CN102183470A - 比色法仪器的校验装置及校验方法 - Google Patents

比色法仪器的校验装置及校验方法 Download PDF

Info

Publication number
CN102183470A
CN102183470A CN 201110072393 CN201110072393A CN102183470A CN 102183470 A CN102183470 A CN 102183470A CN 201110072393 CN201110072393 CN 201110072393 CN 201110072393 A CN201110072393 A CN 201110072393A CN 102183470 A CN102183470 A CN 102183470A
Authority
CN
China
Prior art keywords
polaroid
light
checking
instrument
colourimetry
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN 201110072393
Other languages
English (en)
Other versions
CN102183470B (zh
Inventor
林江
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
CHENGDU THANK INSTRUMENT Co Ltd
Original Assignee
CHENGDU THANK INSTRUMENT Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by CHENGDU THANK INSTRUMENT Co Ltd filed Critical CHENGDU THANK INSTRUMENT Co Ltd
Priority to CN2011100723933A priority Critical patent/CN102183470B/zh
Publication of CN102183470A publication Critical patent/CN102183470A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102183470B publication Critical patent/CN102183470B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)

Abstract

本发明公开了一种比色法仪器的校验装置及校验方法,基于光线的偏光原理,采用结构简单的装置来替代现有技术中湿法配制化学溶液来对比色法仪器进行校验,可利用一套装置进行多种校验,成本低,操作方便:通过旋转第二偏振片的角度,造成透光率变化,从而使得一套校验装置实现多种校验用途;不需要繁烦的配制标液过程,只需要把本发明的装置放入比色光路,就可以直接对比色法仪表进行校验,使用起来非常方便。

Description

比色法仪器的校验装置及校验方法
技术领域
本发明涉及一种校验装置,尤其是涉及一种比色法仪器的校验装置及校验方法。
背景技术
目前,在对比色法仪器进行校验时,其常用的方法是湿法,即利用化学配制的溶液进行检测,其配制过程复杂,操作极为不便,保存期短,成本也较贵。因此,现有比色法仪器检验中所用的标准检测仪器的制作时间长、成本高、操作复杂。
发明内容
为了克服现有技术的上述缺点,本发明提供了一种比色法仪器的校验装置及校验方法,基于光线的偏光原理,装置结构简单、制造使用方便、检测校验的精度高;本发明通过调节偏光片(或偏振片)的角度来使光透过率发生变化,当旋转不同的角度,可以制成不同的标准装置来对比色法仪器进行校验,具有简单可靠,制造成本低的优点。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:一种比色法仪器的校验装置,包括:顶盖和偏光器盒,在偏光器盒内设置有第一偏振片和第二偏振片,在第二偏振片上设置有调整手柄。
在所述偏光器盒内、在第一偏振片前方设置有滤光片。
所述调整手柄是一个由不透光材料制成的、带手柄的圆形的壳,第二偏振片被包在所述圆形的壳内。
在第一偏振片和第二偏振片之间设置有垫圈。
本发明还公开了一种对比色法仪器进行校验的方法,包括以下步骤:
1) 用第一偏振片将光转换成具有特定偏振化方向的偏转光;
2)旋转调整手柄以调整第二偏振片的角度,辨别偏转光的偏振化方向。
为了把光变成特定波长,或者很窄的波长带宽,可以在在偏光器盒内、在第一偏振片前方根据需要加装滤光片。如果光源已经是单色光,就不需要加,否则就需要加装滤光片。
与现有技术相比,本发明的积极效果是:采用结构简单的装置来替代现有技术中湿法配制化学溶液来对比色法仪器进行校验,可利用一套装置进行多种校验,成本低,操作方便,具体表现如下:
A)通过旋转第二偏振片的角度,造成透光率变化,从而使得一套校验装置实现多种校验用途。
B)不需要繁烦的配制标液过程,只需要把本发明的装置放入比色光路,就可以直接对比色法仪表进行校验,使用起来非常方便。
附图说明
本发明将通过例子并参照附图的方式说明,其中:
图1是本发明装置的结构示意图。
具体实施方式
一种比色法仪器的校验装置,如图1所示,包括:顶盖1、调整手柄2、滤光片3、第一偏振片4、垫圈5、第二偏振片6、下偏光器盒7、上偏光器盒8和插销9。其中,下偏光器盒7和上偏光器盒8扣合在一起构成偏光器盒,在顶盖1上设置有插销9,用于将顶盖1和偏光器盒连接起来,插销9由螺钉或塑料做成;在偏光器盒内依次平行设置有滤光片3、第一偏振片4和第二偏振片6,为了使第一偏振片4和第二偏振片6的相对位置保持不变,还可在二者之间设置垫圈5;滤光片3可以根据不同的比色方法增加、减少或去掉;在第二偏振片6上设置有调整手柄2,能使第二偏振片6旋转。为了既不影响第二偏振片6的偏光特性,又能方便地旋转第二偏振片6,调整手柄2是一个由不透光材料制成的、带手柄的圆形的壳,用来包住第二偏振片6,通过对调整手柄2的旋转,达到使第二偏振片6转动的目的。
顶盖1用来给比色池的外形配套,一个作用是定位,一个作用是遮光,还有个作用用来连接偏光器盒,方便滤光片和偏振片的取出与安装;顶盖由不透光的材料制成,如:塑料、PV、玻璃镀黑等;顶盖可做成圆形,方形等各种形状,以适应不同的比色池。
一种比色法仪器的校验方法,包括以下步骤:
1) 在偏光器盒中用滤光片3对光进行过滤;
2) 用第一偏振片6将光转换成具有特定偏振化方向的偏转光;
3)偏转光到达第二偏振片,旋转与第二偏振片连为一体的调整手柄2,以调整第二偏振片的角度,当第二偏振片的后面出现较亮的光时,说明第二偏振片的偏振化方向与偏振光的偏振面平行,记录第二偏振片的该偏振化方向,作为偏振光偏振面的平行方向;当第二偏振片的后面变暗时,说明第二偏振片的偏振化方向与偏振光的偏振面垂直,记录第二偏振片的该偏振化方向,作为偏振光偏振面的垂直方向;从而辨别出偏转光的偏振化方向。
本发明的工作原理是:自然光或单色光经过偏振片后,改变成为具有一定振动方向的光。这是由于偏振片中存在着某种特征性的方向,叫做偏振化方向,偏振片只允许平行于偏振化方向的振动通过,同时吸收垂直于该方向振动的光。通过偏振片的透射光,它的振动限制在某一振动方向上,我们把第一偏振片4叫做“起偏器”,它的作用是把自然光变成偏振光,但是人的眼睛不能辨别偏振光,必须依靠第二偏振片6去检查。旋转第二偏振片6,当它的偏振化方向与偏振光的偏振面平行时,偏振光可顺利通过,这时在第二偏振片6的后面有较亮的光。当第二偏振片6的偏振方向与偏振光的偏振面垂直时,偏振光不能通过,在第二偏振片6后面也变暗。第二偏振片6帮助我们辨别出偏振光,因此它也称为“检偏器”。这样透过率就根据角度不同而变化,利用此原理,可以制作不同的比色法校验装置。

Claims (8)

1.一种比色法仪器的校验装置,其特征在于:包括:顶盖和偏光器盒,在偏光器盒内设置有第一偏振片和第二偏振片,在第二偏振片上设置有调整手柄。
2.根据权利要求1所述的比色法仪器的校验装置,其特征在于:在所述偏光器盒内、在第一偏振片前方设置有滤光片。
3.根据权利要求1所述的比色法仪器的校验装置,其特征在于:所述调整手柄是一个由不透光材料制成的、带手柄的圆形的壳,第二偏振片被包在所述圆形的壳内。
4.根据权利要求1所述的比色法仪器的校验装置,其特征在于:在第一偏振片和第二偏振片之间设置有垫圈。
5.一种利用权利要求1所述的校验装置对比色法仪器进行校验的方法,其特征在于:包括以下步骤:
1)    用第一偏振片将光转换成具有特定偏振化方向的偏转光;
2)旋转调整手柄以调整第二偏振片的角度,辨别偏转光的偏振化方向。
6.根据权利要求5所述的对比色法仪器进行校验的方法,其特征在于:在用第一偏振片将光转换成具有特定偏振化方向的偏转光前,先在偏光器盒内、在第一偏振片前方设置滤光片,以获得特定波长的光。
7.根据权利要求5所述的对比色法仪器进行校验的方法,其特征在于:所述调整手柄是一个由不透光材料制成的、带手柄的圆形的壳,第二偏振片被包在所述圆形的壳内。
8.根据权利要求5所述的对比色法仪器进行校验的方法,其特征在于:在第一偏振片和第二偏振片之间设置有垫圈。
CN2011100723933A 2011-03-25 2011-03-25 比色法仪器的校验装置及校验方法 Expired - Fee Related CN102183470B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2011100723933A CN102183470B (zh) 2011-03-25 2011-03-25 比色法仪器的校验装置及校验方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN2011100723933A CN102183470B (zh) 2011-03-25 2011-03-25 比色法仪器的校验装置及校验方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102183470A true CN102183470A (zh) 2011-09-14
CN102183470B CN102183470B (zh) 2012-07-25

Family

ID=44569694

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2011100723933A Expired - Fee Related CN102183470B (zh) 2011-03-25 2011-03-25 比色法仪器的校验装置及校验方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN102183470B (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107462553A (zh) * 2017-08-31 2017-12-12 西安近代化学研究所 一种基于偏光板的烟雾透过率测试系统的校准装置

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1265492A1 (ru) * 1983-02-28 1986-10-23 Сибирский Институт Земного Магнетизма,Ионосферы И Распространения Радиоволн Со Ан Ссср Устройство дл измерени дифференциальной лучевой скорости
US4822169A (en) * 1984-09-25 1989-04-18 Richard Distl Measuring assembly for analyzing electromagnetic radiation
CN1474158A (zh) * 2003-07-22 2004-02-11 浙江大学 伺服比较式偏振光位移传感器系统
CN200972454Y (zh) * 2006-11-24 2007-11-07 宁波大学 一种旋光色散的测量装置
CN101852591A (zh) * 2010-01-12 2010-10-06 清华大学 一种基于磁光效应的成像椭偏仪
CN201984029U (zh) * 2011-03-25 2011-09-21 成都新三可仪器有限公司 比色法仪器的校验装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SU1265492A1 (ru) * 1983-02-28 1986-10-23 Сибирский Институт Земного Магнетизма,Ионосферы И Распространения Радиоволн Со Ан Ссср Устройство дл измерени дифференциальной лучевой скорости
US4822169A (en) * 1984-09-25 1989-04-18 Richard Distl Measuring assembly for analyzing electromagnetic radiation
CN1474158A (zh) * 2003-07-22 2004-02-11 浙江大学 伺服比较式偏振光位移传感器系统
CN200972454Y (zh) * 2006-11-24 2007-11-07 宁波大学 一种旋光色散的测量装置
CN101852591A (zh) * 2010-01-12 2010-10-06 清华大学 一种基于磁光效应的成像椭偏仪
CN201984029U (zh) * 2011-03-25 2011-09-21 成都新三可仪器有限公司 比色法仪器的校验装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107462553A (zh) * 2017-08-31 2017-12-12 西安近代化学研究所 一种基于偏光板的烟雾透过率测试系统的校准装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN102183470B (zh) 2012-07-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20190096831A (ko) 편광 측정 장치, 편광 측정 방법 및 광 배향 방법
US20180095306A1 (en) Systems, methods, and apparatus for sensitive thermal imaging
CN104777545A (zh) 一种硅纳米砖阵列偏振分光器
CN103837476A (zh) 一种Mueller矩阵的自校准测量方法
US9904079B2 (en) Alignment apparatus and alignment method
JP5122132B2 (ja) 透明又は部分的に透明な層の屈折率の三次元測定方法及び装置
CN103439001A (zh) 一种非均匀矢量偏振光的测量与评价方法及装置
CN102662250B (zh) 一种光强度调节器
JP4538344B2 (ja) 軸方位測定装置および方法
CN102183470B (zh) 比色法仪器的校验装置及校验方法
CN109342025B (zh) 一种分焦平面红外偏振成像相机偏振透过率测试方法
CN201984029U (zh) 比色法仪器的校验装置
CN103438885B (zh) 三通道偏振导航敏感器
CN103149727A (zh) 自动对正贴片方法及系统
CN104070434A (zh) 偏光板裁切磨边装置及偏光板制造方法
CN103185545B (zh) 空间矢量物三维旋转坐标测量方法
TWI432715B (zh) 測定液晶參數的方法及裝置
CN106482833A (zh) 一种基于单级Lyot型滤光片的波长标定器件
CN204188907U (zh) 光学膜片检测器
CN109991792A (zh) 与液晶偏振干涉仪一起使用的滤色器
TWI542864B (zh) 異向性量測系統、異向性量測方法及其校正方法
CN107076914B (zh) 偏振板的制造方法以及液晶面板的制造方法
CN108732106A (zh) 反射差分光学测量装置及其测量方法
CN104154995B (zh) 一种高光谱探测集成模块及其制造方法
JP5991230B2 (ja) 位相差測定方法及び装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20120725