CN102227648B - 射线断层摄影装置的校正数据的收集方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种即使检测器环(12)宽也能可靠地收集校正数据的射线断层摄影装置的校正数据的收集方法。为了实现该课题，本发明的射线断层摄影装置的校正数据的收集方法为如下的构成，即，边使照射湮灭γ射线对的模型(41)以穿过检测器环(12)具有的内孔的方式移动，边取得同时事件数。通过如此构成，无需将模型(41)的宽度设为检测器环(12)的宽度以上，可以可靠地收集校正数据。另外，认为在检测器环(12)上不因其位置而变地以均匀的特性照射有湮灭γ射线对，可以取得更适合伪图像去除的校正数据。

Description

射线断层摄影装置的校正数据的收集方法

技术领域

本发明涉及将射线成像的射线断层摄影装置的校正数据的收集方法，特别涉及将块状的射线检测器排列成环状的射线断层摄影装置的校正数据的收集方法。 

背景技术

在医疗领域，检测从投给受检者并局限于关心部位的放射性药剂放出的湮灭射线对(例如，γ射线)而得到受检者的关心部位的放射性药剂分布的断层图像的射线断层摄影装置(ECT：Emission Computed Tomography)正在被使用。在ECT中，作为主要的装置，举出PET(Positoron Emission Tomography)装置、SPECT(Single Photon Emission Computed Tomography)装置等。 

以PET装置为例进行说明。PET装置具有将块状的射线检测器排列成环状的检测器环。该检测器环是为包围受检者而设的，制成可以检测透过受检者的射线的构成。 

在配备于这种PET装置的检测器环的射线检测器上，为提高裂化效率而经常搭载可对设置于射线检测器的闪烁器的深度方向的位置进行辨别的构成的装置。首先，对以往的PET装置的构成进行说明。如图10所示，以往的PET装置50具有：具备将受检者导入的导入孔的龙门架51、将检测射线的块状射线检测器52以包围导入孔的方式排列并形成于龙门架51的内部的检测器环53、以包围检测器环53的方式设置的支撑构件54。而且，关于各射线检测器52，在其支撑构件54介在的位置设有具备分压电路的分压单元55，该分压单元55将支撑构件54和射线检测器52连接在一起。 

PET装置测定从放射性药剂放射的湮灭射线对。即，从受检者M的内部放射的湮灭射线对为行进方向相差180°而反向的一对射线。 

为了使用这种PET装置50，首先取得用于图像修正的灵敏度不均。具体而言，将湮灭射线对的发生源即圆筒型的模型插入龙门架51的内部，在检测器环53上检测湮灭射线对(例如，参照专利文献1)。这时，尽管湮灭射线对从模型整体均匀地放射，检测器环53也并不一定产生湮灭射线对从模型整体均匀放射这种结果。原因是，在构成检测器环53的各射线检测元件之间，射线的检测灵敏度是不均的。因此，在将该时点得到的龙门架51内部的湮灭射线对分布成像的图像上有时会摄入某些伪图像，这就是检测器环53固有的湮灭射线对的检测灵敏度不均。 

在摄有受检者的射线断层图像上也会重叠该伪图像。但是，如果对射线断层图像进行消除该伪图像那样的图像处理，就会清除摄入射线断层图像的灵敏度不均，可以取得仅摄有受检者的鲜明的射线断层图像。即，在进行受检者的断层摄影之前，先将成为射线源的模型插入检测器环53，测定检测灵敏度不均。 

专利文献1：特开平10-2965号公报 

但是，根据以往的构成，具有如下所述的问题点。 

即，根据以往的构成，当将检测器环53加宽时，具有难以调节插入该检测器环53的模型之类的问题。近年来，正在开发检测器环53的宽度达到覆盖受检者全身的程度的射线断层摄影装置。为了消除这种射线断层摄影装置固有的灵敏度不均，为了堵塞检测器环53具有的贯通孔，需要充分的细长状且巨大的模型。 

模型在插入检测器环53之前，进行前期准备。即，模型成为填充有溶液的容器，首先，在其内部充满溶液。其次，添加放射性物质，将溶液搅拌。检测器环53越宽，用于充满模型的溶液的量越大，也越不易搅拌溶液。将前期准备结束的模型插入检测器环53的作业也越烦杂。 

发明内容

本发明是鉴于上述事情而开发的，其目的在于，提供一种即使检测器环53宽也能可靠地收集校正数据的射线断层摄影装置的校正数据的收集方法。 

本发明为了实现上述目的，采取如下所述的构成。即，本发明的射线断层摄影装置的校正数据的收集方法的所述射线断层摄影装置具备：检测射线的射线检测元件排列成环状的单位检测环、计数两个不同的射线检测元件同时检测到射线的次数即同时事件数的同时计数装置、基于同时事件数生成校正数据的校正数据生成装置，且具备通过将多个单位检测环以共用它们的中心轴的方式层叠而构成的检测器环，所述射线断层摄影装置的校正数据的收集方法的特征为，边使照射湮灭射线对的模型在检测器环具有的内孔的内部移动，边取得同时事件数，在以所述检测器环沿伸的方向为延伸方向时，所述模型相对于所述检测器环移动的方向沿着所述延伸方向，所述延伸方向的所述模型的长度比所述延伸方向的所述检测器环的长度短。

本发明边使照射湮灭射线对的模型以穿过检测器环具有的内孔的方式移动，边取得同时事件数。通过这样构成，无需将模型的宽度设为检测器环的宽度以上，可以可靠地收集校正数据。另外，模型为向检测器环均匀地照射湮灭射线对那样的形状。但是，实际的湮灭射线对的照射特性因模型的位置而稍有不同。在不使模型在检测器环内移动的以往的构成中，入射的湮灭射线对的照射特性依赖于检测器环的位置而不同，因此导致校正数据上会重叠模型的湮灭射线对的照射不均。根据本发明，模型在检测器环内移动，因此在校正数据中，模型具有的湮灭射线对的照射不均被冲淡，认为在检测器环上不因其位置而变地以均匀的特性照射有湮灭射线对，可以取得更适于伪图像除去的校正数据。 

本发明所涉及的校正数据的收集方法能够适用于检测器环在延伸方向上比模型更加延伸的情况。 

另外，所述的模型移动优选通过使模型移动的模型移动装置、和控制模型移动装置的模型控制装置来实现。 

该构成显示了模型移动的具体形态。即，根据该构成，由于具备用于使模型移动的各装置，因此可以提供一种更忠实地使模型移动的构成。 

另外，所述模型优选相对于检测器环进行往复移动。 

根据该构成，可以使充分长的模型存在于检测器环，因此可以增大用于校正数据取得的同时事件数。另外，由于模型的移动很复杂，因此模型 具有的湮灭射线对的照射不均在检测器环上会进一步被冲淡，可以取得更适于伪图像除去的校正数据。另外，模型所含的湮灭射线对在将模型安置于检测器环的时点最强，然后逐渐衰减。根据该构成，模型在检测器环内往复移动，因此可以认为在检测器环上以更均匀的特性照射有湮灭射线对。 

另外，所述模型的速度优选在移动开始时最快，随着模型移动，逐渐放慢。 

根据该构成，可以认为在检测器环上以更均匀的特性照射有湮灭射线对。模型所含的湮灭射线对在将模型安置于检测器环的时点最强，然后逐渐衰减，因此每单位时间照射于检测器环的湮灭射线对的射线量因模型的移动开始位置和移动终止位置而不同。根据该构成，可以设为如下构成，即，通过调节模型的速度，在模型的移动开始位置，使照射于检测器环的湮灭射线对的射线量减少，反之，在模型的移动终止位置，使照射于检测器环的湮灭射线对的射线量增大。 

另外，所述的同时计数装置优选仅在延伸方向的两个射线检测元件间的距离为规定的长度以下时，对同时事件数进行计数，模型的延伸方向的长度优选比规定的长度长。 

根据该构成，可以大大地减轻同时事件数的数据处理。即，同时计数装置仅在延伸方向的两个射线检测元件间的距离为规定的长度以下时，对同时事件数进行计数。在两个射线检测元件在延伸方向上相距过远时，统计这种射线检测元件间的同时事件数会增大同时计数装置的负担，因此采用不进行这种计数的构成。另外，模型的延伸方向的长度比规定的长度长。即，关于进行同时计数的两个射线检测元件间，成为可靠地照射湮灭射线对的构成。 

本发明一边使照射湮灭射线对的模型以穿过检测器环具有的内孔的方式移动，边取得同时事件数。通过这样构成，无需将模型的宽度设为检测器环的宽度以上，可以可靠地收集校正数据。另外，认为在检测器环上不因其位置而变地以均匀的特性照射有湮灭射线对，可以取得更适于伪图像除去的校正数据。 

另外，可以采用大大地减轻同时事件数的数据处理的构成。即，同时 计数装置仅在延伸方向的两个射线检测元件间的距离为规定的长度以下时，对同时事件数进行计数。并且，关于进行同时计数的两个射线检测元件间，模型的延伸方向的长度比规定的长度长，以使其可靠地照射湮灭射线对。 

附图说明

图1是对实施例1的射线断层摄影装置的构成进行说明的功能方框图。 

图2是对实施例1的射线检测器的构成进行说明的立体图。 

图3是对实施例1的检测器环的构成进行说明的图。 

图4是对实施例1的原始图像的取得方法进行说明的剖面图。 

图5是对实施例1的原始图像的取得方法进行说明的剖面图。 

图6是对实施例1的断层图像的取得方法进行说明的剖面图。 

图7是对实施例1的断层图像的取得方法进行说明的剖面图。 

图8是对实施例1的断层图像的取得方法进行说明的剖面图。 

图9是对本发明的一个变形例的构成进行说明的图。 

图10是对以往的射线断层摄影装置的构成进行说明的局部剖面图。 

符号说明： 

9 射线断层摄影装置 

12 检测器环 

12b 单位检测环 

15 台板移动机构(模型移动装置) 

16 台板移动控制部(模型移动控制装置) 

21 同时计数部(同时计数装置) 

26 校正数据生成部(校正数据生成装置) 

41 模型 

具体实施方式

下面，对本发明的射线断层摄影装置的校正数据的收集方法的最佳方式进行说明。另外，以下所述的γ射线是本发明的射线之一例。 

实施例1 

<射线断层摄影装置的整体构成> 

下面，参照附图对本发明的射线断层摄影装置的实施例进行说明。图1是对实施例1的射线断层摄影装置的构成进行说明的功能方框图。如图1所示，实施例1的射线断层摄影装置9具有使受检者M仰卧的台板10、具有包围受检者M的贯通孔的龙门架11。台板10以贯通龙门架11的开口的方式装设，并且沿龙门架11的开口延伸的方向进退自如。这种台板10的滑动通过台板移动机构15来实现。台板移动机构15由台板移动控制部16控制。 

在龙门架11的内部装设有检测从受检者M放射的湮灭γ射线对的检测器环12。该检测器环12为沿受检者M的体轴方向z(相当于本发明的延伸方向)延伸的筒状，其长度为1m～1.8m。即，检测器环12延伸到能完全覆盖受检者M的至少躯体部分的程度。时钟19向检测器环12发送时间信息。对从检测器环12输出的检测数据赋予在什么时点取得γ射线之类的时刻信息，且将其输入到后述的滤波部20。 

检测器环12将块状的射线检测器1排列成环状而构成。当设射线检测器1的平均每一个的宽度为约5cm时，在检测器环12上沿z方向排列有约20个～36个射线检测器1。对该射线检测器1的构成进行简单说明。图2是对实施例1的射线检测器的构成进行说明的立体图。如图2所示，射线检测器1具备将射线变换为荧光的闪烁器2、和检测荧光的光检测器3。而且，在介于闪烁器2和光检测器3之间的位置设有发送接收荧光的光导管4。 

闪烁器2是将闪烁晶体进行二维排列而构成的。闪烁晶体由Lu_2(1-x)Y_2XSiO₅(以下，称为LYSO)构成。而且，光检测器3可以特定哪个闪烁晶体发荧光这种荧光发生位置，并且也可以特定荧光的强度、及荧光发生的时刻。另外，实施例1的构成的闪烁器2只不过是可以采用的形态的例示。因此，本发明的构成不限于此。 

对检测器环12的构成进行说明。图3是对实施例1的检测器环的构成进行说明的图。射线检测器1在检测器环12中沿假想圆(准确地讲，为正n边形)并列。于是，闪烁晶体也沿假想圆(准确地讲，为正n边形) 并列，构成如图3(a)所示的单位检测环12b。单位检测环12b由在z方向上处于同一位置并且沿圆环排列的闪烁晶体C(射线检测元件)构成。即，单位检测环12b是闪烁晶体并列成一列而成的，与沿假想圆并列的射线检测器1是单独的概念。而且，如图3(b)所示，该单位检测环12b在z方向上连接在一起构成检测器环12。也可以扼要地简言之，在单位检测环12b的中心设有贯通孔，单位检测环12b以单位检测环12b具有的贯通孔连接在一起的方式排列，构成检测器环12。 

根据实施例1，通过100个左右的射线检测器1排列成圆环状，形成检测器环12，因此在从z方向看贯通孔12a时，贯通孔12a成为例如正100边形。在这种情况下，多个单位检测环12b共有各自的中心轴连接在一起，贯通孔12a成为100棱柱的形状。 

另外，如图1所示，实施例1的射线断层摄影装置9还设有用于取得受检者M的断层图像的各部。具体而言，射线断层摄影装置9具备：从由检测器环12检测到的检测数据中抽取有效数据的滤波部20、接收滤波部20认为有效的数据且进行湮灭γ射线对的同时计数的同时计数部21、从同时计数部21判断为是湮灭γ射线对的两个γ射线检测数据中辨别检测器环12的γ射线的入射位置的LOR特定部22、存储检测数据的数据存储部23、形成受检者M的断层图像的映射(マツピング)部24、对受检者M的断层图像加以校正的校正部25。校正部25参照存储于校正数据存储部34的原始图像，去除混入断层图像的伪图像。另外，关于设置计数对象区域设定部33的意义，如后所述。另外，MRD存储部37用于存储后述的MRD。输入部38用于输入手术者的操作，例如，受理MRD的变更。 

上述的同时计数部相当于本发明的同时计数装置，校正数据生成部相当于本发明的校正数据生成装置。另外，台板移动机构相当于本发明的模型移动装置，台板移动控制部相当于模型移动控制装置。 

而且，实施例1的射线断层摄影装置9还具备集中控制各部的主控制部35、显示射线断层图像的显示部36。该主控制部35由CPU构成，通过执行各种程序，实现滤波部20、同时计数部21、LOR特定部22、数据存储部23、及映射部24、校正部25。另外，上述各部也可以分割成担当 各部的控制装置而实现。 

<原始图像的取得> 

接着，对校正数据存储部34中存储的原始图像的取得方法进行说明。原始图像(オリジナルマツプ)是对检测器环12固有的湮灭射线对的检测灵敏度的不均等进行映射的映射数据。为了作成原始图像，首先，准备照射射线的模型41。该模型41具有可以载置于台板10的程度的宽度，呈沿z方向延伸的圆柱状。模型41的z方向的长度为本实施例的特征构成，如后所述。 

模型41为仿龙门架11的开口形状的圆筒状，具有填充溶液的中空部。模型41相对于检测器环12的移动方向与模型41的延伸方向一致。首先，在模型41的中空部充满溶液后，添加放射性物质。作为放射性物质的种类，选择对产生湮灭γ射线对的阳电子进行放出的核素。更具体而言，优选与注射于受检者M的放射性药剂所用的核素相同。向充满溶液的模型41添加放射性物质，并将模型41的中空部密闭后，摇动模型41。通过这样操作，从模型41整体均匀地放射湮灭γ射线对。 

然后，将模型41安装于台板10。在这种情况下，当配置在台板10上时，台板10的承受力减弱，因此并优选使用模型安装夹具等，从模型放出的γ射线直接到达检测器的收集系统。而且，模型41的z方向的长度比检测器环12的短。台板移动机构15使搭载有模型41的状态中的台板10滑动。于是，如图4(a)所示，模型41的前端41a穿过位于检测器环12的一端的单位检测环12c。该时点为模型41的初始位置。 

射线断层摄影装置9从模型41为上述初始位置的状态起，进行校正数据的收集。由检测器环12得到的检测数据(闪烁晶体发的荧光相关的数据)发送到滤波部20。滤波部20仅将位于计数对象区域R的闪烁晶体得到的检测数据输入到同时计数部21，将其以外的检测数据废弃。通过这样操作，在同时计数部21中，可以省略多余的运算，可以大大地简化复杂的同时计数运算。初始位置的计数对象区域R仅是属于单位检测环12c的闪烁晶体，具体而言，图4(a)的斜线部分。 

另外，计数对象区域R为计数对象区域设定部33设定的区域，滤波部20依次从计数对象区域设定部33读出最新的计数对象区域R。 

在同时计数部21中，在具有规定的时间性地宽度的选通信号显示窗口中，在收集来自不同的两个闪烁晶体的检测数据的情况下，将此设为湮灭γ射线对实现的数据，且对该次数进行计数。该次数就是同时事件数。该同时判断使用时钟19赋予检测数据的时刻信息。 

在LOR特定部22中，得到(割り出す)湮灭γ射线对出射的方向。即，同时计数部21认为同时的检测数据中也包含哪个闪烁晶体发荧光这种位置信息。在LOR特定部22中，得出(割り出す)连接该两个闪烁晶体的线段即LOR(Line of Response)分度，且将LOR和与之对应的同时事件数发送到数据存储部23。 

一边进行如上所述的射线的检测，一边使台板10滑动。于是，随之而来的是，模型41和检测器环12的相对位置从初始位置开始变更，并且进行计数对象区域R的变更。即，当模型41从初始位置仅移动z方向的单位检测环12b的宽度的量时，在计数对象区域R追加邻接于单位检测环12c的单位检测环12b的区域。即，在计数对象区域设定部33具有从台板移动控制部16发送来的表示台板10的移动状况的数据，计数对象区域设定部33基于该数据，扩充计数对象区域R。 

以后，模型41每移动单位检测环12b的宽度的量，计数对象区域设定部33就重新追加单一的单位检测环12b，在z方向上扩充计数对象区域R，直到成为模型41被检测器环12完全覆盖的图4(b)所示的状态。换言之，与模型41相面对的闪烁晶体位于计数对象区域R。在图4(b)中，计数对象区域R成为8个闪烁晶体的宽度。该8这种数字是通过后述的MRD加1而得到的。 

当模型41从图4(b)的状态移动单位检测环12b的宽度量时，计数对象区域设定部33不会过多地扩充计数对象区域R，本次以追随模型41的方式使计数对象区域R位移。即，计数对象区域设定部33使单位检测环12c脱离计数对象区域R，并且以重新追加位于模型41的前端41a侧的单一的单位检测环12b的方式再次设定计数对象区域R。模型41每移动单位检测环12b的宽度的量，计数对象区域设定部33都使计数对象区域R位移。在图5(a)中，表示模型41位于检测器环12的中间的状态。计数对象区域R就z方向而言，始终位于夹在模型41的前端41a、后端41b 的区划内。 

以后，随着模型41的移动，位于后端41b的后方的单位检测环12b依次脱离计数对象区域R，不久，如图5(b)所示，模型41的后端41b就位于处在检测器环12的一端的单位检测环12d。该状态为模型41的移动终止位置。 

这样，在使模型41从初始位置移动到终止位置的期间，检测器环12具有的闪烁晶体必定包含在计数对象区域R内，对全部闪烁晶体进行同时计数。 

数据存储部23存储有LOR和与之对应的同时事件数。映射部24组装该数据，取得可看到检测器环12的内部的原始图像。模型41均匀地放射湮灭射线对，因此如果单纯地考虑，就会预想原始图像上不出现任何伪图像。但是，实际上未必如此，因各闪烁晶体之间的灵敏度不均等影响，原始图像上会出现任意的伪图像。 

作为伪图像的要因，除上述的灵敏度不均以外，还有如下原因。例如，射线检测器1在位于闪烁器2的侧边的闪烁晶体中，与位于闪烁器中央的闪烁晶体相比，具有难以检测射线的特性，出现由此引起的伪图像。造成这种伪图像的要因被称为截面内区块形状因子。另外，与此不同的是，因LOR的长度越长、LOR宽度越小，γ射线的检测灵敏度越下降的性质，会产生另外的伪图像。造成这种伪图像的要因被称为矢径方向几何学因子。 

另外，作为不同于上述因子的因子，具有晶体干涉因子。在γ射线倾斜地入射于闪烁晶体的情况、及持有深度方向的信息的DOI检测器的情况下，在接近模型41的一侧的闪烁晶体中，有时不进行检测就穿过，而用其近邻即远离模型41的晶体来检测。在这种情况下，远离模型41的一侧的闪烁晶体的检测灵敏度比近侧的低，会产生伪图像。这就是晶体干涉因子。原始图像中，也出现来源于这些因子的伪图像。 

校正数据基于原始图像在校正数据生成部26作成，由校正数据存储部34存储。当假使该校正数据作用于原始图像时，原始图像具有的伪图像就会被清除。 

<射线断层摄影装置的动作> 

接着，对实施例1的射线断层摄影装置9的动作进行说明。为了用实 施例1的射线断层摄影装置9进行检查，首先，将预注射有射线药剂的受检者M载置于台板10。然后，使台板10滑动，将受检者M导入龙门架11的开口。从该时点起，开始检测从受检者M发出的湮灭γ射线对。 

在检测湮灭射线对的情况下，对重要的概念即最大环差(MRD)进行说明。LOR的本意是连接彼此不同的闪烁晶体的线段。如图6所示，当关注闪烁晶体C8时，可以考虑到非常多的LOR。但是，并非全部LOR都是断层图像的取得所需。例如，图6的LOR100g是将闪烁晶体C8和闪烁晶体Dr连接起来的线段。两闪烁晶体彼此在z方向上相距过远，γ射线从斜方向入射于闪烁晶体。难以检测这种γ射线，即使进行LOR100g的同时计数，也并不那么有助于断层图像的鲜明化。与此同时，必须使同时计数的计算简单化，从抑制LOR数的观点出发，得到关于LOR100g也可以从一开始就不进行计数这种想法。 

即，在考虑闪烁晶体C8具有的LOR的情况下，在z方向上，只要仅考虑位于闪烁晶体C8附近的闪烁晶体即可。例如，在考虑闪烁晶体C8具有的LOR的情况下，对于闪烁晶体C8而言，考虑z方向的距离为7个以下的闪烁晶体。该数字‘7’是在同时计数时调节加以考虑的LOR的个数的数字，被称为MRD(Maximum ring difference)。即，在将MRD设为7的情况下，加以考虑的LOR为LOR1g～LOR15g，再通俗一点来说，只有将属于具有15个闪烁晶体(MRD×2+1个宽度)的宽度的区域的闪烁晶体中的任一个和闪烁晶体C8连接起来的LOR是与闪烁晶体C8相关的LOR。 

这种LOR的选拔由滤波部20来进行。在两个闪烁晶体同时检测到γ射线时，滤波部20在两个闪烁晶体的z方向的离开距离为MRD以下时，将两个闪烁晶体的检测数据输入到同时计数部21，在离开距离大于MRD时，将检测数据废弃。 

滤波部20将检测数据发送到同时计数部21、LOR特定部22、数据存储部23、映射部24。关于这些动作，与上述同样，因此省略说明。映射部24组装的受检者M的断层图像输出到校正部25。在校正部25，基于校正数据存储部34所存储的校正数据，进行去除重叠于受检者M的断层像的伪图像的数据处理。这样得到的完成图像由显示部36进行显示。由 此，使用实施例1的构成的射线断层摄影装置9的检查结束。 

<关于模型的长度> 

接着，对实施例1的构成中特征模型41的长度进行说明。如利用图5(a)所述，模型41的长度与计数对象区域R的最大长度密切相关。因此，在实施例1的构成中，如果适合的计数对象区域R的最大长度被确定，则模型41的长度就会自然而然地就被确定。 

在检查受检者M时，用于同时计数的LOR由滤波部20选拔。另一方面，在取得校正数据的情况下，也通过指定计数对象区域R，来选拔LOR。因此，只要使受检者M的检查时的LOR的选拔、和取得校正数据时的LOR的选拔一致，校正数据的取得就最有效。 

基于这些事情对模型41的长度设定进行说明。首先，对位于检测器环12的一端的单位检测环12c进行考察。图7是对位于实施例1的构成的检测器环的一端的单位检测环的LOR进行说明的示意图。设从单位检测环12c起分割成7个单位检测环份(MRD份)的单位检测环为单位检测环12e。参照图7(a)即可知，属于单位检测环12c的闪烁晶体C8具有的LOR中用于检查的LOR为[将闪烁晶体C8、及从单位检测环12c起在z方向上分割成1个～7个的各单位检测环连接]的LOR1g～LOR7g的七种、和[将闪烁晶体C8、及属于单位检测环12c的闪烁晶体D8连接]的LOR8g的一种加在一起的八种。 

另一方面，图7(a)中的区域K1为在取得校正数据时模型41暂时占有的区域。模型41为单位检测环宽度的8倍的长度以上，因此LOR1g～LOR8g全都穿过区域K1。只要模型41位于区域K1，就会可靠地从模型41照射沿着LOR1g～LOR8g的湮灭γ射线对。另外，单位检测环的宽度的8倍的长度(MRD+1个的单位检测环12b的宽度)相当于本发明的规定长度。 

接着，对位于检测器环12的另一端的单位检测环12d进行考察。设从单位检测环12d离开7个单位检测环的量的单位检测环为单位检测环12f。参照图7(b)即可知，属于单位检测环12d的闪烁晶体C8具有的LOR中、用于检查的LOR为[将闪烁晶体C8、及从单位检测环12d起在z方向上分割成1个～7个的各单位检测环连接]的LOR9g～LOR15g的 七种、和[将闪烁晶体C8、及属于单位检测环12d的闪烁晶体D8连接]的LOR8g的一种加在一起的八种。 

另一方面，图7(b)中的区域K2为在取得校正数据时模型41暂时占有的区域。模型41为单位检测环宽度的8倍的长度以上，因此LOR8g～LOR15g全都穿过区域K2。只要模型41位于区域K2，就会可靠地从模型41照射沿着LOR8g～LOR15g的湮灭γ射线对。 

接下来，对位于检测器环12的中央部的闪烁晶体进行说明。在这种情况下，可以用将上述的图7(a)和图7(b)组合在一起的概念图来理解。图8是对位于实施例1的构成的检测器环的中央部的单位检测环的LOR进行说明的示意图。即，如图8(a)所示，闪烁晶体C8具有的LOR中用于检查的LOR为如下的(1)、(2)、(3)加在一起的全部15种，即：(1)将闪烁晶体C8、及位于该闪烁晶体C8的左侧(检测器环12的另一端侧)并且从闪烁晶体C8起在z方向上分割成1个～7个的各单位检测环连接的LOR1g～LOR8g的7种；(2)将闪烁晶体C8和该闪烁晶体C8所属的单位检测环连接的LOR8g的1种；(3)将闪烁晶体C8、和位于该闪烁晶体C8的右侧(检测器环12的一端侧)并且从闪烁晶体C8起在z方向上分割成1个～7个的各单位检测环连接的LOR9g～LOR15g的7种。图8(a)的区域K1为在取得校正数据时模型41暂时占有的区域。即，就(1)、(2)所述的8种LOR1g～LOR8g而言，会从模型41可靠地照射沿着这些LOR的湮灭γ射线对。 

另外，图8(b)的区域K2为在取得校正数据时模型41暂时占有的区域。即，就(3)所述的7种LOR9g～LOR15g而言，会从模型41可靠地照射沿着这些LOR的湮灭γ射线对。 

另外，在闪烁晶体C8位于图7所示的检测器环12c、检测器环12d附近的情况下，不能减去LOR1g～LOR15g中的某几个。关于该情况，可以用图8进行说明。即，在闪烁晶体C8位于检测器环12的右端附近的情况下，在图8(a)中，只要消除位于闪烁晶体C8的右侧的检测器环的几个而考虑即可。另外，在闪烁晶体C8位于检测器环12的左端附近时，在图8(b)的情况下，只要消除位于闪烁晶体C8的左侧的检测器环的某几个而考虑即可。这样，在闪烁晶体C8位于检测器环12的一端附近的情况 下，也同样会从模型41可靠地照射沿着用于检查的LOR的湮灭γ射线对。 

这样，在任一情况下，就用于检查的全部LOR而言，也都取得了校正数据，因此重叠于检查中得到的检测数据的伪图像得以可靠地清除。 

如上所述，实施例1的构成一边使照射湮灭γ射线对的模型41以穿过检测器环12具有的内孔的方式移动，一边取得同时事件数。通过这样构成，不必将模型41的宽度设为检测器环12的宽度以上，可以可靠地收集校正数据。另外，模型41成为向检测器环12均匀地照射湮灭γ射线对那样的形状。但是，实际的湮灭γ射线对的照射特性，在模型41内部的射线源的均匀性差的情况下，有时会因模型41的位置而稍有不同。在不使模型41在检测器环12内移动的以往的构成中，入射的湮灭γ射线对的照射特性因依赖于检测器环12的位置而不同，导致在校正数据上重叠模型41的湮灭γ射线对的照射不均。根据实施例1的构成，模型41在检测器环12内移动，因此在校正数据中，模型41具有的湮灭γ射线对的照射不均被冲淡(ボカされる)，因此认为在检测器环12上不因其位置而变地以均匀的特性照射有湮灭γ射线对，可以取得更适于伪图像除去的校正数据。另外，在检测器环12具有的内孔比模型41短的情况、长的情况中任一情况下，如果使模型41相对于检测器环12移动，也同样可以消除模型41的湮灭γ射线对的照射不均。 

另外，根据该构成，可以大大地减轻同时事件数的数据处理。即，同时计数部21仅在z方向的两个闪烁晶体间的距离为规定长度(计数对象区域R的最大长度)以下时，对同时事件数进行计数。在两个闪烁晶体在z方向上相距过远时，对这种闪烁晶体间的同时事件数进行计数会增大同时计数部21的负担，因此采用不进行这种计数的构成。另外，模型41的z方向的长度比规定的长度长。即，进行同时计数的两个闪烁晶体间成为可靠地照射湮灭γ射线对的构成。 

本发明不局限于上述构成，可以如下所述实施变形。 

(1)上述实施例的射线检测器1具备单层的闪烁晶体层。但是，本发明不局限于此。即，如图9(a)所示，也可以使用具有多晶体层的射线检测器1。这样，射线检测器1的γ射线的检测灵敏度、入射位置的辨别能力得以强化。根据图9(a)的例子，二维地排列有闪烁晶体的晶体层为 以从光导管4起层叠的方式设有四层的构成，但层数不局限于此。关于本变形例的原始图像的取得动作、及受检者M的断层图像的生成动作，可以援用实施例1的说明的大部分。作为具体的变更点，在实施例1的构成的基础上增加了LOR。即，例如，在考察图9(b)的闪烁晶体C8的LOR时，相当于图8(a)的LOR15g的LOR分裂成如下四种，即，(1)连接闪烁晶体C8和最上层的晶体层的LOR15h；(2)连接闪烁晶体C8和第二层的晶体层的LOR15i；(3)连接闪烁晶体C8和第三层的晶体层的LOR15j；及(4)连接闪烁晶体C8和第四层的晶体层的LOR15k。滤波部20不区分四层就将检测数据输入到后面各部，在LOR特定部22中，区分四层并进行数据处理。 

(2)在上述的实施例中，模型41仅向一方向移动，但本发明不局限于该构成。即，模型41也可以按照从图4(a)的状态起暂时如图5(b)那样移动然后从此处返回而成为图4(a)的状态的方式移动。即，模型41也可以一边在检测器环12的内部进行往复移动，一边生成原始图像。本变形例的效果如下所述。模型41在使用前被摇动，成为向检测器环12均匀地照射湮灭γ射线对那样的形状。但是，实际的湮灭γ射线对的照射特性因模型41的位置而稍有不同。在不使模型41在检测器环12内移动的以往的构成中，入射的湮灭γ射线对的照射特性依赖于检测器环12的位置而不同，因此导致校正数据上重叠有模型41的湮灭γ射线对的照射不均。根据本变形例，模型41在检测器环12内移动，因此在校正数据中，模型41具有的湮灭γ射线对的照射不均被冲淡，因此认为在检测器环12上不因其位置而变地以均匀的特性照射有湮灭γ射线对，可以取得更适于伪图像除去的校正数据。 

(3)另外，在上述实施例中，没有特别说明模型41的速度，但也可以采用如下构成，即，在原始图像的取得时，在移动的开始时，模型41的速度最快，随着模型41移动，将其速度逐渐放慢。根据这种构成，可以认为在检测器环12上以更均匀的特性照射湮灭γ射线对。模型41所含的湮灭γ射线对在将模型41安置于检测器环12的时点最强，通过物理半衰期而逐渐衰减，因此每单位时间照射于检测器环12的湮灭γ射线对的射线量因模型41的移动开始位置和移动终止位置而不同。根据该构成， 可以设为如下构成，即，通过调节模型41的速度，在模型41的移动开始位置，减小照射于检测器环12的湮灭γ射线对的射线量，反之，在模型41的移动终止位置，增大照射于检测器环12的湮灭γ射线对的射线量。 

(4)上述的实施例所述的闪烁晶体由LYSO构成，但在本发明中，也可以取而代之，由GSO(Gd₂SiO₅)等以外的材料构成闪烁晶体。根据本变形例，可以提供一种更经济的射线检测器及其制造方法。 

(5)在上述的实施例中，荧光检测器由光电子增倍管构成，但本发明不局限于此。也可以代替光电子增倍管，而使用光电二极管及雪崩光电二极管及半导体检测器等。 

(6)在上述的实施例中，台板滑动自如，但本发明不局限于此，例如，也可以采用台板固定而龙门架11滑动的构成。 

产业上的可利用性 

如上所述，本发明适合医用射线断层摄影装置。 

Claims (8)

1.一种射线断层摄影装置的校正数据的收集方法，所述射线断层摄影装置具备：检测射线的射线检测元件排列成环状的单位检测环、对两个不同的射线检测元件同时检测到射线的次数即同时事件数进行计数的同时计数装置、基于所述同时事件数生成校正数据的校正数据生成装置，且具备通过将多个单位检测环以共用它们的中心轴的方式层叠而构成的检测器环，其特征在于，

一边使照射湮灭射线对的模型在所述检测器环所具有的内孔的内部移动，一边取得所述同时事件数，

在以所述检测器环延伸的方向为延伸方向时，

所述模型相对于所述检测器环移动的方向沿着所述延伸方向，

所述延伸方向的所述模型的长度比所述延伸方向的所述检测器环的长度短。

2.如权利要求1所述的射线断层摄影装置的校正数据的收集方法，其特征在于，

所述模型的移动通过使所述模型移动的模型移动装置、和控制所述模型移动装置的模型控制装置来实现。

3.如权利要求1或2所述的射线断层摄影装置的校正数据的收集方法，其特征在于，

所述模型相对于所述检测器环进行往复移动。

4.如权利要求1或2所述的射线断层摄影装置的校正数据的收集方法，其特征在于，

所述模型的速度在移动开始时最快，随着所述模型移动逐渐变慢。

5.如权利要求3所述的射线断层摄影装置的校正数据的收集方法，其特征在于，

所述模型的速度在移动开始时最快，随着所述模型移动逐渐变慢。

6.如权利要求1或2所述的射线断层摄影装置的校正数据的收集方法，其特征在于，

所述同时计数装置仅在所述延伸方向的两个射线检测元件间的距离为规定的长度以下时，对同时事件数进行计数，

所述模型的所述延伸方向的长度比所述规定的长度长。

7.如权利要求3所述的射线断层摄影装置的校正数据的收集方法，其特征在于，

所述同时计数装置仅在所述延伸方向的两个射线检测元件间的距离为规定的长度以下时，对同时事件数进行计数，

所述模型的所述延伸方向的长度比所述规定的长度长。

8.如权利要求4所述的射线断层摄影装置的校正数据的收集方法，其特征在于，

所述同时计数装置仅在所述延伸方向的两个射线检测元件间的距离为规定的长度以下时，对同时事件数进行计数，

所述模型的所述延伸方向的长度比所述规定的长度长。

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