CN102193064A - 电路板的信号测试装置 - Google Patents

电路板的信号测试装置 Download PDF

Info

Publication number
CN102193064A
CN102193064A CN2010101345364A CN201010134536A CN102193064A CN 102193064 A CN102193064 A CN 102193064A CN 2010101345364 A CN2010101345364 A CN 2010101345364A CN 201010134536 A CN201010134536 A CN 201010134536A CN 102193064 A CN102193064 A CN 102193064A
Authority
CN
China
Prior art keywords
circuit board
signal
detection module
testing apparatus
test
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN2010101345364A
Other languages
English (en)
Inventor
黄乾坤
陳志丰
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Inventec Corp
Original Assignee
Inventec Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Inventec Corp filed Critical Inventec Corp
Priority to CN2010101345364A priority Critical patent/CN102193064A/zh
Publication of CN102193064A publication Critical patent/CN102193064A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本发明提出一种电路板的信号测试装置，包括连接接口、检测模块与显示单元。连接接口连接至所述电路板，以接收并传输所述电路板的多个测试信号。检测模块连接至连接接口，接收并检测所述电路板的多个测试信号，以产生检测信号，其中，所述检测信号根据所述检测模块检测出所述电路板的多个测试信号其中之一发生异常而产生。显示单元连接至所述检测模块，接收并显示所述检测信号。借此，可有效地减少电路板的测试时间，以提高测试效率。

Description

电路板的信号测试装置
技术领域
本发明涉及一种除错(debug)装置，且特别涉及一种电路板的信号测试装置。
背景技术
一般来说，计算机或服务器所使用的主板(motherboard)都需要通过上电时序(power sequence)的验证，以便于确定主板是否可以正常使用。因此上电时序的测试项目对于测试工程师进行主板测试来说十分重要。
另外，就电源开启程序这个测试项目来说，主要是用来验证主板在电源开启(power-on)时，主板上的各个待测电压的电压准位是否正确，以及各个待测电压间的电压逻辑准位转态的时间点是否正确。
而若是各个待测电压的电压准位正确以及各个待测电压间的电压逻辑准位转态的时间点正确，表示主板可以正常使用；若是各个待测电压的电压准位不正确以及各个待测电压间的电压逻辑准位转态的时间点不正确，表示主板不能正常使用。
测试工程师检查主板上的待测电压通常是利用万用电表检查逐一检测主板上有无供电电压异常或是利用示波器检查主板上有无异常的Reset信号。最后，再根据上述所检测出的异常电压或信号分析相关电路并找出问题点。
由于需测试的电压与信号(例如主板上的工作电压、Power Good/Reset信号)很多，若依序一个一个量测上述待测电压与信号将耗费许多时间成本，而造成测试效率降低。而且，待测电压及信号繁多且复杂，使得测试工程师容易忘记测试顺序而需要重新量测，如此也会浪费过多的测试时间，而让测试效果变差。
发明内容
本发明的目的就是提供一种电路板的信号测试装置，借以有效地减少电路板的测试时间，以提高测试效率。
本发明提出一种电路板的信号测试装置，包括连接接口、检测模块与显示单元。连接接口连接至所述电路板，以接收并传输所述电路板的多个测试信号。检测模块连接至连接接口，接收并检测所述电路板的多个测试信号，以产生检测信号，其中，所述检测信号根据所述检测模块检测出所述电路板的多个测试信号其中之一发生异常而产生。显示单元连接至所述检测模块，接收并显示所述检测信号。
在本发明的一实施例中，所述电路板的信号测试装置进一步包括电平转换电路，其连接于所述连接接口与所述检测模块之间，用以转换所述电路板的多个测试信号的电平。
在本发明的一实施例中，所述检测模块包括查表，其具有所述电路板的多个测试信号与所述检测信号的对应关系。
在本发明的一实施例中，所述电路板的信号测试装置进一步包括数据输入接口，其连接至所述检测模块，用以接收并传输更新数据，以更新所述查表的数据。
在本发明的一实施例中，所述连接接口为32比特的连接接口。
在本发明的一实施例中，所述检测模块包括复杂可程序逻辑装置(complex programmable logic deVice，CPLD)。
在本发明的一实施例中，所述显示单元为8比特发光二极管的显示器。
在本发明的一实施例中，所述电路板为主板。
本发明通过信号测试装置接收电路板的所有测试信号，而所有测试信号可经过检测模块进行检测后，一旦检测出某一信号发生异常(也即检测模块没有接收到上述信号)时，则检测模块会产生检测信号给显示单元，以显示出检测信号。如此一来，使用者(测试工程师)不需要逐一对电路板(主板)上的测试端进行测试信号的量测，可通过显示单元所显示的信息，而快速的找到造成上述信号发生异常的电路，进而加快电路板的测试速度及效率。
为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附图式作详细说明如下。
附图说明
图1为本发明一实施例的电路板的信号测试装置方块图。
附图标记说明：
100：信号测试装置；
110：连接接口；
120：检测模块；
130：显示单元；
140：电平转换单元；
150：数据输入接口；
180：电路板。
具体实施方式
图1为本发明一实施例的电路板的信号测试装置方块图。在本实施例中，电路板180为一计算机的主板(motherboard)。请参照图1，信号测试装置100包括连接接口110、检测模块120与显示单元130。
连接接口110连接至电路板180，用以接收所述电路板180的多个测试信号。在本实施例中，连接接口110例如为32比特的连接接口。也就是说，连接接口110可以接收电路板180的测试信号为32个，但本实施例不限于此，使用者可视电路板180所需进行的测试信号的数量而增加或减少连接接口110的比特数。另外，在本实施例中，测试信号包括电路板(主板)180上的所有电压，例如工作电压、重置(reset)信号及电源良好(power good)信号等。
检测模块120连接至连接接口110，用以接收并检测所述电路板180的多个测试信号，以产生检测信号。其中，检测信号根据检测模块120检测出电路板180的某一个测试信号发生异常(例如检测模块120未接收到电路板180的某一个测试信号)而产生。在本实施例中，检测模块120可以包括复杂可编程逻辑装置(complex programmable logic device，CPLD)。另外，检测模块120包括一查表，此查表具有电路板180的测试信号与检测信号的对应关系。而检测模块120检测出电路板180的某一个测试信号发生异常时，会根据查表而产生对应的检测信号给显示单元130。
显示单元130连接至检测模块120，用以接收并显示检测信号，以便告知使用者电路板180的哪一个测试信号发生异常，而使用者便可通过显示单元130所显示的信息，而快速的找到致使上述测试信号发生异常的电路，并进行状况排除，使得电路板180可再次进行正常的操作。在本实施例中，显示单元130例如为8比特发光二极管的显示器，因此显示单元130可以显示“00000000”～“11111111”的信息，而使用者便可透过上述的信息而找到电路板180发生异常的原因。如此一来，便可加快电路板180的测试速度。
以下，将列举一例并搭配表1来说明信号测试装置100的操作。表1为本实施例的电路板180的测试信号与检测模块120的检测信号(显示单元130所显示的信息)的对应关系表。
表1
序号 测试信号   检测信号(8比特发光二极管的显示)
  1   P3V_VBAT   00000001(01H)
  2   P5V_STBY   00000010(02H)
  3   P5V_DUAL   00000011(03H)
  4   P3V3_STBY   00000100(04H)
  5   PGD_P3V3SB   00000101(05H)
  6   SB_RSMRST_N   00000110(06H)
  7   SB_PWRBTN_N   00000111(07H)
  8   SB_SLP_S4_N   00001000(08H)
  9   DC_ON_N   00001001(09H)
  10   P3V3   00001010(0AH)
  11   P5V   00001011(0BH)
  12   P12V   00001100(0CH)
  13   PGD_PS12   00001101(0DH)
  14   P2V5_MCH   00001110(0EH)
  15   P2V5_NIC   00001111(0FH)
  16   P2V5_NIC2   00010000(10H)
  17   P1V5   00100000(20H)
  18   PGD_P1V5   00110000(30H)
  19   P1V8   01000000(40H)
  20   PGD_DDR2_P1V8   01010000(50H)
  21   PVTT_MEM   01100000(60H)
  22   PGD_DDR2_P0V9   01110000(70H)
  23   PVTT_CPU   10000000(80H)
  24   PGD_VTT_CPU   10010000(90H)
  25   PVCORE1   10100000(A0H)
  26   PGD_VRD   10110000(B0H)
  27   PGD_ALL_140MS   11000000(C0H)
  28   PGD_CPU   11010000(D0H)
  29   SB0_PLTRST_N   11100000(E0H)
  30   PCI_RST_N   11110000(F0H)
  31   FSB_RST_N   11110001(F1H)
  32
在表1中，“0”表示显示单元130的发光二极管不亮的情况；“1”表示显示单元130的发光二极管发亮的情况。在本实施例中，假设电路板180的测试信号是按照序号“1”至序号“31”的顺序产生。因此，当电路板180进行上电时，会依序产生序号“1”至序号“31”的测试信号，并通过连接接口110传送到检测模块120进行检测。
在对电路板180进行测试的过程中，检测模块120便会逐一接收序号“1”至序号“31”的测试信号“P3V_VBAT”至“PGD_CPU”并进行检测。也就是说，当检测模块120接收到电路板180的测试信号时，表示电路板180未发生异常的现象；当检测模块120未接收到电路板180的测试信号时，表示电路板180产生异常的现象，则检测模块120会根据表1而产生检测信号给显示单元130，并将此检测信号显示出来，以便告知使用者。
举例来说，当检测模块120依序接收到序号“1”至序号“28”的测试信号“P3V_VBAT”至“PGD_CPU”，则表示序号“1”至序号“28”的测试信号“P3V_VBAT”至“PGD_CPU”并未出现异常的现象。接着，当检测模块120未接收到序号“29”的测试信号“SB0_PLTRST_N”(表示此测试信号发生异常)时，则检测模块120会根据表1而对应的产生检测信号“11100000”。之后，显示单元130会接收检测信号“11100000”，并将检测信号“11100000”显示出来检测信号“11100000”。
接着，使用者(测试工程师)便可通过显示单元130所显示“11100000”的信息，而快速地找到致使电路板180的测试信号产生异常(亦即测试信号“SB0_PLTRST_N”没有产生)的电路。如此一来，测试工程师便无须对电路板180的测试信号逐一进行测试，以有效地减少电路板180的测试时间，并从而提高测试效率。
在本实施例中，信号测试装置100还包括电平转换单元140，连接于连接接口110与检测模块120之间，用以转换电路板180的多个测试信号的电平。
另外，信号测试装置100还包括数据输入接口150，其连接至检测模块120，以接收更新数据并传送至检测模块120，以便更新查表的数据。也就是说，使用者(测试工程师)可在电路板180测试之前，通过数据输入接口150，将检测模块120的查表内的数据更新成与电路板180的对应版本(也即更新测试信号与检测信号的对应关系)，以便于对各型式的电路板进行测试。
综上所述，本发明通过信号测试装置接收电路板的所有测试信号，而所有测试信号可通过检测模块进行检测后，一旦检测出某一信号发生异常(也即检测模块没有接收到上述信号)时，则检测模块会产生检测信号给显示单元，以显示出检测信号。如此一来，使用者(测试工程师)不需要逐一对电路板(主板)上的测试端进行测试信号的量测，可通过显示单元所显示的信息，而快速的找到造成上述信号发生异常的电路，以加快电路板的测试速度及效率。
虽然本发明已以实施例揭露如上，但其并非用以限定本发明，本领域技术人员在不脱离本发明的精神和范围内，当可作稍微的更动与润饰，所以本发明的保护范围当以权利要求的内容为准。

Claims (8)

1.一种电路板的信号测试装置，其特征在于，包括：
一连接接口，连接所述电路板，以接收并传输所述电路板的多个测试信号；
一检测模块，连接至所述连接接口，接收并检测所述电路板的多个测试信号，以产生一检测信号，其中，所述检测信号根据所述检测模块检测出所述电路板的多个测试信号其中之一发生异常而产生；以及
一显示单元，连接至所述检测模块，接收并显示所述检测信号。
2.根据权利要求1所述的电路板的信号测试装置，其特征在于，所述电路板的信号测试装置进一步包括：
一电平转换电路，连接于所述连接接口与所述检测模块之间，用以转换所述电路板的多个测试信号的电平。
3.根据权利要求1所述的电路板的信号测试装置，其特征在于，所述检测模块包括一查表，其具有所述电路板的多个测试信号与所述检测信号的对应关系。
4.根据权利要求3所述的电路板的信号测试装置，其特征在于，所述电路板的信号测试装置进一步包括：
一数据输入接口，连接至所述检测模块，用以接收并传输一更新数据，以更新所述查表的数据。
5.根据权利要求1所述的电路板的信号测试装置，其特征在于，所述连接接口为32比特的连接接口。
6.根据权利要求1所述的电路板的信号测试装置，其特征在于，所述检测模块包括一复杂可程序逻辑装置。
7.根据权利要求1所述的电路板的信号测试装置，其特征在于，所述显示单元为8比特发光二极管的显示器。
8.根据权利要求1所述的电路板的信号测试装置，其特征在于，所述电路板为一主板。
CN2010101345364A 2010-03-16 2010-03-16 电路板的信号测试装置 Pending CN102193064A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2010101345364A CN102193064A (zh) 2010-03-16 2010-03-16 电路板的信号测试装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2010101345364A CN102193064A (zh) 2010-03-16 2010-03-16 电路板的信号测试装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN102193064A true CN102193064A (zh) 2011-09-21

Family

ID=44601498

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2010101345364A Pending CN102193064A (zh) 2010-03-16 2010-03-16 电路板的信号测试装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN102193064A (zh)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103207367A (zh) * 2012-01-13 2013-07-17 迈普通信技术股份有限公司 印制板多路信号测试方法、系统及装置
CN103391141A (zh) * 2013-07-23 2013-11-13 国家电网公司 E1接口信号测试器及其测试方法
CN103974059A (zh) * 2013-01-30 2014-08-06 冠捷投资有限公司 自动检测视频输出装置的开放式易插拔接口的方法及治具
CN106292981A (zh) * 2016-08-04 2017-01-04 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种服务器主板应用方法及系统
CN109116213A (zh) * 2018-07-25 2019-01-01 郑州云海信息技术有限公司 一种测试电路板信号装置
CN114076905A (zh) * 2020-08-21 2022-02-22 神讯电脑(昆山)有限公司 一种edp及usb信号测试治具板

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103207367A (zh) * 2012-01-13 2013-07-17 迈普通信技术股份有限公司 印制板多路信号测试方法、系统及装置
CN103207367B (zh) * 2012-01-13 2015-05-20 迈普通信技术股份有限公司 印制板多路信号测试方法、系统及装置
CN103974059A (zh) * 2013-01-30 2014-08-06 冠捷投资有限公司 自动检测视频输出装置的开放式易插拔接口的方法及治具
CN103391141A (zh) * 2013-07-23 2013-11-13 国家电网公司 E1接口信号测试器及其测试方法
CN103391141B (zh) * 2013-07-23 2016-07-06 国家电网公司 E1接口信号测试器及其测试方法
CN106292981A (zh) * 2016-08-04 2017-01-04 浪潮电子信息产业股份有限公司 一种服务器主板应用方法及系统
CN109116213A (zh) * 2018-07-25 2019-01-01 郑州云海信息技术有限公司 一种测试电路板信号装置
CN114076905A (zh) * 2020-08-21 2022-02-22 神讯电脑(昆山)有限公司 一种edp及usb信号测试治具板

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102193064A (zh) 电路板的信号测试装置
CN201757858U (zh) 整车控制器的测试系统
CN111289922B (zh) 线缆插接检测方法及相关设备
US20080294943A1 (en) Sata interface tester and testing method
CN111124775A (zh) 一种上电时序异常检测方法、装置、mcu及存储介质
CN102968377A (zh) 一种基于虚拟机技术的机载软件系统测试通用平台
CN102253881A (zh) 服务器工作状态检测系统
CN204789908U (zh) 基于LabVIEW的电路板自动测试系统
TW201216048A (en) Test system
CN202995451U (zh) 一种车载控制器的自动测试装置
CN104850421A (zh) 计算机系统及其通用序列总线装置的检测方法
US7979232B2 (en) Apparatuses and methods for determining configuration of SAS and SATA cables
CN116746064A (zh) 锁步比较器和相关方法
CN102057362A (zh) 用pci高速标记字段传递信息
US8775691B1 (en) Detecting firmware version for an input/output adapter
CN102567157A (zh) 计算机上电时序信号的测试装置
CN102207536A (zh) 电路板的信号检测装置
CN104569594A (zh) 导弹自动化阻值测试系统
Haizad et al. Development of low-cost real-time data acquisition system for process automation and control
US20150293828A1 (en) Testing apparatus, testing system and testing method thereof
CN209803254U (zh) 一种触摸屏老化测试系统
CN108920320A (zh) 一种适用于星船载计算机的通用化检测装置及其检测方法
CN101135986B (zh) 接口功率消耗测试卡
TWM458558U (zh) 用於檢測系統的控制介面
US9897644B2 (en) Method and system for testing a semiconductor device against electrostatic discharge

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Application publication date: 20110921