装置
CN113514670A (zh) * 2021-04-21 2021-10-19 芜湖雅葆轩电子科技股份有限公司 Pcb热应力试验方法
CN114252402A (zh) * 2021-12-21 2022-03-29 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) 一种印制电路板阻焊膜变色的分析处理方法
CN114252402B (zh) * 2021-12-21 2024-01-26 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) 一种印制电路板阻焊膜变色的分析处理方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102313744A (zh) 一种pcb板失效分析方法
CN203423847U (zh) 能进行对准度检测的多层电路板
CN202661566U (zh) 一种电子元件引脚检测装置
CN103376264A (zh) 一种印刷电路板的表面检查方法
CN102313743A (zh) 一种电脑主机板失效分析方法
CN105758891A (zh) 一种pcb的性能检测方法
CN103217816B (zh) 阵列基板的检测方法、检测台和检测设备
CN117233218A (zh) 一种混合结构界面缺陷类型反演方法
CN103364674B (zh) 玻纤束阳极漏电失效的判定方法
CN105463464B (zh) 用于焊接过程形成的imc层检测的微蚀液及检测方法
CN106525114A (zh) 一种正片工艺中生产线制孔能力的测试方法
Weiss Detecting Corrosion to Prevent Cracks in MLCCs with AI
CN103336019A (zh) 一种线路板的导电阳极丝失效分析方法
CN103293159B (zh) 一种检验pcb板层间分离的方法
CN102879406A (zh) 一种蓝玻璃检验治具
CN106294126B (zh) Sen离子注入机台的自动化程式正确性管理方法及装置
CN101424646A (zh) 玻璃异物气泡检测方法
CN103619120B (zh) 一种可防金手指卡槽漏锣的线路板和制作方法
CN103869211B (zh) 一种以手套测试孔内开路的方法
TW200842346A (en) Detection method of printed circuit boards and the system thereof
CN202679785U (zh) 具有质量检测环的多层pcb板
KR101083999B1 (ko) 기판 조립체의 검사방법
CN203759063U (zh) 探针测试治具
CN102495780A (zh) 一种电脑主板失效分析方法
CN103869218B (zh) 预测电缆接头故障的方法及装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20120111

WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication