CN102269647B - 基于谐振腔技术测试保偏光纤耦合器偏振消光比的装置及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种基于谐振腔技术测试保偏光纤耦合器偏振消光比装置及方法。它将保偏光纤耦合器其中一个输出端和一个输入端相连构成一个最基本的环形谐振腔结构,通过测试光纤环形谐振腔的谐振曲线获取保偏光纤耦合器的偏振轴对准角度误差,得到保偏光纤耦合器的偏振消光比。测试保偏光纤耦合器偏振消光比的装置:光纤激光器、第一隔离器、光纤环形谐振腔、第二隔离器、光电探测器和示波器依次相连,光纤环形谐振腔置于温控面板上。同时对于光纤耦合器不能分离的光波导谐振腔,本发明可以无破坏性的对构成谐振腔的耦合器偏振消光比特性进行测试。本发明提供了一种新型简便的测试保偏光纤耦合器偏振消光比的方法,具有重要的科学意义与应用价值。
Description
技术领域
本发明涉及一种基于谐振腔技术测试保偏光纤耦合器偏振消光比的装置及方法。
背景技术
保偏光纤耦合器是能使耦合光保持与输入线偏振光相同偏振态的耦合器,是各种干涉型传感器和相干通信的关键器件,也是构成高精度、高性能光纤陀螺的基础元件之一。在光纤陀螺中,保偏光纤耦合器是连接光源、光电探测器和光纤谐振腔的重要器件。保偏光纤耦合器一方面把光源的光波输入到光纤环,另一方面把带有角速率信息的光强输出到探测器。而在光波导谐振腔中,保偏光波导耦合器与波导环在同一个衬底上构成一个谐振腔结构,作为谐振式微型光学陀螺的核心部件。保偏光纤耦合器的偏振消光比是用来表征偏振光耦合到各种元器件时的耦合质量,定义为沿传输轴方向的光强与转化到其正交方向上的光强之比,它是评价保偏耦合器对输入光保持偏振特性的重要参数。偏振消光比太低,会导致输出信号减弱,影响测试精度。
常用的偏正消光比的测试方法,需要使用昂贵的测试仪器,或者操作复杂,且对于环境的依赖性较大。因此如何采用合适的测试方法及装置,方便简单的获得保偏光纤耦合器的偏振消光比,对于光学陀螺中保偏光纤耦合器的应用及其对光学陀螺的进一步优化设计和性能提高,具有重要的科学意义和应用价值。
发明内容
本发明的目的是克服现有技术的不足,提供一种基于谐振腔技术测试保偏光纤耦合器偏振消光比装置及方法。
基于谐振腔技术测试保偏光纤耦合器偏振消光比装置包括温控面板、光纤激光器、第一隔离器、第二隔离器、光电探测器和示波器;光纤激光器、第一隔离器、光纤环形谐振腔、第二隔离器、光电探测器和示波器顺次连接,光纤环形谐振腔置于温控面板上。
基于谐振腔技术测试保偏光纤耦合器偏振消光比的方法的步骤如下:
1) 保偏光纤耦合器的第二输入端口和第二输出端口经过0°熔接后构成环形谐振腔,并至于温控面板上,0°熔接点距离耦合器的距离分别为LR和LL,并忽略腔中0°熔接点的偏振轴角度对准误差,通过控制温控面板的温度使保偏光纤的双折射率差保持ΔβL=2mπ,Δβ是x轴和y轴方向的传播常数差,L是光纤环的长度,m为整数;
2) 光纤激光器输出的激光经过第一隔离器后通过保偏光纤耦合器的第一输入端口进入光纤环形谐振腔,激光在保偏光纤耦合器的第一输出端口输出,再经过第二隔离器后由光电探测器将光纤环形谐振腔的输出激光信号转变成电信号,并通过示波器观察输出的电信号,当温控面板工作在使保偏光纤的双折射率差满足ΔβL=2mπ,并且光纤环形谐振腔的两个本征偏振态对应的两个谐振谷重合时,对应的光纤环形谐振腔的谐振点间距为保偏光纤耦合器偏振轴角度误差的两倍,即当ΔβL=2mπ时,两个本征偏振态谐振点间距表示为:
式中2ξ为两个本征偏振态的谐振点间距,θ cr 表示保偏光纤耦合器直通端口的偏振轴等效对准角度误差;
保偏光纤耦合器的偏振消光比的定义为沿传输轴方向的光强与转化到其他传输轴方向的光强之比,据此可以得到保偏光纤耦合器直通端口的偏振消光比:
本发明通过将保偏光纤耦合器的一个输入端口和一个输出端口通过0°熔接构成一个最基本的谐振腔结构,通过测试光纤环形谐振腔的两个本征偏振态的谐振点之间的距离,来获得保偏光纤耦合器的偏振消光比。现在的熔接机一般都可以做到熔接角度误差控制在1°以内,等效于35dB以上的偏振消光比。而保偏光纤耦合器的偏振消光比一般都小于30dB,绝大多数在20~25dB之间,因此熔接角度误差相对于保偏光纤耦合器的偏振轴对准角度差来说可以忽略。常用的偏正消光比的测试方法有旋转起偏器法和波长扫描法等,前者依赖于起偏器的性能,后者需要使用窄带光源,且外界扰动对测试结果影响较大。而消光比测试仪虽然测试精度较高,可以达到0.5dB,但是价格昂贵,不适合于一般实验室的器件性能测试。本发明根据保偏光纤的双折射效应和光纤环形谐振腔的谐振特性,提供了一种简单方便的获取保偏光纤耦合器的测试方法,利用常用的仪器搭建测试系统,且操作简单。同时对于光波导耦合器不能独立分离的光波导谐振腔,本发明可以无破坏性地对构成光纤环形谐振腔的光波导耦合器的偏振消光比特性进行测试。本发明对于光源及测试系统的其他器件没有特殊的要求,但测试精度受限于温控面板的温度控制精度,以及两个谐振谷底之间距离的测试精度。本发明的实施可为光学陀螺中保偏光纤耦合器的性能测试提供一种简便有效的方法,具有重要的科学意义和应用价值。
附图说明
图1是由保偏光纤耦合器构成光纤环形谐振腔结构示意图;
图2 是保偏光纤耦合器剖面图;
图3是保偏光纤耦合器偏振消光比测试装置结构示意图;
图4是保偏光纤耦合器偏振消光比测试曲线示意图;
图中:保偏光纤耦合器第一输入端口1、第一输出端口2、第二输入端口3、第二输出端口4、保偏光纤耦合器第二输入端口3与第二输出端口4的0°熔接点5、温控面板6、光纤激光器7、第一隔离器8、15°光纤熔接点9、光纤环形谐振腔10、第二隔离器11、光电探测器12、示波器13。
具体实施方式
如图1、3所示,基于谐振腔技术测试保偏光纤耦合器偏振消光比装置包括温控面板6、光纤激光器7、第一隔离器8、15°熔接点9、光纤环形谐振腔10、第二隔离器11、光电探测器12和示波器13;光纤激光器7、第一隔离器8、15°熔接点9、光纤环形谐振腔10、第二隔离器11、光电探测器12和示波器13顺次连接;光纤环形谐振腔10置于温控面板6上。
基于谐振腔技术测试保偏光纤耦合器偏振消光比的方法的步骤如下:
1) 保偏光纤耦合器的第二输入端口3和第二输出端口4经过0°熔接点5后构成光纤环形谐振腔10,并至于温控面板6上,0°熔接点5距离耦合器的距离分别为LR和LL,并忽略腔中0°熔接点5的偏振轴角度对准误差,通过控制温控面板6的温度使保偏光纤的双折射率差保持ΔβL=2mπ,Δβ是x轴和y轴方向的传播常数差,L是光纤环的长度,m为整数;
2) 光纤激光器输出的激光经过第一隔离器后通过保偏光纤耦合器的第一输入端口进入光纤环形谐振腔,激光在保偏光纤耦合器的第一输出端口输出,再经过第二隔离器后由光电探测器将光纤环形谐振腔的输出激光信号转变成电信号,并通过示波器观察输出的电信号,当温控面板工作在使保偏光纤的双折射率差满足ΔβL=2mπ,并且光纤环形谐振腔的两个本征偏振态对应的两个谐振谷重合时,对应的光纤环形谐振腔的谐振点间距为保偏光纤耦合器偏振轴角度误差的两倍,即当ΔβL=2mπ时,两个本征偏振态谐振点间距表示为:
式中2ξ为两个本征偏振态的谐振点间距,θ cr 表示保偏光纤耦合器直通端口的偏振轴等效对准角度误差;
保偏光纤耦合器的偏振消光比的定义为沿传输轴方向的光强与转化到其他传输轴方向的光强之比,据此可以得到保偏光纤耦合器直通端口的偏振消光比:
在保偏光纤耦合器直通端口耦合系数较大的前提下,利用传输矩阵的方法建立光纤环形谐振腔的偏振特性分析模型,考虑光纤环形谐振腔内熔接点损耗为α s ,光纤熔接的偏振轴对准角度误差为零,则光纤熔接点的传输矩阵可以表示为:
I为单位对角矩阵。
一段长度为z,扭转角度为零的光纤的传输矩阵可以表示为:
其中β是光波在光纤中的平均传播常数,可以表示为:
(4)
式中,β x 、β y 和n x 、n y 分别表示两个偏振态的传播常数和有效折射率。
熔接点前后两段光纤的光波传输矩阵A和B分别可以表示为:
(5)
光绕光纤环形谐振腔传输一周,除去保偏光纤耦合器外的传输矩阵Fs可以表示为:
当考虑光纤环形谐振腔的附加损耗与偏振无关的情况下,光波传输光纤环形谐振腔一周的传输矩阵可以表示为:
式中,
其中,C l 、C r 和C t 分别为保偏光纤耦合器的附加损耗、直通和交叉端口的耦合传输矩阵,Tr、Tt分别表示保偏光纤耦合器直通和交叉端口串扰的传输矩阵,分别可以表示为:
(16)
其中,α c 、C bar 和C cross 分别表示为保偏光纤耦合器的附加损耗、直通和交叉端口的光场幅度耦合系数,θ cr 和θ ct 分别表示保偏光纤耦合器直通端口和交叉端口的偏振轴等效对准角度误差。
其中,βL±ξ分别表示两个本征偏振态对应光波绕光纤环形谐振腔传输一周产生的相位,且有:
令a和b分别表示入射光纤环形谐振腔的光波在两个特征向量上的投影分量大小,则入射光波可以表示为:
出射光波用入射光波表示为:
(21)
其中,
则光纤环形谐振腔的输出光强可表示为:
化简后可以得到:
(24)
H 表示共轭转置运算。其中,
(26)
(27)
由式(24)可知,光纤环形谐振腔的输出是由两个谐振曲线线性叠加而成,其分别对应于光纤环形谐振腔的两个本征偏振态。同时,两个谐振曲线谐振点的距离为2ξ。
当温控面板工作在使保偏光纤的双折射率差满足ΔβL=2mπ时,两个本征偏振态对应的两个谐振谷重合,如图4示,对应的谐振点间距即为光纤环形谐振腔直通端口偏振轴角度误差的两倍。两个本征偏振态的谐振点间距可以表示为:
(28)
根据图4的测试结果,可知保偏光纤耦合器的偏振轴对准角度误差约为8 °,对应的保偏光纤耦合器的偏振消光比约为17 dB。
Claims (2)
1.一种基于谐振腔技术测试保偏光纤耦合器偏振消光比装置,其特征在于包括温控面板(6)、光纤激光器(7)、第一隔离器(8)、15°熔接点(9)、光纤环形谐振腔(10)、第二隔离器(11)、光电探测器(12)和示波器(13);保偏光纤耦合器的第二输入端口(3)和第二输出端口(4)经过0°熔接后构成光纤环形谐振腔(10);光纤激光器(7)、第一隔离器(8)、15°熔接点(9)、光纤环形谐振腔(10)、第二隔离器(11)、光电探测器(12)和示波器(13)顺次连接;光纤环形谐振腔(10)置于温控面板(6)上。
2.一种使用如权利要求1所述装置的基于谐振腔技术测试保偏光纤耦合器偏振消光比的方法,其特征在于它的步骤如下:
1) 保偏光纤耦合器的第二输入端口(3)和第二输出端口(4)经过0°熔接后构成环形谐振腔(10),并至于温控面板(6)上,0°熔接点(5)距离保偏光纤耦合器耦合器的距离分别为LR和LL,并忽略腔中0°熔接点(5)的偏振轴角度对准误差,通过控制温控面板(6)的温度使保偏光纤的双折射率差保持ΔβL=2mπ,Δβ是x轴和y轴方向的传播常数差,L是光纤环的长度,m为整数;
2) 光纤激光器(7)输出的激光经过第一隔离器(8)后通过保偏光纤耦合器的第一输入端口(1)进入光纤环形谐振腔(10),激光在保偏光纤耦合器的第一输出端口(2)输出,再经过第二隔离器(11)后由光电探测器(12)将光纤环形谐振腔(10)的输出激光信号转变成电信号,并通过示波器(13)观察输出的电信号,当温控面板(6)工作在使保偏光纤的双折射率差满足ΔβL=2mπ,并且光纤环形谐振腔(10)的两个本征偏振态对应的两个谐振谷重合时,对应的光纤环形谐振腔(10)的谐振点间距为保偏光纤耦合器偏振轴角度误差的两倍,即当ΔβL=2mπ时,两个本征偏振态谐振点间距表示为:
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